CN113795758A - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN113795758A
CN113795758A CN202080033565.3A CN202080033565A CN113795758A CN 113795758 A CN113795758 A CN 113795758A CN 202080033565 A CN202080033565 A CN 202080033565A CN 113795758 A CN113795758 A CN 113795758A
Authority
CN
China
Prior art keywords
unit
moving
pretreatment
linear
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202080033565.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113795758B (zh
Inventor
末成元
大草武德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of CN113795758A publication Critical patent/CN113795758A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113795758B publication Critical patent/CN113795758B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1002Reagent dispensers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1081Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices characterised by the means for relatively moving the transfer device and the containers in an horizontal plane
    • G01N35/109Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices characterised by the means for relatively moving the transfer device and the containers in an horizontal plane with two horizontal degrees of freedom
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0406Individual bottles or tubes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/0422Plate elements with several rows of samples carried on a linear conveyor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0474Details of actuating means for conveyors or pipettes
    • G01N2035/0491Position sensing, encoding; closed-loop control

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

为了提供一种能够在同一平面内配置用于接近同一位置的直线移动部和旋转移动部的自动分析装置,本发明的自动分析装置的特征在于,包括用于通过直线移动接近接入点的直线移动部(109)、用于通过旋转移动接近所述接入点的旋转移动部(114),还包括用于控制所述直线移动部(109)和所述旋转移动部(114)的动作以防止所述直线移动部(109)和所述旋转移动部(114)之间发生干涉的控制部(113)。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及自动分析装置。
背景技术
自动分析装置是用于自动定量或定性分析包含在血液、尿液等检体中的特定成分的装置。要求自动分析装置在更短的时间内更省空间地进行各种各样的检查。
专利文献1中公开了一种自动分析装置,该自动分析装置具有试剂分注探针,该试剂分注探针沿着连接多个试剂盘之间的轨道移动并且接近多个试剂盘,以便即使在小型且试剂搭载数量较多的情况下也提高处理能力。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2004-45112号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
但是,在专利文献1中,由于旋转移动的试剂盘和沿着轨道直线移动并接近试剂盘的试剂分注探针配置在不同的高度,所以虽然能够避免两者的干涉,但是在高度方向上没有充分节省空间。自动分析装置具有从不同方向接近相同位置的多个移动部,并且具有要求温度分布均匀的空间,若自动分析装置的空间没有充分节省空间,则难以使温度分布保持均匀。
因此,本发明的目的在于提供一种自动分析装置,该自动分析装置能够在同一平面内配置接近同一位置的直线移动部和旋转移动部。
解决技术问题所采用的技术方案
为了达到上述目的,本发明的自动分析装置,包括:通过直线移动接近接入点的直线移动部;以及通过旋转移动接近所述接入点的旋转移动部,其特征在于,具有控制部,该控制部控制所述直线移动部和所述旋转移动部的动作,使得所述直线移动部和所述旋转移动部不发生干涉。
发明效果
根据本发明,能提供一种自动分析装置,该自动分析装置能够在同一平面内配置接近同一位置的直线移动部和旋转移动部。
附图说明
图1是示出自动分析装置的结构例的俯视图。
图2是示出反应容器传送部(直线移动部)、预处理用探针(旋转移动部)和预处理位置(接入点)的配置的俯视图。
图3是表示控制直线移动部和旋转移动部的动作的处理的流程的图。
图4是在相对于移动方向向前倾斜的直线移动部的前方存在旋转移动部的情况下的俯视图。
图5是在相对于移动方向向后倾斜的直线移动部的前方存在旋转移动部的情况下的俯视图。
图6是在直线移动部的后方存在旋转移动部的情况下的俯视图。
具体实施方式
下面根据附图说明本发明的自动分析装置的优选实施例。自动分析装置是通过使用通过使试剂与血液或尿液等检体反应而获得的反应液来分析检体的装置。
实施例1
用图1,说明本实施例的自动分析装置的整体结构的一个例子。自动分析装置包括检体传送部102、试剂盘104、检体分注部105、试剂分注部106、反应盘107、反应容器传送部109、预处理用探针114、测定部108和控制部113。以下,对各部分进行说明。另外,垂直方向为Z方向,水平面为XY面。
检体传送部102将收纳血液、尿液等检体的检体容器101传送到检体吸引位置110。试剂盘104在规定的温度范围内保管对用于分析的试剂进行收纳的试剂容器103。
检体分注部105将检体从被传送到检体吸引位置110的检体容器101分注到配置在反应盘107上的反应容器。分注有检体的反应容器和在分注检体时使用的分注针头被保管在消耗品保管部111中,并由消耗品传送部112传送到规定位置。试剂分注部106将试剂从试剂盘104所保管的试剂容器103分注到配置在反应盘107上并分注有检体的反应容器中。反应盘107通过将分注有检体和试剂的反应容器保持在规定的温度范围内,促进检体和试剂之间的反应,从而生成反应液。
反应容器传送部109经由预处理位置115和搅拌位置116将收纳有反应液的反应容器从反应盘107传送到反应液分注位置117。在预处理位置115,预处理用探针114吸引不需要的液体并排出缓冲液,作为对收纳在反应容器中的反应液的预处理。接着,在搅拌位置116搅拌反应液。而且,在反应液分注位置117,通过图中未示出的测定部用探针从反应容器向测定部108提供反应液。
测定部108测定被提供的反应液的物理特性,例如发光量、散射光量、透射光量、电流值、电压值等。此外,测定的物理特性不限于此。此外,测定部108可以从反应容器传送部109接收反应容器,并在反应容器中收纳的状态下测定反应液的物理特性。收纳被测定部108测定了物理特性的反应液的反应容器被反应容器传送部109传送到废弃孔118并被废弃。废弃后的反应容器有时会被清洗并被再利用。
控制部113是控制自动分析装置所具有的各部分的装置,例如由计算机构成。
反应盘107、预处理用探针114、预处理位置115、搅拌位置116、反应液分注位置117、测定部108和反应容器传送部109被由绝热材料构成的绝热盖119覆盖。为了保持测定部108的测定结果的精度,将绝热盖119中的空间调整到规定的温度。当由绝热盖119覆盖的空间变大时,难以均匀地保持温度分布,并且直到温度达到设定温度的时间,即直到在测定部108中能开始测定所需的时间变长。因此,希望在绝热盖119中节省空间。
由于设置在绝热盖119中的反应容器传送部109和预处理用探针114都接近预处理位置115,因此在为了节省空间而将两者配置在同一平面上时,需要避免两者之间的干涉。即,通过直线移动接近作为共同的接入点的预处理位置115的直线移动部即反应容器传送部109和通过旋转移动接近作为共同的接入点的预处理位置115的旋转移动部即预处理用探针114配置在同一平面内,并且使两者之间不发生干涉。
用图2,说明本实施例的反应容器传送部109、预处理用探针114和预处理位置115的配置的一例。反应容器传送部109在直线移动范围201内进行直线移动的过程中接近作为接入点的预处理位置115,在不传送反应容器时在原点待机。在反应容器传送部109的原点设置有直线移动部原点传感器200,通过直线移动部原点传感器200检测反应容器传送部109是否在原点待机。通过至少具有直线移动部原点传感器200作为用于检测反应容器传送部109的位置的传感器,能实现成本降低和简单的***设计。图2示出了位于直线移动范围201的一个端部的反应容器传送部109A、位于原点的反应容器传送部109C、以及位于两者之间的反应容器传送部109B。反应容器传送部109具有相对于返回原点的方向向前倾斜的形状。
预处理用探针114通过以旋转中心212为旋转轴在旋转移动范围211内进行旋转移动从而接近预处理位置115,并且预处理用探针114在不接近预处理位置115时,在原点处待机。旋转移动部原点传感器210设置在预处理用探针114的原点处,并且由旋转移动部原点传感器210检测预处理用探针114是否在原点处待机。通过至少具有旋转移动部原点传感器210作为用于检测预处理用探针114的位置的传感器,能实现成本降低和简单的***设计。图2中举例示出了位于作为旋转移动范围211的一个端部的预处理位置115的预处理用探针114A、位于原点的预处理用探针114C以及位于两者之间的预处理用探针114B。
如图2所示配置的反应容器传送部109和预处理用探针114在进行通常动作时由控制部113基于距原点的移动距离进行控制使得两者之间不发生干涉。然而,若由于操作者触摸反应容器传送部109或预处理用探针114等导致反应容器传送部109或预处理用探针114停止在控制部113无法识别的位置,则两者在返回原点时可能会发生干涉。因此,在本实施例中,不论作为直线移动部的反应容器传送部109和作为旋转移动部的预处理用探针114停止在任何位置,都控制成使得两者能够返回原点而不会发生干涉。
用图3说明用于控制本实施例的直线移动部和旋转移动部的动作的处理流程的一个示例。
(S1)
控制部113控制自动分析装置的各部分的动作,控制部113控制作为直线移动部的反应容器传送部109和作为旋转移动部的预处理用探针114两者,使得这两者不发生干涉。控制部113在接收到某种动作的指示时,首先指示各机构的复位动作。即,通过在开始所有动作之前进行原点返回动作,即使在进行异常动作之后,也能返回原点位置并开始正常动作。
(S2)
控制部113获取作为直线移动部的反应容器传送部109返回原点时的移动速度Vx。移动速度Vx也可以预先存储在控制部113所具有的存储部等中。
(S3)
控制部113基于移动速度Vx设定作为旋转移动部的预处理用探针114返回原点时的移动速度Vr。例如,移动速度Vr被设定为大于移动速度Vx。移动速度Vr是旋转移动部的前端部的周向速度。
(S4)
控制部113以移动速度Vx使直线移动部直线移动,以移动速度Vr使旋转移动部旋转移动,并使两者返回到各自的原点。直线移动部呈在旋转移动部的移动方向上具有开放空间的形状。由于直线移动部在旋转移动部的移动方向上具有开放空间,并且旋转移动部以比直线移动部更高的速度移动,所以两者能返回到原点而不会发生干涉。在下文中,将说明用于避免直线移动部和旋转移动部之间的干涉的详细条件。
使用图4说明当作为直线移动部的反应容器传送部109具有相对于返回原点的方向向前倾斜的形状并且作为旋转移动部的预处理用探针114位于直线移动部的前方时,直线移动部和旋转移动部返回原点而不发生干涉的条件。当反应容器传送部109具有相对于返回原点的方向向前倾斜的形状时,反应容器传送部109的原点侧的壁与移动方向之间构成的角度θL变得小于90°。此外,在将预处理用探针114绕旋转中心212的旋转角设为预处理用探针114的原点的相反侧的壁与反应容器传送部109的移动方向之间构成的角度θR时,图4(a)是θR≥90°时的俯视图,图4(b)是θR<90°时的俯视图。
在图4(a)的情况下,通过使预处理用探针114的移动速度的X方向分量Vr·cos(θR-90)大于反应容器传送部109的移动速度Vx,从而能避免X方向上的干涉,但是两者在Y方向上发生干涉。即,由于预处理用探针114的移动速度的Y方向分量Vr·sin(θR-90)的矢量是朝向具有相对于移动方向向前倾斜的形状的反应容器传送部109的方向,因此在Y方向上产生干涉。换言之,由于作为直线移动部的反应容器传送部109在作为旋转移动部的预处理用探针114的移动方向上不具有开放空间,所以两者发生干涉。
对此,在图4(b)中,预处理用探针114的移动速度的Y方向分量Vr·sin(θR)的矢量具有远离反应容器传送部109的方向,反应容器传送部109在预处理用探针114的移动方向上具有开放空间。因此,通过使预处理用探针114在X方向和Y方向这两个方向上以比反应容器传送部109更高的速度移动,能避免两者之间的干涉。具体地说,在X方向上Vr·cos(θR)>Vx,在Y方向上Vr·sin(θR)>Vx/tan(θL)。
使用图5说明当作为直线移动部的反应容器传送部109具有相对于返回原点的方向向后倾斜的形状并且作为旋转移动部的预处理用探针114位于直线移动部的前方时,直线移动部和旋转移动部返回原点而不发生干涉的条件。当反应容器传送部109具有相对于返回原点的方向向后倾斜的形状时,反应容器传送部109的原点侧的壁与移动方向之间构成的角度θL变为90°以上。此外,与图4同样,图5(a)是θR≥90°时的俯视图,图5(b)是θR<90°时的俯视图。
在图5(a)中,由于反应容器传送部109具有向后倾斜的形状,所以反应容器传送部109在预处理用探针114的移动速度的Y方向分量Vr·sin(θR-90)的矢量方向上具有开放空间。因此,通过使预处理用探针114在X方向和Y方向这两个方向上以比反应容器传送部109更高的速度移动,能避免两者之间的干涉。具体地说,在X方向上Vr·cos(θR-90)>Vx,在Y方向上Vr·sin(θR-90)>Vx/tan(180-θL)。
此外,在图5(b)中,由于反应容器传送部109具有向后倾斜的形状,并且预处理用探针114在Y方向上的远离反应容器传送部109的方向上移动,所以反应容器传送部109在预处理用探针114的移动方向上具有开放空间。因此,通过使预处理用探针114在X方向上以比反应容器传送部109更高的速度移动,即设为Vr·cos(θR)>Vx,能避免两者之间的干涉。
用图6,说明作为旋转移动部的预处理用探针114位于作为直线移动部的反应容器传送部109的后方的情况。图6(a)是反应容器传送部109具有向前倾斜的形状时的俯视图,图6(b)是反应容器传送部109具有向后倾斜的形状时的俯视图。
在图6(a)和图6(b)中的任一种情况下,由于预处理用探针114在Y方向上的远离反应容器传送部109的方向上移动,所以反应容器传送部109在预处理用探针114的移动方向上具有开放空间。然而,预处理用探针114在X方向上向接近反应容器传送部109的方向移动。因此,可以在反应容器传送部109的原点的相反侧的壁上设置如图2所示的切口,反应容器传送部109可以在预处理用探针114的移动方向上具有开放空间。在预处理用探针114的移动方向上存在开放空间,并且使预处理用探针114以比反应容器传送部109更高的速度移动,从而能避免两者之间的干涉。
此外,如图2所示,通过限制预处理用探针114的旋转移动范围211,使得在接近预处理位置115时的预处理用探针114的旋转角θR小于90°,可以容易地形成反应容器传送部109的开放空间。在反应容器传送部109在预处理用探针114的移动方向上具有开放空间的情况下,当检测到异常动作时,可以在使预处理用探针114返回到原点之后,使反应容器传送部109返回到原点。
上面说明了本发明的实施例。本发明不限于上述实施例,也可以在不脱离发明要旨的范围内对结构要素进行变形。另外,可以适当组合上述实施例中所公开的多个结构要素。并且,可以从上述实施例中所示的全部结构要素中删除几个结构要素。
标号说明
101检体容器、102检体传送部、103试剂容器、104试剂盘、105检体分注部、106试剂分注部、107反应盘、108测定部、109反应容器传送部(直线移动部)、110检体吸引位置、111消耗品保管部、112消耗品传送部、113控制部、114预处理用探针(旋转移动部)、115预处理位置(接入点)、116搅拌位置、117反应液分注位置、118废弃孔、119绝热盖、200直线移动部原点传感器、201直线移动范围、210旋转移动部原点传感器、211旋转移动范围、212旋转中心。

Claims (6)

1.一种自动分析装置,包括:
通过直线移动接近接入点的直线移动部;以及
通过旋转移动接近所述接入点的旋转移动部,其特征在于,
具有控制部,该控制部控制所述直线移动部和所述旋转移动部的动作,使得所述直线移动部和所述旋转移动部不发生干涉。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部将所述旋转移动部的移动速度设定为大于所述直线移动部的移动速度,并使所述直线移动部和所述旋转移动部返回到原点。
3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述直线移动部呈在所述旋转移动部的移动方向上具有开放空间的形状。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述直线移动部呈在所述旋转移动部的旋转移动范围内的移动方向上具有开放空间的形状。
5.如权利要求4所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部在检测到所述直线移动部或所述旋转移动部的异常动作时,使所述旋转移动部返回到原点,然后使所述直线移动部返回到原点。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述直线移动部是传送对反应液进行收纳的反应容器的反应容器传送部,
所述旋转移动部是对反应液进行预处理的预处理用探针,
所述接入点是所述反应容器传送部传送反应容器并且所述预处理用探针进行预处理的预处理位置。
CN202080033565.3A 2019-05-16 2020-02-25 自动分析装置 Active CN113795758B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019092704 2019-05-16
JP2019-092704 2019-05-16
PCT/JP2020/007326 WO2020230401A1 (ja) 2019-05-16 2020-02-25 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113795758A true CN113795758A (zh) 2021-12-14
CN113795758B CN113795758B (zh) 2024-06-25

Family

ID=73289864

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202080033565.3A Active CN113795758B (zh) 2019-05-16 2020-02-25 自动分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20220214371A1 (zh)
EP (1) EP3971580B1 (zh)
JP (1) JP7225386B2 (zh)
CN (1) CN113795758B (zh)
WO (1) WO2020230401A1 (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682460A (ja) * 1992-09-04 1994-03-22 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP3122073U (ja) * 2006-03-20 2006-06-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN101048232A (zh) * 2004-10-28 2007-10-03 爱科来株式会社 离心分离装置和配备该装置的分析装置
CN101140292A (zh) * 2006-09-07 2008-03-12 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 加样***及其防撞装置和防撞方法
WO2008065759A1 (fr) * 2006-11-30 2008-06-05 A & T Corporation Embout de buse et distributeur
JP2011012969A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2012098201A (ja) * 2010-11-04 2012-05-24 Hitachi High-Technologies Corp 試薬撹拌機構および自動分析装置
CN102565429A (zh) * 2004-09-17 2012-07-11 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN102985830A (zh) * 2010-07-09 2013-03-20 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP2014126415A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
CN106662593A (zh) * 2014-07-29 2017-05-10 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6322114B2 (ja) * 2014-09-30 2018-05-09 シスメックス株式会社 検体処理装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682460A (ja) * 1992-09-04 1994-03-22 Hitachi Ltd 自動分析装置
CN102565429A (zh) * 2004-09-17 2012-07-11 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN101048232A (zh) * 2004-10-28 2007-10-03 爱科来株式会社 离心分离装置和配备该装置的分析装置
JP3122073U (ja) * 2006-03-20 2006-06-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN101140292A (zh) * 2006-09-07 2008-03-12 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 加样***及其防撞装置和防撞方法
WO2008065759A1 (fr) * 2006-11-30 2008-06-05 A & T Corporation Embout de buse et distributeur
JP2011012969A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
CN102985830A (zh) * 2010-07-09 2013-03-20 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP2012098201A (ja) * 2010-11-04 2012-05-24 Hitachi High-Technologies Corp 試薬撹拌機構および自動分析装置
JP2014126415A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
CN106662593A (zh) * 2014-07-29 2017-05-10 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3971580B1 (en) 2024-07-03
EP3971580A1 (en) 2022-03-23
CN113795758B (zh) 2024-06-25
WO2020230401A1 (ja) 2020-11-19
JPWO2020230401A1 (zh) 2020-11-19
US20220214371A1 (en) 2022-07-07
EP3971580A4 (en) 2023-02-15
JP7225386B2 (ja) 2023-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107389963B (zh) 自动分析装置
US7171863B2 (en) Transfer unit and automatic analyzing apparatus having such transfer unit
EP1477816B1 (en) Automatic analyzer
US8834814B2 (en) Automatic analysis system with removal, tracking, and mounting of stopper bodies
JPH0894636A (ja) 検体の自動分析方法および装置
JP2799301B2 (ja) 分析装置
US9804180B2 (en) Incubation device and methods for automatic movement of a reaction vessel therein for an automatic analysis apparatus
JP2008003010A (ja) 自動分析装置
CN103635809A (zh) 自动分析***
JP2007322287A (ja) 自動分析装置
JP4497335B2 (ja) 分析装置
US9052301B2 (en) Automatic analyzer
JP2006337386A (ja) 自動分析装置
JP6210891B2 (ja) 自動分析装置
US8728395B2 (en) Automatic analyzer
JP2011257427A (ja) 自動分析装置
CN113795758B (zh) 自动分析装置
JP2018136225A (ja) 自動分析装置
CN109975567B (zh) 化学发光检测仪的控制方法、***及化学发光检测仪
JP6594922B2 (ja) 自動分析器において液体を混合するための方法
WO2020085272A1 (ja) オートサンプラ、自動分析装置、サンプリング方法、及び、自動検査方法
CN114371248B (zh) 自动试样注入***
JP5452120B2 (ja) 自動分析装置
JP7395754B2 (ja) 自動分析装置
CN118150851A (zh) 样本分析仪

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant