CN114152228B - 一种检查芯片周围电容的方法、***、设备和存储介质 - Google Patents

一种检查芯片周围电容的方法、***、设备和存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种检查芯片周围电容的方法、***、设备和存储介质，方法包括：确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取第一电容的位置和大小；获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围；确定第一电容在检测范围内的第二电容，并判断第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及响应于第二电容的数量与大小与预设值相同，确定供电引脚满足要求。本发明通过获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围，并通过检查检测范围内的电容的数量和大小是否符合要求，提高PCB设计可靠性的同时也极大的提高了PCB设计效率。

Description

一种检查芯片周围电容的方法、***、设备和存储介质
技术领域
本发明涉及芯片领域，更具体地，特别是指一种检查芯片周围电容的方法、***、设备和存储介质。
背景技术
目前在市场上有多款PCB(Printed circuit board，印刷电路板)设计软件，Cadence作为业界应用最广泛的软件，不仅是因为它拥有强大的功能和多款相关软件做支撑，还因为它提供了开放式的二次开发接口和较为完善的开发语言库，用户可根据自身的需要进行二次开发。skill语言是Cadence软件内置的一种基于C语言和LISP语言的高级编程语言，Cadence为skill语言提供了丰富的交互式函数，研究skill语言继而编写工具，投入应用可以大大提高工作效率。
在电源滤波电路上可以看到各种各样的电容，比如100uF、10uF、100nF、10nF不同的容值。数字电路要运行稳定可靠，电源一定要“干净”，并且能量补充一定要及时，也就是滤波去耦一定要好。简单地说，滤波去耦就是在芯片不需要电流的时候存储能量，在需要电流的时候又能及时地补充能量。电容的作用就是存储电荷。在电源中要加电容滤波，在每个芯片的电源脚放置一定数量和容值的电容去耦。板卡在PCB设计阶段，需要根据原理图中电容的数量及容值，均匀将电容放在芯片的引脚周围。有的芯片引脚数目非常多，有的多达800-1000个引脚。在一个服务器主板中有几十个这样的芯片，人工检查费时费力，检查效率低，准确度不高。后期会造成电容滤波效果不佳，问题排查起来困难，从而影响整个***的设计质量。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种检查芯片周围电容的方法、***、计算机设备及计算机可读存储介质，本发明通过获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围，并通过检查检测范围内的电容的数量和大小是否符合要求，提高PCB设计可靠性的同时也极大的提高了PCB设计效率。
基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了一种检查芯片周围电容的方法，包括如下步骤：确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
在一些实施方式中，方法还包括：判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容。
在一些实施方式中，所述检测所述第二电容是否为滤波电容包括：判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
在一些实施方式中，所述方法还包括：响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
本发明实施例的另一方面，提供了一种检查芯片周围电容的***，包括：第一获取模块，配置用于确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；第二获取模块，配置用于获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；判断模块，配置用于确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及确定模块，配置用于响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
在一些实施方式中，***还包括检测模块，配置用于：判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容。
在一些实施方式中，所述检测模块进一步配置用于：判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
在一些实施方式中，所述***还包括告警模块，配置用于：响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现如上方法的步骤。
本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有被处理器执行时实现如上方法步骤的计算机程序。
本发明具有以下有益技术效果：通过获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围，并通过检查检测范围内的电容的数量和大小是否符合要求，提高PCB设计可靠性的同时也极大的提高了PCB设计效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明提供的检查芯片周围电容的方法的实施例的示意图；
图2为本发明提供的检查芯片周围电容的***的实施例的示意图；
图3为本发明提供的检查芯片周围电容的计算机设备的实施例的硬件结构示意图；
图4为本发明提供的检查芯片周围电容的计算机存储介质的实施例的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
本发明实施例的第一个方面，提出了一种检查芯片周围电容的方法的实施例。图1示出的是本发明提供的检查芯片周围电容的方法的实施例的示意图。如图1所示，本发明实施例包括如下步骤：
S1、确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；
S2、获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；
S3、确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及
S4、响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
PCB设计中有各种容值的电容，需要根据电容的数量及容值、芯片的引脚数量，布局的空间等，将不同容值的电容均匀分布到芯片用电引脚的周围，电容越靠近芯片引脚越好。但在一个服务器主板上有几十个芯片周围都需要在其引脚周围放置电容。现有技术只能在PCB将将芯片周围不同容值的电容高亮成不同的颜色，将不同的用电网络高亮成不同的颜色，逐一去对比芯片每个引脚周围是否有一定数量的电容。不同的颜色标识不同的用电网络。逐一人工检查数量及容值费时费力，检查效率低，准确度不高，后期会造成电容滤波效果不佳，问题排查起来困难，从而影响整个***的设计质量。
本发明可避免因PCB工程师设计时疏漏及人工检查造成大量时间浪费，可以避免电容摆放较远，容值分布不均匀。通过编写此skill，在提高PCB设计可靠性的同时也极大的提高了PCB设计效率，节约时间及人力成本。
确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小。根据所选择芯片获取芯片最外层引脚周围200mil范围内的所有电容，为了描述的方便，将该电容称为第一电容，包括TOP(顶)层的电容和bottom(底)层的电容。获取第一电容的层面及第一电容的容值。
获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围。
确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同。将在所述检测范围中的第一电容称为第二电容，判断每个供电引脚的检测范围内是否有预设容值和数量的电容。
响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
在一些实施方式中，方法还包括：判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容。
在一些实施方式中，所述检测所述第二电容是否为滤波电容包括：判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。该第二电容可以不与最近的供电引脚连接，但是，为了布局的合理性，当该第二电容不与最近的供电引脚连接时，可以提示用户对该第二电容的位置进行重新设置。
在一些实施方式中，所述方法还包括：响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
需要特别指出的是，上述检查芯片周围电容的方法的各个实施例中的各个步骤均可以相互交叉、替换、增加、删减，因此，这些合理的排列组合变换之于检查芯片周围电容的方法也应当属于本发明的保护范围，并且不应将本发明的保护范围局限在实施例之上。
基于上述目的，本发明实施例的第二个方面，提出了一种检查芯片周围电容的***。如图2所示，***200包括如下模块：第一获取模块，配置用于确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；第二获取模块，配置用于获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；判断模块，配置用于确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及确定模块，配置用于响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
在一些实施方式中，***还包括检测模块，配置用于：判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容。
在一些实施方式中，所述检测模块进一步配置用于：判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
在一些实施方式中，所述***还包括告警模块，配置用于：响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
基于上述目的，本发明实施例的第三个方面，提出了一种计算机设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机指令，指令由处理器执行以实现如下步骤：S1、确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；S2、获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；S3、确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及S4、响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求。
在一些实施方式中，步骤还包括：判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容。
在一些实施方式中，所述检测所述第二电容是否为滤波电容包括：判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
在一些实施方式中，所述方法还包括：响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
如图3所示，为本发明提供的上述检查芯片周围电容的计算机设备的一个实施例的硬件结构示意图。
以如图3所示的装置为例，在该装置中包括一个处理器301以及一个存储器302。
处理器301和存储器302可以通过总线或者其他方式连接，图3中以通过总线连接为例。
存储器302作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的检查芯片周围电容的方法对应的程序指令/模块。处理器301通过运行存储在存储器302中的非易失性软件程序、指令以及模块，从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理，即实现检查芯片周围电容的方法。
存储器302可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储检查芯片周围电容的方法的使用所创建的数据等。此外，存储器302可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中，存储器302可选包括相对于处理器301远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至本地模块。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
一个或者多个检查芯片周围电容的方法对应的计算机指令303存储在存储器302中，当被处理器301执行时，执行上述任意方法实施例中的检查芯片周围电容的方法。
执行上述检查芯片周围电容的方法的计算机设备的任何一个实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
本发明还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有被处理器执行时执行检查芯片周围电容的方法的计算机程序。
如图4所示，为本发明提供的上述检查芯片周围电容的计算机存储介质的一个实施例的示意图。以如图4所示的计算机存储介质为例，计算机可读存储介质401存储有被处理器执行时执行如上方法的计算机程序402。
最后需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，检查芯片周围电容的方法的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，程序的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。上述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种检查芯片周围电容的方法，其特征在于，包括如下步骤：
确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；
获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；
确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及
响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求，
方法还包括：
判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及
响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容，
所述检测所述第二电容是否为滤波电容包括：
判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及
响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
3.一种检查芯片周围电容的***，其特征在于，包括：
第一获取模块，配置用于确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取所述第一电容的位置和大小；
第二获取模块，配置用于获取所述芯片所有供电引脚的坐标，以所述供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定所述供电引脚的检测范围；
判断模块，配置用于确定所述第一电容在所述检测范围内的第二电容，并判断所述第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及
确定模块，配置用于响应于所述第二电容的数量与大小与预设值相同，确定所述供电引脚满足要求，
***还包括检测模块，配置用于：
判断是否存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内；以及
响应于存在第二电容同时存在于多个供电引脚的检测范围内，检测所述第二电容是否为滤波电容，
所述检测模块进一步配置用于：
判断所述第二电容是否与最近的供电引脚有连接；以及
响应于所述第二电容与最近的供电引脚有连接，则认为所述第二电容为所述最近的供电引脚的滤波电容。
4.根据权利要求3所述的***，其特征在于，所述***还包括告警模块，配置用于：
响应于所述第二电容与供电引脚均无连接，进行告警并高亮显示所述第二电容。
5.一种计算机设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现权利要求1-2任意一项所述方法的步骤。
6.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-2任意一项所述方法的步骤。
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