CN113835560B - 触控显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种触控显示面板及显示装置，该触控显示面板，其包括多个数据线组、多个触控走线组、多个屏蔽走线组以及多个薄膜晶体管，通过一薄膜晶体管对应连接至少一条屏蔽走线，在点灯测试过程中打开薄膜晶体管并输入对应的电信号，改善或者消除了点灯测试过程中数据信号受到干扰导致的亮线状况。

Description

触控显示面板及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种触控显示面板及显示装置。

背景技术

如图1、图2所示的触控显示面板1，其包括多个依次交替排列的数据线组DLG、触控走线组TPLG以及多条点灯测试信号线CTL，每个所述数据线组DLG包括至少一条数据线DL，每个所述触控走线组TPLG包括至少一条触控走线TPL，在触控显示面板1的厚度方向上，多条点灯测试信号线CTL的投影与所述多个触控走线组TPLG的投影至少部分重叠。

上述触控显示面板1在点灯测试过程中，由于未绑定驱动芯片，触控走线TPL、数据线DL均未接入源自于驱动芯片输出的对应信号，而数据线DL、点灯测试信号线CTL需要通入来自于点灯测试电路提供的对应信号以进行点灯测试，此时，由于触控走线TPL未接入信号而处于悬空状态，点灯测试信号线CTL在触控显示面板1的厚度方向上与触控走线TPL形成交叉或者耦合，于是，触控走线TPL被耦合而具有对应的电位，触控走线TPL与数据线DL之间也会形成耦合，进而干扰数据线DL中传输的数据信号，致使如图2所示触控显示面板1的红色画面、蓝色画面的固定位置均出现亮线2。这会导致点灯测试(CT)无法正常判片；如果忽略这种亮线2的情况，也可能会漏掉真实存在的断线，而这些断线也会影响显示品质。

需要注意的是，上述关于背景技术的介绍仅仅是为了便于清楚、完整地理解本申请的技术方案。因此，不能仅仅由于其出现在本申请的背景技术中，而认为上述所涉及到的技术方案为本领域所属技术人员所公知。

发明内容

本申请提供一种触控显示面板及显示装置，以缓解点灯测试过程中悬空的触控走线干扰数据信号导致的亮线技术问题。

第一方面，本申请提供一种触控显示面板，其包括多个数据线组、多个触控走线组、多个屏蔽走线组以及多个薄膜晶体管，每个数据线组包括至少一条沿第一方向延伸的数据线；多个触控走线组与多个数据线组沿第二方向交替排列，每个触控走线组包括至少一条沿第一方向延伸的触控走线；至少一屏蔽走线组在第二方向上位于对应的相邻的一数据线组与一触控走线组之间，每个屏蔽走线组包括至少一条屏蔽走线；至少一薄膜晶体管的一端与对应的屏蔽走线电性连接，一端为源极和漏极中的一个。

在其中一些实施方式中，屏蔽走线组包括至少两条沿第二方向依次排列的屏蔽走线，每一薄膜晶体管的一端与对应的一屏蔽走线电性连接。

在其中一些实施方式中，屏蔽走线组包括三条屏蔽走线，三条屏蔽走线沿第二方向依次排列，每一薄膜晶体管的一端与三条屏蔽走线电性连接。

在其中一些实施方式中，触控显示面板还包括控制信号线和输入信号线，控制信号线与多个薄膜晶体管的栅极电性连接；输入信号线与多个薄膜晶体管的另一端电性连接。

在其中一些实施方式中，输入信号线用于传输恒压信号或者方波信号。

在其中一些实施方式中，数据线用于传输数据信号；方波信号的占空比与数据信号的占空比相同或者近似。

在其中一些实施方式中，屏蔽走线的宽度大于或者等于数据线的宽度；屏蔽走线的宽度大于或者等于触控走线的宽度。

在其中一些实施方式中，触控显示面板还包括开关电路和点灯测试控制电路，开关电路的一输出端与一数据线对应电性连接；点灯测试控制电路与开关电路和多个薄膜晶体管电性连接，用于响应于触控显示面板的点灯测试的开始或者进行而打开多个薄膜晶体管以传输电信号至对应的屏蔽走线，且响应于触控显示面板的点灯测试的停止而关闭多个薄膜晶体管以避免影响触控显示面板的正常工作。

在其中一些实施方式中，触控显示面板还包括驱动集成电路，驱动集成电路包括多个触控输出端和多个显示输出端，一触控输出端与一触控走线电性连接，一显示输出端与一数据线电性连接。

第二方面，本申请提供一种显示装置，其包括上述任一实施方式中的触控显示面板；其中，第一方向与第二方向交叉，第三方向为触控显示面板的厚度方向。

本申请提供的触控显示面板及显示装置，通过在相邻的数据线组与触控走线组之间设置屏蔽走线组，可以减缓或者消除触控走线组对数据线组的容抗和/或阻抗产生突变影响，进而能够缓解点灯测试过程中悬空的触控走线干扰数据信号导致的亮线状况；而且，通过一薄膜晶体管对应连接至少一条屏蔽走线，可以在点灯测试过程中打开薄膜晶体管并输入对应的电信号，不仅能够降低或者消除触控走线与数据线之间的耦合作用，还能够降低或者消除屏蔽走线对与其临近的数据线的容抗和/或阻抗的突然变化，进一步降低了对数据信号的干扰，也进一步改善或者消除了点灯测试过程中数据信号受到干扰导致的亮线状况。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为传统技术方案中触控显示面板的结构示意图。

图2为图1所示触控显示面板在点灯测试时的显示效果示意图。

图3为本申请实施例提供的触控显示面板的一种结构示意图。

图4为本申请实施例提供的触控显示面板的另一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图3、图4所示，本实施例提供了一种触控显示面板，其包括多个数据线组DLG、多个触控走线组TPLG、多个屏蔽走线组PLG以及多个薄膜晶体管，每个数据线组DLG包括至少一条沿第一方向DR1延伸的数据线DL；多个触控走线组TPLG与多个数据线组DLG沿第二方向DR2交替排列，每个触控走线组TPLG包括至少一条沿第一方向DR1延伸的触控走线TPL；至少一屏蔽走线组PLG在第二方向DR2上位于对应的相邻的一数据线组DLG与一触控走线组TPLG之间，每个屏蔽走线组PLG包括至少一条屏蔽走线PL；至少一薄膜晶体管的一端与对应的屏蔽走线PL电性连接，一端为源极和漏极中的一个。

可以理解的是，本实施例提供的触控显示面板，通过在相邻的数据线组DLG与触控走线组TPLG之间设置屏蔽走线组PLG，可以减缓或者消除触控走线组TPLG对数据线组DLG的容抗和/或阻抗产生突变影响，进而能够缓解点灯测试过程中悬空的触控走线TPL干扰数据信号导致的亮线状况；而且，通过一薄膜晶体管对应连接至少一条屏蔽走线PL，可以在点灯测试过程中打开薄膜晶体管并输入对应的电信号，不仅能够降低或者消除触控走线TPL与数据线DL之间的耦合作用，还能够降低或者消除屏蔽走线PL对与其临近的数据线DL的容抗和/或阻抗的突然变化，进一步降低了对数据信号的干扰，也进一步改善或者消除了点灯测试过程中数据信号受到干扰导致的亮线状况。

其中，多个薄膜晶体管可以为N沟道型薄膜晶体管，在点灯测试过程中，薄膜晶体管的栅极接入高电位信号以输入电信号至对应的屏蔽走线PL，可以避免与屏蔽走线PL在第二方向DR2上相邻的数据线DL的容抗和/或阻抗发生突变，进而降低了对数据信号的干扰；在触控显示面板的正常使用过程中，撤掉高电位信号和/或电信号即可实现正常工作。多个薄膜晶体管可以为P沟道型薄膜晶体管，在点灯测试过程中，薄膜晶体管的栅极接入低电位信号以输入电信号至对应的屏蔽走线PL，可以避免与屏蔽走线PL在第二方向DR2上相邻的数据线DL的容抗和/或阻抗发生突变，进而降低了对数据信号的干扰；在触控显示面板的正常使用过程中，撤掉低电位信号和/或电信号即可实现正常工作。

多个薄膜晶体管可以为多晶硅薄膜晶体管，具体可以为低温多晶硅薄膜晶体管。多个薄膜晶体管也可以为氧化物薄膜晶体管。

如图3所示，在其中一个实施例中，触控显示面板还包括多条点灯测试信号线CTL，多条点灯测试信号线CTL沿第二方向DR2延伸，且在第三方向DR3上，多条点灯测试信号线CTL的投影与多个触控走线组TPLG的投影至少部分重叠。

如图3所示，在其中一个实施例中，屏蔽走线组PLG包括三条沿第二方向DR2依次排列的屏蔽走线PL，每一薄膜晶体管的一端与对应的一屏蔽走线PL电性连接。

可以理解的是，在本实施例中，同一屏蔽走线组PLG中所包括的屏蔽走线PL的数量越多，对于数据线DL与触控走线TPL之间的隔离作用也越明显，可以进一步减少或者避免数据线DL的容抗和/或阻抗发生突然变化，也可以减少或者避免对数据信号的干扰或者影响，避免点灯测试过程中出现亮线状况。

在其中一个实施例中，屏蔽走线组PLG包括至少两条沿第二方向DR2依次排列的屏蔽走线PL，每一薄膜晶体管的一端与同一屏蔽走线组PLG中的屏蔽走线PL电性连接。

可以理解的是，在本实施例中，由于多条屏蔽走线PL可以共用同一薄膜晶体管，可以减少薄膜晶体管的使用数量，减少制作工艺复杂度，也减少了薄膜晶体管的占用空间。

在其中一个实施例中，屏蔽走线组PLG包括三条屏蔽走线PL，三条屏蔽走线PL沿第二方向DR2依次排列，每一薄膜晶体管的一端与三条屏蔽走线PL电性连接。

可以理解的是，在本实施例中，由于同一薄膜晶体管可以同时控制三条屏蔽走线PL是否导入对应的电信号，不仅可以减少薄膜晶体管的使用数量，减少制作工艺复杂度，也减少了薄膜晶体管的占用空间；同时也可以减少或者避免数据线DL的容抗和/或阻抗发生突然变化，减少或者避免了对数据信号的干扰或者影响，避免点灯测试过程中由于悬空的触控走线TPL和/或屏蔽走线PL的耦合出现亮线状况。

在其中一个实施例中，触控显示面板还包括控制信号线ENL和输入信号线INL，控制信号线ENL与多个薄膜晶体管的栅极电性连接；输入信号线INL与多个薄膜晶体管的另一端电性连接。

需要进行说明的是，另一端可以为源极和漏极中的另一个。

在其中一个实施例中，输入信号线INL用于传输恒压信号或者方波信号。可以理解的是，恒压信号或者方波信号对数据信号的耦合作用较小，对临近触控走线TPL或者屏蔽走线PL的数据线DL的容抗和/或阻抗的突变影响也较小。其中，恒压信号可以为恒压高电位信号。

在其中一个实施例中，数据线DL用于传输数据信号；方波信号的占空比与数据信号的占空比相同或者近似。可以理解的是，与数据信号的占空比相同或者近似的方波信号对数据信号的耦合作用可以更低，对临近触控走线TPL或者屏蔽走线PL的数据线DL的容抗和/或阻抗的突变影响也更低。

在其中一个实施例中，屏蔽走线PL的宽度大于或者等于数据线DL的宽度；屏蔽走线PL的宽度大于或者等于触控走线TPL的宽度。

可以理解的是，在本实施例中，随着屏蔽走线PL的宽度增加，可以提高屏蔽走线PL传输信号的稳定性，且可以增加数据线DL与屏蔽走线PL在第二方向DR2上的距离，对于防止数据线DL的容抗和/或阻抗的突然变化具有更好的作用。

如图4所示，在其中一个实施例中，触控显示面板还包括驱动集成电路20，驱动集成电路20包括多个触控输出端和多个显示输出端，一触控输出端与一触控走线TPL电性连接，一显示输出端与一数据线DL电性连接。

可以理解的是，在本实施例中，触控显示面板采用的驱动集成电路20可以为集显示功能、触控功能为一体的驱动芯片，可以以更低的成本更小的占用空间应用于触控显示面板中。在点灯测试之前，该驱动集成电路20还未被绑定在触控显示面板中；而在点灯测试之后，该驱动集成电路20被绑定在触控显示面板中，其对应的输出端分别与对应的触控走线TPL、数据线DL以及屏蔽走线PL电性连接，以提供对应的触控信号、数据信号以及电信号至触控走线TPL、数据线DL以及屏蔽走线PL，满足触控显示面板的触控显示需求。

如图4所示，在其中一个实施例中，触控显示面板还包括开关电路10和点灯测试控制电路30，开关电路10的一输出端与一数据线DL对应电性连接，多条点灯测试信号线CTL与开关电路10的控制端、开关电路10的输入端对应电性连接；点灯测试控制电路30与多条点灯测试信号线CTL、开关电路10以及多个薄膜晶体管电性连接，用于响应于触控显示面板的点灯测试的开始或者进行而打开多个薄膜晶体管以传输电信号至对应的屏蔽走线PL，且响应于触控显示面板的点灯测试的停止而关闭多个薄膜晶体管以避免影响触控显示面板的正常工作。

可以理解的是，在本实施例中，点灯测试控制电路30可以响应于触控显示面板的点灯测试的开始或者进行而打开多个薄膜晶体管以传输电信号至对应的屏蔽走线PL，且响应于触控显示面板的点灯测试的停止而关闭多个薄膜晶体管以避免影响触控显示面板的正常工作，多个薄膜晶体管与点灯测试控制电路30在点灯测试过程中可以同步动作，节省了需要单独控制多个薄膜晶体管的操作步骤，有利于节省人工操作，提高点灯测试效率。

其中，多条点灯测试信号线CTL可以包括点灯测试控制信号线CTL1、点灯测试控制信号线CTL2、点灯测试控制信号线CTL3、点灯测试输入信号线CTL4、点灯测试输入信号线CTL5以及点灯测试输入信号线CTL6。点灯测试控制信号线CTL1、点灯测试控制信号线CTL2、点灯测试控制信号线CTL3、点灯测试输入信号线CTL4、点灯测试输入信号线CTL5以及点灯测试输入信号线CTL6沿第一方向DR1的反方向依次排列。点灯测试控制电路30的各输出端分别与点灯测试控制信号线CTL1、点灯测试控制信号线CTL2、点灯测试控制信号线CTL3、点灯测试输入信号线CTL4、点灯测试输入信号线CTL5以及点灯测试输入信号线CTL6对应电性连接，以为触控显示面板的点灯测试提供对应的点灯测试控制信号、点灯测试输入信号。

触控显示面板包括多个开关电路10，每个开关电路10均包括薄膜晶体管T1、薄膜晶体管T2、薄膜晶体管T3、薄膜晶体管T4、薄膜晶体管T5以及薄膜晶体管T6。点灯测试控制信号线CTL1与薄膜晶体管T3的栅极、薄膜晶体管T6的栅极电性连接，点灯测试控制信号线CTL2与薄膜晶体管T2的栅极、薄膜晶体管T4的栅极电性连接，点灯测试控制信号线CTL3与薄膜晶体管T1的栅极、薄膜晶体管T5的栅极电性连接。点灯测试输入信号线CTL4与薄膜晶体管T3的源极/漏极中的一个、薄膜晶体管T6的源极/漏极中的一个以及驱动集成电路20的其中两个输出端电性连接，点灯测试输入信号线CTL5与薄膜晶体管T1的源极/漏极中的一个、薄膜晶体管T4的源极/漏极中的一个以及驱动集成电路20的其中另两个输出端电性连接，点灯测试输入信号线CTL6与薄膜晶体管T2的源极/漏极中的一个、薄膜晶体管T5的源极/漏极中的一个电性连接。

薄膜晶体管T1的源极/漏极中的另一个与薄膜晶体管T2的源极/漏极中的另一个电性连接，以输出第一数据信号D1，该第一数据信号D1包括输出至红色子像素R的数据信号和输出至蓝色子像素B的数据信号。薄膜晶体管T3的源极/漏极中的另一个用于输出第二数据信号D2，该第二数据信号D2为输出至绿色子像素G的数据信号。薄膜晶体管T4的源极/漏极中的另一个与薄膜晶体管T5的源极/漏极中的另一个电性连接，以输出第三数据信号D3，该第三数据信号D3包括输出至蓝色子像素B的数据信号和输出至红色子像素R的数据信号。薄膜晶体管T6的源极/漏极中的另一个用于输出第四数据信号D4，该第四数据信号D4为输出至绿色子像素G的数据信号。

需要进行说明的是，薄膜晶体管T1、薄膜晶体管T3、薄膜晶体管T4、薄膜晶体管T6不仅工作于点灯测试过程，也可以工作于触控显示面板的正常使用过程，进而实现了薄膜晶体管T1、薄膜晶体管T3、薄膜晶体管T4、薄膜晶体管T6的复用，如此，节省了触控显示面板的占用空间，也可以简化该触控显示面板的制作工艺。薄膜晶体管T2、薄膜晶体管T5仅工作于触控显示面板的点灯测试过程中。

第一屏蔽走线PL1与薄膜晶体管T7的源极/漏极中的一个、驱动集成电路20的一个输出端电性连接，第二屏蔽走线PL2与薄膜晶体管T8的源极/漏极中的一个、驱动集成电路20的另一个输出端电性连接，第三屏蔽走线PL3与薄膜晶体管T9的源极/漏极中的一个、驱动集成电路20的再一个输出端电性连接。控制信号线ENL与薄膜晶体管T7的栅极、薄膜晶体管T8的栅极以及薄膜晶体管T9的栅极电性连接，输入信号线INL与薄膜晶体管T7的源极/漏极中的另一个、薄膜晶体管T8的源极/漏极中的另一个以及薄膜晶体管T9的源极/漏极中的另一个电性连接。

在其中一个实施例中，本实施例提供一种显示装置，其包括上述任一实施方式中的触控显示面板；其中，第一方向DR1与第二方向DR2交叉，第三方向DR3为触控显示面板的厚度方向。

可以理解的是，本实施例提供的显示装置，通过在相邻的数据线组DLG与触控走线组TPLG之间设置屏蔽走线组PLG，可以减缓或者消除触控走线组TPLG对数据线组DLG的容抗和/或阻抗产生突变影响，进而能够缓解点灯测试过程中悬空的触控走线TPL干扰数据信号导致的亮线状况；而且，通过一薄膜晶体管对应连接至少一条屏蔽走线PL，可以在点灯测试过程中打开薄膜晶体管并输入对应的电信号，不仅能够降低或者消除触控走线TPL与数据线DL之间的耦合作用，还能够降低或者消除屏蔽走线PL对与其临近的数据线DL的容抗和/或阻抗的突然变化，进一步降低了对数据信号的干扰，也进一步改善或者消除了点灯测试过程中数据信号受到干扰导致的亮线状况。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的触控显示面板及显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种触控显示面板，其特征在于，包括：

多个数据线组，每个所述数据线组包括至少一条沿第一方向延伸的数据线；

多个触控走线组，与所述多个数据线组沿第二方向交替排列，每个所述触控走线组包括至少一条沿所述第一方向延伸的触控走线；

多个屏蔽走线组，至少一所述屏蔽走线组在所述第二方向上位于对应的相邻的一所述数据线组与一所述触控走线组之间，每个所述屏蔽走线组包括至少一条屏蔽走线；以及

多个薄膜晶体管，至少一所述薄膜晶体管的一端与对应的所述屏蔽走线电性连接，所述一端为源极和漏极中的一个。

2.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述屏蔽走线组包括至少两条沿所述第二方向依次排列的屏蔽走线，每一所述薄膜晶体管的一端与对应的一所述屏蔽走线电性连接。

3.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述屏蔽走线组包括三条屏蔽走线，所述三条屏蔽走线沿所述第二方向依次排列，每一所述薄膜晶体管的一端与所述三条屏蔽走线电性连接。

4.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板还包括：

控制信号线，与所述多个薄膜晶体管的栅极电性连接；和

输入信号线，与所述多个薄膜晶体管的另一端电性连接，所述另一端为源极和漏极中的另一个。

5.根据权利要求4所述的触控显示面板，其特征在于，所述输入信号线用于传输恒压信号或者方波信号。

6.根据权利要求5所述的触控显示面板，其特征在于，所述数据线用于传输数据信号；所述方波信号的占空比与所述数据信号的占空比相同。

7.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述屏蔽走线的宽度大于或者等于所述数据线的宽度；所述屏蔽走线的宽度大于或者等于所述触控走线的宽度。

8.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板还包括：

开关电路，所述开关电路的一输出端与一所述数据线对应电性连接；和

点灯测试控制电路，与所述开关电路、所述多个薄膜晶体管电性连接，用于响应于所述触控显示面板的点灯测试的开始或者进行而打开所述多个薄膜晶体管以传输电信号至对应的所述屏蔽走线，且响应于所述触控显示面板的点灯测试的停止而关闭所述多个薄膜晶体管以避免影响所述触控显示面板的正常工作。

9.根据权利要求1至8任一项所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板还包括：

驱动集成电路，驱动集成电路包括多个触控输出端和多个显示输出端，一所述触控输出端与一所述触控走线电性连接，一所述显示输出端与一所述数据线电性连接。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9任一项所述的触控显示面板；其中，所述第一方向与所述第二方向交叉，第三方向为所述触控显示面板的厚度方向。