CN113514676A - 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法 - Google Patents

一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113514676A
CN113514676A CN202110451820.2A CN202110451820A CN113514676A CN 113514676 A CN113514676 A CN 113514676A CN 202110451820 A CN202110451820 A CN 202110451820A CN 113514676 A CN113514676 A CN 113514676A
Authority
CN
China
Prior art keywords
film
layer
wires
thin
conductive layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110451820.2A
Other languages
English (en)
Inventor
赵濬秀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pro2000
Pro2000 Co ltd
Suzhou Hitace Semiconductor Testing Equipment Co ltd
Original Assignee
Pro2000 Co ltd
Suzhou Hitace Semiconductor Testing Equipment Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pro2000 Co ltd, Suzhou Hitace Semiconductor Testing Equipment Co ltd filed Critical Pro2000 Co ltd
Priority to CN202110451820.2A priority Critical patent/CN113514676A/zh
Publication of CN113514676A publication Critical patent/CN113514676A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06755Material aspects
    • G01R1/06761Material aspects related to layers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,包括以下步骤:首先准备底层膜、面层膜、绝缘粘结剂和若干条细导线,接着在底层膜上均匀平行排布若干条细导线形成导电层,并将导电层涂覆绝缘粘结剂粘结固定在底层膜上表面上,并形成了与导电层接触的粘贴剂涂抹层;然后在导电层再次涂覆一层绝缘粘结剂,并在导电层上面形成一层绝缘粘结剂层,并使细导线端部外露一段;再将若干条外露的细导线端部剪切整齐,并在底层膜外侧边形成均匀排布的连接线;最后在所有连接线距离其端部相同长度处向同一侧压弯处理,并形成突出于导电层同一侧的突出部。本方法制造的薄膜探针,检测时接触良好,导电性更强,并能防止面板引线破裂或划伤。

Description

一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法
技术领域
本发明涉及柔性线路板领域,具体涉及一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法。
背景技术
平板显示器在制作完成以后,要经过检测机对其检测合格方能投入使用,在现有技术中,软性薄膜探针的结构是依照液晶显示器的线路分布,直接制作一比一的直线条的薄膜探针,并将其装置在特定治具上,此探针直接与平板显示器的线路直接接触,接触后信号会经探针输入而启动液晶显示器,以便由其显示的状况来判别好坏,从而完成检测过程。
