CN114373429A - 显示装置和显示装置的驱动方法 - Google Patents

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Abstract

提供了一种显示装置和显示装置的驱动方法。显示装置包括：显示面板，包括多条感测线和多个像素，多个像素各自连接到多条感测线之中的对应的感测线；传感器，通过多条感测线来感测多个像素的特性信息，并且将特性信息转换为具有数字格式的感测数据；以及补偿器，基于感测数据将从显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，其中，传感器在感测时段的过渡时段期间感测布置在显示面板的部分区域中的像素的特性信息，并且将感测的特性信息处理为虚设数据。

Description

显示装置和显示装置的驱动方法
本申请基于并要求于2020年10月15日在韩国知识产权局提交的第10-2020-0133744号韩国专利申请的优先权，所述韩国专利申请的公开内容通过引用被完全包含于此。
技术领域
一个或更多个实施例涉及一种显示装置和该显示装置的驱动方法。
背景技术
设置在显示装置中的像素中的每个响应于从对应的扫描线供应的扫描信号而从对应的数据线接收数据信号，并且发射具有与数据信号对应的亮度的光。
为了使显示装置显示均匀质量的图像，像素中的每个必须响应于相同的数据信号而发射相同的光。然而，包括在像素中的每个中的内部元件(诸如驱动晶体管和/或有机发光二极管)的特性会由于它们的自身特性而具有偏差。
此外，内部元件随着使用时间的增大而使它们的特性劣化。结果，在像素之间发生特性偏差，并且该特性偏差会使显示装置的图像质量劣化。
发明内容
一个或更多个实施例包括能够有效地补偿像素之间的特性偏差以改善图像质量的显示装置以及该显示装置的驱动方法。
附加的方面将在下面的描述中部分地阐述，并且部分地将从描述中清楚，或者可以通过实践公开的给出的实施例来习得。
根据一个或更多个实施例，一种显示装置，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，所述感测时段包括过渡时段和在过渡时段之后的有效时段，所述显示装置包括：显示面板，包括多条感测线和多个像素，多个像素各自连接到多条感测线之中的对应的感测线；传感器，通过多条感测线来感测多个像素的特性信息，并且将特性信息转换为具有数字格式的感测数据；以及补偿器，基于感测数据将从显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，其中，传感器在过渡时段期间感测布置在显示面板的部分区域中的像素的特性信息，并且将感测的特性信息处理为虚设数据。
显示面板可以包括显示区域和在显示区域周围的非显示区域，非显示区域包括虚设区域，其中，传感器可以在过渡时段期间感测布置在虚设区域中的虚设像素的特性信息，并且将感测的虚设像素的特性信息处理为虚设数据。
虚设区域可以包括多个虚设行，其中，传感器可以在过渡时段期间一次一行地顺序地感测布置在多个虚设行中的虚设像素的特性信息。
虚设区域可以包括一个虚设行，其中，传感器可以在过渡时段期间多次感测布置在一个虚设行中的虚设像素的特性信息。
虚设区域可以与显示区域的第一行相邻。
传感器可以不向补偿器输出虚设数据。
传感器可以在有效时段期间一次一行地顺序地选择布置在显示区域中的像素，以感测选择的像素的特性信息。
传感器可以在过渡时段期间多次感测布置在显示面板的显示区域中的一行中的像素的特性信息，并且将感测的像素的特性信息处理为虚设数据。
传感器可以在有效时段期间一次一行地顺序地选择布置在显示区域中的像素，以感测选择的像素的特性信息。
传感器可以包括：多个模拟前端(AFE)，分别连接到多条感测线，并且保持像素行中的像素的特性信息；以及模数转换器(ADC)，顺序地连接到多个AFE，以将像素行中的像素的特性信息转换为数字感测数据。
显示装置还可以包括：多个开关，设置在多个AFE中的每个AFE与ADC之间。
显示装置还可以包括：扫描驱动器，向多个像素施加扫描信号；以及数据驱动器，在感测时段期间向多个像素施加参考电压，并且在驱动时段期间向多个像素施加数据信号。
根据一个或更多个实施例，一种显示装置，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，所述感测时段包括过渡时段和在过渡时段之后的有效时段，所述显示装置包括：显示面板，包括多条感测线和多个像素，多个像素各自连接到多条感测线之中的对应的感测线；传感器，通过多条感测线感测多个像素的特性信息，并且将特性信息转换为具有数字格式的感测数据；以及补偿器，基于感测数据将从显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，其中，传感器包括：多个模拟前端(AFE)，分别连接到多条感测线，并且保持像素行中的像素的特性信息；模数转换器(ADC)，顺序地连接到多个AFE，以将像素行中的像素的特性信息转换为数字感测数据；以及虚设模拟前端(DAFE)，其中，传感器在过渡时段期间将DAFE多次连接到ADC。
显示装置还可以包括：多个开关，设置在多个AFE中的每个AFE与ADC之间；以及虚设开关，设置在DAFE与ADC之间。
根据一个或更多个实施例，一种显示装置的驱动方法，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，感测时段包括过渡时段和在过渡时段之后的有效时段，所述显示装置的驱动方法包括以下步骤：感测多个像素的特性信息，并且将特性信息转换为具有数字格式的感测数据，多个像素各自连接到多条感测线之中的对应的感测线；以及基于感测数据将从显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，其中，将特性信息转换为感测数据的步骤包括：在过渡时段期间感测布置在显示面板的部分区域中的像素的特性信息，并且将感测的特性信息处理为虚设数据。
显示面板可以包括显示区域和在显示区域周围的非显示区域，非显示区域包括虚设区域，其中，将特性信息转换为感测数据的步骤可以包括：在过渡时段期间感测布置在虚设区域中的虚设像素的特性信息，并且将感测的虚设像素的特性信息处理为虚设数据。
虚设区域可以包括多个虚设行，其中，将特性信息转换为感测数据的步骤可以包括：在过渡时段期间一次一行地顺序地感测布置在多个虚设行中的虚设像素的特性信息，并且将感测的特性信息处理为虚设数据。
虚设区域可以包括一个虚设行，其中，将特性信息转换为感测数据的步骤可以包括：在过渡时段期间多次感测布置在一个虚设行中的虚设像素的特性信息，并且将感测的特性信息处理为虚设数据。
虚设区域可以与显示区域的第一行相邻。
将特性信息转换为感测数据的步骤可以包括：在过渡时段期间多次感测布置在显示面板的显示区域中的一行中的像素的特性信息，并且将感测的像素的特性信息处理为虚设数据。
附图说明
通过下面结合附图的描述，公开的一些实施例的上述和其它方面、特征以及优点将更清楚，在附图中：
图1是根据实施例的显示装置的框图；
图2是根据实施例的像素的等效电路图；
图3是示出根据实施例的感测时段的图；
图4是示出根据实施例的显示装置的图，并且具体地是示出传感器的实施例的图；
图5是示出根据实施例的设置在传感器中的感测通道的图；
图6是示出根据实施例的显示装置的图；
图7是示出根据实施例的图6的显示装置的一部分的示意图；
图8是示出在图7的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图；
图9是示出根据实施例的图6的显示装置的一部分的示意图；
图10是示出在图9的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图；
图11是示出根据实施例的图6的显示装置的一部分的示意图；
图12是示出在图11的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图；
图13是示出根据实施例的图6的显示装置的一部分的示意图；
图14是示出在图13的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图；
图15是示出根据实施例的图6的显示装置的一部分的示意图；
图16是示出在图15的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图；以及
图17是根据实施例的显示面板的示意图。
具体实施方式
现在将详细地参考实施例，实施例的示例在附图中示出，其中，同样的附图标记始终表示同样的元件。在这方面，给出的实施例可以具有不同的形式，并且不应被解释为限于这里阐述的描述。因此，下面仅通过参照附图来描述实施例，以解释本描述的方面。如这里使用的，术语“和/或”包括相关的所列项中的一个或更多个的任何和所有组合。在整个公开内容中，表述“a、b和c中的至少一个”指示仅a、仅b、仅c、a和b两者、a和c两者、b和c两者、a、b和c中的全部或其变形。
由于公开可以具有各种修改和若干实施例，因此在附图中示出了实施例，并且将详细地描述实施例。通过参考稍后将参照附图详细地描述的实施例，公开的效果和特征以及实现它们的方式将变得清楚。然而，公开不限于下面的实施例，而是可以以各种形式呈现。
将理解的是，尽管这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件与另一元件区分开。
在以下实施例中，除非上下文另有明确说明，否则单数形式包括复数形式。
在本说明书中，将要理解的是，诸如“包括”或“具有”的术语意图指示说明书中公开的特征或元件的存在，并且不意图排除可以添加一个或更多个其它特征或元件的可能性。
在以下实施例中，将理解的是，当诸如层、区域或元件的部分被称为“在”另一部分“上”或“上方”时，它可以直接在所述另一部分上或上方，或者也可以存在中间部分。
此外，在附图中，为了便于描述，可以夸大或者缩小元件的尺寸。例如，由于为了便于解释而任意地示出了附图中的元件的尺寸和厚度，因此下面的实施例不限于此。
在本说明书中，“A和/或B”表示A、B或者A和B。此外，在本说明书中，“A和B中的至少一个”表示A、B或者A和B。
在下面的实施例中，当X和Y彼此连接时，X和Y可以彼此电连接，X和Y可以彼此功能连接，或者X和Y可以彼此直接连接。这里，X和Y可以是目标物体(例如，设备、装置、电路、线、电极、端子、导电层或层)。因此，公开不限于特定连接关系(例如，附图或具体实施方式中所示的连接关系)，并且公开也可以包括除了附图或具体实施方式中所示的连接关系之外的任何连接关系。
例如，当X和Y彼此电连接时，能够实现X与Y之间的电连接的一个或更多个器件(例如，开关、晶体管、电容器、电感器、电阻器或二极管)可以连接在X与Y之间。
在下面的实施例中，与装置状态结合使用的“导通(ON)”可以表示装置的激活状态，而“截止(OFF)”可以表示装置的去激活状态。与由装置接收的信号结合使用的“导通”可以表示使装置激活的信号，而“截止”可以表示使装置去激活的信号。装置可以通过高电平电压或低电平电压激活。例如，P沟道晶体管可以通过低电平电压激活，而N沟道晶体管可以通过高电平电压激活。因此，应理解的是，P沟道晶体管和N沟道晶体管的“导通”电压是相反的电压电平(低电压电平与高电压电平)。
图1是根据实施例的显示装置的框图。
根据实施例的显示装置10可以实施为电子设备，诸如智能电话、移动电话、智能手表、导航设备、游戏机、电视(TV)、车载主机(vehicle head unit)、笔记本计算机、膝上型计算机、平板计算机、个人媒体播放器(PMP)或个人数字助理(PDA)。此外，电子设备可以是柔性设备。
参照图1，显示装置10可以包括显示面板110、扫描驱动器120、控制线驱动器130、传感器140、数据驱动器150和控制器160。在图1中，显示面板110被示出为与诸如扫描驱动器120的驱动电路分离。然而，公开不限于此。例如，扫描驱动器120、控制线驱动器130、传感器140和数据驱动器150中的至少一个可以集成在显示面板110上。
根据实施例，显示装置10可以被驱动为具有感测时段和驱动时段，显示装置10在感测时段中以感测模式驱动，显示装置10在驱动时段中以显示模式驱动。感测时段可以是提取设置在显示面板110中的像素P中的每个的特性信息的时段。例如，包括在像素P中的每个中的驱动晶体管和/或有机发光二极管的阈值电压、迁移率和劣化信息中的至少一个在感测时段期间被感测。驱动时段可以是响应于数据信号而显示特定图像的时段。
扫描驱动器120可以连接到多条扫描线GL，并且可以响应于来自控制器160的第一控制信号CON1而生成扫描信号，并且将扫描信号顺序地供应到扫描线GL。扫描驱动器120可以包括移位寄存器。例如，扫描驱动器120可以在感测时段和驱动时段期间将扫描信号顺序地供应到扫描线GL。扫描信号可以包括像素P中包括的晶体管的激活电压(导通电压)。导通电压可以具有高电平电压或低电平电压。
控制线驱动器130可以连接到多条控制线CL，并且可以响应于来自控制器160的第二控制信号CON2而在感测时段期间将控制信号供应到控制线CL。例如，控制线驱动器130可以在感测时段期间将控制信号顺序地供应到控制线CL。控制信号可以包括像素P中包括的晶体管的激活电压(导通电压)。导通电压可以具有高电平电压或低电平电压。接收控制信号的像素P可以电连接到感测线SL。
在图1中，控制线驱动器130设置为单独的驱动器；然而，在其它实施例中，扫描驱动器120可以替代控制线驱动器130将控制信号供应到控制线CL。可选地，代替形成单独的控制线CL，扫描线GL可以用于在感测时段期间控制像素P与感测线SL之间的连接。
传感器140可以连接到多条感测线SL，并且可以响应于来自控制器160的第三控制信号CON3而在感测时段期间通过感测线SL感测来自像素P的特性信息。在实施例中，可以针对每个竖直线(列)设置感测线SL。在其它实施例中，如下面参照图17描述的，多个列的多个像素P可以共享一条感测线SL。
传感器140可以将感测的具有模拟形式的特性信息转换为具有数字格式的感测数据，并且输出具有数字格式的感测数据。为此目的，传感器140可以包括至少一个模数转换器(analog-to-digital converter，ADC)。从传感器140输出的感测数据可以通过控制器160等被存储在存储器(未示出)中。可以使用存储的感测数据来将第一数据DATA1转换为第二数据DATA2，以补偿像素P的特性偏差。为此目的，可以在感测时段期间将与设置在显示面板110中的所有像素P对应的感测数据存储在存储器中。传感器140还可以执行IC校准、缺陷滤波、边缘滤波等用以感测数据校正。
在实施例中，传感器140可以通过感测所有像素P的特性信息来生成感测数据。在其它实施例中，传感器140可以不感测一些像素P的特性信息。在这种情况下，可以使用相邻的像素P的特性信息来估计未通过传感器140对其特性信息进行感测的像素P的特性信息。在实施例中，控制器160中的补偿器170可以使用相邻的像素P的特性信息来估计未对其特性信息进行感测的像素P的特性信息。在这种情况下，补偿器170可以执行IC校准、缺陷滤波、边缘滤波等用以感测数据校正。
数据驱动器150可以连接到多条数据线DL，并且可以响应于来自控制器160的第四控制信号CON4而在驱动时段期间将数据信号供应到数据线DL。数据驱动器150可以响应于从控制器160供应的第二数据DATA2而在驱动时段期间生成数据信号。第二数据DATA2可以是使用从外部输入的第一数据DATA1和所有像素P的感测数据来补偿的补偿数据，以补偿像素P的特性偏差。由数据驱动器150生成的呈电压或电流形式的数据信号可以供应到数据线DL。供应到数据线DL的数据信号可以供应到通过扫描信号选择的像素P。像素P可以在驱动时段期间发射具有与数据信号对应的亮度的光，因此，可以在显示面板110上显示图像。
根据实施例，数据驱动器150可以响应于控制器160的控制而在感测时段期间将参考电压供应到数据线DL。例如，参考电压可以设定为电流可以在设置于像素P中的驱动晶体管中流动所处的预定电压。此外，在实施例中，数据驱动器150可以不必在感测时段期间将参考电压供应到像素P。例如，当像素P在感测时段期间连接到其它电压源和/或电流源时，数据驱动器150可以仅在驱动时段期间驱动数据线DL。
显示面板110可以包括多条扫描线GL、多条数据线DL、多条控制线CL、多条感测线SL以及连接到它们的多个像素P。多个像素P可以在第一方向(D1方向或行方向)和第二方向(D2方向或列方向)上重复布置。多条扫描线GL可以以特定间隔分隔开并布置成行，并且可以各自传输扫描信号。多条控制线CL可以以特定间隔分隔开并布置成行，并且可以各自传输控制信号。多条数据线DL可以以特定间隔分隔开并布置成列，并且可以各自传输数据信号。多条感测线SL可以以特定间隔分隔开并布置成列，并且可以各自感测像素P的特性信息。根据实施例，当显示面板110是有机电致发光(EL)显示装置的显示面板时，显示面板110的像素P可以通过被供应有驱动电压ELVDD和共电压ELVSS而被驱动。
控制器160可以控制扫描驱动器120、控制线驱动器130、传感器140和数据驱动器150的驱动。此外，控制器160可以将来自传感器140的感测数据存储在存储器中，并且可以通过使用存储的感测数据经由对从外部输入的第一数据DATA1进行转换来生成第二数据DATA2。生成的第二数据DATA2可以输出到数据驱动器150。在实施例中，第一数据DATA1、第二数据DATA2和感测数据可以是数字信号。控制器160中的补偿器170可以通过使用存储在存储器中的感测数据来补偿第一数据DATA1，并且输出补偿的第一数据DATA1作为第二数据DATA2。
控制器160可以包括补偿器170。然而，公开不限于此。例如，在其它实施例中，补偿器170可以是单独的组件并设置在控制器160外部，并且补偿器170可以转换第一数据DATA1，以生成第二数据DATA2。
补偿器170可以从显示装置10的外部(例如，从图形控制器或应用处理器)接收第一数据DATA1并从存储器接收感测数据，并且使用第一数据DATA1和感测数据生成第二数据DATA2。补偿器170可以通过反映(映现)感测数据来将第一数据DATA1转换为第二数据DATA2。例如，补偿器170可以通过使用感测数据经由补偿从外部输入的第一数据DATA1来生成第二数据DATA2。通过补偿器170生成的第二数据DATA2可以输出到数据驱动器150，并且数据驱动器150可以生成与第二数据DATA2对应的数据信号并通过数据线DL将生成的数据信号输出到像素P。
在下文中，将描述有机发光显示装置作为根据实施例的显示装置10的示例；然而，公开的显示装置10不限于此。在其它实施例中，公开的显示装置10可以是诸如无机发光显示装置(或无机EL显示装置)或量子点发光显示装置的显示装置。
图2是根据实施例的像素的等效电路图。图3是示出根据实施例的感测时段的图。
参照图2，像素P中的每个可以包括像素电路PC和作为显示元件的连接到像素电路PC的有机发光二极管OLED。像素电路PC可以包括第一晶体管T1(驱动晶体管)、第二晶体管T2(开关晶体管)、第三晶体管T3(感测控制晶体管)和电容器Cst。
第一晶体管T1可以包括连接到用于供应驱动电压ELVDD的驱动电压线PL的第一电极和连接到有机发光二极管OLED的第一电极(像素电极)的第二电极。第一晶体管T1的栅电极可以连接到节点N。第一晶体管T1可以响应于存储在电容器Cst中的电压而控制从驱动电压线PL流过有机发光二极管OLED的驱动电流。有机发光二极管OLED可以根据驱动电流发射具有特定亮度的光。
第二晶体管T2可以包括连接到扫描线GL的栅电极、连接到数据线DL的第一电极和连接到节点N的第二电极。第二晶体管T2可以根据通过扫描线GL输入的扫描信号导通，以将数据线DL电连接到节点N并且将通过数据线DL输入的数据信号传输到节点N。
第三晶体管T3可以包括连接到控制线CL的栅电极、连接到第一晶体管T1的第二电极的第一电极和连接到感测线SL的第二电极。第三晶体管T3可以在感测时段期间由通过控制线CL供应的控制信号导通，以将感测线SL电连接到第一晶体管T1的第二电极。
电容器Cst可以连接在节点N与第一晶体管T1的第二电极之间。电容器Cst可以存储与从第二晶体管T2接收的电压和第一晶体管T1的第二电极的电位之间的差对应的电压。
在图2中，N型晶体管被示出为像素电路PC的晶体管；然而，实施例不限于此。例如，根据各种实施例，像素电路PC的晶体管可以是P型晶体管，或者一些晶体管可以是P型晶体管，而其它晶体管可以是N型晶体管。
根据实施例，至少第一晶体管T1可以是包括非晶氧化物半导体或结晶氧化物半导体作为有源层的氧化物半导体薄膜晶体管。例如，第一晶体管T1至第三晶体管T3可以是氧化物半导体薄膜晶体管。氧化物半导体薄膜晶体管具有优异的截止电流特性。可选地，根据实施例，第一晶体管T1至第三晶体管T3中的至少一个可以是包括多晶硅作为有源层的低温多晶硅(LTPS)薄膜晶体管。LTPS薄膜晶体管具有高电子迁移率，并因此具有快速驱动特性。
像素P的亮度可以主要根据数据信号来确定。然而，第一晶体管T1和/或有机发光二极管OLED的特性会附加地影响像素P的亮度。此外，第一晶体管T1和/或有机发光二极管OLED的特性会根据使用时间而变化。
因此，在实施例中，通过使用在感测时段期间通过使用第三晶体管T3感测的像素P的特性并且将像素P的特性反映到输入数据(即，第一数据DATA1)，可以执行第一数据DATA1的补偿，以补偿像素P的特性的变化。因此，可以显示均匀质量的图像。
更具体地，像素P可以在感测时段期间通过感测线SL输出特性信息并且响应于从数据线DL供应的数据信号在驱动时段期间发射光。
根据实施例，可以在显示装置10的装运(shipment)之前将感测像素P的特性信息的操作执行至少一次。因此，可以预存储像素P的初始特性信息，并且可以使用像素P的初始特性信息来校正输入数据，以补偿设置在显示面板110中的像素P之间的特性偏差。因此，显示面板110可以显示均匀质量的图像。
此外，根据实施例，可以在显示装置10的实际使用期间来每感测时段执行感测像素P的特性信息的操作。因此，即使当根据使用时间在像素P之间发生特性偏差时，像素P的改变的特性信息也可以实时更新并反映在数据信号的生成中。因此，可以在显示面板110上显示均匀质量的图像。如图3中所示，感测时段ST可以设置在施加电力(通电)之后、驱动时段DT之间以及电力截止(断电)之前。
感测时段ST可以包括过渡时段(transition period)TT和有效时段ET。当显示装置10进入感测模式时，施加到显示面板110的输入电力(例如，驱动电压ELVDD、共电压ELVSS或参考电压)会在感测时段ST开始时不稳定，因此感测结果中会包括噪声。在下文中，将从感测时段ST的开始(图8中的t1)到输入电力稳定时的时间(图8中的t2)的时段称为过渡时段TT，将从输入电力稳定时的时间到感测终止时的时间的时段称为有效时段ET。过渡时段TT的长度可以通过测试预设为输入电力足以稳定的时间。
传感器140可以在过渡时段TT期间从显示面板110的部分区域获得感测数据。在过渡时段TT期间由传感器140(见图1)获得的感测数据可以不被补偿器170使用。在实施例中，传感器140可以将在过渡时段TT期间获得的感测数据处理为虚设数据，而不将感测数据提供到补偿器170。在另一实施例中，传感器140可以将在过渡时段TT期间获得的感测数据提供到补偿器170，并且补偿器170可以将感测数据处理为虚设数据，而不使用感测数据来生成第二数据DATA2。通过不使用在过渡时段TT期间获得的特性信息，可以改善感测结果的准确性。
图4是示出根据实施例的显示装置的图，并且具体地是示出传感器的实施例的图。图5是示出根据实施例的设置在传感器中的感测通道的图。在图5中，仅示出了图4中所示的多个感测通道之中的一个感测通道。
参照图4，根据实施例的传感器140可以包括第一感测集成电路(IC)1401至第j感测集成电路(IC)140j(其中，j是2或更大的自然数)。第一感测IC 1401至第j感测IC 140j可以实施为提取像素P的特性信息的读出IC。传感器140可以在感测时段期间被启用，并且在驱动时段期间被停用。
第一感测IC 1401至第j感测IC 140j中的每个可以包括分别连接到多条感测线SL的多个模拟前端(AFE)142、连接到多个AFE 142的输出端子的ADC 146以及包括连接在AFE142与ADC 146之间的多个开关145的开关部144。连接到感测线SL中的每条的AFE 142和开关145可以构成一个感测通道S-CH。也就是说，第一感测IC 1401至第j感测IC 140j中的每个可以包括多个感测通道S-CH。
AFE 142可以采样并保持从感测线SL输入的像素P的特性信息，并且临时存储采样并保持的特性信息。为此，AFE 142可以包括连接到感测线SL的电容器。
开关部144可以将多个AFE 142顺序地连接到一个ADC 146，因此，可以控制开关部144，使得存储在AFE 142中的特性信息可以顺序地供应到ADC 146并转换为感测数据。
ADC 146可以将从感测通道S-CH中的通过开关部144分配的多个AFE 142顺序地提供的模拟特性信息转换为数字感测数据。
传感器140还可以包括连接到ADC 146的存储器148。存储器148可以用作用于临时存储从ADC 146供应的数字感测数据的缓冲器。与每个像素P的特性信息对应的数字感测数据可以被存储在存储器148中。存储在存储器148中的数字感测数据可以供应到控制器160的补偿器170。
补偿器170可以将第一数据DATA1转换为第二数据DATA2，使得基于包括像素P中的每个的特性信息的感测数据来补偿像素P之间的特性偏差。
在下文中，将参照图5更详细地描述包括感测时段和驱动时段的像素P和传感器140的操作。
根据实施例，在感测时段期间，传感器140可以通过感测线SL提取像素P的特性信息，并且将提取的特性信息转换为感测数据。补偿器170可以响应于感测数据而设定补偿值，以补偿像素P之间的特性偏差。
在感测时段期间，数据驱动器150可以将参考电压供应到数据线DL以达到使电流可以流过像素P的程度。根据实施例，数据驱动器150可以不供应参考电压。在这种情况下，可以通过在感测时段期间将数据线DL电连接到特定电流源和/或电压源来驱动像素P。
此外，扫描信号和控制信号可以在感测时段的预定时段期间分别供应到扫描线GL和控制线CL。根据实施例，可以针对显示面板110的每条水平线(行)顺序地供应扫描信号和控制信号。接收扫描信号和控制信号的行中的像素P中的第二晶体管T2和第三晶体管T3可以导通。当第三晶体管T3导通时，第一晶体管T1的第二电极可以电连接到感测线SL。此外，当第二晶体管T2导通时，来自数据线DL的参考电压可以传输到节点N。
当参考电压供应到节点N时，第一晶体管T1导通。因此，在像素P中生成与参考电压对应的电流，并且电流可以经由像素P中的每个的第三晶体管T3供应到感测线SL。
感测线SL具有特定的电阻值，因此，与流过对应的像素P的特定电流对应的电压施加到感测线SL中的每条。施加到感测线SL的电压可以存储在寄生地形成在感测线SL中的线电容器CLine中，并且也可以存储在连接到感测线SL的AFE 142中。
存储在线电容器CLine和AFE 142中的电压可以包括当前感测行的像素P中包括的第一晶体管T1的特性信息。响应于参考电压流过第一晶体管T1的电流可以反映第一晶体管T1的阈值电压、迁移率和劣化。
根据实施例，可以附加地提取有机发光二极管OLED的特性信息。例如，通过将设置在待感测的行的像素P中的有机发光二极管OLED连接到特定电流源，电流可以流过有机发光二极管OLED。此外，通过提取施加到有机发光二极管OLED的一个电极(例如，像素电极)的电压，可以附加地提取与有机发光二极管OLED的阈值电压和劣化对应的特性信息。
提取像素P的特性信息的方法不限于上述实施例。例如，可以通过各种已知的方法来提取像素P的特性信息。
当施加到感测线SL的电压通过AFE 142输入到传感器140时，ADC 146可以将存储在AFE 142中的模拟电压转换为具有数字格式的感测数据。从ADC 146输出的感测数据可以临时存储在感测集成电路1401、……、140j中的存储器148中，然后输入到补偿器170。接收与像素P中的每个对应的感测数据的补偿器170可以设定与每个像素P的感测数据对应的补偿值。补偿器170可以通过反映在感测时段中设定的补偿值来在驱动时段期间将第一数据DATA1转换为第二数据DATA2，并且将第二数据DATA2输出到数据驱动器150。
在驱动时段期间从补偿器170输出的第二数据DATA2可以输入到数据驱动器150，并且数据驱动器150可以生成与第二数据DATA2对应的数据信号并将生成的数据信号输出到数据线DL。
在驱动时段期间，扫描信号可以供应到扫描线GL。根据实施例，可以一次一行地向显示面板110中的扫描线GL顺序地供应扫描信号。第二晶体管T2可以在接收扫描信号的像素P中的每个中导通。因此，施加到数据线DL的数据信号可以传输到像素P的节点N，并且与数据信号对应的电压可以充入在电容器Cst中。
当数据信号供应到节点N时，第一晶体管T1导通，并且导通的第一晶体管T1可以将与数据信号对应的驱动电流供应到有机发光二极管OLED。因此，驱动电流从驱动电压线PL(见图2)沿着通过第一晶体管T1和有机发光二极管OLED的电流路径流动。然后，有机发光二极管OLED可以发射具有与驱动电流对应的亮度的光。因为响应于第二数据DATA2而生成数据信号，所以可以补偿像素P之间的特性偏差，因此可以在显示面板上显示均匀质量的图像。
图6是示出根据实施例的显示装置的图。
参照图6，显示装置10可以包括显示面板110和多个驱动电路30。多个驱动电路30可以对应于显示面板110的特定区域，并且每个驱动电路30可以连接到布置在对应的区域中的多条数据线DL和多条感测线SL。
显示面板110可以包括其中布置有多个像素P的显示区域DA和在显示区域DA外部的***区域NDA。***区域NDA可以是其中未布置像素P的非显示区域。显示区域DA可以被***区域NDA完全围绕。在实施例中，虚设像素可以布置在***区域NDA中。虚设像素中的每个可以是不涉及图像的显示的像素。虚设像素中的每个可以不具有显示元件。
多个驱动电路30中的每个可以安装在膜类型的连接电路板40上，并且驱动电路30可以通过电路板50彼此连接。连接电路板40中的每个可以连接到设置在显示面板110的***区域NDA中的垫(pad，又被称为“焊盘”或“焊垫”)。驱动电路30中的每个可以是集成电路(IC)，并且可以包括连接到布置在显示面板110的对应的区域中的多条数据线DL的数据驱动器(例如，图1中的数据驱动器150)以及连接到多条感测线SL的传感器(例如，图1中的传感器140)。连接到多条扫描线GL的扫描驱动器(例如，图1中的扫描驱动器120)可以直接设置在显示面板110的***区域NDA中。
像素P中的每个可以是发射特定颜色的光的像素。像素P可以包括发射第一颜色的光的第一像素、发射第二颜色的光的第二像素和发射第三颜色的光的第三像素。例如，第一像素可以是发射红光的红色像素，第二像素可以是发射绿光的绿色像素，第三像素可以是发射蓝光的蓝色像素。第一像素至第三像素中的每个可以包括显示元件。显示元件可以连接到像素电路。显示元件可以包括有机发光二极管或量子点有机发光二极管。
图7是示出根据实施例的图6的显示装置的部分A的示意图。图8是示出在图7的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图。
参照图7，图6的显示面板110可以包括显示区域DA和***区域NDA，并且虚设区域DM可以包括在***区域NDA中。
多个像素P可以设置在显示区域DA的多个行R1至Rn和多个列C1至Ck中。像素P中的每个可以连接到多条扫描线GL1至GLn中的对应的一条和多条数据线DL1至DLk中的对应的一条。此外，像素P中的每个可以连接到多条控制线CL1至CLn中的对应的一条和多条感测线SL1至SLk中的对应的一条。扫描线GL1至GLn和控制线CL1至CLn可以在第一方向D1上延伸，而数据线DL1至DLk和感测线SL1至SLk可以在第二方向D2上延伸。
虚设区域DM可以设置在例如显示区域DA的第一扫描信号施加到其的第一行R1的上端处。虚设区域DM可以包括其中设置有多个虚设像素DP的至少两个虚设行DR1至DRm。虚设像素DP中的每个可以连接到多条虚设扫描线DGL1至DGLm中的对应的一条和多条数据线DL1至DLk中的对应的一条。此外，虚设像素DP中的每个可以连接到多条虚设控制线DCL1至DCLm中的对应的一条和多条感测线SL1至SLk中的对应的一条。虚设扫描线DGL1至DGLm和虚设控制线DCL1至DCLm可以在第一方向D1上延伸。虚设行DR1至DRm的数量可以根据过渡时段TT(见图8)的长度来确定。例如，当过渡时段TT的长度设定为扫描信号的扫描时间的j倍时，虚设区域DM中的虚设行DR1至DRm的数量可以是j(j≤m)。
感测线SL1至SLk中的每条的一端可以连接到传感器140的对应的AFE 142。当开关SW1至SWk顺序地接通时，ADC 146可以从感测通道S-CH1至S-CHk顺序地接收具有模拟形式的特性信息，并且可以将具有模拟形式的特性信息转换为具有数字格式的感测数据并将转换的感测数据存储在存储器148中。
参照图8，扫描信号可以顺序地施加到虚设扫描线DGL1至DGLm和扫描线GL1至GLn，并且参考电压可以施加到数据线DL1至DLk并因此可以施加到虚设像素DP和像素P。此外，控制信号可以顺序地施加到虚设控制线DCL1至DCLm和控制线CL1至CLn。控制信号可以与扫描信号重叠。
传感器140可以将通过感测虚设区域DM获得的感测数据处理为虚设数据，并且不将被处理为虚设数据的感测数据传输到补偿器170。然而，传感器140可以将通过感测显示区域DA获得的感测数据传输到补偿器170。用于感测虚设区域DM的时段可以对应于过渡时段TT，而用于感测显示区域DA的时段可以对应于有效时段ET(见图8)。例如，当来自扫描驱动器120的扫描信号和来自控制线驱动器130的控制信号顺序地施加到虚设区域DM的虚设行DR1至DRm时，即，在过渡时段TT期间，传感器140可以通过感测线SL1至SLk一次一行地顺序地感测布置在虚设区域DM中的虚设像素DP。当来自扫描驱动器120的扫描信号和来自控制线驱动器130的控制信号顺序地施加到显示区域DA的行R1至Rn时，即，在有效时段ET期间，传感器140可以通过感测线SL1至SLk一次一行地顺序地感测布置在显示区域DA中的像素P。
例如，当控制信号施加到第一虚设行DR1的虚设控制线DCL1时，设置在第一虚设行DR1中的虚设像素DP可以连接到感测线SL1至SLk。此外，从感测线SL1至SLk施加到AFE(AFE1至AFEk)的虚设像素DP的特性信息可以通过开关145输出到ADC 146，并且ADC 146可以生成虚设数据DD1。此外，当执行感测直到第m虚设行DRm然后将控制信号施加到第一行R1的控制线CL1时，设置在第一行R1中的像素P可以连接到感测线SL1至SLk。此外，从感测线SL1至SLk施加到AFE(AFE1至AFEk)的像素P的特性信息可以通过开关145输出到ADC 146，并且ADC146可以生成第一行R1的感测数据SD1。感测数据SD1可以包括由ADC 146针对连接到第一行R1的第一感测线SL1至第k感测线SLk的像素P中的每个顺序地生成的感测数据AD1至ADk。可以执行感测直到第n行。
传感器140可以不将通过顺序地感测第一虚设行DR1至第m虚设行DRm的虚设像素DP而生成的虚设数据DD1至DDm输出到补偿器170。传感器140可以将通过感测第一行R1至第n行Rn的像素P而生成的感测数据SD1至SDn存储在存储器148中，然后将感测数据SD1至SDn输出到补偿器170。
在另一实施例中，虚设数据DD1至DDm可以输出到补偿器170，但是可以不被补偿器170使用。
图9是示出根据实施例的图6的显示装置的部分A的示意图。图10是示出在图9的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图。
图9中所示的实施例与图7中所示的实施例的不同之处在于：虚设区域DM中仅包括一个虚设行DR1。在下文中，将省略与图7的构造相同的构造的详细描述。
参照图9和图10，扫描信号可以在过渡时段TT期间重复地施加到虚设区域DM的虚设行DR1的虚设扫描线DGL1达特定次数，然后在有效时段ET期间顺序地施加到显示区域DA的扫描线GL1至GLn。
当通过扫描信号选择虚设行DR1时，参考电压可以施加到数据线DL1至DLk，因此，参考电压可以施加到虚设像素DP。此外，控制信号可以重复地施加到虚设控制线DCL1达特定次数。控制信号可以与扫描信号重叠。在实施例中，扫描信号和控制信号可以在过渡时段TT期间重复地施加到虚设行DR1达特定次数。可以根据过渡时段TT的长度来确定扫描信号施加到虚设扫描线DGL1的次数和控制信号施加到虚设控制线DCL1的次数。例如，当过渡时段TT的长度设定为扫描信号的扫描时间的j倍时，扫描信号和控制信号可以重复地施加到虚设区域DM的虚设行DR1达j次。
在另一实施例中，在过渡时段TT期间，控制信号可以重复地施加到虚设行DR1达特定次数，同时扫描信号施加到虚设行DR1一次。在这种情况下，施加到虚设行DR1的扫描信号的长度可以对应于过渡时段TT的长度，并且可以比施加到显示区域DA的扫描信号的长度大。
当在有效时段ET期间通过扫描信号顺序地选择显示区域DA的第一行R1至第n行Rn时，参考电压可以施加到数据线DL1至DLk，因此，参考电压可以施加到像素P。此外，控制信号可以顺序地施加到控制线CL1至CLn。控制信号可以与扫描信号重叠。
传感器140可以不向补偿器170输出通过多次感测虚设区域DM的虚设行DR1的虚设像素DP而生成的虚设数据DD。传感器140可以将通过感测显示区域DA的第一行R1至第n行Rn中的像素P而生成的感测数据SD1至SDn存储在存储器148中，然后将感测数据SD1至SDn输出到补偿器170。
图11是示出根据实施例的图6的显示装置的部分A的示意图。图12是示出在图11的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图。
图11中所示的实施例与图7中所示的实施例的不同之处在于：在显示面板110(见图6)中没有虚设区域DM。
参照图11和图12，扫描信号可以在过渡时段TT期间重复地施加到显示区域DA的一行中的扫描线达特定次数，然后在有效时段ET期间顺序地施加到显示区域DA的所有行的扫描线GL1至GLn。当在过渡时段TT期间通过扫描信号选择一行时，参考电压可以施加到数据线DL1到DLk，因此，参考电压可以施加到所选择的一行的像素P。此外，控制信号可以在过渡时段TT期间重复地施加到所选择的一行的控制线达特定次数。控制信号可以与扫描信号重叠。图12示出了其中在过渡时段TT期间选择第三行并且控制信号重复地施加到第三行的控制线CL3达特定次数的示例。
可以根据过渡时段TT的长度来确定在过渡时段TT期间扫描信号施加到选择的一行的次数和控制信号施加到选择的一行的次数。例如，当过渡时段TT的长度被设定为扫描信号的扫描时间的j倍时，扫描信号和控制信号可以重复地施加到选择的一行的扫描线和控制线达j次。
随后，当在有效时段ET期间通过扫描信号顺序地选择显示区域DA的第一行R1至第n行Rn时，参考电压可以施加到数据线DL1至DLk，因此，参考电压可以施加到像素P。此外，控制信号可以顺序地施加到控制线CL1至CLn。控制信号可以与扫描信号重叠。
传感器140可以将通过在过渡时段TT期间多次感测在显示区域DA中选择的一行的像素P而生成的感测数据处理为虚设数据DD，并且不将感测数据输出到补偿器170。传感器140可以将通过在有效时段ET期间感测在显示区域DA中顺序地选择的第一行R1至第n行Rn的像素P而生成的感测数据SD1至SDn存储在存储器148中，然后将感测数据SD1至SDn输出到补偿器170。
图13是示出根据实施例的图6的显示装置的部分A的示意图。图14是示出在图13的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图。
图13中所示的实施例与图11中所示的实施例的不同之处在于：虚设感测通道DS-CH被添加到传感器140。
参照图13，传感器140可以包括多个感测通道S-CH1至S-CHk。传感器140还可以包括虚设感测通道DS-CH，虚设感测通道DS-CH包括虚设模拟前端(DAFE)142'以及在DAFE142'与ADC 146之间的虚设开关DSW。虚设感测通道DS-CH可以不连接到显示面板110的感测线SL。
参照图14，虚设感测通道DS-CH的虚设开关DSW可以在过渡时段TT期间重复地接通达特定次数，并且ADC 146可以将从虚设感测通道DS-CH输出的数据重复地处理为虚设数据ADD。在实施例中，特定信号可以施加到虚设感测通道DS-CH的DAFE 142'。例如，可以将对应于参考电压的特定电压或特定电流施加到虚设感测通道DS-CH的DAFE 142'。可以根据过渡时段TT的长度来确定虚设感测通道DS-CH连接到ADC 146的次数。
随后，当在有效时段ET期间通过扫描信号顺序地选择显示区域DA的第一行R1至第n行Rn时，参考电压可以施加到数据线DL1至DLk，因此，参考电压可以施加到像素P。此外，控制信号可以顺序地施加到控制线CL1至CLn。控制信号可以与扫描信号重叠。
传感器140可以不将通过在过渡时段TT期间多次驱动虚设感测通道DS-CH而生成的虚设数据ADD输出到补偿器170。传感器140可以将通过在有效时段ET期间感测显示区域DA的第一行R1至第n行Rn的像素P而生成的感测数据SD1至SDn存储在存储器148中，然后将感测数据SD1至SDn输出到补偿器170。
图15是示出根据实施例的图6的显示装置的部分A的示意图。图16是示出在图15的显示装置中在感测时段期间施加的信号的图。
图15中所示的实施例与图11中所示的实施例的不同之处在于：传感器140还包括用于IC校准的电流源IREF和设置在电流源IREF与多个AFE(AFE1至AFEk)之间的电流开关SI1至SIk。
在实施例中，传感器140可以在感测时段期间执行IC校准。类似于在图6的显示面板110进入感测模式时的过渡时段TT，在IC校准开始时会存在过渡时段TT。传感器140可以在其中执行IC校准的感测时段的过渡时段TT期间将感测通道重复地连接到ADC 146达特定次数，并且可以将在过渡时段TT期间生成的感测数据处理为虚设数据。图16示出了其中第一感测通道S-CH1在过渡时段TT期间重复连接到ADC 146达特定次数的示例。
参照图16，当显示装置执行IC校准时，传感器140可以在过渡时段TT期间重复地使连接到第一感测通道S-CH1的电流开关SI1接通达特定次数，以将电流从电流源IREF供应到第一感测通道S-CH1的AFE(AFE1)。传感器140可以通过响应于电流开关SI1的接通而重复地使第一感测通道S-CH1的开关SW1接通达特定次数来将第一感测通道S-CH1的AFE(AFE1)重复地连接到ADC 146达特定次数。
随后，可以在有效时段ET期间顺序地使电流开关SI1至SIk接通，并且可以将来自电流源IREF的电流提供到AFE(AFE1至AFEk)中的每个。
传感器140可以将在过渡时段TT期间从第一感测通道S-CH1多次输出的模拟数据转换为具有数字格式的感测数据，并且可以将感测数据处理为虚设数据ADD，而不将虚设数据ADD输出到补偿器170。传感器140可以将在有效时段ET期间从第一感测通道S-CH1至第k感测通道S-CHk输出的模拟数据转换为具有数字格式的感测数据AD1至ADk，将感测数据AD1至ADk存储在存储器148中，然后将感测数据AD1至ADk输出到补偿器170。
在上述实施例中，针对每列设置感测线SL，但是在其它实施例中，多个列可以共享一条感测线SL。
图17是根据实施例的显示面板的示意图。
在本实施例中，一组第一像素P1、第二像素P2和第三像素P3将被称为单元像素UP。第一像素至第三像素P1、P2和P3中的每个可以包括显示元件。显示元件可以连接到像素电路。显示元件可以包括有机发光二极管或量子点有机发光二极管。
参照图17，单元像素UP可以在显示面板110中沿第一方向D1和第二方向D2布置，以形成矩阵构造。也就是说，第一像素P1、第二像素P2和第三像素P3可以布置在第一方向D1上。例如，第一像素P1可以布置在第一子列SC1中，第二像素P2可以布置在与第一子列SC1相邻的第二子列SC2中，第三像素SP3可以布置在与第二子列SC2相邻的第三子列SC3中。第一子列至第三子列SC1、SC2和SC3将被称为一个列。
第一像素至第三像素P1、P2和P3中的每个可以连接到多条扫描线GL之中的对应的扫描线和多条数据线DL之中的对应的数据线。例如，第一像素P1可以连接到布置在第一子列SC1中的数据线DL，第二像素P2可以连接到布置在第二子列SC2中的数据线DL，第三像素P3可以连接到布置在第三子列SC3中的数据线DL。
此外，第一像素至第三像素P1、P2和P3中的每个可以连接到多条控制线CL之中的对应的控制线和多条感测线SL之中的对应的感测线。可以在每行中设置一条控制线CL，并且构成单元像素UP的同一行中的第一像素至第三像素P1、P2和P3可以共享一条控制线CL。在第一方向D1上相邻并构成每个像素列中的单元像素UP的第一像素至第三像素P1、P2和P3可以共享一条感测线SL。
例如，在第一像素P1的感测时段中，当扫描信号和控制信号分别施加到第k行的扫描线GL和控制线CL时，第k行的第一像素至第三像素P1、P2和P3中的每个的第二晶体管T2和第三晶体管T3可以导通，以对电容器Cst充电。在这种情况下，可以通过待感测的第一像素P1的数据线DL供应参考电压以使第一像素P1的第一晶体管T1导通，并且可以将电压(例如，0V)施加到第二像素P2和第三像素P3的数据线DL以使第二像素P2和第三像素P3的第一晶体管T1截止。因此，第一像素至第三像素P1、P2和P3中的一个可以选择性地连接到感测线SL。
根据依据公开的实施例的显示装置及其驱动方法，显示面板的部分区域(例如，虚设区域或者显示区域中的一些行)可以在过渡时段期间被自动感测一次或多次，并且通过感测部分区域获得的感测数据可以被处理为虚设数据，并且可以生成补偿值作为在其中输入电力稳定的有效时段期间一次一行地顺序地感测整个显示面板的结果，因此，可以确保更精确的感测数据。
根据依据公开的实施例的显示装置及其驱动方法，可以有效地补偿像素之间的特性偏差，因此，可以显示具有均匀图像质量的图像。
应理解的是，这里描述的实施例应仅在描述性意义上考虑，而不是为了限制的目的。每个实施例内的特征或方面的描述通常应被认为可用于其它实施例中的其它类似特征或方面。虽然已经参照附图描述了一个或更多个实施例，但是本领域普通技术人员将理解的是，在不脱离如由权利要求限定的精神和范围的情况下，可以在其中进行形式和细节上的各种改变。

Claims (20)

1.一种显示装置，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，所述感测时段包括过渡时段和在所述过渡时段之后的有效时段，所述显示装置包括：
显示面板，包括多条感测线和多个像素，所述多个像素各自连接到所述多条感测线之中的对应的感测线；
传感器，通过所述多条感测线来感测所述多个像素的特性信息，并且将所述特性信息转换为具有数字格式的感测数据；以及
补偿器，基于所述感测数据将从所述显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，
其中，所述传感器在所述过渡时段期间感测布置在所述显示面板的部分区域中的像素的特性信息，并且将所感测的特性信息处理为虚设数据。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示面板包括显示区域和在所述显示区域周围的非显示区域，所述非显示区域包括虚设区域，并且
其中，所述传感器在所述过渡时段期间感测布置在所述虚设区域中的虚设像素的特性信息，并且将所感测的所述虚设像素的特性信息处理为虚设数据。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述虚设区域包括多个虚设行，并且
其中，所述传感器在所述过渡时段期间一次一行地顺序地感测布置在所述多个虚设行中的虚设像素的特性信息。
4.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述虚设区域包括一个虚设行，并且
其中，所述传感器在所述过渡时段期间多次感测布置在所述一个虚设行中的虚设像素的特性信息。
5.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述虚设区域与所述显示区域的第一行相邻。
6.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述传感器不向所述补偿器输出所述虚设数据。
7.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述传感器在所述有效时段期间一次一行地顺序地选择布置在所述显示区域中的像素，以感测所选择的像素的特性信息。
8.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述传感器在所述过渡时段期间多次感测布置在所述显示面板的显示区域中的一行中的像素的特性信息，并且将所感测的所述像素的特性信息处理为虚设数据。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述传感器在所述有效时段期间一次一行地顺序地选择布置在所述显示区域中的像素，以感测所选择的像素的特性信息。
10.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述传感器包括：
多个模拟前端，分别连接到所述多条感测线，并且保持像素行中的像素的特性信息；以及
模数转换器，顺序地连接到所述多个模拟前端，以将所述像素行中的所述像素的所述特性信息转换为数字感测数据。
11.根据权利要求10所述的显示装置，所述显示装置还包括：
多个开关，设置在所述多个模拟前端中的每个模拟前端与所述模数转换器之间。
12.根据权利要求1所述的显示装置，所述显示装置还包括：
扫描驱动器，向所述多个像素施加扫描信号；以及
数据驱动器，在所述感测时段期间向所述多个像素施加参考电压，并且在所述驱动时段期间向所述多个像素施加数据信号。
13.一种显示装置，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，所述感测时段包括过渡时段和在所述过渡时段之后的有效时段，所述显示装置包括：
显示面板，包括多条感测线和多个像素，所述多个像素各自连接到所述多条感测线之中的对应的感测线；
传感器，通过所述多条感测线感测所述多个像素的特性信息，并且将所述特性信息转换为具有数字格式的感测数据；以及
补偿器，基于所述感测数据将从所述显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，
其中，所述传感器包括：
多个模拟前端，分别连接到所述多条感测线，并且保持像素行中的像素的特性信息；
模数转换器，顺序地连接到所述多个模拟前端，以将所述像素行中的所述像素的所述特性信息转换为数字感测数据；以及
虚设模拟前端，并且
其中，所述传感器在所述过渡时段期间将所述虚设模拟前端多次连接到所述模数转换器。
14.根据权利要求13所述的显示装置，所述显示装置还包括：
多个开关，设置在所述多个模拟前端中的每个模拟前端与所述模数转换器之间；以及
虚设开关，设置在所述虚设模拟前端与所述模数转换器之间。
15.一种显示装置的驱动方法，所述显示装置被驱动为具有驱动时段和感测时段，所述感测时段包括过渡时段和在所述过渡时段之后的有效时段，所述驱动方法包括以下步骤：
感测多个像素的特性信息，并且将所述特性信息转换为具有数字格式的感测数据，所述多个像素各自连接到多条感测线之中的对应的感测线；以及
基于所述感测数据将从所述显示装置的外部接收的第一数据转换为第二数据，
其中，将所述特性信息转换为所述感测数据的步骤包括：在所述过渡时段期间感测布置在显示面板的部分区域中的像素的特性信息，并且将所感测的特性信息处理为虚设数据。
16.根据权利要求15所述的驱动方法，其中，所述显示面板包括显示区域和在所述显示区域周围的非显示区域，所述非显示区域包括虚设区域，并且
其中，将所述特性信息转换为所述感测数据的步骤包括：在所述过渡时段期间感测布置在所述虚设区域中的虚设像素的特性信息，并且将所感测的所述虚设像素的特性信息处理为虚设数据。
17.根据权利要求16所述的驱动方法，其中，所述虚设区域包括多个虚设行，并且
其中，将所述特性信息转换为所述感测数据的步骤包括：在所述过渡时段期间一次一行地顺序地感测布置在所述多个虚设行中的虚设像素的特性信息，并且将所感测的特性信息处理为虚设数据。
18.根据权利要求16所述的驱动方法，其中，所述虚设区域包括一个虚设行，并且
其中，将所述特性信息转换为所述感测数据的步骤包括：在所述过渡时段期间多次感测布置在所述一个虚设行中的虚设像素的特性信息，并且将所感测的特性信息处理为虚设数据。
19.根据权利要求16所述的驱动方法，其中，所述虚设区域与所述显示区域的第一行相邻。
20.根据权利要求15所述的驱动方法，其中，将所述特性信息转换为所述感测数据的步骤包括：在所述过渡时段期间多次感测布置在所述显示面板的显示区域中的一行中的像素的特性信息，并且将所感测的所述像素的特性信息处理为虚设数据。
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