CN114280462A - 一种射频集成电路测试装置及测试平台 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种射频集成电路测试装置及测试平台，属于集成电路测试技术领域。一种射频集成电路测试装置，矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将第一基带信号传输给射频发射调理模块；射频发射调理模块用于根据矢量调制解调模块发送的第一基带信号生成第一矢量信号，通过开关矩阵模块将第一矢量信号传输给待测器件；射频接收调理模块用于通过开关矩阵模块接收待测器件基于第一矢量信号返回的第二矢量信号，将第二矢量信号解调得到第二基带信号，将第二基带信号传输给矢量调制解调模块；矢量调制解调模块还用于根据第一基带信号和第二基带信号得到待测器件的测试结果，可一次测试多种射频参数，不需要频繁更换测试仪器，提高了测试效率。

Description

一种射频集成电路测试装置及测试平台

技术领域

本申请涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种射频集成电路测试装置及测试平台。

背景技术

随着射频集成电路的不断发展，测试需求越来越高，而射频集成电路的测试需求复杂程度高，涉及到多种射频参数，包括频率、功率、噪声系数、驻波比、谐波抑制、杂散抑制、***损耗、增益、三阶交调、中频带宽等。完成以上参数测试需要频谱分析仪、矢量信号分析仪、矢量信号源、噪声系数分析仪、矢量网络分析仪等多种射频仪器相配合。针对多种相同类型射频集成电路，为了提高测试效率，还需要测量仪器具备多通道信号输入输出和自动测试功能，而传统仪器不具备此功能。

发明内容

为了解决测试多种射频参数的测试效率问题，本申请提供了一种射频集成电路测试装置及测试平台。

第一方面，本申请提供了一种射频集成电路测试装置，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；

所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；

所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；

所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；

所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；

所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；

所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将所述第二基带信号传输给所述矢量调制解调模块；

所述矢量调制解调模块还用于根据所述第一基带信号和所述第二基带信号得到所述待测器件的测试结果；

进一步，所述射频发射调理模块包括：射频发射通道调理本振单元和上变频单元；

所述射频发射通道调理本振单元用于基于所述第一基带信号生成第一频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；

所述上变频单元用于对所述射频发射通道调理本振模块进行频率扩展，基于所述第一基带信号生成第二频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；

进一步，所述射频接收调理模块包括：射频接收通道调理本振单元和下变频单元；

所述射频接收通道调理本振单元用于通过所述开关矩阵模块接收第一频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；

所述下变频单元用于对所述射频接收通道调理本振单元进行频率扩展，通过所述开关矩阵模块接收第二频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；

进一步，所述装置还包括：定向耦合器、信号采集调理单元和噪声系数测量单元；

所述定向耦合器连接所述开关矩阵模块和所述信号采集调理单元；

所述信号采集调理单元连接所述开关矩阵模块、所述射频发射调理模块、所述射频接收调理模块和所述噪声系数测量单元；

所述定向耦合器用于将通过所述开关矩阵模块发送的所述第一矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块接收；以及，用于将通过所述开关矩阵模块接收的所述第二矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块；

所述信号采集调理单元用于对所述第一矢量信号进行信号调理后，通过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输出端；以及，对所述第二矢量信号进行信号调理后输出至所述射频接收调理模块；

所述噪声系数测量单元用于产生噪声源信号，并通过所述开关矩阵模块将所述噪声源信号传输至所述待测器件的测试信号输入端；

所述射频接收调理模块还用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述噪声源信号返回的微波信号，将所述微波信号传输给所述矢量调制解调模块；所述矢量调制解调模块还用于根据所述噪声源信号和所述微波信号得到所述待测器件的噪声系数参数；

进一步，所述噪声系数测量单元包括：噪声源子模块和开关衰减链路子模块；

所述噪声源子模块用于产生测试用的所述噪声源信号，将所述噪声源信号传输给所述开关衰减链路子模块；

所述开关衰减链路子模块用于根据所述待测器件的测量要求，对所述噪声源信号进行调理控制，并经过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输入端；

进一步，所述开关矩阵模块包括至少两路测试接口；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输入端；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输出端；所述开关矩阵模块在控制端作用下选择与所述射频发射调理模块或所述射频发射调理模块连通的所述测试接口；

进一步，所述开关矩阵模块包括4路输入测试接口和4路输出测试接口；

进一步，所述装置还包括时钟单元，所述时钟单元用于给所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块提供时钟信号；

进一步，所述开关矩阵模块、所述射频接收调理模块和所述射频发射调理模块的工作频率为大于或等于50MHz，且，小于或等于12GHz；

所述矢量调制解调模块的工作带宽为小于或等于1GHz。

第二方面，本申请提供了一种射频集成电路测试平台，所述测试平台包括两个第一方面任一所述的射频集成电路测试装置；两个所述射频集成电路测试装置通过所述开关矩阵模块连接。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本申请实施例提供的该射频集成电路测试装置，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将所述第二基带信号传输给所述矢量调制解调模块；所述矢量调制解调模块还用于根据所述第一基带信号和所述第二基带信号得到所述待测器件的测试结果。通过该射频集成电路测试装置，可一次测试多种射频参数，解决了测试多种射频参数的测试效率问题，不需要频繁更换测试仪器，提高了测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种射频集成电路测试装置应用的架构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种射频集成电路测试装置的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的另一种射频集成电路测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种噪声系数测量单元的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的一种射频集成电路测试平台的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请第一实施例提供了一种射频集成电路测试装置，该测试装置可以应用于如图1所示的***架构，该***架构中至少包括硬件平台101和软件平台102，该硬件平台101和软件平台102建立通信连接，比如可以采用标准PXIe总线进行通信连接。该软件平台102包括应用层、接口层、算法、硬件功能、操作***等，其中，应用层包括用户输入输出界面、数据采集和参数设置等功能，接口层包括矢量调制接口、矢量解调接口、矢量网络分析和噪声系数测量等功能，算法包括矢量调制解调算法、矢量网络分析算法、噪声系数测量算法和自校准算法等，硬件功能包括通道控制和数据采集，通道控制包括对开关矩阵模块中的通道进行控制。该测试装置应用于该***架构中的硬件平台。

接下来基于该***架构对射频集成电路测试装置进行详细说明，一种射频集成电路测试装置，如图2，包括：矢量调制解调模块201、射频发射调理模块202、射频接收调理模块203和开关矩阵模块204。

矢量调制解调模块201连接射频发射调理模块202和射频接收调理模块203；射频发射调理模块202通过开关矩阵模块204，连接待测器件205的测试信号输入端；射频接收调理模块203通过开关矩阵模块204，连接待测器件205的测试信号输出端。

矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将第一基带信号传输给射频发射调理模块；射频发射调理模块用于根据矢量调制解调模块发送的第一基带信号生成第一矢量信号，通过开关矩阵模块将第一矢量信号传输给待测器件205；射频接收调理模块用于通过开关矩阵模块接收待测器件205基于第一矢量信号返回的第二矢量信号，将第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将第二基带信号传输给矢量调制解调模块；矢量调制解调模块还用于根据第一基带信号和第二基带信号得到待测器件的测试结果。

在本申请实施例中，在对待测器件的测试过程中，根据测试需求，矢量调制解调模块生成第一基带信号，射频发射调理模块根据第一基带信号生成第一矢量信号，通过开关矩阵模块选择通道连接待测器件的测试信号输入端，开关矩阵模块从待测器件的测试信号输出端接收第二矢量信号并发送至射频接收调理模块，射频接收调理模块根据第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将第二基带信号传输至矢量调制解调模块，矢量调制解调模块根据第一基带信号和第二基带信号得到待测器件的测试结果。本射频集成电路测试装置，可以根据测试需求，和待测器件连接一次即可测量多种射频参数，不需要频繁更换测试仪器，提高了测试效率。

一个实施例中，如图3，射频发射调理模块包括：射频发射通道调理本振单元301和上变频单元302。

射频发射通道调理本振单元301用于基于第一基带信号生成第一频率区间的第一矢量信号，并将第一矢量信号通过开关矩阵模块传输至待测器件的测试信号输入端；上变频单元302用于对射频发射通道调理本振模块进行频率扩展，基于第一基带信号生成第二频率区间的第一矢量信号，并将第一矢量信号通过开关矩阵模块传输至待测器件的测试信号输入端。

本实施例中，射频发射通道调理本振单元的工作的第一频率区间为50MHz-6GHz，上变频单元工作的第二频率区间为6GHz-12GHz，若需要产生的第一矢量信号位于6GHz-12GHz的频率区间，则需要由上变频单元进行频率扩展，通过射频发射通道调理本振单元和上变频单元的配合使用，可以实现矢量信号50MHz-12GHz的频段输出，提高射频集成电路测试装置的输出频段覆盖范围，进而提高射频集成电路测试装置的性能。

具体的，还可以通过第一开关309控制射频发射通道调理本振单元301或上变频单元302的输出，比如，第一开关309可以是单二开关，单二开关的公共端作为射频发射调理模块的输出端，单二开关的第一端和第二端在控制端的作用下连接射频发射通道调理本振单元或上变频单元，其中，第一开关309可以属于开关矩阵模块，便于集中控制。

一个实施例中，如图3，射频接收调理模块包括：射频接收通道调理本振单元303和下变频单元304。

射频接收通道调理本振单元303用于通过开关矩阵模块接收第一频率区间的第二矢量信号，将第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将第二基带信号传输至矢量调制解调模块；下变频单元304用于对射频接收通道调理本振单元进行频率扩展，通过开关矩阵模块接收第二频率区间的第二矢量信号，将第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将第二基带信号传输至矢量调制解调模块。

本实施例中，射频接收通道调理本振单元的工作的第一频率区间为50MHz-6GHz，下变频单元工作的第二频率区间为6GHz-12GHz，若接收到的第二矢量信号位于6GHz-12GHz的频率区间，则需要由下变频单元进行频率扩展，通过射频接收通道调理本振单元和下变频单元的配合使用，可以实现矢量信号50MHz-12GHz的频段接收，提高射频集成电路测试装置的输入频段覆盖范围，进而提高射频集成电路测试装置的性能。

具体的，还可以通过第二开关310控制射频接收通道调理本振单元303或下变频单元304的输出，比如，第二开关310可以是单二开关，单二开关的公共端作为射频接收调理模块的输出端，单二开关的第一端和第二端在控制端的作用下连接射频接收通道调理本振单元或下变频单元，其中，第二开关310可以属于开关矩阵模块，便于集中控制。

一个实施例中，如图3，装置还包括：定向耦合器306、信号采集调理单元305和噪声系数测量单元307。

定向耦合器连接开关矩阵模块和信号采集调理单元；信号采集调理单元连接开关矩阵模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和噪声系数测量单元。

定向耦合器用于将通过开关矩阵模块发送的第一矢量信号进行定向耦合，并传输至射频接收调理模块接收；以及，将通过开关矩阵模块接收的第二矢量信号进行定向耦合，并传输至射频接收调理模块；信号采集调理单元用于对第一矢量信号进行信号调理后，通过开关矩阵模块输出至待测器件的测试信号输出端；以及，对第二矢量信号进行信号调理后输出至射频接收调理模块；噪声系数测量单元用于产生噪声源信号，并通过开关矩阵模块将噪声源信号传输至待测器件的测试信号输入端；射频接收调理模块还用于通过开关矩阵模块接收待测器件基于噪声源信号返回的微波信号，将微波信号传输给矢量调制解调模块；矢量调制解调模块还用于根据噪声源信号和微波信号得到待测器件的噪声系数参数。

需要说明的是，在需要使用定向耦合器将第一矢量信号进行定向耦合后并传输至射频接收调理模块接收时，第一矢量信号同样经过开关矩阵模块发送到了待测器件的测试信号输入端，待测器件的测试信号输出端返回了第二矢量信号。此处的定向耦合器可以包括两个定向耦合器，其中，一个定向耦合器用于将通过开关矩阵模块发送的第一矢量信号进行定向耦合，并传输至射频接收调理模块接收，另一个定向耦合器用于将通过开关矩阵模块接收的第二矢量信号进行定向耦合，并传输至射频接收调理模块。

需要说明的是，以上的定向耦合器将定向耦合的第一矢量信号或第二矢量信号传输至射频接收调理模块可以是直接传输至射频接收调理模块，也可以是通过信号采集调理单元进行信号调理后再传输至射频接收调理模块。

在本实施例中，若需要进行信号频率、功率、谐波抑制、杂散抑制、三阶交调等参数测量时，使用本射频集成电路测试装置的矢量信号收发测量功能，即通过矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块完成矢量信号收发测试功能。

若需要对待测器件端口参数测量，比如包括获取散射参数、驻波比和群时延等参数，需要使用本射频集成电路测试装置的矢量网络分析功能，即相当于在矢量信号收发测试的基础上，对第一矢量信号和第二矢量信号进行定向耦合，分别测量第一矢量信号和第二矢量信号后进行相关算法计算，得到相关参数。比如，传输至待测器件的第一矢量信号作为入射信号，第二矢量信号作为传输信号，从待测器件的信号输入端发射回的信号作为反射信号，定向耦合器将入射信号、反射信号和传输信号进行分离，分别测量入射信号的幅值和相位、反射信号的幅值和相位和传输信号的幅值和相位，矢量调制解调模块计算得到散射参数、驻波比和群时延等参数。

若要进行待测器件噪声系数参数测量，需通过噪声系数测量单元进行测试，得到噪声系数参数，即，噪声系数测量单元产生噪声源信号，通过开关矩阵模块传输至待测器件的测试信号输入端，射频接收调理模块通过开关矩阵模块接收待测器件基于噪声源信号返回的微波信号，将微波信号传输至矢量调制解调模块，矢量调制解调模块根据噪声源信号和微波信号得到待测器件的噪声系数参数。

一个实施例中，如图4，噪声系数测量单元包括：噪声源子模块401和开关衰减链路子模块402。

噪声源子模块401用于产生测试用的噪声源信号，将噪声源信号传输给开关衰减链路子模块；开关衰减链路子模块402用于根据待测器件的测量要求，对噪声源信号进行调理控制，并经过开关矩阵模块输出至待测器件的测试信号输入端。

一个实施例中，开关矩阵模块包括至少两路测试接口；至少一个测试接口用于连接待测器件的测试输入端；至少一个测试接口用于连接待测器件的测试输出端；开关矩阵模块在控制端作用下选择与射频发射调理模块或射频发射调理模块连通的测试接口。

开关矩阵模块至少包括两路测试接口，也就是可以包括至少连接一个待测器件，也可以连接多个待测器件，在连接多个待测器件时，可以实现一次性测试多个待测器件。

一个实施例中，开关矩阵模块包括4路输入测试接口和4路输出测试接口。在控制端作用下，对开关矩阵模块的路径进行选择，可以实现多通道信号输入输出和多种测试功能的切换，完成四个射频集成电路多功能测试。比如，开关矩阵模块可以包括第三开关311和第四开关312，第三开关和第四开关可以为四选一开关，四选一开关在控制端的作用下，可选择连接不同的待测器件，另外，在连接定向耦合器时，通过公共端连接至定向耦合器。

需要说明的是，待测器件可以是多个待测器件，每一个待测器件连接一组开关矩阵模块的测试接口，也可以是具有多个接口的待测器件，根据待测器件的接口的数量选择连接开关矩阵模块中不同的测试接口。

一个实施例中，如图3，装置还包括时钟单元308，时钟单元用于给射频发射调理模块和射频接收调理模块提供时钟信号。

一个实施例中，开关矩阵模块、射频接收调理模块和射频发射调理模块的工作频率为大于或等于50MHz，且，小于或等于12GHz。矢量调制解调模块的工作带宽为小于或等于1GHz。

本射频集成电路测试装置可以进行50MHz-12GHz的矢量信号收发，并且，带宽最高1GHz的矢量收发带宽能满足5G宽带射频集成电路测试。

基于同一技术构思，本申请第二实施例提供了一种射频集成电路测试平台，如图5，测试平台包括两个第一实施例中任一所述的射频集成电路测试装置501，两个射频集成电路测试装置501通过开关矩阵模块连接。具体的，可以通过两个射频集成电路测试装置包含的第一开关、第二开关、第三开关和第四开关之间分别进行连接，在控制端作用下进行路径选择，可以实现相应模块完成双音信号输出，比如，第一射频集成电路测试装置的射频发射调理模块输出的第一矢量信号可以通过第二开关输出至第二射频集成电路测试装置的第二开关处，或者，第一射频集成电路测试装置的第三开关可以将接收的第二矢量信号传输至第二射频集成电路测试装置的第三开关处，可使射频集成电路测试平台在测试过程中可以灵活的控制测试路径，优化测试环境，能同时测试八个待测器件，提高测试效率。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

在本发明中，术语“上”、“下”、“内”、“中”、“外”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本发明及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。

并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本发明中的具体含义。

此外，术语“设置”、“连接”、“固定”应做广义理解。例如，“连接”可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。在描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种射频集成电路测试装置，其特征在于，包括：矢量调制解调模块、射频发射调理模块、射频接收调理模块和开关矩阵模块；

所述矢量调制解调模块连接所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块；

所述射频发射调理模块通过所述开关矩阵模块，连接待测器件的测试信号输入端；

所述射频接收调理模块通过所述开关矩阵模块，连接所述待测器件的测试信号输出端；

所述矢量调制解调模块用于生成第一基带信号，将所述第一基带信号传输给所述射频发射调理模块；

所述射频发射调理模块用于根据所述矢量调制解调模块发送的所述第一基带信号生成第一矢量信号，通过所述开关矩阵模块将所述第一矢量信号传输给所述待测器件；

所述射频接收调理模块用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述第一矢量信号返回的第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到第二基带信号，并将所述第二基带信号传输给所述矢量调制解调模块；

所述矢量调制解调模块还用于根据所述第一基带信号和所述第二基带信号得到所述待测器件的测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频发射调理模块包括：射频发射通道调理本振单元和上变频单元；

所述射频发射通道调理本振单元用于基于所述第一基带信号生成第一频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端；

所述上变频单元用于对所述射频发射通道调理本振模块进行频率扩展，基于所述第一基带信号生成第二频率区间的所述第一矢量信号，并将所述第一矢量信号通过所述开关矩阵模块传输至所述待测器件的测试信号输入端。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频接收调理模块包括：射频接收通道调理本振单元和下变频单元；

所述射频接收通道调理本振单元用于通过所述开关矩阵模块接收第一频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块；

所述下变频单元用于对所述射频接收通道调理本振单元进行频率扩展，通过所述开关矩阵模块接收第二频率区间的所述第二矢量信号，将所述第二矢量信号解调得到所述第二基带信号，并将所述第二基带信号传输至所述矢量调制解调模块。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：定向耦合器、信号采集调理单元和噪声系数测量单元；

所述定向耦合器连接所述开关矩阵模块和所述信号采集调理单元；

所述信号采集调理单元连接所述开关矩阵模块、所述射频发射调理模块、所述射频接收调理模块和所述噪声系数测量单元；

所述定向耦合器用于将通过所述开关矩阵模块发送的所述第一矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块接收；以及，将通过所述开关矩阵模块接收的所述第二矢量信号进行定向耦合，并传输至所述射频接收调理模块；

所述信号采集调理单元用于对所述第一矢量信号进行信号调理后，通过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输出端；以及，对所述第二矢量信号进行信号调理后输出至所述射频接收调理模块；

所述噪声系数测量单元用于产生噪声源信号，并通过所述开关矩阵模块将所述噪声源信号传输至所述待测器件的测试信号输入端；

所述射频接收调理模块还用于通过所述开关矩阵模块接收所述待测器件基于所述噪声源信号返回的微波信号，将所述微波信号传输给所述矢量调制解调模块；所述矢量调制解调模块还用于根据所述噪声源信号和所述微波信号得到所述待测器件的噪声系数参数。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述噪声系数测量单元包括：噪声源子模块和开关衰减链路子模块；

所述噪声源子模块用于产生测试用的所述噪声源信号，将所述噪声源信号传输给所述开关衰减链路子模块；

所述开关衰减链路子模块用于根据所述待测器件的测量要求，对所述噪声源信号进行调理控制，并经过所述开关矩阵模块输出至所述待测器件的测试信号输入端。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述开关矩阵模块包括至少两路测试接口；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输入端；至少一个所述测试接口用于连接所述待测器件的测试输出端；所述开关矩阵模块在控制端作用下选择与所述射频发射调理模块或所述射频发射调理模块连通的所述测试接口。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述开关矩阵模块包括4路输入测试接口和4路输出测试接口。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述装置还包括时钟单元，所述时钟单元用于给所述射频发射调理模块和所述射频接收调理模块提供时钟信号。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述开关矩阵模块、所述射频接收调理模块和所述射频发射调理模块的工作频率为大于或等于50MHz，且，小于或等于12GHz；

所述矢量调制解调模块的工作带宽为小于或等于1GHz。

10.一种射频集成电路测试平台，其特征在于，所述测试平台包括两个权利要求1-9所述的射频集成电路测试装置；两个所述射频集成电路测试装置通过所述开关矩阵模块连接。

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