CN114359178A - 面板检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供了一种面板检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取待检测面板的图像；在图像上确定待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域；对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域；在图像中的、掩膜区域以外的区域，进行面板检测。由此可以批量生成掩膜区域，降低了对于用户的技术要求，节省了用户的时间和精力；而且所生成的掩膜区域能够更完美地覆盖期望屏蔽的区域，内部的盲区少，从而显著提高了面板检测结果的准确性。

Description

面板检测方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及面板检测技术领域，更具体地涉及一种面板检测方法、一种面板检测装置、一种电子设备及一种存储介质。

背景技术

玻璃上的芯片技术(Chip On Glass，简称COG)是一种驱动电路芯片直接粘合在玻璃基板上的技术，广泛适用于液晶显示、电致发光技术等各种显示产品。COG制程将驱动电路的导电引脚对准玻璃基板上的电极(bump)，以各向异性导电膜(AnisotropicConductive Film，简称ACF)作为接合(bonding)的介质材料，通过一定时间的高温高压实现驱动电路的导电引脚与玻璃基板上的电极的连接和导通。同理，玻璃上的柔性电路板技术(FPC On Glass，简称FOG)是柔性电路板(FPC)直接绑定在玻璃基板上的技术，制程过程与COG类似。类似地，柔性基板上的芯片技术(Ic on film，简称COF)是将半导体芯片先封装在柔性基板上，而后将封装好的制品上的柔性基板绑定在玻璃基板上的技术，其制程也与COG类似。面板检测技术可以用于对面板接合的效果进行检测。

检测时通常是基于视觉采集图像，通过对图像进行处理，检测面板接合效果。为了提高检测效率和准确性，希望对图像的部分区域进行屏蔽，即生成掩膜区域。由此，在检测时，仅针对掩膜区域以外的目标区域进行检测。

现有技术中，通常通过用户手动地逐个画出掩膜区域。这不仅速度慢，操作复杂，无法实现批量化，对用户的要求高；而且用户手动画的掩膜区域通常较大，其内部的盲区多，严重影响面板检测结果的准确性。

发明内容

考虑到上述问题而提出了本发明。根据本发明的一个方面，提供了一种面板检测方法，包括：获取待检测面板的图像；在图像上确定待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域；对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域；在图像中的、掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

示例性地，在图像上确定检测起始位置和检测结束位置包括：提供用户界面，其中用户界面包括第一可操作控件；响应于用户对第一可操作控件的操作，接收用户在图像上设置的关于检测起始位置和检测结束位置的信息。

示例性地，对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，包括：利用灰度阈值对感兴趣区域进行图像分割，以将感兴趣区域分割为不同区域；基于不同区域中符合预设条件的区域，确定掩膜区域，其中预设条件包括像素灰度大于灰度阈值。

示例性地，对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，还包括：计算不同区域的矩形度；预设条件还包括：区域的矩形度在预设矩形度范围内。

示例性地，对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，还包括：分别计算不同区域的面积；预设条件还包括：区域的面积在预设面积范围内。

示例性地，基于不同区域中符合预设条件的区域确定掩膜区域，包括：针对不同区域中符合预设条件的区域，生成最小包络平行四边形；基于最小包络平行四边形，确定掩膜区域。

示例性地，基于最小包络平行四边形，确定掩膜区域，包括：将最小包络平行四边形的左侧边和右侧边分别外扩第一预设尺寸，和/或，将最小包络平行四边形的顶边和底边分别外扩第二预设尺寸；以及确定经外扩的平行四边形内部的区域为掩膜区域。

根据本发明的另一方面，还提供了一种面板检测装置，包括：图像获取模块，用于获取待检测面板的图像；ROI确定模块，用于在图像上确定待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域；掩膜确定模块，用于对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域；检测模块，用于在图像中的、掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

根据本发明的又一方面，还提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器运行时用于执行如上所述的面板检测方法。

根据本发明的再一方面，还提供了一种存储介质，在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行如上所述的面板检测方法。

根据上述技术方案，可以自动生成面板的掩膜区域，无需用户手动画出掩膜区域。这不仅速度较快，操作简单，可以批量生成掩膜区域，降低了对于用户的技术要求，节省了用户的时间和精力；而且所生成的掩膜区域能够更完美地覆盖期望屏蔽的区域，内部的盲区少，从而显著提高了面板检测结果的准确性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1示出了根据本发明一个实施例的面板检测方法的示意性流程图；

图2示出了根据本发明一个实施例的生成掩膜区域后的待检测面板的图像的局部示意图；

图3示出了根据本发明一个实施例的用户界面的局部示意图；

图4示出了根据本发明一个实施例的对感兴趣区域进行图像分割的示意性流程图；

图5示出了根据本发明另一个实施例的用户界面的局部示意图；

图6示出了根据本发明一个实施例的基于分割所获得的不同区域中符合预设条件的区域确定掩膜区域的示意性流程图；

图7示出了根据本发明一个实施例的面板检测装置的示意性框图；以及

图8示出了根据本发明一个实施例的电子设备的示意性框图。

具体实施方式

为了使得本发明的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照附图详细描述根据本发明的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是本发明的全部实施例，应理解，本发明不受这里描述的示例实施例的限制。基于本发明中描述的本发明实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本发明的保护范围之内。

根据本发明一个实施例，提供了一种面板检测方法。在面板检测的过程中，有时候对于部分区域不需要检测。例如，在检测电极上的气泡区域时，电极顶部的小块区域就不需要检测(即这部分区域不包含在电极边界所划定的区域内)。利用本发明实施例的面板检测方法，能够自动生成掩膜区域，从而将图像中不需要检测的区域屏蔽掉。

图1示出了根据本发明一个实施例的面板检测方法100的示意性流程图。如图1所示，方法100可以包括以下步骤。

步骤S110，获取待检测面板的图像。

待检测面板的图像可以是由面板检测***中的摄像头等图像采集装置采集到的原始图像，也可以是对原始图像进行预处理之后获得的图像。该预处理操作可以包括为了更清楚的进行面板检测的所有操作。例如，预处理操作可以包括滤波等去噪操作。该图像可以包含待检测面板中的全部或部分电极。

步骤S120，在图像上确定待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域。

本领域普通技术人员可以理解，采集待检测面板的图像是为了对待检测面板进行检测。因此，感兴趣区域包括待检测面板的图像上用户期望对其进行检测的至少一部分区域。示例性地，可以首先在图像上确定检测起始位置和检测结束位置。之后将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域。检测起始位置和检测结束位置可以响应于用户的操作进行设置，例如用户可以通过鼠标、触摸屏等外接输入装置在待检测面板的图像的左侧任选两点，分别将其称为左1点和左2点，之后将这两点之间连线的位置视为检测起始位置。同样地，在待检测面板的图像的右侧任选两点，分别将其称为右1点和右2点，之后将这两点之间连线的位置视为检测结束位置。可以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域。具体地，可以分别将左1点与右1点、左2点与右2点相连，由此可以得到一个封闭的四边形。将该四边形内的区域作为感兴趣区域。替代地，用户可以在待检测面板的图像的左侧任选两点，基于这两点可以形成一个边界与待检测面板的图像的边界相平行的矩形框，将所得矩形框所在位置作为检测起始位置。利用同样的方法可以得到检测结束位置。在该实施例中，将检测起始位置和检测结束位置之间的区域，即两个矩形框的相对的边之间的区域，作为感兴趣区域。图2示出了根据本发明一个实施例的生成掩膜区域后的待检测面板的图像的局部示意图。图2中仅示出了检测起始位置220(以矩形框为例)，未示出检测结束位置，根据检测起始位置220和检测结束位置可以确定感兴趣区域。

步骤S130，对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域。

可以理解，在待检测面板的图像上，掩膜区域通常与其周边区域具有灰度值差异。仍以上面所述的检测电极上的气泡区域为例，电极顶部的小块区域与其周边的背景区域具有明显灰度差。示例性地，可以利用基于区域的图像分割、基于边缘的图像分割等方法对感兴趣区域进行图像分割，以获得至少一个分割后的区域。针对分割后的区域进行判断，并根据判断结果自动生成图2所示的掩膜区域210(未全部示出)。用户可以根据实际需求设置不同的判断条件，以自动生成不同的掩膜区域，在此不做限定。生成掩膜区域可以是用特定的图形对感兴趣区域中的局部区域进行屏蔽，使被屏蔽住的局部区域不再参与后续的面板检测过程。由此不仅可以减少对感兴趣区域进行面板检测的数据量，而且避免这些区域对检测结果的负面影响。用于屏蔽的特定图形可以称为掩膜。

步骤S140，在图像中的、掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

根据上述步骤S130可以自动生成掩膜区域，针对图像中除掩膜区域以外的区域进行面板检测。面板检测项目包括但不限于导电粒子检测、异物检测等。

根据上述技术方案，可以自动生成面板的掩膜区域，无需用户手动画出掩膜区域。这不仅速度较快，操作简单，可以批量生成掩膜区域，降低了对于用户的技术要求，节省了用户的时间和精力；而且所生成的掩膜区域能够更完美地覆盖期望屏蔽的区域，内部的盲区少，从而显著提高了面板检测结果的准确性。

示例性地，步骤S120在图像上确定检测起始位置和检测结束位置可以包括步骤S121和步骤S122。

步骤S121，提供用户界面，其中用户界面包括第一可操作控件。

图3示出了根据本发明一个实施例的用户界面300的局部示意图。第一可操作控件310在图3中示出为“左侧区域起始”和“右侧区域结束”。

步骤S122，响应于用户对第一可操作控件的操作，接收用户在图像上设置的关于检测起始位置和检测结束位置的信息。

示例性地，上述面板检测方法100可以用于待检测面板的缺陷检测。用户可以首先利用鼠标在用户界面300上点击“设置缺陷检测”控件，响应于用户的操作可以在用户界面300上生成一个新的子界面，该子界面上包括第一可操作控件310。基于该子界面，用户可以先设置检测起始位置。例如，用户首先点击“左侧区域起始”，其次用户在待检测面板的图像的左侧任选两点，基于用户所选的两点自动生成如图2所示的检测起始位置220。采用类似的方法可以设置检测结束位置，在此不再赘述。

根据上述技术方案，可以响应于用户的操作对检测起始位置和检测结束位置进行任意合理的设置。由此，可以满足不同用户的需求，同时用户操作简单。

图4示出了根据本发明一个实施例的步骤S130对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域的示意性流程图。如图4所示，步骤S130包括以下步骤。

步骤S131，利用灰度阈值对感兴趣区域进行图像分割，以将感兴趣区域分割为不同区域。

可以理解，图像分割是指基于某种规则对感兴趣区域中的特定区域进行识别提取的操作。在该实施例中，可以基于灰度阈值对感兴趣区域进行图像分割。示例性地，可以将感兴趣区域中的所有像素的灰度值分别与灰度阈值相比较，基于所有像素的灰度值与灰度阈值的差值可以将感兴趣区域分割为一个或多个区域。例如，将邻近的、与灰度阈值的差值为正数的像素归为一个区域。将邻近的、与灰度阈值的差值为负数或零的像素归为一个区域。由此可以将感兴趣区域分割为不同区域。针对每个区域可以分别对其进行标记，以区分区域与灰度阈值之间的差值的不同情况。

步骤S132，基于不同区域中符合预设条件的区域，确定掩膜区域，其中预设条件包括像素灰度大于灰度阈值。

根据上述步骤S131可以得到将感兴趣区域分割后的多个区域。根据前文所述，分割后得到的区域中可以包括两种，一种是区域中像素的像素灰度大于灰度阈值，将其称为第一区域。另一种是区域中像素的像素灰度小于或等于灰度阈值，将其称为第二区域。由此根据预设条件，可以将像素灰度大于灰度阈值的第一区域直接确定为掩膜区域。替代地，也可以对第一区域进行进一步处理或判断，以根据第一区域确定掩膜区域。

图5示出了根据本发明另一个实施例的用户界面500的示意图。用户可以通过点击图5所示的“屏蔽灰度阈值”后的箭头对灰度阈值进行设置。具体地，点击向上箭头可以增大灰度阈值，点击向下箭头可以减小灰度阈值。图5所示的“屏蔽灰度阈值”的数值仅仅是示例性地，不构成对本申请的限制。

根据上述技术方案，将灰度阈值作为图像分割的条件可以获得更准确分割结果，且确定是否为掩膜区域也是与灰度阈值进行比较的结果。由此，仅需执行一次计算过程即可确定掩膜区域，极大地减小了计算量，提升了***的工作效率。

根据本发明的一个实施例，步骤S130对感兴趣区域进行图像分割以自动生成掩膜区域，可以包括计算经分割的不同区域的矩形度。基于不同区域中符合预设条件的区域确定掩膜区域时，预设条件可以包括区域的矩形度在预设矩形度范围内。

可以利用任何现有的或未来研发的计算矩形度的算法执行上述步骤，例如协定算法(agreement method)等，本申请对此不作限定。

示例性地，可以利用上述基于灰度阈值对感兴趣区域进行分割的方法对进行感兴趣区域进行图像分割，以获得不同区域。然后，如前所述，可以确定不同区域中像素灰度大于灰度阈值的区域。之后分别计算所确定的像素灰度大于灰度阈值的区中的每个区域的矩形度。矩形度是指该区域的形状与矩形的相似程度。可以理解，矩形度的取值范围可以在0-1之间。矩形度数值越大说明该区域图像的形状越接近矩形。分别计算出像素灰度大于灰度阈值的区域的矩形度之后，判断其是否在预设矩形度范围内。例如，当某一区域的矩形度在预设矩形度范围内时，可以将该区域确定为掩膜区域。反之则不是掩膜区域。可以理解，也可以先根据矩形度对分割后的不同区域进行判断，然后再对经判断符合矩形度条件的区域进行灰度值判断。本发明中对上述步骤的执行顺序不进行限定。

用户可以通过图5所示的用户界面500中的“矩形度低”控件和“矩形度高”控件对预设矩形度范围进行设置。具体设置过程参考上述灰度阈值设置过程，为了简洁在此不再赘述。可以理解，图5所示的“矩形度低”和“矩形度高”的数值仅仅是示例性地，不构成对本申请的限制。

在很多应用场景中，待检测面板上的要屏蔽的区域具有近似规则形状。仍以前述电极上的气泡区域检测为例，如图2所示，电极顶部的小块区域即近似矩形。由此，在灰度条件的基础上，为掩膜区域的确定增加了形状条件，进一步提高掩膜区域确定结果的准确性。此外，上述方案算法简单，容易实现。

根据本发明的另一个实施例，步骤S130对感兴趣区域进行图像分割以自动生成掩膜区域，可以包括分别计算经分割的不同区域的面积。基于这些区域中符合预设条件的区域确定掩膜区域时，预设条件可以包括区域的面积在预设面积范围内。

示例性地，可以利用上述基于灰度阈值对感兴趣区域进行分割的方法对进行感兴趣区域进行图像分割，以获得不同区域。之后分别计算该不同区域的面积，并判断所得面积是否在预设面积范围内。例如，当某一区域的面积在预设范围内时，可以将该区域确定为掩膜区域。反之则不是掩膜区域。用户可以通过图5所示的用户界面500中的“屏蔽最小面积”控件和“屏蔽最大面积”控件对预设面积范围进行设置。其中，屏蔽最小面积表示掩膜区域的最小面积。屏蔽最大面积表示掩膜区域的最大面积。具体设置过程可以参考上述灰度阈值设置过程，为了简洁在此不再赘述。可以理解，图5所示的“屏蔽最小面积”和“屏蔽最大面积”的数值仅仅是示例性地，不构成对本申请的限制。

对于面板检测来说，掩膜区域如果过小，可能没有设置的必要；掩膜区域过大，可能包含的过大的盲区，无法实现屏蔽效果。在灰度阈值的基础上，为掩膜区域的确定增加了面积条件，进一步提高了掩膜区域确定结果的准确性。此外，上述方案算法简单，容易实现。

图6示出了根据本发明一个实施例的步骤S132基于分割所获得的不同区域中符合预设条件的区域确定掩膜区域的示意性流程图。如图6所示，步骤S132可以包括以下步骤。

步骤S132a，针对分割所获得的不同区域中符合预设条件的区域，生成最小包络平行四边形。

根据前文分割所获得的不同区域中选择出符合预设条件的区域后，可以针对这些区域分别生成其最小包络平行四边形。可以利用任何现有的或未来的可以生成最小包络平行四边形的方法针对符合预设条件的区域生成最小包络平行四边形，在本申请中对其不做任何限制。

示例性地，在此步骤S132a中，根据需要可以生成区域的最小包络矩形，以减小计算量。

步骤S132b，基于最小包络平行四边形，确定掩膜区域。针对符合预设条件的区域生成了最小包络平行四边形后，可以直接将这一平行四边形内的区域确定为掩膜区域。替代地，也可以对该最小包络平行四边形进行一些处理操作，将经处理的最小包络平行四边形确定为掩膜区域。

如果单纯依靠图像分割来获得掩膜区域，那么图像的噪声以及图像分割的精度都会对掩膜区域有负面影响。实际上，在面板检测时，大多数期望屏蔽的区域是具有规则形状的。基于最小包络平行四边形可以保证掩膜区域形状的规则性，使其更理想地适配用户期望屏蔽的区域。此外，与通过现有技术的手动画出的最小包络矩形作为掩膜区域相比，最小包络平行四边形中的干扰数据更少。基于干扰数据更少的掩膜区域可以获得准确性更高的面板检测结果。

示例性地，步骤S132b基于最小包络平行四边形，确定掩膜区域可以包括：

步骤S132b1，将最小包络平行四边形的左侧边和右侧边分别外扩第一预设尺寸，和/或，将最小包络平行四边形的顶边和底边分别外扩第二预设尺寸。

可以理解，一方面，基于图像分割获得的区域的最小包络平行四边形，由于图像分割的精度问题或者图像清晰度的问题，可能导致未能理想地屏蔽期望屏蔽的区域。另一方面，通常掩膜区域周围是无需检测的背景区域。由此，可以根据电极区域内电极的形状特征对最小包络平行四边形的尺寸进行调整。例如，可以将最小包络平行四边形的左侧边和右侧边分别外扩第一预设尺寸，第一预设尺寸可以设置为5-10个像素范围内的任意数值。又或者，还可以将最小包络平行四边形的顶边和底边分别外扩第二预设尺寸，第二预设尺寸可以设置为50-80个像素范围内的任意数值。上述尺寸调整过程可以响应于用户的操作同时或分别进行。上述调整操作结束后，可以对所涉及到的参数进行保存，以便后续再次添加掩膜区域。

步骤S132b2，确定经外扩的平行四边形内部的区域为掩膜区域。

根据上述步骤S132b1可以对最小包络平行四边形的尺寸进行调整，以获得经外扩的平行四边形。之后，将经外扩的平行四边形内部的区域确定为掩膜区域。

替代地，用户还可以通过用户界面直接观察生成的最小包络平行四边形的尺寸或位置是否合适，若不合适，用户可以利用鼠标等输入装置手动调整所生成的掩膜区域。示例性地，用户甚至可以利用鼠标等输入装置通过用户界面手动增加一个或多个矩形，并将该一个或多个矩形确定为新的掩膜区域。

在上述技术方案中，充分考虑到了面板图像中掩膜区域的特点，并据此对最小包络平行四边形进行外扩。由此，进一步提高了掩膜区域确定结果的准确性，避免为后续面板检测过程引入过多的干扰数据。

根据本发明的另一方面，还提供了一种面板检测装置。图7示出了根据本发明一个实施例的面板检测装置700的示意性框图。如图7所示，该装置700可以包括图像获取模块710、ROI确定模块720、掩膜确定模块730以及检测模块740。

图像获取模块710用于获取待检测面板的图像。

ROI确定模块720用于在图像上确定待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将检测起始位置和检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域。

掩膜确定模块730用于对感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域。

检测模块740用于在图像中的、掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

根据本发明的又一方面，还提供了一种电子设备。图8示出了根据本发明一个实施例的电子设备800的示意性框图。如图8所示，该电子设备800可以包括处理器810和存储器820。其中，存储器820中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器810运行时用于执行前述面板检测方法100。

根据本发明的再一方面，还提供了一种存储介质，在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行前述的面板检测方法100。存储介质例如可以包括平板电脑的存储部件、个人计算机的硬盘、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、便携式紧致盘只读存储器(CD-ROM)、USB存储器、或者上述存储介质的任意组合。所述计算机可读存储介质可以是一个或多个计算机可读存储介质的任意组合。

本领域普通技术人员通过阅读上述有关面板检测方法的相关描述，可以理解上述面板检测装置、电子设备和存储介质的具体实现方案，为了简洁，在此不再赘述。

尽管这里已经参考附图描述了示例实施例，应理解上述示例实施例仅仅是示例性的，并且不意图将本发明的范围限制于此。本领域普通技术人员可以在其中进行各种改变和修改，而不偏离本发明的范围和精神。所有这些改变和修改意在被包括在所附权利要求所要求的本发明的范围之内。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个设备，或一些特征可以忽略，或不执行。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该本发明的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如相应的权利要求书所反映的那样，其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域的技术人员可以理解，除了特征之间相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的面板检测装置中的一些模块的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种面板检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测面板的图像；

在所述图像上确定所述待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将所述检测起始位置和所述检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域；

对所述感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域；

在所述图像中的、所述掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述在所述图像上确定检测起始位置和检测结束位置包括：

提供用户界面，其中所述用户界面包括第一可操作控件；

响应于用户对所述第一可操作控件的操作，接收所述用户在所述图像上设置的关于所述检测起始位置和所述检测结束位置的信息。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述对所述感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，包括：

利用灰度阈值对所述感兴趣区域进行图像分割，以将所述感兴趣区域分割为不同区域；

基于所述不同区域中符合预设条件的区域，确定所述掩膜区域，其中所述预设条件包括像素灰度大于灰度阈值。

4.如权利要求3所述的方法，其中，所述对所述感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，还包括：

计算所述不同区域的矩形度；

所述预设条件还包括：区域的矩形度在预设矩形度范围内。

5.如权利要求3所述的方法，其中，所述对所述感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域，还包括：

分别计算所述不同区域的面积；

所述预设条件还包括：区域的面积在预设面积范围内。

6.如权利要求3所述的方法，其中，所述基于所述不同区域中符合预设条件的区域确定所述掩膜区域，包括：

针对所述不同区域中符合预设条件的区域，生成最小包络平行四边形；

基于所述最小包络平行四边形，确定所述掩膜区域。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述基于所述最小包络平行四边形，确定所述掩膜区域，包括：

将所述最小包络平行四边形的左侧边和右侧边分别外扩第一预设尺寸，和/或，将所述最小包络平行四边形的顶边和底边分别外扩第二预设尺寸；以及

确定经外扩的平行四边形内部的区域为所述掩膜区域。

8.一种面板检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取待检测面板的图像；

ROI确定模块，用于在所述图像上确定所述待检测面板的检测起始位置和检测结束位置，以将所述检测起始位置和所述检测结束位置之间的区域作为感兴趣区域；

掩膜确定模块，用于对所述感兴趣区域进行图像分割，以自动生成掩膜区域；

检测模块，用于在所述图像中的、所述掩膜区域以外的区域，进行面板检测。

9.一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，所述存储器中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被所述处理器运行时用于执行如权利要求1至7任一项所述的面板检测方法。

10.一种存储介质，在所述存储介质上存储了程序指令，所述程序指令在运行时用于执行如权利要求1至7任一项所述的面板检测方法。

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