CN113504414B - 一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 - Google Patents
一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113504414B CN113504414B CN202110696695.1A CN202110696695A CN113504414B CN 113504414 B CN113504414 B CN 113504414B CN 202110696695 A CN202110696695 A CN 202110696695A CN 113504414 B CN113504414 B CN 113504414B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- plasma
- dielectric constant
- transmission
- shock tube
- horn antenna
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims abstract description 81
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 title claims abstract description 28
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims abstract description 51
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 34
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 16
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 abstract 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 5
- 238000011160 research Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 208000003443 Unconsciousness Diseases 0.000 description 1
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
- G01R27/2682—Measuring dielectric properties, e.g. constants using optical methods or electron beams
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
本发明的目的在于提供一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置,属于等离子体诊断技术领域。该检测装置以激波管作为高温等离子体产生器,通过微波透射激波管获得穿过等离子体的透射信号,处理得到透射系数,再通过透射系数反推激波管内等离子体的复介电常数变化。与反射法相比,透射法的测试装置比反射法的测试装置简单,无需对消模块,且对接收信号的处理工序更加简洁;与以往的透射法相比,本发明中的透射法考虑了各层介质分界面的反射的影响,提高了模型的准确度和算法的精度;同时,本发明可以测量采样时间内任意时刻等离子体的复介电常数,即可以对等离子体进行瞬态测量,相较于以往的稳态测量方法,本发明的测量结果更加准确。
Description
技术领域
本发明属于等离子体诊断技术领域,具体涉及一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置。
背景技术
一些空间飞行器,如航天飞船、卫星和导弹等,在高速通过地球大气层时,与大气摩擦会产生等离子体鞘套,等离子体鞘套会造成通信黑障,干扰飞行器的实时通信。因此,研究等离子体的电磁特性对解决通信黑障问题意义重大,而如何对等离子体的电磁特性进行诊断就成为了研究热点。
等离子复介电常数是描述其特性的重要研究指标,诊断方法也重在实现对复介电常数的测试。传统的诊断方法探针法只适用于低温等离子体,因其使用静电探针介入式测量,对等离子体本身造成了干扰,而对于高温等离子体来说这种干扰不可忽略。
激波管可以产生高温等离子体,对激波管内高温等离子体进行诊断常用的方法为微波诊断法,微波诊断法又分为反射法和透射法两种。反射法是通过测量电磁波与等离子体相互作用产生的反射波来计算等离子体的特性参量,因此无需测量接收端口的电磁波,但发射端的信号处理模块比较复杂;透射法通过测试电磁波穿过等离子体前后的相位和幅度变化,来计算等离子体的复介电常数,进而计算电子密度和碰撞频率。与反射法相比,透射法的测试装置比反射法的测试装置简单,对接收信号的处理工序更加简洁。但目前的透射法未考虑微波传播途径中各层介质分界面的反射带来的影响,透射法的测试精度和准确度不高。
因此,如何采用透射法实现对高温等离子特性的诊断,并且使诊断结果相较于传统透射法具有更高精度和准确度就成为了研究重点。
发明内容
针对背景技术所存在的问题,本发明的目的在于提供一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置。该检测装置以激波管作为高温等离子体产生器,通过微波透射激波管获得穿过等离子体的透射信号,处理得到透射系数,再通过透射系数反推激波管内等离子体的复介电常数变化,能实现对瞬态等离子体的检测,并具有精度高的优点。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测装置,包括从左往右依次设置的信号源、发射喇叭天线、透镜、激波管、接收喇叭天线和工控机,所述发射喇叭天线和透镜设置于第一微波暗室中,所述接收喇叭天线设置于第二暗室中;所述第一暗室和第二暗室与激波管之间均存在空气;
所述信号源的输出信号通过发射喇叭天线产生电磁波信号,并经透镜形成平面波,分别穿过空气、激波管管壁以及管内等离子体后,被接收喇叭天线接收并传输至工控机,所述工控机对接收到的微波信号进行数据处理,输出等离子体复介电常数计算结果。
进一步地,所述透镜设置于发射喇叭天线的焦点处,使透镜的出射波为平面波;且透镜尺寸应使生成的平面波范围的高度大于等于激波管的高度,从而保证激波管内的等离子体都可以被平面波所辐射到。
一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,包括以下步骤:
步骤1.调节第一微波暗室中透镜和喇叭天线的相对位置,保证透镜处于喇叭天线的焦点处,使得透镜的出射波为平面波;
步骤2.打开信号源,并记录进行激波管等离子瞬态实验前整个***的透射系数T(0);
步骤3.激波管进行等离子瞬态实验,利用接收喇叭天线接收信号,得到离散接收信号data(即接收到的信号为随时间变化的离散量):
data=[data(1),data(2),data(3),…,data(n)](n=1,2,3,…,K)
data包含了接收信号的幅度和相位信息,其中,n代表第n次采样,K为总时长t内的采样总点数,K=M×N,M为总时长t内的划分采样时间段的数量,N代表每段采样时间内的采样点数;
步骤4.计算整个***本征透射系数,具体过程为:
等离子体的介电常数和损耗是由电子密度和碰撞频率决定的,由于在激波管内,等离子体的电子密度和碰撞频率是随着时间连续变化的,所以复介电常数也是一个随时间变化的函数,记为εr(t),由于等离子体的复介电常数是影响***透射系数变化的自变量,根据***电磁模型,***透射系数的计算公式可以表示为函数T=f[εr(t)],其中,f[εr(t)]=T1·T2·T3·T4,T1,T2,T3,T4分别为空气与前激波管璧、前激波管璧与等离子体、等离子体与后激波管璧、后激波管璧与空气四个分界面的透射系数;
在很短的时间段内,可以认为等离子体的介电常数和损耗随时间呈线性变化,即可以假设ε'r(t)=a+bt、ε”r(t)=c+dt,a和c代表单次处理时间段内介电常数和损耗的初值,b和d代表变化速率,因此,本发明计算过程中将测量数据分成M个单次处理时间段,而每个单次处理时间段内包括N个采样点;
步骤5.计算整个***随采样次数n变化的透射系数T(n),具体过程为:
如果只考虑电磁波信号的电场,记发射波信号为E1,接收波信号为E5,则***的透射系数可以表示为:
未开始进行等离子瞬态实验时T的初始值可以表示为:
由于刚开始实验时,激波管内尚未产生等离子体,故***第一次采样时的投射系数T(1)和开始实验前T(0)一致,与即T(0)=T(1),故上式用E1(1)和E5(1)来表示T(0);
T在第n次采样时可以分别表示为:
由于发射波信号不变,所以有E1(1)=E1(n)成立,将(2)和(3)公式联立,可以得到:
由于E5为接收波信号,可以根据接收信号data得到,故整个***随采样时刻n变化的透射系数T(n)的计算公式如下:
步骤6.基于步骤4得到的整个***本征透射系数和步骤5得到的整个***随采样次数n变化的透射系数T(n)构建目标函数F:
目标函数F代表***透射系数的函数计算值和***实际透射系数的差值,a和c代表每段处理时间段内介电常数和损耗的初值,b和d代表变化速率,Δε'r和Δε'r'表示介电常数变化量量纲;
步骤7:初始化等离子体介电常数a和c,并预设介电常数和误差的变化量纲,通过算法不断优化变量b和d,使函数F的值最小,此时对应的介电常数和误差即为介电常数和损耗的最优值。
进一步地,总采样时长t需足够长,足够覆盖等离子体到来前,等离子体到来以及等离子体消失后的全过程。
进一步地,根据实验经验,总采样时长t一般需要大于2ms。
进一步地,M的数量需要足够多,保证每段时间的长度在μs量级;N的取值需要在满足介电常数可线性化的前提下,避免因点数过多导致计算时间过长,一般N的取值为5~10个。
进一步地,由于等离子体介电常数的实部范围在0~1之间,虚部范围在-1~0之间,所以a的取值为0~1,c的取值范围为-1~0。
进一步地,若激波管内在进行等离子体瞬态实验前为空气,则等离子体介电常数a=1,c=0。
进一步地,不同的变化率量纲Δε'r和Δε'r'会影响拟合曲线的收敛速度和收敛精度,优选地,Δε'r和Δε”r均取0.0001时为最佳值。
综上所述,由于采用了上述技术方案,本发明的有益效果是:
与反射法相比,透射法的测试装置比反射法的测试装置简单,无需对消模块,且对接收信号的处理工序更加简洁;与以往的透射法相比,本发明中的透射法考虑了各层介质分界面的反射的影响,提高了模型的准确度和算法的精度;同时,本发明可以测量采样时间内任意时刻等离子体的复介电常数,即可以对等离子体进行瞬态测量,相较于以往的稳态测量方法,本发明的测量结果更加准确。
附图说明
图1为本发明瞬态微波透射检测装置示意图。
图2为本发明整个***的透射系数计算模型示意图。
图3为本发明复介电常数瞬态微波透射检测方法的正确性验证结果图;
其中,(a)为介电常数计算值正确性的验证曲线图,(b)为损耗计算值正确性的验证曲线图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合实施方式和附图,对本发明作进一步地详细描述。
一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测装置,其结构如图1所示,包括从左往右依次设置的信号源、发射喇叭天线、透镜、激波管、接收喇叭天线和工控机,所述发射喇叭天线和透镜设置于第一微波暗室中,所述接收喇叭天线设置于第二暗室中;所述第一暗室和第二暗室与激波管之间均存在空气;
所述信号源的输出信号通过发射喇叭天线产生电磁波信号,并经透镜形成平面波,分别穿过空气、激波管管壁以及管内等离子体被接收喇叭天线接收并传输至工控机,所述工控机对接收到的微波信号进行数据处理,输出等离子体复介电常数计算结果。
所述微波经过透镜后作用于激波管内的等离子体,部分微波透射、部分反射,透射波进入第二微波暗室,并被接收天线接收;反射波被反射回第一微波暗室后被吸波材料吸收。
一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,包括以下步骤:
步骤1.按照图1所示,连接测试装置,并调节第一微波暗室中透镜和喇叭天线的相对位置,保证透镜处于喇叭天线的焦点处,使得透镜的出射波为平面波;
步骤2.打开信号源,并记录进行激波管等离子瞬态实验前整个***的透射系数T(0);
步骤3.激波管进行等离子瞬态实验,利用接收喇叭天线接收信号,得到离散接收信号data(即接收到的信号为随时间变化的离散量):
data=[data(1),data(2),data(3),…,data(n)](n=1,2,3,…,K)
data包含了接收信号的幅度和相位信息,其中,n代表第n次采样,K为总时长t内的采样总点数,K=M×N,M为总时长t内的划分采样时间段的数量,N代表每段采样时间内的采样点数;
步骤4.计算整个***本征透射系数,具体过程为:
本发明中,整个***的透射系数计算模型如图2所示,存在4个分界面,分别为空气与激波管管壁、激波管管壁与等离子体之间,同时在激波管各个区域内只考虑一次反射;
等离子体的介电常数和损耗是由电子密度和碰撞频率决定的,由于在激波管内,等离子体的电子密度和碰撞频率是随着时间连续变化的,所以复介电常数也是一个随时间变化的函数,记为εr(t),由于等离子体的复介电常数是影响***透射系数变化的自变量,根据***电磁模型,***透射系数的计算公式可以表示为函数T=f[εr(t)],其中,f[εr(t)]=T1·T2·T3·T4,T1,T2,T3,T4分别代表图中四个分界面的透射系数,其计算过程如下:
Zin4=η0(12)
其中,k0为空气的波数,k1为激波管壁的波数,k为等离子体的波数;d1为激波管壁的厚度,d2为等离子体层的厚度,η0为空气的波阻抗,η1为激波管壁的波阻抗,η为等离子体的波阻抗;Γ1,Γ2,Γ3,Γ4分别为图中四个分界面的反射系数,T1,T2,T3,T4分别代表图中四个分界面的透射系数,Zin,Zin2,Zin3,Zin4分别代表四个分界面处的输入阻抗;
在很短的时间段内,可以认为等离子体的介电常数和损耗随时间呈线性变化,即可以假设ε'r(t)=a+bt、ε”r(t)=c+dt,a和c代表单次处理时间段内介电常数和损耗的初值,b和d代表变化速率,因此,本发明计算过程中将测量数据分成M个单次处理时间段,而每个单次处理时间段内包括N个采样点;
针对单个处理时间段,为了方便进一步分析,将时间归一化,并且为了便于优化,设定变化率的量纲,则上式可变化为此时的未知数只有b和d,由于等离子体的介电常数变化较小,本实施例中的介电常数变化率量纲Δε'r设为0.0001、损耗变化率的量纲Δε'r'设为0.0001,此时***的透射系数可以表示为:
步骤5.计算整个***随采样次数n变化的透射系数T(n),具体过程为:
如果只考虑电磁波信号的电场,记发射波信号为E1,接收波信号为E5,则***的透射系数可以表示为:
未开始进行等离子瞬态实验时,T的初始值可以表示为:
由于刚开始实验时,激波管内尚未产生等离子体,故第一次采样时***透射系数和开始实验前一致,即T(0)=T(1),故上式用E1(1)和E5(1)来表示T(0);
根据采样时刻的不同,T在n时刻的值可以分别表示为:
由于发射波信号不变,所以有E1(0)=E1(n)成立,将上述公式联立,可以得到:
由于E5为接收波信号,可以根据接收信号data得到,故整个***随采样时刻n变化的透射系数T(n)的计算公式如下:
步骤6.基于步骤4得到的整个***本征透射系数和步骤5得到的整个***随采样次数n变化的透射系数T(n)构建目标函数F:
目标函数F代表***透射系数的函数计算值和***实际透射系数的差值,a和c代表每段处理时间段内介电常数和损耗的初值,b和d代表变化速率,Δε'r和Δε'r'表示介电常数变化量量纲;
步骤7:此时介电常数和损耗的测量问题变为了一个最优化计算问题,初始化等离子体介电常数a=1,c=0,介电常数Δε'r和误差Δε'r'的变化量纲均设为0.0001,通过算法不断优化变量b和d,使函数F的值最小,此时对应的介电常数和误差即为介电常数和损耗的最优值。
本实施例中对优化算法的正确性进行了验证,如图3所示,三角形对应的曲线为模拟值,即预先假设的激波管内等离子体的介电常数和损耗,使用模拟值根据公式(1)~(12),计算出***的透射系数T,再使用透射系数T,代入公式F中,反解出等离子体的介电常数和损耗,这些求解值如图3中的实线所示。如图3可以看出,两条曲线基本重合,可以证明本发明采用透射法时可以通过投射系数优化算法准确地反解出等离子体的介电常数和损耗。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,本说明书中所公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换;所公开的所有特征、或所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,均可以任何方式组合。
Claims (8)
1.一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于,该方法采用的检测装置包括从左往右依次设置的信号源、发射喇叭天线、透镜、激波管、接收喇叭天线和工控机,所述发射喇叭天线和透镜设置于第一微波暗室中,所述接收喇叭天线设置于第二暗室中;所述第一微波暗室和第二暗室与激波管之间均存在空气;
所述信号源的输出信号通过发射喇叭天线产生电磁波信号,并经透镜形成平面波,分别穿过空气、激波管管壁以及管内等离子体后,被接收喇叭天线接收并传输至工控机,所述工控机对接收到的微波信号进行数据处理,输出等离子体复介电常数计算结果;
检测方法包括以下步骤:
步骤1.调节第一微波暗室中透镜和喇叭天线的相对位置,保证透镜处于喇叭天线的焦点处,使得透镜的出射波为平面波;
步骤2.打开信号源,并记录进行激波管等离子瞬态实验前整个检测装置的透射系数T(0);
步骤3.激波管进行等离子瞬态实验,利用接收喇叭天线接收信号,得到离散接收信号data,即接收到的信号为随时间变化的离散量:
data=[data(1), data(2),data(3),…,data(n)] ,n=1,2,3,…,K;
其中,n代表第n次采样,K为总时长t内的采样总点数,K=M×N,M为总时长t内的划分采样时间段的数量,N代表每段采样时间内的采样点数;
步骤4.计算整个检测装置本征透射系数,具体过程为:
复介电常数是一个随时间变化的函数,记为,由于等离子体的复介电常数是影响检测装置透射系数变化的自变量,根据检测装置电磁模型,检测装置透射系数的计算公式表示为函数,其中,,分别为空气与前激波管璧、前激波管璧与等离子体、等离子体与后激波管璧、后激波管璧与空气四个分界面的透射系数;
针对单个处理时间段,此时检测装置的透射系数可以表示为:
步骤5.计算整个检测装置随采样次数n变化的透射系数T(n),具体计算公式如下:
步骤6.基于步骤4得到的整个检测装置本征透射系数和步骤5得到的整个检测装置随采样次数n变化的透射系数T(n)构建目标函数F:
步骤7:初始化等离子体介电常数a和损耗c,并预设介电常数和误差的变化量纲,通过算法不断优化变量b和d,使函数F的值最小,此时对应的介电常数和误差即为介电常数和损耗的所需值。
2.一种如权利要求1所述的等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于,总采样时长t需足够长,足够覆盖等离子体到来前,等离子体到来以及等离子体消失后的全过程。
3.一种如权利要求2所述的等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于,总采样时长t应大于2ms。
5.一种如权利要求1所述的等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于, a的取值为0~1,c的取值范围为-1~0。
6.一种如权利要求5所述的等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于,若激波管内在进行等离子体瞬态实验前为空气,则等离子体介电常数a=1,损耗c=0。
8.一种如权利要求1所述的等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法,其特征在于,所述透镜设置于发射喇叭天线的焦点处,使透镜的出射波为平面波;且透镜尺寸应使生成的平面波范围的高度大于等于激波管的高度。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110696695.1A CN113504414B (zh) | 2021-06-23 | 2021-06-23 | 一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110696695.1A CN113504414B (zh) | 2021-06-23 | 2021-06-23 | 一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113504414A CN113504414A (zh) | 2021-10-15 |
CN113504414B true CN113504414B (zh) | 2022-05-03 |
Family
ID=78010728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110696695.1A Expired - Fee Related CN113504414B (zh) | 2021-06-23 | 2021-06-23 | 一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113504414B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114698218A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-07-01 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 | 瞬态等离子体电子密度分布的七通道微波干涉仪测量方法 |
CN114698217A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-07-01 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 | 瞬态等离子体电子密度分布的七通道微波干涉仪测量装置 |
CN115100830B (zh) * | 2022-07-01 | 2023-05-16 | 中国人民解放军国防科技大学 | 基于等离子体及光敏二极管的高功率微波探测告警平台 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107202942A (zh) * | 2017-04-26 | 2017-09-26 | 北京航空航天大学 | 一种加入极化栅的自由空间法介电常数测量***及测量方法 |
CN112051453A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-08 | 电子科技大学 | 一种高温流体材料介电性能远距离测试装置及其测试方法 |
CN112630543A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-04-09 | 华南理工大学 | 多探头的弓形架测试***及测试方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017059640A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
CN106443201A (zh) * | 2016-11-14 | 2017-02-22 | 吉林大学 | 一种微探针散射式的太赫兹波段介电常数检测装置 |
CN106707037B (zh) * | 2017-01-23 | 2019-04-09 | 电子科技大学 | 一种材料电磁特性参数无损反射测量方法及装置 |
CN107958105B (zh) * | 2017-11-09 | 2021-06-04 | 上海无线电设备研究所 | 一种利用等离子涂层减小电磁波在金属表面反射的方法 |
CN108229067B (zh) * | 2018-02-09 | 2020-04-10 | 西安电子科技大学 | 天线-激波管-天线等离子体电磁特性的仿真方法及仿真*** |
CN108872267B (zh) * | 2018-07-06 | 2021-03-30 | 电子科技大学 | 一种等离子体复介电常数瞬态微波反射测量方法及装置 |
KR102001423B1 (ko) * | 2018-10-18 | 2019-10-01 | 서울과학기술대학교 산학협력단 | 개방 단말 동축선 프로브를 이용한 광대역 복소 유전율 측정 장치 및 그 방법 |
CN111856150B (zh) * | 2020-08-18 | 2024-02-02 | 中电科思仪科技股份有限公司 | 一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法 |
CN111983330B (zh) * | 2020-10-26 | 2020-12-18 | 中国人民解放军国防科技大学 | 基于Van Atta阵的介电常数测量***和方法 |
CN112816795B (zh) * | 2021-02-06 | 2022-03-18 | 西安电子科技大学 | 临近空间高速目标等离子体电磁测量*** |
-
2021
- 2021-06-23 CN CN202110696695.1A patent/CN113504414B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107202942A (zh) * | 2017-04-26 | 2017-09-26 | 北京航空航天大学 | 一种加入极化栅的自由空间法介电常数测量***及测量方法 |
CN112051453A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-08 | 电子科技大学 | 一种高温流体材料介电性能远距离测试装置及其测试方法 |
CN112630543A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-04-09 | 华南理工大学 | 多探头的弓形架测试***及测试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113504414A (zh) | 2021-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN113504414B (zh) | 一种等离子体复介电常数瞬态微波透射检测方法及装置 | |
CN111200896B (zh) | 基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法 | |
CN109669075B (zh) | 基于开口矩形波导的介质复介电常数无损反射测量方法 | |
CN104864817B (zh) | 基于太赫兹时域光谱技术的塑料薄膜厚度检测装置及方法 | |
Katz | Method to resolve microphone and sample location errors in the two-microphone duct measurement method | |
CN113128050B (zh) | 基于波阻抗不变点的等离子体电子密度和碰撞频率联合诊断方法 | |
CN112558001B (zh) | 一种脉冲高功率现场校准装置和方法 | |
CN112162295A (zh) | 一种基于时频分析的太赫兹厚度检测优化方法 | |
CN110118745B (zh) | 一种基于Rouard方法的非极性材料太赫兹频谱检测方法 | |
Hasar et al. | Temporal Behavior of Plane Waves Within an ${N} $-Layer Structure by the Ray-Series Method | |
CN109752633B (zh) | 一种对变电站局部放电信号进行定位的方法及*** | |
Legouis et al. | Phase gradient method of measuring the acoustic impedance of materials | |
CN115963327A (zh) | 一种微波材料电磁参数测量方法 | |
CN115265614A (zh) | 一种基于互相关谱和曲线拟合的距离域错位校正方法 | |
CN112034406B (zh) | 一种便携式电厚度测试仪相位校准方法 | |
Espinoza et al. | Wind speed measurement and uncertainty analysis using ultrasonic sensors with Kalman filtering | |
CN112858393A (zh) | 一种基于频率步进原理的tdr测试电导率方法 | |
Ma et al. | Multifrequency method for measuring properties of shock tube produced plasma | |
CN113567916A (zh) | 一种相关干涉仪测向方法、***、设备及存储介质 | |
CN115143875B (zh) | 一种基于时域分析法的介质厚度估计方法 | |
Zheng et al. | A new characteristic peaks group judgement method for the accurate measurement of time‐of‐flight in the ultrasonic gas flowmeter | |
Ding et al. | A Radar Detection Method of Reentry Target Based on Frequency-Domain Processing | |
CN115060978B (zh) | 一种基于时域分析法的介电常数估计方法 | |
Schlinker et al. | Refraction of sound by a shear layer-Experimental assessment | |
CN114355463B (zh) | 一种使用太赫兹波进行声音探测与感知的方法及*** |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20220503 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |