CN114199890A - 电子元器件检测装置及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

一种电子元器件检测装置及其检测方法,所述电子元器件检测装置包括:取像单元,其用于对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片;电子元器件标准值数据库,其预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片;输入单元,其用于输入一电路板的工单号及该电路板的料号;查找单元,其在电子元器件标准值数据库中查找所述电路板对应的标准图片;下载单元,其将所述查找单元找出的所述标准图片进行下载;比对单元,其将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致;显示单元,其显示比对单元进行对比判断的结果;存储单元,其将所述比对单元的比对结果进行保存。

Description

电子元器件检测装置及其检测方法
【技术领域】
本发明是涉及一种连接接口功率检测***及其检测方法,具体是涉及一种电子元器件检测装置及其检测方法。
【背景技术】
目前,随着电子技术的不断发展,印刷电路板作为电子技术的重要组成部分也得到迅速发展,但电路板中的电子元器件是否放置正确是决定电路板质量的因素之一。由于电路板生产过程中,可能存在各种不良因素影响,电路板上的部分元器件可能出现放置不正确的现象,而这种缺陷却成为电路板的致命因素,影响电路板的最终质量。
因此,为保证印刷电路板质量,对电路板进行缺陷检测是必不可少的,而其中电子元器件少贴、漏贴就是缺陷之一。现有生产过程中,许多厂家会对电路板上的电子元器件进行人工检测,但人工检测不仅效率低而且由于工人缺乏经验,容易在电路板检查过程中出现漏检、错检等现象,因此最终也并不能完全保证电路板的质量。
有鉴于此,本发明提供了一种电子元器件检测装置及其检测方法,用来提高电路板上的电子元器件的检测效率。
【发明内容】
因此,为了达到上述目的,本发明提供的一种电子元器件检测装置,用于检测电路板上的电子元器件是否放置正确,所述电子元器件检测装置包括:
取像单元,其用于对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片,再将取像图片中各电子元器件标注型号名称;
电子元器件标准值数据库,其预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片,所述标准图片中标注各所述电子元器件的的型号名称;
输入单元,其用于输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
查找单元,其与所述输入单元及所述电子元器件标准值数据库连接,所述查找单元根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库中查找所述电路板对应的标准图片;
下载单元,其与所述查找单元连接,所述下载单元将所述查找单元找出的所述标准图片进行下载;
比对单元,其分别与所述取像单元、所述下载单元连接,所述比对单元将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
显示单元,其与所述比对单元连接,所述显示单元将所述取像单元拍照的取像图片放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库的标准图片放置于显示窗口内的右侧,再显示比对单元进行对比判断的结果;
存储单元,其与所述比对单元连接,所述存储单元将所述比对单元的比对结果进行保存。
可选的,所述取像单元通过工业相机进行拍照取像。
可选的,所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片为各个类型电路板的电路图,所述电路图上标注各电子元器件的型号。
可选的,所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片尺寸一致。
可选的,所述比对单元在进行比对之前,先将所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片分别进行区域切割,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标,最后再根据各电子元器件的坐标一一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致,当比对不一致时,比对单元记录该电子元器件的型号名称以及图片中的坐标。
可选的,所述比对单元将所述取像图片与所述标准图片比对时,当比对一致所述显示单元显示“PASS”,当比对不一致所述显示单元显示“FAIL”。
可选的,所述显示单元通过鼠标向上滚动将显示窗口内的图片进行放大,以及通过鼠标向下滚动将显示窗口内的图片进行缩小。
可选的,所述存储单元将所述比对结果保存为以电路板的工单号或者料号命名的excel文档,并且该excel文档中记录所述电路板中所有的电子元器件的型号及数量。
本发明还提供一种电子元器件检测方法,应用于上述一种电子元器件检测装置中,所述电子元器件检测方法包括以下步骤:
(1)取像单元对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片,再将取像图片中各电子元器件标注型号名称;
(2)电子元器件标准值数据库预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片,所述标准图片中标注各所述电子元器件的的型号名称;
(3)输入单元输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
(4)查找单元根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库中查找所述电路板对应的标准图片;
(5)下载单元将所述查找单元找出的所述标准图片进行下载;
(6)比对单元将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
(7)显示单元将所述取像单元拍照的取像图片放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库的标准图片放置于显示窗口内的右侧,再显示比对单元进行对比判断的结果;
(8)存储单元将所述比对单元的比对结果进行保存。
可选的,所述步骤(6)中所述比对单元在进行比对之前,先将所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片分别进行区域切割,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标,最后再根据各电子元器件的坐标一一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致。
本发明提供的一种电子元器件检测装置及其检测方法,通过比对单元将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,即可快速检测出该电路板上的电子元器件是否出现少贴、漏贴,有效地避免了人工检测而出现漏检、错检的情况,极大地提高了检测效率。并且,本案的电子元器件检测装置及其检测方法,采用的是无纸化检测作业,节省了资源。
【附图说明】
图1为本发明电子元器件检测装置的方框示意图。
图2为本发明电子元器件检测装置的显示单元的示意图。
图3为本发明电子元器件检测方法的流程图。
【具体实施方式】
以下是通过特定的具体实施例来说明本发明所公开有关“电子元器件检测装置及其检测方法”的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本发明的优点与效果。本发明可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用,在不背离本发明的构思下进行各种修改与变更。另外,本发明的附图仅为简单示意说明,并非依实际尺寸的描绘,事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本发明的相关技术内容,但所公开的内容并非用以限制本发明的保护范围。
请参阅图1,图1为本发明电子元器件检测装置的方框示意图。于本实施例中,本发明提供的一种电子元器件检测装置100,用于检测电路板上的电子元器件是否放置正确,所述电子元器件检测装置100包括:
取像单元110,其用于对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片10,再将取像图片10中各电子元器件标注型号名称;
电子元器件标准值数据库120,其预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片20,所述标准图片20中标注各所述电子元器件的的型号名称;
输入单元130,其用于输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
查找单元140,其与所述输入单元130及所述电子元器件标准值数据库120连接,所述查找单元140根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库120中查找所述电路板对应的标准图片20;
下载单元150,其与所述查找单元140连接,所述下载单元150将所述查找单元140找出的所述标准图片20进行下载;
比对单元160,其分别与所述取像单元110、所述下载单元150连接,所述比对单元160将所述取像单元110中的取像图片10与所述电子元器件标准值数据库120中的标准图片20进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
显示单元170,其与所述比对单元160连接,所述显示单元170将所述取像单元110拍照的取像图片10放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库120的标准图片20放置于显示窗口内的右侧,再由比对单元160进行对比判断;
存储单元180,其与所述比对单元160连接,所述存储单元180将所述比对单元160的比对结果进行保存。
于本实施例中,所述取像单元110通过工业相机进行拍照取像,利用工业相机的高清像素可以使照片的像素更高,以利于所述比对单元160在做比对判断时更加精确。
于本实施例中,所述电子元器件标准值数据库120预存的标准图片20为各个类型电路板的电路图,所述电路图上标注各电子元器件的型号。
于本实施例中,所述取像单元110拍照的取像图片10与所述电子元器件标准值数据库120预存的标准图片20尺寸一致,以利于比对单元160在做比对判断时将各个电子元器件的尺寸也做对比,检测是否贴错电子元器件或者漏贴电子元器件。
于本实施例中,所述比对单元160在进行比对之前,先将所述取像单元110拍照的取像图片10与所述电子元器件标准值数据库120预存的标准图片20分别进行区域切割,再将切割后的图片依次进行排序;然后,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标;最后,比对单元160再根据各电子元器件的坐标逐一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致,当比对不一致时,比对单元160记录该电子元器件的型号名称以及图片中的坐标。
于本实施例中,所述存储单元180将所述比对结果保存为以电路板的工单号或者料号命名的excel文档,并且该excel文档中记录所述电路板中所有的电子元器件的型号及数量。
请参阅图2,图2为本发明电子元器件检测装置的显示单元170的示意图。
于本实施例中,首先,显示单元170将所述取像单元110拍照的取像图片10放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库120的标准图片20放置于显示窗口内的右侧,再由比对单元160将左侧的取像图片10与右侧的标准图片20进行对比判断,判断依据是检测取像图片10上的电子元器件坐标、尺寸与标准图片20上的电子元器件坐标、尺寸是否一致。
其中,当所述取像图片10与所述标准图片20比对一致时,所述显示单元170显示“PASS”,当比对不一致时所述显示单元170显示“FAIL”。
其中,所述显示单元170通过鼠标向上滚动将显示窗口内的图片进行放大,以及通过鼠标向下滚动将显示窗口内的图片进行缩小,以利于检测人员在查找异常时更加便捷。
请参阅图3,图3为本发明电子元器件检测方法的流程图。于本实施例中,本发明提供的一种电子元器件检测方法,应用于上述一种电子元器件检测装置100中,所述电子元器件检测方法包括以下步骤:
S101:取像单元110对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片10,再将取像图片10中各电子元器件标注型号名称;
S102:电子元器件标准值数据库120预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片20,所述标准图片20中标注各所述电子元器件的的型号名称;
S103:输入单元130输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
S104:查找单元140根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库120中查找所述电路板对应的标准图片20;
S105:下载单元150将所述查找单元140找出的所述标准图片20进行下载;
S106:比对单元160将所述取像单元110中的取像图片10与所述电子元器件标准值数据库120中的标准图片20进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
S107:显示单元170将所述取像单元110拍照的取像图片10放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库120的标准图片20放置于显示窗口内的右侧,再显示比对单元160进行对比判断的结果;
S108:存储单元180将所述比对单元160的比对结果进行保存。
于本实施例中,所述步骤S106中所述比对单元160在进行比对之前,先将所述取像单元110拍照的取像图片10与所述电子元器件标准值数据库120预存的标准图片20分别进行区域切割,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标,最后再根据各电子元器件的坐标一一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致。
相较于现有技术,本发明提供的一种电子元器件检测装置及其检测方法,通过将所述中的与所述中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,即可快速检测出该电路板上的电子元器件是否出现少贴、漏贴,有效地避免了人工检测而出现漏检、错检的情况,极大地提高了检测效率。并且,本案的电子元器件检测装置及其检测方法,采用的是无纸化检测作业,节省了资源。
需指出的是,本发明不限于上述实施方式,任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改,等同变化与修饰均落入本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种电子元器件检测装置,用于检测电路板上的电子元器件是否放置正确,其特征在于,所述电子元器件检测装置包括:
取像单元,其用于对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片,再将取像图片中各电子元器件标注型号名称;
电子元器件标准值数据库,其预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片,所述标准图片中标注各所述电子元器件的的型号名称;
输入单元,其用于输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
查找单元,其与所述输入单元及所述电子元器件标准值数据库连接,所述查找单元根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库中查找所述电路板对应的标准图片;
下载单元,其与所述查找单元连接,所述下载单元将所述查找单元找出的所述标准图片进行下载;
比对单元,其分别与所述取像单元、所述下载单元连接,所述比对单元将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
显示单元,其与所述比对单元连接,所述显示单元将所述取像单元拍照的取像图片放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库的标准图片放置于显示窗口内的右侧,再显示比对单元进行对比判断的结果;
存储单元,其与所述比对单元连接,所述存储单元将所述比对单元的比对结果进行保存。
2.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述取像单元通过工业相机进行拍照取像。
3.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片为各个类型电路板的电路图,所述电路图上标注各电子元器件的型号。
4.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片尺寸一致。
5.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述比对单元在进行比对之前,先将所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片分别进行区域切割,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标,最后再根据各电子元器件的坐标一一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致,当比对不一致时,比对单元记录该电子元器件的型号名称以及图片中的坐标。
6.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述比对单元将所述取像图片与所述标准图片比对时,当比对一致所述显示单元显示
“PASS”,当比对不一致所述显示单元显示“FAIL”。
7.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述显示单元通过鼠标向上滚动将显示窗口内的图片进行放大,以及通过鼠标向下滚动将显示窗口内的图片进行缩小。
8.根据权利要求1所述的电子元器件检测装置,其特征在于,所述存储单元将所述比对结果保存为以电路板的工单号或者料号命名的excel文档,并且该excel文档中记录所述电路板中所有的电子元器件的型号及数量。
9.一种电子元器件检测方法,应用于上述权利要求1-8任一项所述的电子元器件检测装置中,其特征在于,所述电子元器件检测方法包括以下步骤:
(1)取像单元对一待检测的电路板进行拍照形成一取像图片,再将取像图片中各电子元器件标注型号名称;
(2)电子元器件标准值数据库预存各个类型电路板上电子元器件的标准图片,所述标准图片中标注各所述电子元器件的的型号名称;
(3)输入单元输入一电路板的工单号及该电路板的料号;
(4)查找单元根据所述电路板的工单号及料号,在电子元器件标准值数据库中查找所述电路板对应的标准图片;
(5)下载单元将所述查找单元找出的所述标准图片进行下载;
(6)比对单元将所述取像单元中的取像图片与所述电子元器件标准值数据库中的标准图片进行对比判断各所述电子元器件的型号名称是否一致,其中当比对一致时,所述电路板检测合格,反之比对不一致时,所述电路板检测不合格;
(7)显示单元将所述取像单元拍照的取像图片放置于显示窗口内的左侧,以及将电子元器件标准值数据库的标准图片放置于显示窗口内的右侧,再显示比对单元进行对比判断的结果;
(8)存储单元将所述比对单元的比对结果进行保存。
10.根据权利要求9所述的电子元器件检测方法,其特征在于,所述步骤(6)中所述比对单元在进行比对之前,先将所述取像单元拍照的取像图片与所述电子元器件标准值数据库预存的标准图片分别进行区域切割,再将切割后的图片中各电子元器件定坐标,最后再根据各电子元器件的坐标一一比对判断各电子元器件的型号名称是否一致。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105466951A (zh) * 2014-09-12 2016-04-06 江苏明富自动化科技股份有限公司 一种自动光学检测装置及其检测方法
CN107315664A (zh) * 2016-04-26 2017-11-03 神讯电脑(昆山)有限公司 显卡自动检测***及方法
CN108254374A (zh) * 2017-12-31 2018-07-06 芜湖哈特机器人产业技术研究院有限公司 电路板元器件插装异常的检测方法
CN109580646A (zh) * 2018-12-21 2019-04-05 苏州绿控传动科技股份有限公司 一种通过摄像头对pcba外观检验的方法
CN111060515A (zh) * 2019-12-04 2020-04-24 深圳市铭华航电工艺技术有限公司 Pcba质量检测方法、***、计算机设备

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105466951A (zh) * 2014-09-12 2016-04-06 江苏明富自动化科技股份有限公司 一种自动光学检测装置及其检测方法
CN107315664A (zh) * 2016-04-26 2017-11-03 神讯电脑(昆山)有限公司 显卡自动检测***及方法
CN108254374A (zh) * 2017-12-31 2018-07-06 芜湖哈特机器人产业技术研究院有限公司 电路板元器件插装异常的检测方法
CN109580646A (zh) * 2018-12-21 2019-04-05 苏州绿控传动科技股份有限公司 一种通过摄像头对pcba外观检验的方法
CN111060515A (zh) * 2019-12-04 2020-04-24 深圳市铭华航电工艺技术有限公司 Pcba质量检测方法、***、计算机设备

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