现有技术的软性薄膜探针是在薄片状塑胶制基材的一面按照液晶显示器的线路分布设置多数条丝状导电线,并形成导电层,检测时导电层一端的各导电线端部探针同时与平板显示器待检测线路端口处的各金手指直接接触。但由于薄膜探针各层结构的厚度均在微米等级,其整体的厚度仍相当地薄,且导电层的各导电线端部探针厚度也不可能做到绝对的一致,因此在以薄膜探针接触液晶显示器的线路时,需施加压力以使薄膜探针的导电层的各导电线端部探针均能与液晶显示器的各金手指可靠接触。但是在多次使用长期施压接触过程中,液晶显示器的金手指边角容易对薄膜探针的导电层的各导电线端部探针产生局部的过度磨耗,甚至切断接触导电层与信号线,导致使信号无法正常传送到液晶显示器的线路,而发生无法显示或显示不良的问题,进而影响对液晶显示器的测试效果,再者薄膜探针的导电层的各导电线端部探针被磨耗,另外,因为检测时的冲击,物理上无法准确接触触点造成接触不良,且金手指会变形,从而发生检测错误。减少其使用寿命,而增加使用成本。
有鉴于此,本发明人针对现有技术中的上述缺陷深入研究,遂有本案产生。
发明内容
为解决上述技术问题,我们提出了一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,在保留原有薄膜状探针优点的前提下,并在实现非常密集的脚距的前提下,提供防止面板引线破裂或划伤的薄膜探针制造方法。
为达到上述目的,本发明的技术方案如下:
第一步、准备薄片状柔性膜材质底层膜、面层膜、绝缘粘结剂和若干条细导线;
第二步、在底层膜上均匀平行排布若干条细导线形成导电层,并将导电层涂覆绝缘粘结剂粘结固定在底层膜上表面上,并形成了与导电层接触的粘贴剂涂抹层,在此将底层膜上表面上被涂覆绝缘粘结剂粘结固定的细导线部分定义为导电线;
第三步、在导电层再次涂覆一层绝缘粘结剂,并在导电层上面形成一层绝缘粘结剂层后贴敷上面层膜使其紧密贴合,并使细导线端部外露一段;
第四步、将若干条外露的连接线端部剪切整齐,并在底层膜外侧边形成均匀排布的连接线;
第五步、在所有连接线距离其端部相同长度处向同一侧进行相同弯度的压弯处理,并形成突出于导电层同一侧的突出部。
优选的,在第三步骤中将细导线外露出相同长度的端部整齐排列,并形成一排端部整齐排列连接线。
优选的,在第三步骤中将所述导电线另一侧根部与底层膜的另一侧边缘对齐排列。
优选的,在第五步骤中突出部弯折长度长于所述底层膜的厚度。
优选的,所述导电层材质为铍铜、铍铜合金、铝合金或钢。
优选的,所述突出部被镀金或镀铑处理。
通过上述技术方案,本发明在保存原有薄膜状探针优点(可以实现非常密集的脚距)的前提下,不需要设置如金手指锁扣等太复杂的结构,提供了防止面板引线破裂或划伤的薄膜探针制造方法,特别是根据条件可以用多种方式定制化生产导电线的制造方法。解决了在非常狭窄的空间里接触不良的问题,并且维持了不需要复杂的结构便可避免现有薄膜状探针的所出现的问题,以提升检测效果。从而达到了设计新颖、方法合理、且应用效果好的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法流程图;
图2为采用本发明制造方法生产的探针薄膜结构示意图;
图3为采用本发明制造方法生产的一款探针薄膜的半成品结构示意;
图4为采用本发明制造方法生产的一款变形细导线排布方式探针薄膜的半成品结构示意图;
图5为采用本发明制造方法在底层膜上粘合导电层的加工产品的侧视示意图;
图6为采用本发明制造方法在底层膜上粘合导电层的加工产品的主视示意图;
图7为采用本发明制造方法清除底层膜边露出连接线的加工过程示意图;
图8为采用本发明制造方法生产的变形细导线排布方式探针薄膜清除底层膜边露出连接线时的示意图;
图9为采用本发明制造方法在导电层上粘合面层膜时的示意图;
图10为采用本发明制造方法弯折连接线以形成突出部的示意图;
图11为采用本发明制造方法弯折好突出部的探针薄膜侧视图;
图12为采用本发明制造方法制造的探针薄膜的实际应用动作示意图。
图中数字和字母所表示的相应部件名称:
1.探针薄膜 2.底层膜 21.底层膜边 22.底层膜主体 3.面层膜 4.细导线 5.突出部 6.导电层 7.连接线 8.安装部9.粘合层 10.底部模块 11.弹性辅材 12.显示面板13.引脚 14.粘合剂粘合层 15.冲压机构
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面结合实施例和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
实施例
如图1所示,一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,包括以下步骤:
S1、准备薄片状柔性膜材质底层膜、面层膜、绝缘粘结剂和若干条细导线;
S2、在底层膜上均匀平行排布若干条细导线形成导电层,并将导电层涂覆绝缘粘结剂粘结固定在底层膜上表面上,并形成了与导电层接触的粘贴剂涂抹层,在此将底层膜上表面上被涂覆绝缘粘结剂粘结固定的细导线部分定义为导电线;
S3、在导电层再次涂覆一层绝缘粘结剂,并在导电层上面形成一层绝缘粘结剂层后贴敷上面层膜使其紧密贴合,并使细导线端部外露一段;
S4、将若干条外露的连接线端部剪切整齐,并在底层膜外侧边形成均匀排布的连接线;
S5、在所有连接线距离其端部相同长度处向同一侧进行相同弯度的压弯处理,并形成突出于导电层同一侧的突出部。
其中,在S3步骤中在导电层再次涂覆一层绝缘粘结剂后,再在其上面粘结上一层面层膜并使其紧密贴合。
在S3步骤中将细导线端部外露的端部整齐排列,并形成一排端部整齐的连接线。
在S3步骤中将所述导电线另一侧根部与底层膜的另一侧边缘对齐排列。
在S5步骤中突出部弯折长度长于所述底层膜的厚度。
如图2是根据图1中的工艺流程生产加工的探针薄膜,探针薄膜1在底层膜2和面层膜3之间排列细导线4;细导线4折弯面的突出部5裸露于底层膜2和面层膜3之间,用于接触显示面板引线或面板;底层膜2是绝缘材质的柔性薄膜,比如可能是氟聚酰亚胺薄膜;细导线4排列在底层膜2一侧各自接触显示面板的引线起到传输信号的作用,所以是导电材质;细导线4顶端突出在底层膜2一侧。即细导线4拥有突出于底层膜2的突出部5。还有细导线4的顶端为了接触面板的引脚突出部5折弯面往底层膜2方向(图纸基准往下)成弯折状态。
另外,为了加强接触显示面板引脚部分的突出部5的强度可多样化选择细导线4的材质及厚度。细导线4的材质可以是铍铜、铍铜合金、铝合金或钢等。
再如图3所示的根据图1中的工艺流程生产加工的一款探针薄膜产品,首先在底层膜2上的若干条细导线4形成导电层6,细导线4的暴露端为连接线。
粘合导电层6的两侧可以设置安装部8。在图上可以看到细导线4从上端往下排列,可以分左右侧排列多条细导线4。多条细导线4按一定的个数可分区排列到区域内。一部分细导线4排列在产品一侧,一部分细导线4排列在产品的另一侧。安装部8各自排列在导电层6的两端,可以安装到探针模块。
同时,类似图3的探针薄膜产品还可以变形为如图4的结构形式。在图4上可见中间区域的细导线4经过数次变形后粘合成形。这说明上端细导线4的排列间隔要比下端细导线4的排列排列间隔要小,所以此时在细导线4下端弯折形成突出部会更容易加工,此处引脚突出部5接触面板的检测也更加可靠。
在本例中,在导电层6上粘合底层膜2的过程如图5所示,在通过S2步骤形成的细导线4构成的导电层粘合在底层膜2上。这时为了让细导线4的连接线裸露出来,导电层6的中后部底面粘合在底层膜2的上面。与导电层6接触的底层膜2的一面形成了涂有粘合剂粘合层14。在导电层6热压底层膜2,粘合层融化后导电层6会粘合到底层膜2上。再结合图6所示,底层膜2可设计成由两部分组成,一部分是粘合在导电层6除去连接线部分的下面,在此定义为底层膜主体21,另一部分是粘合在连接线部分的下面,在此定义为底层膜边22。面层膜3粘合在导电层6上后,连接线的上表面会裸露出来,然后将底层膜2边缘处连同裸露出来的连接线端部剪切整齐。再结合图7所示,接着去除底层膜边21使其与连接线7分离,连接线7便会全部暴露出来。
如图8所示是根据图4的包含变形了的细导线4的导电层6粘合底层膜2,剪切连接线7后从导电层6清除的示意。底层膜2的成形对应于连接线7清除后的导电层6的成形。底层膜2除了连接线7处的细导线4和安装部8可全部覆盖。
如图9所示为在导电层6上粘合面层膜3的过程示意,为了让连接线7裸露出来把面层膜3粘合到导电层6的另一面。导电层6的另一面粘合面层膜3即形成探针薄膜1的反面,底层膜2的粘合形成探针薄膜1的正面。
如图10所示为弯折导电层6边缘突出部5的过程示意,把粘合固定好面层膜3和底层膜2的探针薄膜1固定在夹具9上,通过冲压机构15把连接线7向下冲压弯折形成突出部5。突出部5的折弯面为了可以接触到现实面板的引脚往探针薄膜1一侧方向弯折。弯折的角度也可根据设计需求变更,比如薄膜基准60度或120度或其它角度等。
细导线4的材质、厚度及强度可以设计成弯折以后也不会断裂或为了测试增加压力也不会变形的铍铜、铍铜合金、铝合金及钢等导电材质。有必要时为了增加强度在形成细导线4的时候进行热处理。当然,本技术方案也可以向面层膜3的一侧方向进行弯折,在此不做特别的限定。
如图11为突出部5弯折好的探针薄膜1示意,突出部5弯折区域的长度会比面层膜3或底层膜2的厚度长,以满足其突出于主体面的需求。同时,突出部5的尾端可以设计为尖锐的尖头状。如果头部是尖头状可以准确的接触现实面板的引脚。另外,突出部5也可以镀金或镀铑等。
如图12所示为根据本制造方法制造的探针薄膜1的实际应用动作示意,探针薄膜1安装在构成探针模块的底部模块10的下面。底部模块10的一侧底端装有弹性的弹性辅材11在探针薄膜1尾端提供弹性和压力。探针薄膜1弯折突出部5的顶端与测试对象显示面板12的引脚13不是以“面接触”,而是以“点接触”,从而接触效果更好。
压力集中在弯折突出部5的顶端确保接触的可靠度。现有的探针薄膜是以面接触方式受力比较分散,所以可能造成探针薄膜的变形或加压到探针薄膜1的弹性材料11的变形,从而造成接触部位的接触不良。但本技术方案的突出部5的压力集中在顶端,所以发生接触不良的概率也会大大减少。还有本技术方案是点接触方式,所以探针薄膜1或显示面板的引脚13发生断裂或划痕即划伤的可能性几乎不存在,大大改善了检测的可靠性。
如上述对比现有的探针薄膜提高接触可靠性及最低化探针薄膜和显示面板损伤的前提下,还拥有现有探针薄膜的优点,即可以实现很小的脚距,不需要实现像指针锁扣之类复杂的结构的优点。
在本例中,本发明在保存原有薄膜状探针优点(可以实现非常密集的脚距)的前提下,不需要设置如金手指锁扣等太复杂的结构,提供了防止面板引线破裂或划伤的薄膜探针制造方法,特别是根据条件可以用多种方式定制化生产导电线的制造方法。解决了在非常狭窄的空间里接触不良的问题,并且维持了不需要复杂的结构的便可避免现有薄膜状探针的所出现的问题。从而达到了设计新颖、方法合理、且应用效果好的目的。
以上所述的仅是本发明的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法优选实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
第一步、准备薄片状柔性膜材质底层膜、面层膜、绝缘粘结剂和若干条细导线;
第二步、在底层膜上均匀平行排布若干条细导线形成导电层,并将导电层涂覆绝缘粘结剂粘结固定在底层膜上表面上,并形成了与导电层接触的粘贴剂涂抹层,在此将底层膜上表面上被涂覆绝缘粘结剂粘结固定的细导线部分定义为导电线;
第三步、在导电层再次涂覆一层绝缘粘结剂,并在导电层上面形成一层绝缘粘结剂层后贴敷上面层膜使其紧密贴合,并使细导线端部外露一段;
第四步、将若干条外露的连接线端部剪切整齐,并在底层膜外侧边形成均匀排布的连接线;
第五步、在所有连接线距离其端部相同长度处向同一侧进行相同弯度的压弯处理,并形成突出于导电层同一侧的突出部。
2.根据权利要求1所述的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,在第三步骤中将细导线外露出相同长度的端部整齐排列,并形成一排端部整齐排列连接线。
3.根据权利要求2所述的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,在第三步骤中将所述导电线另一侧根部与底层膜的另一侧边缘对齐排列。
4.根据权利要求3所述的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,在第五步骤中突出部弯折长度长于所述底层膜的厚度。
5.根据权利要求4所述的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,所述导电层材质为铍铜、铍铜合金、铝合金或钢。
6.根据权利要求1-5任一项所述的一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法,其特征在于,所述突出部被镀金或镀铑处理。
CN202110451820.2A 2021-04-26 2021-04-26 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法 Pending CN113514676A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110451820.2A CN113514676A (zh) 2021-04-26 2021-04-26 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110451820.2A CN113514676A (zh) 2021-04-26 2021-04-26 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113514676A true CN113514676A (zh) 2021-10-19

Family

ID=78063444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110451820.2A Pending CN113514676A (zh) 2021-04-26 2021-04-26 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113514676A (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2676206Y (zh) * 2003-12-09 2005-02-02 环国科技股份有限公司 显示面板的测试薄膜探针
CN1632536A (zh) * 2004-11-25 2005-06-29 胜华科技股份有限公司 接触式薄膜探针
CN101470136A (zh) * 2007-12-28 2009-07-01 吕文裕 探针卡的制造方法
KR101918162B1 (ko) * 2018-03-30 2018-11-13 주식회사 프로이천 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름
KR101923594B1 (ko) * 2018-06-04 2018-11-29 주식회사 프로이천 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2676206Y (zh) * 2003-12-09 2005-02-02 环国科技股份有限公司 显示面板的测试薄膜探针
CN1632536A (zh) * 2004-11-25 2005-06-29 胜华科技股份有限公司 接触式薄膜探针
CN101470136A (zh) * 2007-12-28 2009-07-01 吕文裕 探针卡的制造方法
KR101918162B1 (ko) * 2018-03-30 2018-11-13 주식회사 프로이천 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름
KR101923594B1 (ko) * 2018-06-04 2018-11-29 주식회사 프로이천 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3795922B2 (ja) フォトリソグラフィーでパターニングしたスプリング・コンタクト
US7916262B2 (en) Signal transmission assembly and display device applied with the same
JPWO2004092749A1 (ja) 検査プローブ
US20120292761A1 (en) Bonding pad structure and integrated circuit comprising a plurality of bonding pad structures
KR101849988B1 (ko) 디스플레이패널 검사용 프로브조립체
JP4421550B2 (ja) プローブ及びプローブカード
JP2002124319A (ja) 異方導電性フィルムおよびそれを用いた半導体素子または電子部品の検査方法
CN113514676A (zh) 一种用于平板显示器自动检测机上薄膜探针的制造方法
WO2020151391A1 (zh) 柔性电路板及具有该柔性电路板的电容屏
CN215339992U (zh) 一种安装于平板显示器自动检测机上的薄膜探针
JP2811295B2 (ja) 垂直型プローブカード
JPH10206464A (ja) プローブ装置
KR101257250B1 (ko) 디스플레이 패널 테스트를 위한 커넥터 모듈
JP2008233022A (ja) コンタクトプローブ
KR101923594B1 (ko) 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름
KR101918162B1 (ko) 패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름
JPH02221881A (ja) 集積回路装置試験用プローブ
JPH06249880A (ja) プローブユニット
JP2006163012A (ja) 表示パネル、その表示パネルを用いた表示装置、及び表示パネルの製造方法
US11959941B2 (en) Probe card
JPH10288627A (ja) 検査用プローブ
JP3042570U (ja) 検査用プローブ
JP3040889U (ja) 検査用プローブ
JP3039278U (ja) 検査用プローブおよび検査用プローブユニット
JP3204102B2 (ja) コンタクトプローブ

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination