CN114359176A - 面板检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供了一种面板检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取待检测面板的图像；确定待检测面板的图像中的感兴趣区域；基于感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别感兴趣区域中的疑似缺陷区域；以及基于疑似缺陷区域确定异物区域。该方案能够快速、准确地确定面板中的异物区域。从而，保证了面板检测的可靠性。

Description

面板检测方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及面板检测领域，更具体地涉及一种面板检测方法、一种面板检测装置、一种电子设备及一种存储介质。

背景技术

玻璃上的芯片技术(Chip On Glass，简称COG)是一种驱动电路芯片直接粘合在玻璃基板上的技术，广泛适用于液晶显示、电致发光技术等各种显示产品。COG制程将驱动电路的导电引脚对准玻璃基板上的电极(bump)，以各向异性导电膜(AnisotropicConductive Film，简称ACF)作为接合(bonding)的介质材料，通过一定时间的高温高压实现驱动电路的导电引脚与玻璃基板上的电极的连接和导通。同理，玻璃上的柔性电路板技术(FPC On Glass，简称FOG)是柔性电路板(FPC)直接绑定在玻璃基板上的技术，制程过程与COG类似。类似地，柔性基板上的芯片技术(Ic on film，简称COF)是将半导体芯片先封装在柔性基板上，而后将封装好的制品上的柔性基板绑定在玻璃基板上的技术，其制程也与COG类似。

面板检测技术可用于检测面板的外观和面板中的导电粒子压痕情况等。除了外观和导电粒子的问题，有些面板中可能异物，导致面板质量不符合要求。因此亟需一种面板检测方法以实现对面板上异物的检测。

发明内容

考虑到上述问题而提出了本发明。本发明提供了一种面板检测方法，包括：获取待检测面板的图像；确定待检测面板的图像中的感兴趣区域；基于感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别感兴趣区域中的疑似缺陷区域；以及基于疑似缺陷区域确定异物区域。

示例性地，基于疑似缺陷区域确定异物区域包括：确定疑似缺陷区域的面积；判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件，其中预设的条件包括疑似缺陷区域的面积符合面积要求；以及确定满足预设的条件的疑似缺陷区域为异物区域。

示例性地，在确定疑似缺陷区域的面积之前，方法还包括：对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理，以处理疑似缺陷区域相关的噪声区域。

示例性地，对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理包括：对于距离小于合并距离阈值的疑似缺陷区域进行合并；方法还包括：提供用户界面，其中用户界面包括第三可操作控件，用于响应于用户的操作设置合并距离阈值。

示例性地，确定疑似缺陷区域的面积包括：确定每个疑似缺陷区域的面积；将所有疑似缺陷区域的面积相加，以获得所有疑似缺陷区域的总面积；判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件包括：判断疑似缺陷区域的总面积是否满足总面积要求。

示例性地，感兴趣区域包括电极区域，将所有疑似缺陷区域的面积相加以获得所有疑似缺陷区域的总面积包括：确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积；将感兴趣区域内的所有电极区域中的疑似缺陷区域的面积相加，以获得所有电极区域中的疑似缺陷区域的总面积。

示例性地，感兴趣区域包括电极区域，确定疑似缺陷区域的面积包括：确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积；判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件包括：判断每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积是否满足单根面积要求。

示例性地，提供用户界面，其中用户界面包括第二可操作控件，用于响应于用户的操作设置感兴趣区域中的疑似缺陷区域的面积要求阈值。

示例性地，确定待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：根据灰度阈值对待检测面板的图像进行图像分割，以提取待检测面板的图像中的电极区域，其中感兴趣区域包括电极区域。

示例性地，提供用户界面，其中用户界面包括第四可操作控件，用于响应于用户的操作设置灰度阈值。

示例性地，接收用户输入的目标区域的坐标；根据目标区域的坐标，在待检测面板的图像中裁剪出目标区域；根据灰度阈值对待检测面板的图像进行图像分割以提取待检测面板的图像中的电极区域包括：针对目标区域进行图像分割，以确定电极区域。

示例性地，确定待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：响应于用户针对待检测面板的图像的操作，获取图像中的电极区域的边界坐标；根据边界坐标确定电极区域，其中感兴趣区域包括电极区域。

示例性地，根据边界坐标确定电极区域，包括：响应于用户针对边界坐标的调整操作，将电极区域的边界进行缩放。

示例性地，方法还包括：提供用户界面，其中用户界面包括第五可操作控件，用于响应于用户的操作设置将电极区域的边界进行缩放的尺寸。

示例性地，确定待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：确定待检测面板的图像中的电极区域；根据电极区域，确定电极间隙区域，其中感兴趣区域包括电极间隙区域。

示例性地，方法还包括：提供用户界面，其中用户界面包括第一可操作控件，用于响应于用户的操作设置感兴趣区域中的疑似缺陷区域与正常区域之间的灰度差阈值。

根据本发明的另一方面，还提供了一种面板检测装置，包括：图像获取模块，用于获取待检测面板的图像；ROI确定模块，用于确定待检测面板的图像中的感兴趣区域；初识别模块，用于基于感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别感兴趣区域中的疑似缺陷区域；异物确定模块，用于基于疑似缺陷区域确定异物区域。

根据本发明的又一方面，还提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器运行时用于执行如上所述的面板检测方法。

根据本发明的再一方面，还提供了一种存储介质，在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行如上所述的面板检测方法。

上述技术方案，能够根据待检测面板的图像中的像素灰度差异确定疑似缺陷区域，进而根据疑似缺陷区域确定异物区域。该方案能够快速、准确地确定面板中的异物区域。从而，保证了面板检测的可靠性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1示出了根据本发明一个实施例的面板检测方法的示意性流程图；

图2示出了根据本发明一个实施例的待检测面板的图像的局部示意图；

图3示出了根据本发明一个实施例的用户界面的示意图；

图4示出了根据本发明一个实施例的确定待检测面板的图像中的感兴趣区域的示意性流程图；

图5示出了根据本发明另一个实施例的确定待检测面板的图像中的感兴趣区域的示意性流程图；

图6示出了根据本发明一个实施例的基于疑似缺陷区域确定异物区域的示意性流程图；

图7示出了根据本发明一个实施例的确定疑似缺陷区域的面积的示意性流程图；

图8示出了根据本发明一个实施例的面板检测装置的示意性框图；以及

图9示出了根据本发明一个实施例的电子设备的示意性框图。

具体实施方式

为了使得本发明的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照附图详细描述根据本发明的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是本发明的全部实施例，应理解，本发明不受这里描述的示例实施例的限制。基于本发明中描述的本发明实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本发明的保护范围之内。

根据本发明一个实施例，提供了一种面板检测方法。图1示出了根据本发明一个实施例的面板检测方法100的示意性流程图。该方法100包括以下步骤。

步骤S110，获取待检测面板的图像。

待检测面板的图像可以是由面板检测***中的摄像头等图像采集装置采集到的原始图像，也可以是对原始图像进行预处理之后获得的图像。该预处理操作可以包括为了更清楚的进行面板检测的所有操作。例如，预处理操作可以包括滤波等去噪操作。该图像可以包含待检测面板中的全部或部分电极。

步骤S120，确定待检测面板的图像中的感兴趣区域。

可以理解，获取待检测面板的图像是为了对待检测面板进行检测，感兴趣区域可以是待检测面板上的、任意用户希望检测的区域，例如可以是待检测面板上的电极区域，还可以是待检测面板上的电极之间的电极间隙区域等。为了减少后续步骤中的干扰，可以在确定了待检测面板的图像中的感兴趣区域后将其提取出来。提取过程可以响应于用户的输入而实现，还可以基于图像分割方法来实现等，在此不做过多限定。

步骤S130，基于感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别感兴趣区域中的疑似缺陷区域。

图2示出了根据本发明一个实施例的待检测面板的图像的局部示意图。参见图2，其中灰色矩形区域为电极区域，其中包括多个电极。每两个相邻电极之间的黑色区域为电极间隙区域。当感兴趣区域是电极区域时，针对电极区域内的所有像素，可以分别计算每两个相邻像素间的灰度差。可以理解，当像素间的灰度差越大时，对应的在图2中呈现出的亮暗差异程度越明显。基于像素间的灰度差可以识别出电极区域中的疑似缺陷区域。示例性地，可以利用任何图像分割方法来识别电极区域中的疑似缺陷区域，例如基于区域的图像分割、基于边缘的图像分割等。在该步骤中识别出的疑似缺陷区域可以包括真实的缺陷区域和误识别的假缺陷区域(例如导电粒子)。类似地，当感兴趣区域是电极间隙区域时，可以分别计算其中每两个相邻像素间的灰度差。可以基于所得灰度差识别电极间隙区域中的疑似缺陷区域210。

步骤S140，基于疑似缺陷区域确定异物区域。

根据前述步骤S130可以识别并提取出感兴趣区域中的疑似缺陷区域，并且如前所述，疑似缺陷区域中包括真假两种缺陷区域。针对疑似缺陷区域进行检测，可以将其中真实的缺陷区域确定为异物区域。示例性地，若待检测面板上存在异物会造成面板显示不良。可以在待检测面板的图像上体现为亮点、暗点、亮线、暗线或光斑等。因此可以通过检测疑似缺陷区域的面积或疑似缺陷区域中像素的像素值等是否超过预设阈值的检测方法确定异物区域。如果确定了待检测面板中包括异物区域，可以确定该待检测面板的质量不合格。可选地，可以对此进行报警，以提醒用户及时排除质量不佳的面板。

上述技术方案，能够根据待检测面板的图像中的像素灰度差异确定疑似缺陷区域，进而根据疑似缺陷区域确定异物区域。该方案能够快速、准确地确定面板中的异物区域。从而，保证了面板检测的可靠性。

示例性地，步骤S120确定待检测面板的图像中的感兴趣区域可以包括根据灰度阈值对待检测面板的图像进行图像分割，以提取待检测面板的图像中的电极区域。其中感兴趣区域包括电极区域。

可以理解，图像分割是指基于某种规则对图像中的感兴趣区域提取的操作。在该实施例中，可以基于灰度阈值对待检测面板的图像进行图像分割。示例性地，可以将待检测面板的图像上的所有像素的灰度值分别与灰度阈值相比较，当图像上像素的灰度值大于或等于该灰度阈值时，可以将该像素确定为属于图像中的电极区域。基于此，可以实现对待检测面板的图像中的电极区域和电极间隙区域的划分，并据此将电极区域提取出来。可选地，可以直接将提取出的电极区域作为感兴趣区域。又或者，还可以将提取出电极区域后可以得到电极间隙区域作为感兴趣区域。灰度阈值可以响应于用户的操作而设置，还可以在面板检测装置出厂前根据大多数待检测面板进行图像分割的经验进行设置。

由此，可以利用图像分割的方法确定感兴趣区域。该方法具有定位效果好、分割精度高等优点，可以在很大程度上减少分割所获得的感兴趣区域中的干扰。

示例性地，方法100可以包括提供用户界面。图3示出了根据本发明一个实施例的用户界面的示意图。用户界面包括第四可操作控件310，在图3中示出为“Bump最小灰度值”，用于响应于用户的操作设置灰度阈值。第四可操作控件310可以是文本输入框、调数器或筛选框等。例如，当第四可操作控件310是调数器时，用户可以通过点击“Bump最小灰度值”后的上下箭头来调整灰度阈值。具体地，点击向上箭头可以增大灰度阈值，点击向下箭头可以减小灰度阈值。可以理解，在该实施例中将灰度阈值设置为80仅仅是示例性地，并不是对灰度阈值的限定。用户可以根据实际需求对灰度阈值进行任意合理的设置。

由此，用户可以根据需要通过第四可操作控件310设置相应的灰度阈值以实现对待检测面板的图像的准确分割，满足了不同用户的需求，提升了使用体验。

示例性地，方法100还可以包括接收用户输入的目标区域的坐标，根据目标区域的坐标，在待检测面板的图像中裁剪出目标区域。

可以理解，由于待检测面板上可能具有成千上万个电极，因此造成对应获取的待检测面板的图像的尺寸可能过大，其中的干扰数据过多，可能影响面板检测结果的准确性。因此，用户可以在待检测面板的图像上选择目标区域以作为进行面板检测的针对性区域。例如，用户可以通过键盘等输入装置输入选择的目标区域的坐标。以目标区域是矩形为例，用户输入的坐标可以是两个点的坐标值，分别将这两个点的坐标值作为构成目标区域的左上顶点和右下顶点或左下顶点和右上顶点的位置坐标，以此确定目标区域。替代地，用户可以利用鼠标或触摸屏等输入装置，直接在屏幕上的特定位置划取目标区域。鼠标对应的光标的起点和终点的坐标分别可以作为目标区域的不同顶点的坐标。在确定目标区域后，直接从待检测面板的图像中将该目标区域裁剪出来。一般地，对于每一个电极而言，其宽度数值可能是30个左右像素大小。为了保证目标区域尺寸的合理性，保证面板检测准确度，用户可以将目标区域设置为1024像素*1024像素。由此，目标区域中可以包括20-30根电极。

基于此，在上述图像分割步骤中，可以根据灰度阈值针对目标区域进行图像分割，以提取目标区域中的电极区域。本领域普通技术人员通过阅读上述根据灰度阈值对待检测面板的图像进行图像分割的相关描述可以理解根据灰度阈值对目标区域进行图像分割的具体实施方案，为了简洁在此不再赘述。

由此可以有效去除待检测面板的图像中除目标区域外的干扰，避免了图像中存在过多噪声而对面板检测结果的准确性造成影响。此外还显著减少了计算量，提升了***的工作性能。

图4示出了根据本发明一个实施例的步骤S120确定待检测面板的图像中的感兴趣区域的示意性流程图。如图4所示，步骤S120可以包括以下步骤。在该实施例中，感兴趣区域包括电极区域。

步骤S121，响应于用户针对待检测面板的图像的操作，获取图像中的电极区域的边界坐标。

示例性地，用户可以利用鼠标或触摸屏等任何合适的输入装置分别点击待检测面板的图像中某一电极的四个顶点或者一组对角顶点，以获得该电极区域的边界坐标。重复执行上述操作，可以获得多个电极的电极区域的边界坐标。步骤S122，根据边界坐标确定电极区域，其中感兴趣区域包括电极区域。

利用步骤S121可以获得边界坐标，针对一个电极区域而言，将获得的边界坐标分别作为一个矩形框的四个顶点坐标或一组对角顶点的坐标，利用这个矩形框可以框选出该电极区域。可以理解，该矩形框即为电极区域的边界框。

由此用户可以方便地确定电极区域，并将该电极区域作为感兴趣区域。上述方案算法简单，容易实现，且便于用户操作。

示例性地，步骤S122根据边界坐标确定电极区域可以包括响应于用户针对边界坐标的调整操作，将电极区域的边界进行缩放。例如，用户可以对原有选定的电极的顶点进行移动调整，实现对边界坐标的调整。边界坐标改变之后，相应的电极区域的边界也随之改变。以电极中的一个顶点例如左上顶点为例，用户将其向左移动一定距离，对应地，将左下顶点也向左移动同样的距离。由此可以使电极区域的边界向左外扩。反之若将左上顶点和左下顶点向右移动则可以使电极区域的边界向右内缩。类似地，用户将该左上顶点向上移动一定距离，对应地，将右上顶点也向上移动同样的距离。由此可以使电极区域的边界向上外扩。反之若将左上顶点和右上顶点向下移动则可以使电极区域的边界向下内缩。

根据上述技术方案，可以实现对电极区域的边界的缩放调整。可以理解，电极边界是电极与其间隙相邻的位置。在待检测面板的图像中，该位置通常会有较大的像素值变化，这将显著影响后续的异物检测过程，进而影响面板检测结果。因此，根据需要对电极区域的边界进行调整，有效减少了确定待检测面板的图像中的感兴趣区域中的干扰数据，为后续确定异物区域减少了计算量，并提高了面板检测的准确性。

示例性地，方法100还可以包括提供用户界面。再次参考图3，用户界面可以包括第五可操作控件320，，用于响应于用户的操作设置将电极区域的边界进行缩放的尺寸。类似地，第五可操作控件320可以是文本输入框、调数器或筛选框等。在图3中第五可操作控件320示出为“TOPX方向”、“TOPY方向”、“BottomX方向”以及“BottomY方向”四个控件。其中，“TOP”和“Bottom”是针对电极区域而言的，“TOP”可以表示电极区域的上边界，“Bottom”可以表示电极区域的下边界。“TOPX方向”可以表示针对电极区域的上边界在水平方向上的调整，即上边界在水平方向上向左和/或向右延长或缩短。“TOPY方向”可以表示针对电极区域的上边界在竖直方向上的调整，即上边界在竖直方向上向上或向下移动。同理可知“BottomX方向”和“BottomY方向”这两个控件的作用。可以理解，在对电极区域进行调整时，为了保证电极区域的边界是规则封闭的矩形，在对其中一个控件操作后，可以对与之相关联的控件进行同样的操作。下面以“TOPX方向”控件为例进行说明，当第五可操作控件320是调数器时，用户可以通过点击“TOPX方向”后的上下箭头对电极区域的边界进行缩放的尺寸的调整。可以理解，当“TOPX方向”后的数值为正数时，可以表示在当前电极区域的上边界的长度的基础上对其进行延长处理。例如，将“TOPX方向”后的数值设置为2，可以将电极区域的上边界的长度向右或向左延长2个像素大小。替代地，可以将电极区域的上边界的长度分别向左和向右延长1个像素大小。当“TOPX方向”后的数值为负数时，则与上述方案完全相反，对应缩短相应数值的像素大小。在电极区域的上边界延长或缩短后，利用“BottomX方向”控件对电极区域的下边界进行同样像素大小的延长或缩短，在对电极区域的上下边界调整结束之后，适应性地调整电极区域的左右边界，以保证电极区域的边界是规则封闭的矩形。

本领域普通技术人员通过阅读上述对“TOPX方向”控件的相关描述可以理解操作其余三个控件的具体实施方案，为了简洁在此不再赘述。

根据上述技术方案，用户只需针对第五可操作控件320执行简单的操作，即可实现对电极区域的边界的自动调整，不仅可以满足用户的不同需求，实现个性化定制，还无需用户执行繁琐的操作，提升了使用体验。

图5示出了根据本发明另一个实施例的步骤S120确定待检测面板的图像中的感兴趣区域的示意性流程图。如图5所示，步骤S120可以包括以下步骤。在该实施例中，感兴趣区域包括电极间隙区域。

步骤S123，确定待检测面板的图像中的电极区域。

示例性地，可以响应于用户的操作确定待检测面板的图像中的电极区域。其中，电极区域包含至少一个电极。在一个实施例中，用户可以利用鼠标或触摸屏等外接输入装置在待检测面板的图像上沿着图像中的至少一个电极的边界执行拖动操作。首先利用鼠标点击该电极的顶点，例如左上顶点，并自该顶点起执行拖动操作，直至该顶点的对角的顶点，例如右下顶点为止。由此可以确定至少一个电极的边界，基于该至少一个电极的边界可以确定待检测面板的图像中的电极区域。替代地，还可以利用基于阈值的图像分割等方法对电极区域进行提取，以确定待检测面板的图像中的电极区域。

步骤S124，根据电极区域，确定电极间隙区域，其中感兴趣区域包括电极间隙区域。

基于步骤S123可以确定待检测面板的图像中的电极区域。如前所述，电极区域包含至少一个电极，每个相邻电极之间存在电极间隙，所有电极间隙构成电极间隙区域。之后将确定的电极间隙区域作为感兴趣区域用于后续的异物区域检测。

根据上述技术方案，首先确定待检测面板的图像中的电极区域，基于电极区域可以确定电极间隙区域。可以理解，相较于直接确定电极间隙区域的方案而言，上述方案通过确定电极区域间接确定电极间隙区域更容易实现，且误差更小。

示例性地，方法100所提供的用户界面可以包括第一可操作控件。在图3中示出的第一可操作控件包括可操作控件“灰度值差值”。第一可操作控件用于响应于用户的操作设置用于前述步骤S130的感兴趣区域中的疑似缺陷区域与正常区域之间的灰度差阈值。当感兴趣区域中的像素间的灰度差超过该灰度差阈值时，可以将相关像素识别为疑似缺陷区域中的部分像素，反之，所有像素则可能都属于正常区域内的部分像素。如前所述，感兴趣区域可以是待检测面板的图像中的电极区域，还可以是待检测面板的图像中的电极间隙区域。

当图3中的可操作控件“启用检测”后的滑块滑至右端时，可以表示此时感兴趣区域是待检测面板的图像中的电极区域，后续利用“灰度值差值”控件331设置电极区域中疑似缺陷区域与正常区域之间的灰度差阈值，例如设置为60。用户可以通过点击“灰度值差值”控件331后的上下箭头调整灰度差阈值的数值大小。具体地，点击向上箭头可以增大灰度差阈值，点击向下箭头可以减小灰度差阈值。

当图3中的可操作控件“启用间隙缺陷检测”后的滑块滑至右端时，可以表示此时感兴趣区域是待检测面板的图像中的电极间隙区域，后续针对电极间隙区域进行异物区域检测。类似地，可以利用“灰度值差值”控件332设置电极间隙区域中疑似缺陷区域与正常区域之间的灰度差阈值，例如设置为120。针对灰度差阈值的数值调整操作在此不再赘述。可以理解，针对电极区域和电极间隙区域的异物区域检测在大多数情况下分别进行。换言之，图3中的“启用检测”和“启用间隙缺陷检测”可以不同时开启。

由此，用户可以根据实际情况利用第一可操作控件对感兴趣区域中的疑似缺陷区域与正常区域之间的灰度差阈值进行合理设置，减小了将正常区域误检为疑似缺陷区域的可能性，进而避免了为后续计算引入过多的计算数据。而且上述实现方法，用户操作便利，提高了用户体验。

图6示出了根据本发明一个实施例的步骤S140基于疑似缺陷区域确定异物区域的示意性流程图。如图6所示，步骤S140可以包括以下步骤。

步骤S141，确定疑似缺陷区域的面积。

示例性地，根据上述步骤S130识别出疑似缺陷区域后，可以统计疑似缺陷区域中所有像素点的数目。可以理解，该像素点的数目可以反映疑似缺陷区域的面积。示例性地，可以直接将该像素点的数目作为疑似缺陷区域的面积。替代地，可以根据待检测面板的图像的分辨率计算出一个像素点的尺寸。之后将所有像素点的数目与一个像素点的尺寸相乘可以计算出疑似缺陷区域的面积。

步骤S142，判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件，其中预设的条件包括疑似缺陷区域的面积符合面积要求。

通过上述计算确定疑似缺陷区域的面积之后，可以判断疑似缺陷区域的面积是否符合面积要求。其中，面积要求中可以包括面积要求阈值。当疑似缺陷区域的面积大于或等于第一面积要求阈值且小于或等于第二面积要求阈值时，可以认为疑似缺陷区域满足预设的条件。反之则不满足。

步骤S143，确定满足预设的条件的疑似缺陷区域为异物区域。

示例性地，上述面积要求阈值可以用于表示异物区域的最小或最大面积。因此，当疑似缺陷区域的面积满足预设的条件时，则将该疑似缺陷区域确定为异物区域。

根据上述技术方案，可以通过判断疑似缺陷区域的面积是否满足预设的条件来确定该疑似缺陷区域是否为异物区域。可以理解，面积这一参数可以更直接准确的体现出异物区域与正常区域的区别，可靠性更高。在图像中，特别是电极区域中，导电粒子也与周围区域具有灰度差，而导电粒子所占面积通常不会太大。利用面积要求来筛选疑似缺陷区域，从而排除导电粒子等干扰，有效地提高了面板的异物检测的准确性。

图7示出了根据本发明一个实施例的步骤S141确定疑似缺陷区域的面积的示意性流程图。如图7所示，步骤S141可以包括以下步骤。

步骤S141a，确定每个疑似缺陷区域的面积。可选地，针对感兴趣区域中的每个疑似缺陷区域，分别统计其中的像素点的数目。

步骤S141b，将所有疑似缺陷区域的面积相加，以获得所有疑似缺陷区域的总面积。

将通过上述步骤S141a计算得出每个疑似缺陷区域的面积相加可以获得感兴趣区域内所有疑似缺陷区域的总面积。可以理解，在上述相加过程中，是以疑似缺陷区域为单位进行的。

示例性地，步骤S142判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件可以包括判断疑似缺陷区域的总面积是否满足总面积要求。

总面积要求中可以包括总面积要求阈值上限和总面积要求阈值下限。其中，总面积要求阈值上限可以表示感兴趣区域内所有疑似缺陷区域的总面积的最大值，总面积要求阈值下限可以表示感兴趣区域内所有疑似缺陷区域的总面积的最小值。可以理解，当感兴趣区域内所有疑似缺陷区域的总面积处于总面积要求阈值上限和总面积要求阈值下限之间时，该总面积满足总面积要求。否则不满足要求。

可以理解，在实际面板检测的过程中，基于图像成像噪声等原因可能引入一定的噪声数据。上述方案中，进一步限定了将疑似缺陷区域确定为异物区域的条件，保证了异物区域确定结果的准确性，提高了噪声处理的鲁棒性。

示例性地，感兴趣区域包括电极区域。步骤S141b将所有疑似缺陷区域的面积相加以获得所有疑似缺陷区域的总面积可以包括：首先，确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积。如上所述，通过步骤S141a可以计算出每个疑似缺陷区域的面积。并且每个电极区域中可以包括一个或多个疑似缺陷区域。针对每个电极区域而言，分别将其中所有的疑似缺陷区域的面积相加，以确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积。其次，将感兴趣区域内的所有电极区域中的疑似缺陷区域的面积相加，以获得所有电极区域中的疑似缺陷区域的总面积。可以理解，在将所有的电极区域中的疑似缺陷区域的面积相加的过程中，是以电极区域为单位进行的。由此可以获得所有电极区域中的疑似缺陷区域的总面积。

由此，可以分别针对每个电极区域计算出其上的疑似缺陷区域的面积，若该电极区域内不存在疑似缺陷区域则不对其进行面积相加。因此，在进行相加操作之前，可以剔除其中不存在疑似缺陷区域的电极区域，以此减少后续处理的数据量。

示例性地，感兴趣区域包括电极区域。步骤S141确定疑似缺陷区域的面积包括确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积。确定方法如前文所述，在此不再赘述。步骤S142判断疑似缺陷区域是否满足预设的条件包括判断每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积是否满足单根面积要求。

示例性地，单根面积要求可以包括单根电极面积上限和单根电极面积下限。其中，单根电极面积上限表示一个电极中的所有疑似缺陷区域的总面积的最大值，单根电极面积下限表示一个电极中的所有疑似缺陷区域的总面积的最小值。可以理解，当每个电极区域内的所有疑似缺陷区域的总面积处于单根电极面积上限和单根电极面积下限之间时，该总面积满足单根面积要求。否则不满足要求。

可以理解，每个电极都有其各自的电传导作用。而电极中的异物将影响其电传导效果。在上述方案中，进一步限定了将疑似缺陷区域确定为异物区域的条件包括单个电极区域中的疑似缺陷区域的面积，保证了合格的待检测面板中的各个电极的电传导质量，进而保证了待检测面板的质量。

示例性地，在方法100所提供的用户界面中还可以包括第二可操作控件350，在图3中示出为“单根面积下限”、“单根面积上限”、“多根面积下限”、“多根面积下限”、“缺陷面积下限”以及“缺陷面积上限”，用于响应于用户的操作设置感兴趣区域中的疑似缺陷区域的面积要求阈值。可以理解，第二可操作控件350中的“单根面积下限”、“单根面积上限”、“多根面积下限”以及“多根面积下限”在感兴趣区域是电极区域时有效。第二可操作控件350中的“缺陷面积下限”和“缺陷面积上限”在感兴趣区域是电极间隙区域时有效。本领域普通技术人员通过阅读上述有关确定疑似缺陷区域的面积的描述可以理解第二可操作控件350的功能，为了简洁在此不再赘述。用户可以通过点击“单根面积下限”、“单根面积上限”、“多根面积下限”、“多根面积下限”、“缺陷面积下限”以及“缺陷面积上限”后的上下箭头调整面积要求阈值的数值大小。具体地，点击向上箭头可以增大面积要求阈值，点击向下箭头可以减小面积要求阈值。

由此，用户可以方便快捷地根据实际需求对面积要求阈值进行自定义设置，满足了不同用户的需求，提升了使用体验。

通过上述技术方案，可以在待检测面板的图像上确定异物区域所在位置。为了便于后续对异物区域进行处理等操作，可以将该检测出了异物区域的图像提取出来。例如，用户可以通过滑动图3所示的可操作控件“保存小图”后的滑块，以开启或关闭保存异物区域图像的功能。

优选地，在步骤S141确定疑似缺陷区域的面积之前还可以包括对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理，以处理疑似缺陷区域相关的噪声区域。

示例性地，对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理可以包括对疑似缺陷区域分别执行膨胀和腐蚀等操作。上述膨胀操作可以理解为扩大例如图2疑似缺陷区域210。具体地，可以用一个结构元素扫描疑似缺陷区域210中的每一个像素，用结构元素中的每一个像素与其覆盖的像素做“或”操作，如果都为0，则该像素为0，否则为1。相反地，腐蚀操作可以用一个结构元素扫描疑似缺陷区域210中的每一个像素，用结构元素中的每一个像素与其覆盖的像素做“与”操作，如果都为1，则该像素为1，否则为0。通常情况下，这两个操作是按顺序进行的，由此可以对疑似缺陷区域相关的噪声区域进行处理。

由此，不仅可以有效去除与疑似缺陷区域连接的噪声区域，还可以将与疑似缺陷区域接触的感兴趣区域中的部分像素点合并到疑似缺陷区域中，填补疑似缺陷区域中的细小孔洞，得到边界更为平滑、准确度更高的疑似缺陷区域。进而，为后续面板的异物检测提供准确数据基础。

示例性地，对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理可以包括对于距离小于合并距离阈值的疑似缺陷区域进行合并。如前所述，方法100中还可以包括提供用户界面。再次参考图3，用户界面可以包括第三可操作控件340，在图3中示出为“合并阈值”，用于响应于用户的操作设置合并距离阈值。其中，合并距离阈值用于限制不同疑似缺陷区域的相邻边界之间的距离。当两个疑似缺陷区域的相邻边界之间的距离小于合并距离阈值时，将这两个疑似缺陷区域进行合并。反之不进行任何处理。例如，可以利用上述膨胀、腐蚀操作对其进行合并处理。用户可以通过点击“合并阈值”后的箭头对合并距离阈值的数值进行调整。具体地，点击向上箭头可以增大合并距离阈值，点击向下箭头可以减小合并距离阈值。

由此，在不增加影响异物区域检测结果的干扰数据的情况下，合并后的疑似缺陷区域中包含更多关于异物区域检测的有效信息，提高了面板检测结果的准确性。

根据本发明的另一方面，还提供了一种面板检测装置。图8示出了根据本发明一个实施例的面板检测装置800的示意性框图。如图8所示，该装置800包括图像获取模块810、ROI确定模块820、初识别模块830以及异物确定模块840。

图像获取模块810用于获取待检测面板的图像。

ROI确定模块820用于确定待检测面板的图像中的感兴趣区域。

初识别模块830用于基于感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别感兴趣区域中的疑似缺陷区域。

异物确定模块840用于基于疑似缺陷区域确定异物区域。

根据本发明的又一方面，还提供了一种电子设备。图9示出了根据本发明一个实施例的电子设备900的示意性框图。如图9所示，该电子设备900包括处理器910和存储器920。其中，存储器920中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器910运行时用于执行上述面板检测方法100。

根据本发明的再一方面，还提供了一种存储介质。在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行上述面板检测方法100。存储介质例如可以包括平板电脑的存储部件、个人计算机的硬盘、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、便携式紧致盘只读存储器(CD-ROM)、USB存储器、或者上述存储介质的任意组合。所述计算机可读存储介质可以是一个或多个计算机可读存储介质的任意组合。

本领域普通技术人员通过阅读上述有关面板检测方法的相关描述，可以理解上述面板检测装置、电子设备和存储介质的具体实现方案，为了简洁，在此不再赘述。

尽管这里已经参考附图描述了示例实施例，应理解上述示例实施例仅仅是示例性的，并且不意图将本发明的范围限制于此。本领域普通技术人员可以在其中进行各种改变和修改，而不偏离本发明的范围和精神。所有这些改变和修改意在被包括在所附权利要求所要求的本发明的范围之内。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个设备，或一些特征可以忽略，或不执行。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该本发明的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如相应的权利要求书所反映的那样，其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域的技术人员可以理解，除了特征之间相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的面板检测装置中的一些模块的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (15)

1.一种面板检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测面板的图像；

确定所述待检测面板的图像中的感兴趣区域；

基于所述感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别所述感兴趣区域中的疑似缺陷区域；以及

基于所述疑似缺陷区域确定异物区域。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述疑似缺陷区域确定异物区域包括：

确定所述疑似缺陷区域的面积；

判断所述疑似缺陷区域是否满足预设的条件，其中所述预设的条件包括所述疑似缺陷区域的面积符合面积要求；以及

确定满足预设的条件的疑似缺陷区域为异物区域。

3.如权利要求2所述的方法，其中，在所述确定所述疑似缺陷区域的面积之前，所述方法还包括：

对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理，以处理所述疑似缺陷区域相关的噪声区域。

4.如权利要求3所述的方法，其中，

所述对所识别的疑似缺陷区域进行形态学处理包括：

对于距离小于合并距离阈值的疑似缺陷区域进行合并；

所述方法还包括：

提供用户界面，其中所述用户界面包括第三可操作控件，用于响应于用户的操作设置所述合并距离阈值。

5.如权利要求2所述的方法，其中，

所述确定所述疑似缺陷区域的面积包括：

确定每个疑似缺陷区域的面积；

将所有疑似缺陷区域的面积相加，以获得所有疑似缺陷区域的总面积；所述判断所述疑似缺陷区域是否满足预设的条件包括：

判断所述疑似缺陷区域的总面积是否满足总面积要求。

6.如权利要求5所述的方法，其中，所述感兴趣区域包括电极区域，

所述将所有疑似缺陷区域的面积相加以获得所有疑似缺陷区域的总面积包括：

确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积；

将所述感兴趣区域内的所有电极区域中的疑似缺陷区域的面积相加，以获得所述所有电极区域中的疑似缺陷区域的总面积。

7.如权利要求2所述的方法，其中，所述感兴趣区域包括电极区域，

所述确定所述疑似缺陷区域的面积包括：

确定每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积；

所述判断所述疑似缺陷区域是否满足预设的条件包括：

判断所述每个电极区域中的疑似缺陷区域的面积是否满足单根面积要求。

8.如权利要求1所述的方法，其中，所述确定所述待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：

根据灰度阈值对所述待检测面板的图像进行图像分割，以提取所述待检测面板的图像中的电极区域，其中所述感兴趣区域包括所述电极区域。

9.如权利要求8所述的方法，其中，所述方法还包括：

接收用户输入的目标区域的坐标；

根据所述目标区域的坐标，在所述待检测面板的图像中裁剪出目标区域；

所述根据灰度阈值对所述待检测面板的图像进行图像分割以提取所述待检测面板的图像中的电极区域包括：

针对所述目标区域进行图像分割，以确定所述电极区域。

10.如权利要求1所述的方法，其中，所述确定所述待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：

响应于用户针对所述待检测面板的图像的操作，获取所述图像中的电极区域的边界坐标；

根据所述边界坐标确定所述电极区域，其中所述感兴趣区域包括所述电极区域。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述根据边界坐标确定所述电极区域，包括：

响应于用户针对所述边界坐标的调整操作，将所述电极区域的边界进行缩放。

12.如权利要求1所述的方法，其中，所述确定所述待检测面板的图像中的感兴趣区域包括：

确定所述待检测面板的图像中的电极区域；

根据所述电极区域，确定电极间隙区域，其中所述感兴趣区域包括所述电极间隙区域。

13.一种面板检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取待检测面板的图像；

ROI确定模块，用于确定所述待检测面板的图像中的感兴趣区域；

初识别模块，用于基于所述感兴趣区域中的像素间的灰度差，识别所述感兴趣区域中的疑似缺陷区域；

异物确定模块，用于基于所述疑似缺陷区域确定异物区域。

14.一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，所述存储器中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被所述处理器运行时用于执行如权利要求1至12任一项所述的面板检测方法。

15.一种存储介质，在所述存储介质上存储了程序指令，所述程序指令在运行时用于执行如权利要求1至12任一项所述的面板检测方法。

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