CN114371672A - Dcs***响应时间测试*** - Google Patents

Dcs***响应时间测试*** Download PDF

Info

Publication number
CN114371672A
CN114371672A CN202111532872.9A CN202111532872A CN114371672A CN 114371672 A CN114371672 A CN 114371672A CN 202111532872 A CN202111532872 A CN 202111532872A CN 114371672 A CN114371672 A CN 114371672A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
response time
dcs
dcs system
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111532872.9A
Other languages
English (en)
Inventor
刘磊
秦天牧
高明帅
邢智炜
康静秋
高爱国
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
State Grid Corp of China SGCC
North China Electric Power Research Institute Co Ltd
Original Assignee
State Grid Corp of China SGCC
North China Electric Power Research Institute Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by State Grid Corp of China SGCC, North China Electric Power Research Institute Co Ltd filed Critical State Grid Corp of China SGCC
Priority to CN202111532872.9A priority Critical patent/CN114371672A/zh
Publication of CN114371672A publication Critical patent/CN114371672A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41845—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by system universality, reconfigurability, modularity
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/33—Director till display
    • G05B2219/33273—DCS distributed, decentralised controlsystem, multiprocessor
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明实施例公开了一种DCS***响应时间测试***，该***包括：输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备；所述输入信号产生回路与DCS***的AI卡件连接，所述输入信号产生回路包括：用于产生信号的信号源以及第一电阻；所述输出信号采集回路与所述DCS***的AO卡件或者DO卡件连接，所述输出信号采集回路包括：第二电阻；所述信号检测设备，用于检测所述第一电阻两侧的电压得到第一电压信号，以及检测所述第二电阻两侧的电压得到第二电压信号，进而根据所述第一电压信号和所述第二电压信号确定所述DCS***的响应时间。本发明提供了一种准确、便捷的检测DCS***的响应时间的方案。

Description

DCS***响应时间测试***
技术领域
本发明涉及DCS***技术领域，具体而言，涉及一种DCS***响应时间测试***。
背景技术
集散控制***简称DCS，也可直译为“分散控制***”。它采用控制分散、操作和管理集中的基本设计思想，采用多层分级、合作自治的结构形式。其主要特征是它的集中管理和分散控制。DCS在电力、冶金、石化等各行各业都获得了极其广泛的应用。
DCS控制着整个工艺过程的各个环节，小到现场的一个仪表，大到整个大型设备，如火电厂的汽轮机。因此提高DCS的稳定性、可靠性直接影响着工艺过程的运行安全。响应时间是DCS***的一个重要指标，但是由于各个厂家生产的DCS***各自技术保密，导致无法从内部检验DCS***的响应时间，这就导致目前难以对DCS***的响应时间进行准确的检测。
由此可见，如何准确、便捷的检测DCS***的响应时间是本领域急需解决的技术问题。
发明内容
本发明为了实现准确、便捷的检测DCS***的响应时间，提出了一种DCS***响应时间测试***。
为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种DCS***响应时间测试***，该***包括：输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备；
所述输入信号产生回路与DCS***的AI卡件连接，所述输入信号产生回路包括：用于产生信号的信号源以及第一电阻；
所述输出信号采集回路与所述DCS***的AO卡件或者DO卡件连接，所述输出信号采集回路包括：第二电阻；
所述信号检测设备，用于检测所述第一电阻两侧的电压得到第一电压信号，以及检测所述第二电阻两侧的电压得到第二电压信号，进而根据所述第一电压信号和所述第二电压信号确定所述DCS***的响应时间。
可选的，所述信号检测设备，具体用于根据所述第一电压信号确定输入信号触发时刻，以及根据所述第二电压信号确定输出信号响应时刻，进而用所述输出信号响应时刻减去所述输入信号触发时刻得到所述DCS***的响应时间。
可选的，所述输入信号产生回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源。
可选的，所述输出信号采集回路上设置有电源或者所述输出信号采集回路连接所述DCS***中的电源。
可选的，所述信号源用于产生脉冲信号。
为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了另一种DCS***响应时间测试***，该***包括：
输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备；
所述输入信号产生回路与DCS***的DI卡件连接，所述输入信号产生回路包括：开关以及触发电路，所述触发电路用于控制所述开关的通断以产生通断信号；
所述输出信号采集回路与所述DCS***的AO卡件或者DO卡件连接，所述输出信号采集回路包括：第二电阻；
所述信号检测设备，用于检测所述开关两侧的电压得到第一电压信号，以及检测所述第二电阻两侧的电压得到第二电压信号，进而根据所述第一电压信号和所述第二电压信号确定所述DCS***的响应时间。
可选的，所述开关为高速可控硅开关器件。
本发明的有益效果为：
本发明实施例通过输入信号产生回路产生输入信号输入到DCS***的输入端(AI卡件或DI卡件)，进而通过输出信号采集回路采集DCS***的输出端(AO或DO)的输出，进而根据信号检测设备对信号进行检测，并根据检测的信号确定DCS***的响应时间，实现了准确、便捷的检测DCS***的响应时间的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1是本发明第一实施例DCS***响应时间测试***的示意图；
图2是本发明第二实施例DCS***响应时间测试***的示意图；
图3是本发明第三实施例DCS***响应时间测试***的示意图；
图4是本发明实施例运算周期20ms时的信号示意图；
图5是本发明实施例运算周期100ms时的信号示意图；
图6是本发明实施例运算周期400ms时的信号示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
本发明的DCS***响应时间测试***包括：输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备。
需要说明的是，DCS***包含：AI卡件、AO卡件、DI卡件以及DO卡件。
AI卡件为AI模拟量输入卡件，用于把被控对象模拟量转换成计算机能识别的数字信号。
AO卡件为AO模拟量输出卡件，用于把计算机的输出数字信号转换成外部过程控制仪表或装置能够接受的模拟量信号。
DI卡件为DI数字量输入卡件，用于把生产过程中只有两种状态的开关量信号转换成计算机可识别的信号形式。
DO卡件为DO数字量输出卡件，用于把计算机输出的二进制代码来表示的开关量信号转换成能对生产过程进行控制或显示状态的开关量信号。
图1是本发明第一实施例DCS***响应时间测试***的示意图，图1中虚线部分为DCS原有***，如图1所示，在本发明一个实施例中，输入信号产生回路与AI卡件连接，输入信号产生回路用于产生信号，并将产生的信号送入AI卡件。如图1所示，输入信号产生回路具体包括：信号源和第一电阻R1。如图1所示，在本发明一个实施例中，输出信号采集回路与DCS***的AO卡件连接，用于接收AO卡件输出的信号。如图1所示，输出信号采集回路包括：第二电阻R2。如图1所示，信号检测设备G1，用于检测第一电阻R1两侧的电压得到第一电压信号CH1，以及检测第二电阻R2两侧的电压得到第二电压信号CH2，进而根据第一电压信号CH1和第二电压信号CH2确定所述DCS***的响应时间。
在本发明可选实施例中，所述输入信号产生回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源(即所述输入信号产生回路可以采用DCS***内部电源或DCS***外部电源)。所述输出信号采集回路上设置有电源或者所述输出信号采集回路连接DCS***中的电源(即所述输出信号采集回路可以采用DCS***内部电源或DCS***外部电源)。图1实施例中采用的是输入信号产生回路上设置电源，以及输出信号采集回路连接DCS***中的电源的方案。输入信号产生回路连接DCS***中的电源的方案可以如图2所示，输出信号采集回路上设置电源的方案可以如图3所示。
在本发明一个实施例中，所述信号检测设备G1，具体用于根据所述第一电压信号CH1确定输入信号触发时刻，以及根据所述第二电压信号CH2确定输出信号响应时刻，进而用所述输出信号响应时刻减去所述输入信号触发时刻得到所述DCS***的响应时间。在本发明一个实施例中，所述信号源产生的是脉冲信号，便于更好的从CH1确定输入信号触发时刻以及从CH2确定输出信号响应时刻。
如图1所示，本发明采用从DCS***中引用一个模拟量输入卡件AI中的一个通道(图1实施例中采用的是AI通道外供电方式，DC为恒流源，若AI为电压型，DC替换为恒压源即可。同理可以采用DCS***内供电方式连接，只是输入信号产生回路的接线方式和信号源供电方式需要改变)；另一个采用模拟量输出卡件AO中的一个通道(图1实施例中采用的AO的DCS***内供电方式，即DC1为DCS***内的恒流源，若AO输出为电压信号，则DC1为恒压源。同样输出信号采集回路根据实际需要可以采用外供电方式，只是需要增加外部供电和接线方式)。AI与AO之间的数据交互是通过DCS***内部算法连接实现的。
在本发明一个实施例中，AI通道检测分为电流和电压检测，一般广泛采用为电流检测即检测电流为4-20mA(4mA对应量程0％，20mA对应100％)。为了增加检测的灵敏度、抗干扰能力和可靠性，需要为输入信号产生回路增加直流电源(一般电压1V-2V即可)。输入信号产生回路中的信号源采用高精度的频率可调的脉冲信号或者正弦波信号(检测DCS***响应时间宜采用脉冲信号，检测DCS***信号稳定和输入输出信号的复现特性)。同时输入信号产生回路中设置串联第一电阻R1(具体阻值在100Ω-500Ω即可，根据电流4-20mA转化为电压信号，具体电压值可以由欧姆定律U＝IR1得到)。
在本发明一个实施例中，AO通道检测分为电流和电压检测，一般广泛采用为电流检测即检测电流为4-20mA(4mA对应量程0％，20mA对应100％)。图1实施例采用DCS***内部供电方式，AO通道输出4-20mA恒流源，串接第二电阻R2转化为电压检测信号(具体阻值在100Ω-500Ω即可，根据电流4-20mA转化为电压信号，具体电压值可以由欧姆定律U＝IR2得到)。
在本发明一个实施例中，G1为高速信号检测设备，其信号分辨率在0.0005s以内，根据普通DCS***的运算周期在20ms-500ms之间，根据香农采样定理G1的信号分辨率能够满足要求。G1的一个通道CH1接入R1两端，即信号输入侧；另一个通道CH2接入R2两端，即信号输出侧。通过检测R1和R2两端的信号波形，并对波形进行分析，从CH1中分析确定出输入信号触发时刻，从CH2中分析确定出输出信号响应时刻，输入信号触发时刻到输出信号响应时刻之间的时间差即为DCS***的响应时间。
图2是本发明第二实施例DCS***响应时间测试***的示意图，图2中虚线部分为DCS原有***，如图2所示，在本发明一个实施例中，输入信号产生回路与DI卡件连接，输入信号产生回路用于产生通断信号，并将产生的通断信号送入DI卡件。由于DI卡件的输入开关量信号(即通断信号)，因此在图2的实施例中，输入信号产生回路具体包括：开关T1以及触发电路，所述触发电路用于控制所述开关T1的通断以产生通断信号。在图2实施例中，输出信号采集回路与DCS***的AO卡件连接，用于接收AO卡件输出的信号。如图2所示，输出信号采集回路包括：第二电阻R2。如图2所示，信号检测设备G1，用于检测开关T1两侧的电压得到第一电压信号CH1，以及检测第二电阻R2两侧的电压得到第二电压信号CH2，进而根据第一电压信号CH1和第二电压信号CH2确定所述DCS***的响应时间。
在本发明可选实施例中，所述输入信号产生回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源(即所述输入信号产生回路可以采用DCS***内部电源或DCS***外部电源)。所述输出信号采集回路上设置有电源或者所述输出信号采集回路连接DCS***中的电源(即所述输出信号采集回路可以采用DCS***内部电源或DCS***外部电源)。图2实施例中采用的是输入信号产生回路连接DCS***中的电源，以及输出信号采集回路连接DCS***中的电源的方案。
如图2所示，图中DI信号为DCS***内部供电类型，且为电压信号，输入信号产生回路通过产生通断信号，为防止普通开关信号开闭过程中的抖动问题，给监测过程带来不必要的判断干扰问题。因此开关T1采用了高速可控硅开关器件，通过触发电路来控制开关T1的通断，当T1关断时，监测CH1电压为电源DC空载电压值，例如5V，当T1导通时，CH1监测的为开关T1两端器件压降(一般很小，例如0.1V)。电压从电源DC空载电压值降到开关T1两端器件压降这个时刻(即通断信号出现的时刻)即为输入信号触发时刻。
图2实施例的输出信号采集回路对AO卡件的采集与图1实施例的完全相同，具体可以参见图1实施例，这里不再赘述。
在图2实施例中，信号检测设备G1，用于检测开关T1两侧的电压得到第一电压信号CH1，以及检测第二电阻R2两侧的电压得到第二电压信号CH2，进而根据第一电压信号CH1和第二电压信号CH2确定所述DCS***的响应时间。具体的，信号检测设备G1对第一电压信号CH1进行分析，将CH1中电压从电源DC空载电压值降到开关T1两端器件压降这个时刻作为输入信号触发时刻t1，并从第二电压信号CH2中确定输出信号响应时刻t2，进而用t2减去t1得到DCS***的响应时间。
图3是本发明第三实施例DCS***响应时间测试***的示意图，图3中虚线部分为DCS原有***，如图3所示，在本发明一个实施例中，输入信号产生回路与AI卡件连接，输入信号产生回路用于产生信号(优选为脉冲信号)，并将产生的信号送入AI卡件。如图3所示，输入信号产生回路具体包括：信号源和第一电阻R1。如图3所示，在本实施例中，输出信号采集回路与DCS***的DO卡件连接，用于接收DO卡件输出的信号，DO卡件输出的是开关量信号(即通断信号)。如图3所示，输出信号采集回路包括：第二电阻R2。如图3所示，信号检测设备G1，用于检测第一电阻R1两侧的电压得到第一电压信号CH1，以及检测第二电阻R2两侧的电压得到第二电压信号CH2，进而根据第一电压信号CH1和第二电压信号CH2确定所述DCS***的响应时间。
如图3所示，图3实施例中输入信号产生回路中设置有电源，即采用DCS***外部供电方案，图3实施例中输出信号采集回路中设置有电源，即采用DCS***外部供电方案。
在图3实施例中，DO卡件输出的是开关量信号(即通断信号)，信号检测设备G1确定出第二电压信号CH2中通断信号出现时刻为输出信号响应时刻。
在图3实施例中，输入为AI信号，输出为DO信号的监测回路。AI的如上述描述。DO采用外供电模式，G1的CH2通道监测保护电阻R2两端的电压，当AI触发后经过DCS逻辑运算输出DO信号，DO产生通断信号，通过判断R2两端的电压即可判定输出信号响应时刻。
在本发明第四实施例中，输入信号产生回路与DI卡件连接，输入信号产生回路用于产生通断信号，并将产生的通断信号送入DI卡件。由于DI卡件的输入为开关量信号(即通断信号)，因此在图2的实施例中，输入信号产生回路具体包括：开关T1以及触发电路，所述触发电路用于控制所述开关T1的通断以产生通断信号。输出信号采集回路与DCS***的DO卡件连接，用于接收DO卡件输出的信号，DO卡件输出的是开关量信号(即通断信号)，输出信号采集回路包括：第二电阻R2。在本实施例中，信号检测设备G1，用于检测开关T1两侧的电压得到第一电压信号CH1，以及检测第二电阻R2两侧的电压得到第二电压信号CH2，进而根据第一电压信号CH1和第二电压信号CH2确定所述DCS***的响应时间。
在第四实施例中，DI卡件的输入为开关量信号(即通断信号)，DO卡件输出的是开关量信号(即通断信号)，信号检测设备G1可以确定出第一电压信号CH1中通断信号出现时刻为输入信号触发时刻，确定出第二电压信号CH2中通断信号出现时刻为输出信号响应时刻。
由以上实施例可见，采用本发明方案可以解决所有类型的DCS***，以及DCS中不同类型卡件，不同供电类型的响应时间监测问题。
下面将结合具体的实施例对本发明上述方案进行解释说明。
采用本发明方案分别设置DPU控制运算周期分别在20ms、100ms和400ms条件下检测的CHl和CH2的数据和图形。
1、DPU控制器运算周期20ms。
按照图1实施例的方案接入后启动G1检测设备，启动信号源产生脉冲信号，记录波形如图4所示。
如图4所示，CH1为输入通道即R1两端的电压信号，触发时间为t1时刻；CH2为输出通道R2两端的电压信号，接受的信号时刻为t2。根据Δt＝t2-t1＝38.46ms得到响应时间为38.46ms。即DCS的全响应时间为38.46ms，Δt＝AI采样滤波时间+DPU运算周期时间+AO输出转换时间。同时对于本次试验输出信号可以看出三次后阶跃变化才稳定，其响应变化的连续性较差。同时对于试验可以采用多次试验后进行算数平均，消除随机误差。
2、DPU控制器运算周期100ms。
按照图1实施例的方案接入后启动G1检测设备，启动信号源产生脉冲信号，记录波形如图5所示。
如图5所示，CHl为输入通道即R1两端的电压信号，触发时间为t1时刻；CH2为输出通道R2两端的电压信号，接受的信号时刻为t2。根据Δt＝t2-t1＝149.42ms得到响应时间为149.42ms。即DCS的全响应时间为149.42ms。
Δt＝AI采样滤波时间+DPU运算周期时间+AO输出转换时间。同时对于本次试验输出信号可以较为平稳，其响应变化的连续性较好。同时对于试验可以采用多次试验后进行算数平均，消除随机误差。
在高速运行条件下，AO响应时间由于自身硬件D/A转换芯片的限制，输出过程的不连续问题表现得比较明显；当信号速率下降后，连续性得到改善。由此可以，本发明的信号检测设备G1还可以对CH2波形进行分析，确定CH2波形中是否有阶跃，若存在阶跃则可以确定当前DPU控制器运算周期过小(即信号速率过大)，以提示工作人员对DPU控制器运算周期进行设置。
3、DPU控制器运算周期400ms。
按照图1实施例的方案接入后启动G1检测设备，启动信号源产生脉冲信号，记录波形如图6所示。
如图6所示，CH1为输入通道即R1两端的电压信号，触发时间为t1时刻；CH2为输出通道R2两端的电压信号，接受的信号时刻为t2。根据Δt＝t2-t1＝458.75ms得到响应时间为458.75ms。即DCS的全响应时间为458.75ms。
Δt＝AI采样滤波时间+DPU运算周期时间+AO输出转换时间。同时对于本次试验输出信号可以较为平稳，其响应变化的连续性较好。同时对于试验可以采用多次试验后进行算数平均，消除随机误差。
由以上实施例可以看出，本发明解决了DCS***响应时间测试的难题，能够客观的检测***的从接收信号、AD转换、信号处理、逻辑运算、到信号输出、DA转换全过程的响应时间。从而为评价DCS性能指标，提供一种可靠和广泛的测试手段。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种DCS***响应时间测试***，其特征在于，包括：输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备；
所述输入信号产生回路与DCS***的AI卡件连接，所述输入信号产生回路包括：用于产生信号的信号源以及第一电阻；
所述输出信号采集回路与所述DCS***的AO卡件或者DO卡件连接，所述输出信号采集回路包括：第二电阻；
所述信号检测设备，用于检测所述第一电阻两侧的电压得到第一电压信号，以及检测所述第二电阻两侧的电压得到第二电压信号，进而根据所述第一电压信号和所述第二电压信号确定所述DCS***的响应时间。
2.根据权利要求1所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述信号检测设备，具体用于根据所述第一电压信号确定输入信号触发时刻，以及根据所述第二电压信号确定输出信号响应时刻，进而用所述输出信号响应时刻减去所述输入信号触发时刻得到所述DCS***的响应时间。
3.根据权利要求1所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述输入信号产生回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源。
4.根据权利要求1所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述输出信号采集回路上设置有电源或者所述输出信号采集回路连接所述DCS***中的电源。
5.根据权利要求1所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述信号源用于产生脉冲信号。
6.一种DCS***响应时间测试***，其特征在于，包括：输入信号产生回路、输出信号采集回路以及信号检测设备；
所述输入信号产生回路与DCS***的DI卡件连接，所述输入信号产生回路包括：开关以及触发电路，所述触发电路用于控制所述开关的通断以产生通断信号；
所述输出信号采集回路与所述DCS***的AO卡件或者DO卡件连接，所述输出信号采集回路包括：第二电阻；
所述信号检测设备，用于检测所述开关两侧的电压得到第一电压信号，以及检测所述第二电阻两侧的电压得到第二电压信号，进而根据所述第一电压信号和所述第二电压信号确定所述DCS***的响应时间。
7.根据权利要求6所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述信号检测设备，具体用于根据所述第一电压信号确定输入信号触发时刻，以及根据所述第二电压信号确定输出信号响应时刻，进而用所述输出信号响应时刻减去所述输入信号触发时刻得到所述DCS***的响应时间。
8.根据权利要求6所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述输入信号产生回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源。
9.根据权利要求6所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述输出信号采集回路上设置有电源或者所述输入信号产生回路连接所述DCS***中的电源。
10.根据权利要求6所述的DCS***响应时间测试***，其特征在于，所述开关为高速可控硅开关器件。
CN202111532872.9A 2021-12-15 2021-12-15 Dcs***响应时间测试*** Pending CN114371672A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111532872.9A CN114371672A (zh) 2021-12-15 2021-12-15 Dcs***响应时间测试***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111532872.9A CN114371672A (zh) 2021-12-15 2021-12-15 Dcs***响应时间测试***

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114371672A true CN114371672A (zh) 2022-04-19

Family

ID=81139659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111532872.9A Pending CN114371672A (zh) 2021-12-15 2021-12-15 Dcs***响应时间测试***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114371672A (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102937810A (zh) * 2012-11-20 2013-02-20 北京广利核***工程有限公司 一种dcs响应时间测试装置及方法
CN104391501A (zh) * 2014-11-10 2015-03-04 国家电网公司 一种用于水电厂计算机监控***的状态监测***及方法
CN105553106A (zh) * 2016-02-18 2016-05-04 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种智能变电站遥控闭环测试方法
CN108804298A (zh) * 2018-06-15 2018-11-13 深圳库博能源科技有限公司 一种用于scada***响应时间测试的装置
CN110749850A (zh) * 2019-11-04 2020-02-04 国网内蒙古东部电力有限公司电力科学研究院 直流电子式电压互感器暂态阶跃响应时间测试方法及***
CN210119310U (zh) * 2019-08-13 2020-02-28 中国核动力研究设计院 一种热电偶调理模块响应时间测试***
CN111443687A (zh) * 2020-04-03 2020-07-24 西安热工研究院有限公司 一种电厂分散控制***响应时间的测试方法
CN112462732A (zh) * 2020-10-27 2021-03-09 中国核动力研究设计院 Dcs响应时间测试装置、测试方法、应用方法和介质

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102937810A (zh) * 2012-11-20 2013-02-20 北京广利核***工程有限公司 一种dcs响应时间测试装置及方法
CN104391501A (zh) * 2014-11-10 2015-03-04 国家电网公司 一种用于水电厂计算机监控***的状态监测***及方法
CN105553106A (zh) * 2016-02-18 2016-05-04 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种智能变电站遥控闭环测试方法
CN108804298A (zh) * 2018-06-15 2018-11-13 深圳库博能源科技有限公司 一种用于scada***响应时间测试的装置
CN210119310U (zh) * 2019-08-13 2020-02-28 中国核动力研究设计院 一种热电偶调理模块响应时间测试***
CN110749850A (zh) * 2019-11-04 2020-02-04 国网内蒙古东部电力有限公司电力科学研究院 直流电子式电压互感器暂态阶跃响应时间测试方法及***
CN111443687A (zh) * 2020-04-03 2020-07-24 西安热工研究院有限公司 一种电厂分散控制***响应时间的测试方法
CN112462732A (zh) * 2020-10-27 2021-03-09 中国核动力研究设计院 Dcs响应时间测试装置、测试方法、应用方法和介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
霍建波;马维;朱郁;龙威;: "DCS模拟量控制回路响应时间测试设计与实现" *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6025711A (en) Sensor circuit with diagnostic capability
CN1047442C (zh) 用于过程控制***中的温度变送器的传感器开路诊断***
US6747470B2 (en) Method and apparatus for on-die voltage fluctuation detection
RU2617885C2 (ru) Передатчик температуры процесса с улучшенной диагностикой датчика
GB2150696A (en) Testing electronic circuits
EP2120057B1 (en) System and method for detecting wire breaks
CN106324538A (zh) 一种局部放电自动校准***
KR0144437B1 (ko) 서모커플의 개방회로 검출장치와 서모커플 테스팅방법 및 테스트 신호의 주파수 검출방법
CN116937818B (zh) 对内部进行实时监控的高压直流配电柜监控***
CN114371672A (zh) Dcs***响应时间测试***
CN104062673B (zh) 核分析仪自诊断***
CN109001578B (zh) 一种检测cell面板信号发生器的测试装置和方法
CN110702421A (zh) 一种涡喷发动机压力测量诊断方法及装置
EP3988950A1 (en) Diagnostic device, diagnostic method, and field device
US4629976A (en) Method and circuit for evaluating an analog voltage
US6067035A (en) Method for monitoring the operability of an analog to digital converter configured for digitizing analog signals
CN115078814A (zh) 一种PWMi的检测方法与装置
US6414507B1 (en) Device testing system
CN210071867U (zh) 一种磁电式传感器状态自检***及电路
US4151464A (en) Integrating voltage to frequency converter and memory decoder
KR200361355Y1 (ko) 디지털 전압전류 측정기
JP2002228695A (ja) 抵抗測定装置
JPH09264913A (ja) 直流安定化電源の連続診断装置
CN211494036U (zh) 直流电力机车空转信号校正装置
JP2741131B2 (ja) 電源監視レコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination