CN114279482B - 一种透射传感器的校验方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种透射传感器的校验方法及***，方法包括将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；以第二间隔作为调节周期，控制初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值。本发明在不增加额外的电路设计负担的前提下，对传感器进行跨步自校验，防止设备因传感器所处环境、结构位置变化等因素导致TV值与实际设备状态不相符的现象。
Description
技术领域
本发明涉及传感器校准技术领域，尤其是一种透射传感器的校验方法及***。
背景技术
目前透射传感器应用在大量的自动化设备中，设备通过解析传感器的种种配合状态关系，得出实时的下一步预处理步骤，在这当中传感器的TV值(threshold value，传感器导通的阈值)至关重要。
目前的对于传感器TV值的处理方法一般分为两种：硬件电路校验、固件写入。硬件电路校验在设计上需要投入更多的人力成本跟物料成本，且造成电路设计复杂度增多，尤其是对于传感器数量级比较大的设备，后续缺陷分析不易定位。固件写入方式是指将相关TV值在程序设计时根据传感器饱和电压预先写入程序中，这种方法在设备初期不会出现问题，但在设备运行几年以后，因环境、器件磨损等原因，传感器饱和电压会发生一定变化，此时部分设备可能会发生TV值与设计需求不相符，导致设备故障的情况，解决方法只能通过升级固件或升级eeprom(非易失性的存储设备)配置解决。
以上两种校验方式均存在交易成本高、可操作性差的缺陷。
发明内容
本发明提供了一种透射传感器的校验方法及***，用于解决现有透射传感器的校验方式成本高、可操作性差的问题。
为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：
本发明第一方面提供了一种透射传感器的校验方法，所述校验方法包括以下步骤：
将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔。
进一步地，所述将待校验透射传感器的供电电压均置零之前，所述校验方法还包括步骤：
将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使校验过程在分组内分别进行。
进一步地，所述预设阈值为透射传感器AD分辨率的90％。
进一步地，所述第一间隔为AD分辨率的10％，所述第二间隔为AD分辨率的1％。
进一步地，所述导通值的计算具体为：
进一步地，所述预设值的计算具体为：
进一步地，所述方法在得到校验值后，还包括步骤：
基于所述校验值，针对组内每个投射传感器进行调节，得到每个透射传感器输入电压的PWM值。
本发明第二方面提供了一种透射传感器的校验***，所述校验***包括：
预处理单元，用于将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
粗调单元，用于以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
细调单元，用于以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔。
进一步地，所述校验***还包括分组单元，所述分组单元用于将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使校验过程在分组内分别进行。
本发明第三方面提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令在所述校验***上运行时，使所述校验***执行所述校验方法的步骤。
本发明第二方面的所述透射传感器的校验***能够实现第一方面及第一方面的各实现方式中的方法，并取得相同的效果。
发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
本发明实施例在不增加额外的电路设计负担的前提下，通过透射传感器输入电压的PWM值，对传感器进行跨步自校验，防止设备因传感器所处环境、传感器结构位置变化等因素导致TV值与实际设备状态不相符，从而发生设备故障、器件损坏的情况发生。本实施例的实现方式不会因设备传感器数量级较大导致消耗较多RAM/ROM，相较于以上现有方式，即不需要增加电路设计负担，也不会因传感器老化导致设备功能失效。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明所述方法实施例的流程示意图；
图2是本发明所述***实施例的结构示意图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
在自动化设备中，传感器的测量值直接决定了器械控制流程的处理，因此传感器的准确性至关重要。然而透射传感器在运行过程中，因为环境，如温度、湿度有时不符合传感器工作规格；结构，如后期传感器安放结构变化或者传感器自身元器件老化等原因导致，测量结果出现偏差，因此需要对透射传感器进行校验。
如图1所示，本发明实施例提供了一种透射传感器的校验方法，所述校验方法包括以下步骤：
S1,将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
S2,以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
S3,以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔。
步骤S1中，所述预设阈值为透射传感器AD分辨率的90％。当传感器的AD值小于预设阈值时，认为传感器短路，故障预警时显示故障传感器的ID，且在后续的校验过程中，排除对故障传感器的校验。
步骤S2中，所述第一间隔为AD分辨率的10％，如AD分辨率为1000，则第一间隔为100。所述导通值的计算具体为：
步骤S3中，所述第二间隔为AD分辨率的1％。
所述预设值的计算具体为：
上述两计算公式中传感器的输入电压为传感器的工作电压。
本发明实施例的其一实现方式中，所述将待校验透射传感器的供电电压均置零之前，所述校验方法还包括步骤：
将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使步骤S1-步骤S3的校验过程在分组内分别进行。基于传感器的应用场景，一般以传感器的功能分配PWM，此处分组的目的是为了便于调节。
分组后，步骤S2中得到的初始PWM值和步骤S3中得到的校验值均是当前分组下对应的值。
本发明实施例的另一实现方式中，所述方法在得到校验值后，还包括步骤：
基于所述校验值，针对组内每个投射传感器进行调节，得到每个透射传感器输入电压的PWM值。
基于以上校验方式，得到每个透射传感器工作电压的PWM值，在当前PWM值下，透射传感器的测量值较准确，实现了对透射传感器的校验。
如图2所示，本发明实施例还提供了一种透射传感器的校验***，所述校验***包括预处理单元2、粗调单元3和细调单元4。
预处理单元2用于将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
粗调单元3用于以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
细调单元4用于以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔。
本发明***实施例的其一实现方式中，所述校验***还包括分组单元1，所述分组单元1用于将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使校验过程在分组内分别进行。
本发明实施例还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机指令，其特征是述校验***执行所述校验方法的步骤。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (8)
1.一种透射传感器的校验方法，其特征是，所述校验方法包括以下步骤：
S1：将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
S2：以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
S3：以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔；
所述方法在得到校验值后，还包括步骤：
基于所述校验值，针对组内每个投射传感器进行调节，得到每个透射传感器输入电压的PWM值；
将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使步骤S1-步骤S3的校验过程在分组内分别进行；
分组后，步骤S2中得到的初始PWM值和步骤S3中得到的校验值均是当前分组下对应的值。
2.根据权利要求1所述透射传感器的校验方法，其特征是，所述预设阈值为透射传感器AD分辨率的90%。
3.根据权利要求1所述透射传感器的校验方法，其特征是，所述第一间隔为AD分辨率的10%，所述第二间隔为AD分辨率的1%。
4.根据权利要求1所述透射传感器的校验方法，其特征是，所述导通值的计算具体为：
导通值=。
5.根据权利要求1所述透射传感器的校验方法，其特征是，所述预设值的计算具体为：
预设值=。
6.一种透射传感器的校验***，其特征是，所述的***用于实现权利要求1所述的方法，所述校验***包括：
预处理单元，用于将待校验透射传感器的供电电压均置零，获取此时各透射传感器的AD值，将所述AD值小于预设阈值的透射传感器进行故障预警；
粗调单元，用于以第一间隔作为调节周期，调节透射传感器输入电压的PWM值，控制所述PWM值逐步递增，在待校验透射传感器的AD值均为导通值时，得到此时的PWM值，作为初始PWM值；
细调单元，用于以第二间隔作为调节周期，控制所述初始PWM值逐步递减，直到至少出现一个透射传感器的AD值达到预设值，将此时的PWM值作为校验值；所述第二间隔小于第一间隔。
7.根据权利要求6所述透射传感器的校验***，其特征是，所述校验***还包括分组单元，所述分组单元用于将待校验的透射传感器按照PWM控制通道进行分组，使校验过程在分组内分别进行。
8.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机指令，其特征是，所述计算机指令在权利要求6或7所述校验***上运行时，使所述校验***执行如权利要求1-5任一项所述校验方法的步骤。
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