CN114166870A - 基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 - Google Patents
基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114166870A CN114166870A CN202111520921.7A CN202111520921A CN114166870A CN 114166870 A CN114166870 A CN 114166870A CN 202111520921 A CN202111520921 A CN 202111520921A CN 114166870 A CN114166870 A CN 114166870A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ray
- image signal
- transmission line
- line component
- power transmission
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims abstract description 52
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 49
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 claims description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000008832 photodamage Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开了于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法，该装置包括：X射线成像***，用于接收穿透待检输电线构件的X射线；X射线图像放大衍射装置，用于实时接收所述X射线成像***生成的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行信号预处理后得到放大的X射线衍射图像信号；X射线图像采集单元，用于采集所述放大的X射线衍射图像信号；X射线图像接收单元，用于接收所述X射线图像采集单元采集到的放大的X射线衍射图像信号；采用该装置对输电线构件进行检测，根据X射线衍射图像信号的强弱，即可判断待检输电线构件是否存在缺陷，本发明检测方法简单、迅速，检测结果准确、稳定。
Description
技术领域
本发明属于电力设备检测技术领域，具体涉及一种基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法。
背景技术
射线检测是常规无损检测的重要方法之一，广泛应用于航空、航天、核电、国防、电力以及其它工业部门，在工业生产和国民经济中发挥了重要作用。X射线检测的基本原理为X射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对X射线的衰减，使得不同部位X透射射线强度不同，检测X透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。X射线检测的一个特点就是X射线检测的结果能够清晰的显示被检工件的内部结构特征。X射线检测主要用于压接型耐张线夹、接续管压接质量的检测。目前这种X射线检测的技术已经是非常成熟的技术。在生产实际中，射线检测普遍使用胶片照相法。X射线胶片照相的成像质量较高，能正确提供被测试件缺陷真实情况的可靠信息，但是，它具有操作过程复杂、运行成本高、结果不易保存且查询携带不便以及评片人员眼睛易受强光损伤等缺点。
X射线数字照相***中使用了平板探测器，其像元尺寸可小于0.1mm，因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相媲美，同时还克服了胶片照相中表现出来的缺点，也为图像的计算机处理提供了方便。因此，基于平板探测器的X射线数字成像***在无损检测和评价(NDT/NDE)、集装箱扫描、电路板检查以及医疗应用等方面具有广阔的应用前景。由于射线源、工件、成像***、成像工艺等多因素的影响，得到的图像的质量有时会达不到规定的质量标准，导致图像细节信息被掩盖，影响对结果的判断。同时，现有的基于X射线的工业部件缺陷的无损检测***及其检测方法通过X射线对被检测的工业部件进行成像，成像后的图像通常不经过任何处理步骤，直接在显示终端进行显示，通过纯人工读图的方式进行输电线构件的缺陷筛选和判定，效率低下，可重复性差，且极易出现差错。
目前，针对X射线的输电线构件缺陷无损检测装置的检测方法一般都是基于图像梯度或Hessian矩阵来检测工业部件中缺陷的位置和形貌，这种检测方法的检测结果易受图像噪点和图像灰度分布不均的影响，导致探测效率和正确率不高，且稳定性较差。因此，研究一种利用X射线衍射来检测输电线构件缺陷的无损装置及其方法是目前急需解决的问题。
发明内容
为了解决现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法。
为了达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，包括以下部件：
X射线成像***，用于接收穿透待检输电线构件的X射线，所述X射线成像***设置有相互连接的X射线发射器、X射线信号探测部件和X射线成像部件；
X射线图像放大衍射装置，用于实时接收所述X射线成像***生成的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行信号预处理后得到放大的X射线衍射图像信号；
X射线图像采集单元，用于采集所述放大的X射线衍射图像信号；
X射线图像接收单元，用于接收所述X射线图像采集单元采集到的放大的X射线衍射图像信号。
进一步的，所述信号探测部件与X射线发射器的发射面对准。
进一步的，所述X射线图像采集单元与所述X射线图像放大衍射装置连接。
进一步的，所述X射线图像接收单元包括缓冲部、缺陷识别部、储存器、服务器和显示器，所述缓冲部和缺陷识别部相连，所述储存器、服务器和显示器均与所述缺陷识别部连接。
进一步的，所述X射线图像采集单元将采集到的放大X射线衍射图像信号传输到所述缓冲部。
进一步的，一种上述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的检测方法，包括以下步骤：
(1)用X射线发射器照射待检输电线构件，信号探测部件实时接收穿透待检输电线构件的X射线，在成像部件中生成原始X射线图像信号；
(2)X射线图像放大衍射装置实时接收步骤(1)所述的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行图像预处理，得到放大的X射线衍射图像信号；
(3)X射线图像采集单元实时采集步骤(2)中所述放大的X射线衍射图像信号，并传输给X射线图像接收单元的缓冲部，再由X射线图像接收单元将放大的X射线衍射图像信号显示在显示器上；
(4)将待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号的强弱，与标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号进行对比，根据X射线衍射图像信号的强弱，判断待检输电线构件是否存在缺陷。
进一步的，所述步骤(2)中通过嵌入式软件对原始X射线图像信号进行处理，得到放大的X射线衍射图像信号。
进一步的，所述步骤(4)中若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号强时，则判断所述检输电线构件存在裂纹缺陷；若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号弱时，则判断所述检输电线构件没有缺陷。
与现有技术相比，本发明具备的有益效果在于：
(1)本发明采用X射线发射器照射待检输电线构件通过X射线成像***形成原始X射线图像信号，然后X射线图像放大衍射装置再将原始X射线图像信号处理成放大的X射线衍射图像信号，放大的X射线衍射图像信号的强弱，与标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号进行对比，根据X射线衍射图像信号的强弱，即可判断待检输电线构件是否存在缺陷，检测方法简单、迅速，检测结果准确、稳定。
(2)本发明检测过程中的生成的处理中间结果实时输出，通过图像处理的多个结果同时输出到显示器，有利于观察分析和及时进行人工干预，提高检测的正确率。
附图说明
图1是本发明基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的示意图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
实施例
基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，具体如图1所示，包括以下部件：
X射线成像***，用于接收穿透待检输电线构件的X射线，所述X射线成像***设置有相互连接的X射线发射器、X射线信号探测部件和X射线成像部件，所述信号探测部件与X射线发射器的发射面对准；
X射线图像放大衍射装置，用于实时接收所述X射线成像***生成的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行信号预处理后得到放大的X射线衍射图像信号；
X射线图像采集单元，用于采集所述放大的X射线衍射图像信号，所述X射线图像采集单元与所述X射线图像放大衍射装置连接；
X射线图像接收单元，用于接收所述X射线图像采集单元采集到的放大的X射线衍射图像信号，再将X射线图像采集单元将采集到的放大X射线衍射图像信号传输到所述缓冲部；所述X射线图像接收单元包括缓冲部、缺陷识别部、储存器、服务器和显示器，所述缓冲部和缺陷识别部相连，所述储存器、服务器和显示器均与所述缺陷识别部连接。
一种利用上述基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的检测方法，包括以下步骤：
(1)利用X射线发射器照射待检输电线的构件，信号探测部件实时接收穿透待检输电线构件的X射线信号，再将X射线信号传输到成像部件，X射线信号在成像部件中生成原始X射线图像信号；
(2)X射线图像放大衍射装置实时接收步骤(1)所述的原始X射线图像信号，通过嵌入式软件对所述原始X射线图像信号进行图像预处理，得到放大的X射线衍射图像信号；
(3)X射线图像采集单元实时采集步骤(2)中所述放大的X射线衍射图像信号，并传输给X射线图像接收单元的缓冲部，再由X射线图像接收单元将放大的X射线衍射图像信号显示在显示器上；
(4)将步骤(3)中显示器显示的待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号的强弱，与标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号进行对比，根据X射线衍射图像信号的强弱，判断待检输电线构件是否存在缺陷；若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号强时，则判断所述检输电线构件存在裂纹缺陷；若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号弱时，则判断所述检输电线构件没有缺陷。
本发明采用X射线发射器照射待检输电线构件通过X射线成像***形成原始X射线图像信号，然后X射线图像放大衍射装置再将原始X射线图像信号处理成放大的X射线衍射图像信号，放大的X射线衍射图像信号的强弱，与标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号进行对比，根据X射线衍射图像信号的强弱，即可判断待检输电线构件是否存在缺陷，检测方法简单、迅速，检测结果准确、稳定。
本发明检测过程中的生成的处理中间结果实时输出，通过图像处理的多个结果同时输出到显示器，有利于观察分析和及时进行人工干预，提高检测的正确率。
尽管本发明的实施方案上述已公开，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不脱离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
Claims (8)
1.基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，其特征在于，包括以下部件：
X射线成像***，用于接收穿透待检输电线构件的X射线，所述X射线成像***设置有相互连接的X射线发射器、X射线信号探测部件和X射线成像部件；
X射线图像放大衍射装置，用于实时接收所述X射线成像***生成的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行信号预处理后得到放大的X射线衍射图像信号；
X射线图像采集单元，用于采集所述放大的X射线衍射图像信号；
X射线图像接收单元，用于接收所述X射线图像采集单元采集到的放大的X射线衍射图像信号。
2.根据权利要求1所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，其特征在于，所述信号探测部件与X射线发射器的发射面对准。
3.根据权利要求1所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，其特征在于，所述X射线图像采集单元与所述X射线图像放大衍射装置连接。
4.根据权利要求1所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，其特征在于，所述X射线图像接收单元包括缓冲部、缺陷识别部、储存器、服务器和显示器，所述缓冲部和缺陷识别部相连，所述储存器、服务器和显示器均与所述缺陷识别部连接。
5.根据权利要求4所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置，其特征在于，所述X射线图像采集单元将采集到的放大X射线衍射图像信号传输到所述缓冲部。
6.一种如权利要求1-5任一项所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)用X射线发射器照射待检输电线构件，信号探测部件实时接收穿透待检输电线构件的X射线，在成像部件中生成原始X射线图像信号；
(2)X射线图像放大衍射装置实时接收步骤(1)所述的原始X射线图像信号，并对所述原始X射线图像信号进行图像预处理，得到放大的X射线衍射图像信号；
(3)X射线图像采集单元实时采集步骤(2)中所述放大的X射线衍射图像信号，并传输给X射线图像接收单元的缓冲部，再由X射线图像接收单元将放大的X射线衍射图像信号显示在显示器上；
(4)将待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号的强弱，与标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号进行对比，根据X射线衍射图像信号的强弱，判断待检输电线构件是否存在缺陷。
7.根据权利要求6所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的检测方法，其特征在于，所述步骤(2)中通过嵌入式软件对原始X射线图像信号进行处理，得到放大的X射线衍射图像信号。
8.根据权利要求6所述的基于X射线的输电线构件缺陷的无损检测装置的检测方法，其特征在于，所述步骤(4)中若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号强时，则判断所述检输电线构件存在裂纹缺陷；若待检输电线构件的放大的X射线衍射图像信号比标准无缺陷输电线构件样件的X射线衍射图像信号弱时，则判断所述检输电线构件没有缺陷。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111520921.7A CN114166870A (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111520921.7A CN114166870A (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114166870A true CN114166870A (zh) | 2022-03-11 |
Family
ID=80486077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111520921.7A Pending CN114166870A (zh) | 2021-12-13 | 2021-12-13 | 基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114166870A (zh) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101358938A (zh) * | 2008-07-07 | 2009-02-04 | 西南技术工程研究所 | 一种工件内部缺陷的x射线衍射扫描无损检测方法及装置 |
| CN105510364A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-04-20 | 苏州科耐视智能科技有限公司 | 基于x射线的工业部件缺陷的无损检测***及其检测方法 |
-
2021
- 2021-12-13 CN CN202111520921.7A patent/CN114166870A/zh active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101358938A (zh) * | 2008-07-07 | 2009-02-04 | 西南技术工程研究所 | 一种工件内部缺陷的x射线衍射扫描无损检测方法及装置 |
| CN105510364A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-04-20 | 苏州科耐视智能科技有限公司 | 基于x射线的工业部件缺陷的无损检测***及其检测方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108844978B (zh) | 一种用于检测蜂窝内部缺陷的新方法 | |
| US20100220910A1 (en) | Method and system for automated x-ray inspection of objects | |
| CN111521626A (zh) | 一种压力管道焊接质量的x射线检测方法 | |
| CN105510364B (zh) | 基于x射线的工业部件缺陷的无损检测***及其检测方法 | |
| CN117607248B (zh) | 一种基于数字锁相放大器的金属缺陷检测成像方法 | |
| CN112858351A (zh) | 一种基于机器视觉的x射线无损探伤方法 | |
| CN106546615A (zh) | 一种铝合金复杂壳体的x射线数字实时成像检测方法 | |
| WO2000060344A1 (fr) | Procede et appareil d'essai non destructif | |
| Bullinger et al. | Laminographic inspection of large carbon fibre composite aircraft-structures at airbus | |
| CN113376251A (zh) | 一种焊接质量自动检测装置及检测方法 | |
| CN107300562B (zh) | 一种测量继电器成品触点间距的x射线无损检测方法 | |
| CN114166870A (zh) | 基于x射线的输电线构件缺陷的无损检测装置及检测方法 | |
| CN115266774B (zh) | 基于人工智能的焊缝射线检测评片方法 | |
| US5606410A (en) | Method for controlling the surface state of one face of a solid and the associated device | |
| Troitskiy | Quick industrial X-ray testing without intermediate data carriers of information | |
| Wang et al. | Region segmentation based radiographic detection of defects for gas turbine blades | |
| CN205643198U (zh) | 基于x射线的工业部件缺陷的无损检测*** | |
| CN215449064U (zh) | 一种工业x光ct检测装置 | |
| Troitskiy | Industrial X-ray testing without intermediate data carriers of information | |
| CN213544410U (zh) | 一种锻造件表面缺陷的检测*** | |
| JP2000028553A (ja) | Ｘ線透過検査方法及びその装置 | |
| CN111735832B (zh) | 一种磁铁旋测线圈检测方法 | |
| CN113418940B (zh) | 一种基于x射线示踪颗粒的检测方法及检测装置 | |
| JP3435224B2 (ja) | 非金属介在物の検査装置 | |
| JP7042168B2 (ja) | 検出同等性評価方法及び検出同等性評価装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |