CN113485052A - 显示面板及其制作方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种显示面板及其制作方法。显示面板包括阵列基板。阵列基板具有显示区以及非显示区。显示区具有多根数据线以及公共电极。非显示区具有多个覆晶薄膜、第一测试垫、第二测试垫以及第三测试垫。覆晶薄膜与显示区的多根数据线一一对应形成电连接。第三测试垫与公共电极电连接。第一测试垫和第二测试垫设置在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，且沿阵列基板的第一边的延伸方向间隔排列。第三测试垫设置在覆晶薄膜与阵列基板的第二边之间的间隔区域。非显示区还具有防水胶层，防水胶层覆盖在第三测试垫的表面。以上显示面板将第三测试垫设置在覆晶薄膜外侧，可以避免因防水胶层涂布不佳所造成的水汽腐蚀第三测试垫，进而腐蚀公共电极的情况。

Description

显示面板及其制作方法

技术领域

本申请涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种显示面板以及显示面板的制作方法。

背景技术

在传统的液晶显示器(LCD)的制作过程中，在液晶面板切割后，会进行简单的点灯确认，通常称为点灯测试(Cell Test，CT)。在点灯测试过程中，通常是将测试信号施加到液晶面板的点灯测试垫(Cell Test Pad)，点灯测试垫再通过相应的测试线路将测试信号传递到液晶面板的像素单元。在经过一次点灯测试(CT1)检查后，如果液晶面板有明显的线缺陷的话就直接报废。液晶面板经过点灯测试检查合格后，通过激光切割的过程将点灯测试垫与像素单元之间的测试线路切断，然后将覆晶薄膜贴附到液晶面板上，后续的信号通过覆晶薄膜施加给液晶面板的像素单元。然而，在上述激光切割的过程中，公共电极走线不能被切断，因为后续的点灯测试过程还需要继续通过公共电极走线来外灌信号。但如果不切断公共电极走线的话，当水汽腐蚀点灯测试垫时，水汽会沿公共电极走线扩散至液晶面板的显示区域，从而对液晶面板的显示性能造成影响。一种常规的做法是使用塔菲(tuffy)胶涂布在点灯测试垫上，以避免水汽腐蚀的现象。然而，当塔菲胶的涂布情况不佳时，点灯测试垫被水汽腐蚀的情况依然容易产生。

发明内容

本申请的主要目的是提供一种显示面板，通过将连接公共电极的测试垫设置在覆晶薄膜与阵列基板的第二边之间的间隔区域，以及将防水胶层覆盖在连接公共电极的表面上，旨在解决现有技术中塔菲胶的涂布情况不佳所造成的测试垫被水汽腐蚀的问题。

为实现上述目的，本申请一实施例提供了一种显示面板，包括阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层。所述阵列基板具有显示区以及与所述显示区相邻的非显示区。所述显示区具有多根数据线以及公共电极。所述非显示区具有多个覆晶薄膜。所述多个覆晶薄膜与所述显示区的多根数据线一一对应形成电连接，所述第三测试垫与所述公共电极电连接。

所述非显示区还具有第一测试垫、第二测试垫以及第三测试垫，所述第三测试垫与所述公共电极电连接。所述第一测试垫和所述第二测试垫设置在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，且沿所述阵列基板的第一边的延伸方向间隔排列。所述第三测试垫设置在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域。所述非显示区还具有防水胶层，所述防水胶层覆盖在所述第三测试垫的表面。

在一实施例中，所述第一测试垫和所述第二测试垫还设置在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，设置在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的所述第一测试垫和所述第二测试垫位于所述覆晶薄膜和所述第三测试垫之间。

在一实施例中，在所述显示面板的测试过程中，所述第一测试垫通过第一测试引线与偶数列数据线电连接，所述第二测试垫通过第二测试引线与奇数列数据线电连接；

在所述显示面板的使用过程中，所述第一测试引线和偶数列数据线的电连接线路被切断，所述第二测试引线与奇数列数据线的电连接线路被切断。

在一实施例中，在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，所述第一测试垫和所述第二测试垫组成的第一测试垫组，在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫组成的第二测试垫组，所述第一测试垫组和所述第二测试垫组排列成一行。

在一实施例中，所述防水胶层为长条状，所述防水胶层同时覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面。

在一实施例中，所述防水胶层包括位于相邻两个覆晶薄膜之间的第一胶层和位于所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域的第二胶层，所述第一胶层覆盖在所述第一测试垫和所述第二测试垫的表面，所述第二胶层覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面，所述第二胶层的涂布宽度大于所述第一胶层的涂布宽度，或者所述第二胶层的涂布厚度大于所述第一胶层的涂布厚度。

本申请另一实施例还提供了一种显示面板的制作方法，用于制备如以上任意一项实施例所述的显示面板。所述显示面板的制作方法包括以下步骤：

S101：提供一显示面板，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板具有显示区以及与所述显示区相邻的非显示区；所述显示区具有多根数据线以及公共电极；所述非显示区具有第一测试垫、第二测试垫以及第三测试垫，所述第一测试垫和所述第二测试垫沿所述阵列基板的第一边的延伸方向间隔排列，所述第一测试垫通过第一测试引线与偶数列数据线电连接，所述第二测试垫通过第二测试引线与奇数列数据线电连接，所述第三测试垫与所述公共电极电连接；

S102：对所述显示面板进行点灯测试；

S103：切断所述第一测试引线与偶数列数据线之间的电连接线路，以及切断所述第二测试引线与奇数列数据线之间的电连接线路；

S104：将多个覆晶薄膜贴附在所述显示面板上，并使所述覆晶薄膜与所述多根数据线一一对应形成电连接，并使所述第一测试垫和所述第二测试垫设置在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，所述第三测试垫设置在所述多个覆晶薄膜的外侧区域。

S105：在所述阵列基板的所述非显示区涂布防水胶层，所述防水胶层覆盖所述第三测试垫的表面。

在一实施例中，在步骤S105中，所述防水胶层为长条状，所述防水胶层同时覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面。

在一实施例中，在步骤S105中，所述防水胶层包括位于相邻两个覆晶薄膜之间的第一胶层和位于所述多个覆晶薄膜外侧的第二胶层，所述第一胶层覆盖在所述第一测试垫和所述第二测试垫的表面，所述第二胶层覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面，所述第二胶层的涂布宽度大于所述第一胶层的涂布宽度，或者所述第二胶层的涂布厚度大于所述第一胶层的涂布厚度。

在一实施例中，所述点灯测试的过程包括以下步骤：在所述第一测试垫灌注偶数列数据驱动信号，在所述第二测试垫灌注奇数列数据驱动信号，所述偶数列数据驱动信号通过所述第一测试引线传输至偶数列数据线，所述奇数列数据驱动信号通过所述第二测试引线传输至奇数列数据线；在所述第三测试垫灌注公共电压信号，所述公共电压信号通过所述第三测试垫传输至所述公共电极；

和/或，在涂布所述防水胶层之前，对具有所述覆晶薄膜的所述显示面板再次进行点灯测试，所述再次进行点灯测试的过程包括以下步骤：通过所述覆晶薄膜将数据驱动信号传输至所述多根数据线；在所述第三测试垫灌注公共电压信号，使所述公共电压信号通过所述第三测试垫传输至所述公共电极。

在本申请实施例所提供的显示面板和显示面板的制作方法中，由于连接所述公共电极的所述第三测试垫设置在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，在涂布防水胶层时，由于所述防水胶层需要涂布的区域较小，且位于所述阵列基板的边缘区域，所述防水胶层的涂布难度较小。所以，所述第三测试垫的设置位置可以有效保证所述防水胶层的涂布质量。此外，由于第一测试垫和第二测试垫与所述多根数据线之间的电连接线路在后续显示面板的使用过程中会被切断，即使第一测试垫和第二测试垫的表面未涂布有防水胶层或者防水胶层的涂布质量不佳，当水汽腐蚀第一测试垫或者第二测试垫时，水汽也不会沿着第一测试垫或者第二测试垫与所述多根数据线之间的电连接线路扩散至所述显示面板的内部，从而对显示面板的性能造成影响。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本申请实施例一提供的显示面板的结构示意图；

图2为图1中的阵列基板的结构示意图；

图3为图2中的阵列基板的区域A的放大示意图；

图4为本申请实施例二提供的显示面板的结构示意图；

图5为图4中的阵列基板的结构示意图；

图6为本申请实施例三提供的显示面板的制作方法的流程示意图；

图7为图6中的步骤S101所提供的显示面板的结构示意图；

图8为图7中的显示面板经过激光切割后的结构示意图；

图9为图8中的显示面板贴附覆晶薄膜后的结构示意图。

附图标号说明：

名称	标号	名称	标号
				显示面板	100	阵列基板	110
彩膜基板	210	数据线	120
				扫描线	130	像素单元	140
显示区	111	非显示区	112
				公共电极	141	覆晶薄膜	150
第一测试垫	161	第二测试垫	162
				第三测试垫	163	第一测试引线	171
第二测试引线	172	第一部分	1711
				第二部分	1712	防水胶层	180
第一胶层	181	第二胶层	182

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，若本申请实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，若全文中出现的“和/或”或者“及/或”，其含义包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

实施例一：

请参见图1，本申请一实施例提供了一种显示面板100，包括阵列基板110、彩膜基板210以及设置在所述阵列基板110和所述彩膜基板210之间的液晶层。请一并参见图2，所述阵列基板110上设置有多根数据线120、多根扫描线130以及多个像素单元140。在本实施例中，所述多根数据线120和所述多根扫描线130呈阵列状排布以定义出所述多个像素单元140所在区域。

所述阵列基板110具有显示区111以及与所述显示区111相邻的非显示区112。

所述显示区111内设置有所述多根数据线120、所述多根扫描线130以及所述多个像素单元140。所述多个像素单元140具有公共电极141。在本实施例中，所述公共电极141为液晶面板中的CF_com线，即设置于CF(Color Filter，彩色滤光片)基板侧的公共电极走线。

在本实施例中，所述显示面板100为阵列基板行驱动(Gate driver on array，GOA)类型的液晶面板。具体地，所述显示面板100还包括GOA电路。所述多根扫描线130由GOA电路进行驱动。具体地，所述GOA电路设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的侧部。根据需要，所述GOA电路也可以为两个，其分别设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的两侧。当所述GOA电路设置在所述阵列基板110的显示区111的横向方向的两侧时，所述两个GOA电路同时驱动所述显示区111中的所述多根扫描线130所连接的薄膜晶体管。此时，所述显示面板100为双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板。

请一并参见图3，所述非显示区112具有多个覆晶薄膜150、第一测试垫161、第二测试垫162以及第三测试垫163。所述多个覆晶薄膜150与所述显示区111的多根数据线140电连接。所述第三测试垫163与所述公共电极141电连接。具体地，在所述显示面板100的测试过程中，所述第一测试垫161通过第一测试引线171与偶数列的数据线120电连接。所述第二测试垫162通过第二测试引线172与奇数列的数据线120电连接。在所述显示面板100的使用过程中，所述第一测试引线171和偶数列的数据线120的电连接线路被切断。所述第二测试引线172与奇数列的数据线120的电连接线路被切断。在本实施例中，所述第一测试引线171包括第一部分1711和多个第二部分1712。所述第一部分1711设置在所述非显示区112的远离所述显示区111的区域。所述第二部分1712设置在所述非显示区112的靠近所述显示区111的区域。所述多个第二部分1712分别环绕由相邻的第一测试垫161和第二测试垫162所组成的多个第一测试垫组，以及分别环绕由相邻的第一测试垫161、第二测试垫162和第三测试垫163所组成的多个第二测试垫组。在本实施例中，所述第二部分1712为曲线状或者折线状，其设置在第一测试垫组的周围或者设置在第二测试垫组的周围。在本实施例中，在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域，所述第一测试垫161和所述第二测试垫162组成的第一测试垫组。在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域，所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163组成的第二测试垫组。所述第一测试垫组和所述第二测试垫组排列成一行。

所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域，且沿所述阵列基板110的第一边的延伸方向间隔排列。所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域。即，所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150与所述阵列基板110的第二边之间的间隔区域。在本实施例中，所述阵列基板110的第一边为设置有数据线120的一边；所述阵列基板110的第二边为设置有扫描线130的一边。所述非显示区112还具有防水胶层180。所述防水胶层180覆盖在所述第三测试垫163的表面。在本实施例中，所述防水胶层180由塔菲胶制成。在其中一实施例中，所述防水胶层180为长条状。所述防水胶层180同时覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。具体地，所述防水胶层180包括位于相邻两个覆晶薄膜150之间的第一胶层181和位于所述多个覆晶薄膜150外侧的第二胶层182。所述第一胶层181覆盖在所述第一测试垫161和所述第二测试垫162的表面。所述第二胶层182覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。所述第二胶层182的涂布宽度大于所述第一胶层181的涂布宽度。或者是，所述第二胶层182的涂布厚度大于所述第一胶层181的涂布厚度。可以理解地，所述第二胶层182亦可以仅覆盖在所述第三测试垫163的表面。而所述第一测试垫161和所述第二测试垫162的表面使用所述第一胶层181覆盖。

在其中一实施例中，所述第一测试垫161和所述第二测试垫162还设置在所述覆晶薄膜150的外侧区域，即所述覆晶薄膜150与所述阵列基板110的第二边之间的间隔区域。设置在所述多个覆晶薄膜150与所述阵列基板110的第二边之间的所述第一测试垫161和所述第二测试垫162位于所述覆晶薄膜150和所述第三测试垫163之间。

在本实施例所提供的显示面板100中，所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域。所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150与所述阵列基板110的第二边之间的间隔区域。所述非显示区112还具有防水胶层180。所述防水胶层180覆盖在所述第三测试垫163的表面。由于连接所述公共电极141的所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧，在涂布防水胶层180时，仅需要将防水胶层180涂布在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域的第三测试垫163上。由于所述防水胶层180需要涂布的区域较小，且位于所述阵列基板110的边缘区域，所述防水胶层180的涂布难度较小。所以，所述第三测试垫163的设置方式可以有效保证所述防水胶层180的涂布质量。此外，由于第一测试垫161和第二测试垫162与所述多根数据线120之间的电连接线路在后续显示面板100的使用过程中会被切断。即使第一测试垫161和第二测试垫162的表面未涂布有防水胶层180或者防水胶层180的涂布质量不佳，当水汽腐蚀第一测试垫161或者第二测试垫162时，水汽也不会沿着第一测试垫161或者第二测试垫162与所述多根数据线120之间的电连接线路扩散至所述显示面板100的内部，从而对显示面板100的性能造成影响。

此外，当所述防水胶层180同时覆盖所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163时，可将所述防水胶层180分为所述第一胶层181和所述第二胶层182。所述第一胶层181覆盖在所述第一测试垫161和所述第二测试垫162的表面。所述第二胶层182覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。所述第二胶层182的涂布宽度大于所述第一胶层181的涂布宽度。或者是，所述第二胶层182的涂布厚度大于所述第一胶层181的涂布厚度。此时，由于第二胶层182的涂布宽度或者涂布厚度要大于所述第一胶层的涂布宽度或者涂布厚度，此方式可以避免因所述防水胶层180涂布质量不佳所造成的水汽腐蚀公共电极141的问题。

实施例二：

请参见图4，本申请另一实施例提供了一种显示面板100，包括阵列基板110、彩膜基板210以及设置在所述阵列基板110和所述彩膜基板210之间的液晶层。请一并参见图5，所述阵列基板110上设置有多根数据线120、多根扫描线130以及多个像素单元140。在本实施例中，所述多根数据线120和所述多根扫描线130呈阵列状排布以定义出所述多个像素单元140所在区域。

所述阵列基板110具有显示区111以及与所述显示区111相邻的非显示区112。

所述显示区111内设置有所述多根数据线120、所述多根扫描线130以及所述多个像素单元140。所述多个像素单元140具有公共电极141。

所述非显示区112具有多个覆晶薄膜150、第一测试垫161、第二测试垫162以及第三测试垫163。所述多个覆晶薄膜150与所述显示区111的多根数据线140电连接。所述第三测试垫163与所述公共电极141电连接。具体地，在所述显示面板100的测试过程中，所述第一测试垫161通过第一测试引线171与偶数列的数据线120电连接。所述第二测试垫162通过第二测试引线172与奇数列的数据线120电连接。在所述显示面板100的使用过程中，所述第一测试引线171和偶数列的数据线120的电连接线路被切断。所述第二测试引线172与奇数列的数据线120的电连接线路被切断。

所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域，且沿所述阵列基板110的第一边的延伸方向间隔排列。所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域，即所述覆晶薄膜150与所述阵列基板110的第二边之间的间隔区域。所述非显示区112还具有防水胶层180。所述防水胶层180覆盖在所述第三测试垫163的表面。在本实施例中，所述防水胶层180由塔菲胶制成。在其中一实施例中，所述防水胶层180为长条状。所述防水胶层180同时覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。具体地，所述防水胶层180包括位于相邻两个覆晶薄膜150之间的第一胶层181和位于所述多个覆晶薄膜150外侧的第二胶层182。所述第一胶层181覆盖在所述第一测试垫161和所述第二测试垫162的表面。所述第二胶层182覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。所述第二胶层182的涂布宽度大于所述第一胶层181的涂布宽度。或者是，所述第二胶层182的涂布厚度大于所述第一胶层181的涂布厚度。

与实施例一不同的是，在本实施例中，所述第一测试引线171包括第一部分1711和多个第二部分1712。所述第一部分1711设置在所述非显示区112的靠近所述阵列基板110的边缘区域。所述第二部分1712设置在所述非显示区112的靠近所述显示区111的区域。所述多个第二部分1712分别环绕由相邻的第一测试垫161和第二测试垫162所组成的多个第一测试垫组，以及分别环绕由相邻的第一测试垫161、第二测试垫162和第三测试垫163所组成的多个第二测试垫组。

在本实施例提供的显示面板100中，所述第一测试引线171分为第一部分1711和多个第二部分1712，且所述多个第二部分1712分别环绕由相邻的第一测试垫161和第二测试垫162所组成的多个第一测试垫组，以及分别环绕由相邻的第一测试垫161、第二测试垫162和第三测试垫163所组成的多个第二测试垫组。此时，第一测试垫161、第二测试垫162和第三测试垫163所在的区域可以与显示区111之间通过第一测试引线171隔离，从而增强了所述显示面板100使用过程的可靠性。在本实施例中，所述第二测试引线172亦分为第一部分和第二部分，其具体结构类似于所述第一测试引线171，在此不再赘述。

实施例三：

参见图6，本申请另一实施例还提供了一种显示面板100的制作方法。所述显示面板100的制作方法包括以下步骤：

S101：提供一显示面板100。请一并参见图7，所述显示面板100包括阵列基板110、彩膜基板210以及设置在所述阵列基板110和所述彩膜基板210之间的液晶层。需要说明的是，所述显示面板100通过常规的液晶面板的cell制程制作。具体为：将显示面板100的阵列基板110与彩膜基板210组合，组合后再切割或裂片成单个显示单元，再往阵列基板110与彩膜基板210之间灌注液晶，最后在对制作好的显示面板100进行点灯测试。其中，每个所述显示单元的阵列基板110上都设有用于测试的测试垫。在本实施例中，所述阵列基板110的结构与图2所示的阵列基板110的结构类似。所述阵列基板110具有显示区111以及与所述显示区111相邻的非显示区112。所述显示区111具有多根数据线120以及公共电极141。所述非显示区112具有第一测试垫161、第二测试垫162以及第三测试垫163。所述第三测试垫163设置在所述非显示区112的两侧。所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在两个所述第三测试垫163之间。所述第一测试垫161通过第一测试引线171与偶数列的数据线120电连接。所述第二测试垫162通过第二测试引线172与奇数列的数据线120电连接。所述第三测试垫163与所述公共电极141电连接。

S102：对步骤S101所提供的所述显示面板100进行点灯测试。具体地，所述点灯测试的过程包括以下步骤：在所述第一测试垫161灌注偶数列的数据驱动信号。在所述第二测试垫162灌注奇数列的数据驱动信号。所述偶数列的数据驱动信号通过所述第一测试引线171传输至偶数列的数据线120。所述奇数列的数据驱动信号通过所述第二测试引线172传输至奇数列的数据线120。在所述第三测试垫163灌注公共电压信号。所述公共电压信号通过所述第三测试垫163传输至所述公共电极141。具体地，经过步骤S102中的点灯测试过程之后，如果液晶面板有明显的线缺陷的话就直接报废，节省后续的偏光片、印制电路板以及覆晶薄膜等元器件。在点灯测试过程中，由于偶数列的数据线120都通过第一测试引线171连接到一起，以及奇数列的数据线120都通过第二测试引线172连接到一起，因此，所述第一测试引线171和所述第二测试引线172又可以被称为短接线(shorting bar)。

S103：切断所述第一测试引线171与偶数列的数据线120之间的电连接线路，以及切断所述第二测试引线172与奇数列的数据线120之间的电连接线路，如图8所示。在本实施例中，所述第一测试引线171与偶数列的数据线120之间的电连接线路，以及所述第二测试引线172与奇数列的数据线120之间的电连接线路通过激光切割的方式切断。切断所述第一测试引线171或所述第二测试引线172与所述多根数据线120之间的电连接线路的目的在于：所述第一测试引线171或所述第二测试引线172仅仅用于测试过程，如果在显示面板100的实际使用过程中，所述第一测试引线171或所述第二测试引线172与所述多根数据线120的仍然连接到一起，所述第一测试引线171或所述第二测试引线172将会使所述多根数据线120之间产生短路的现象，从而使所述显示面板100无法正常工作。

S104：将多个覆晶薄膜150贴附在所述显示面板100上，并使所述覆晶薄膜150与所述多根数据线120形成电连接，如图9所示。同时，所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域。所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域。具体地，所述覆晶薄膜150通常包括柔性电路板151以及设置在柔性电路板151上的驱动芯片152。当所述覆晶薄膜150贴附在所述显示面板100上时，所述驱动芯片152与所述多根数据线120形成电连接。也就是说，在贴附完所述覆晶薄膜150后，所述覆晶薄膜150中的所述驱动芯片152可以为所述显示面板100中的所述数据线120提供数据驱动信号。根据需要，除了为所述阵列基板110上的多根数据线120提供数据驱动信号之外，所述覆晶薄膜150也可以为阵列基板110上的多根扫描线130提供扫描驱动信号。在本实施例中，所述覆晶薄膜150设置在所述显示区111的纵向方向一侧，用于给所述多根数据线120提供数据驱动信号。具体地，所述覆晶薄膜150上具有多个与所述多根数据线120数量相对应的引脚，以在贴附过程中与所述多根数据线120分别形成电连接。根据需要，所述覆晶薄膜150的设置数量可以根据实际需要设定，在此不作具体限定。

S105：在所述阵列基板110的所述非显示区112涂布防水胶层180。所述防水胶层180覆盖所述第三测试垫163的表面。具体地，所述防水胶层180可以为塔菲胶。所述防水胶层180可以仅覆盖在所述第三测试垫163的表面上，也可以同时覆盖在所述第一测试垫161、第二测试垫162和第三测试垫163的表面上。具体地，所述防水胶层180为长条状。所述防水胶层180同时覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。

在本实施例中，所述防水胶层180包括位于相邻两个覆晶薄膜150之间的第一胶层181和位于所述多个覆晶薄膜150外侧的第二胶层182。所述第一胶层181覆盖在所述第一测试垫161和所述第二测试垫162的表面。所述第二胶层182覆盖在所述第一测试垫161、所述第二测试垫162和所述第三测试垫163的表面。所述第二胶层182的涂布宽度大于所述第一胶层181的涂布宽度。或者是，所述第二胶层182的涂布厚度大于所述第一胶层181的涂布厚度。

根据需要，在涂布所述防水胶层180之前，还可以对贴附有所述多个覆晶薄膜150的显示面板100再次进行点灯测试。在其中一实施例中，所述再次进行点灯测试的过程包括以下步骤：

在涂布所述防水胶层180之前，对具有所述覆晶薄膜150的所述显示面板100再次进行点灯测试。所述点灯测试过程包括：通过所述覆晶薄膜150将数据驱动信号传输至所述多根数据线120；在所述第三测试垫163灌注公共电压信号，使所述公共电压信号通过所述第三测试垫163传输至所述公共电极141。所述再次进行点灯测试的过程可以检查贴附有所述覆晶薄膜150的所述显示面板100的质量。

同样地，在本实施例所提供的显示面板100的制作方法中，所述第一测试垫161和所述第二测试垫162设置在相邻两个覆晶薄膜150之间的区域。所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域。所述非显示区112还具有防水胶层180。所述防水胶层180覆盖在所述第三测试垫163的表面。由于连接所述公共电极141的所述第三测试垫163设置在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域，在涂布防水胶层180时，仅需要将防水胶层180涂布在所述多个覆晶薄膜150的外侧区域的第三测试垫163上。由于所述防水胶层180需要涂布的区域较小，且位于所述阵列基板110的边缘区域，所述防水胶层180的涂布难度较小。所以，所述第三测试垫163的设置位置可以有效保证所述防水胶层180的涂布质量。此外，由于第一测试垫161和第二测试垫162与所述多根数据线120之间的电连接线路在后续显示面板100的使用过程中会被切断，即使第一测试垫161和第二测试垫162的表面未涂布有防水胶层180或者防水胶层180的涂布质量不佳，当水汽腐蚀第一测试垫161或者第二测试垫162时，水汽也不会沿着第一测试垫161或者第二测试垫162与所述多根数据线120之间的电连接线路扩散至所述显示面板100的内部，从而对显示面板的性能造成影响。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层，所述阵列基板具有显示区以及与所述显示区相邻的非显示区；所述显示区具有多根数据线以及公共电极；所述非显示区具有多个覆晶薄膜，所述多个覆晶薄膜与所述显示区的多根数据线一一对应形成电连接，其特征在于：

所述非显示区还具有第一测试垫、第二测试垫以及第三测试垫，所述第三测试垫与所述公共电极电连接，所述第一测试垫和所述第二测试垫设置在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，且沿所述阵列基板的第一边的延伸方向间隔排列，所述第三测试垫设置在所述多个覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，所述非显示区还具有防水胶层，所述防水胶层覆盖在所述第三测试垫的表面。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试垫和所述第二测试垫还设置在所述覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，设置在所述覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的所述第一测试垫和所述第二测试垫位于所述覆晶薄膜和所述第三测试垫之间。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

在所述显示面板的测试过程中，所述第一测试垫通过第一测试引线与偶数列数据线电连接，所述第二测试垫通过第二测试引线与奇数列数据线电连接；

在所述显示面板的使用过程中，所述第一测试引线和偶数列数据线的电连接线路被切断，所述第二测试引线与奇数列数据线的电连接线路被切断。

4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，所述第一测试垫和所述第二测试垫组成的第一测试垫组，在所述覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域，所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫组成的第二测试垫组，所述第一测试垫组和所述第二测试垫组排列成一行。

5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述防水胶层为长条状，所述防水胶层同时覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面。

6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述防水胶层包括位于相邻两个覆晶薄膜之间的第一胶层和位于所述覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域的第二胶层，所述第一胶层覆盖在所述第一测试垫和所述第二测试垫的表面，所述第二胶层覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面，所述第二胶层的涂布宽度大于所述第一胶层的涂布宽度，或者所述第二胶层的涂布厚度大于所述第一胶层的涂布厚度。

7.一种显示面板的制作方法，用于制备如权利要求1-6任意一项所述的显示面板，其特征在于，包括以下步骤：

S101：提供一显示面板，包括阵列基板，所述阵列基板具有显示区以及与所述显示区相邻的非显示区；所述显示区具有多根数据线以及公共电极；所述非显示区具有第一测试垫、第二测试垫以及第三测试垫，所述第一测试垫和所述第二测试垫沿所述阵列基板的第一边的延伸方向间隔排列，所述第一测试垫通过第一测试引线与偶数列数据线电连接，所述第二测试垫通过第二测试引线与奇数列数据线电连接，所述第三测试垫与所述公共电极电连接；

S102：对所述显示面板进行点灯测试；

S103：切断所述第一测试引线与偶数列数据线之间的电连接线路，以及切断所述第二测试引线与奇数列数据线之间的电连接线路；

S104：将多个覆晶薄膜贴附在所述显示面板上，并使所述覆晶薄膜与所述多根数据线一一对应形成电连接，并使所述第一测试垫和所述第二测试垫设置在相邻两个覆晶薄膜之间的区域，所述第三测试垫设置在所述覆晶薄膜与所述阵列基板的第二边之间的间隔区域；

S105：在所述阵列基板的所述非显示区涂布防水胶层，所述防水胶层覆盖所述第三测试垫的表面。

8.如权利要求7所述的显示面板的制作方法，其特征在于，在步骤S105中，所述防水胶层为长条状，所述防水胶层同时覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面。

9.如权利要求8所述的显示面板的制作方法，其特征在于，在步骤S105中，所述防水胶层包括位于相邻两个覆晶薄膜之间的第一胶层和位于所述多个覆晶薄膜外侧的第二胶层，所述第一胶层覆盖在所述第一测试垫和所述第二测试垫的表面，所述第二胶层覆盖在所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫的表面，所述第二胶层的涂布宽度大于所述第一胶层的涂布宽度，或者所述第二胶层的涂布厚度大于所述第一胶层的涂布厚度。

10.如权利要求7所述的显示面板的制作方法，其特征在于，

所述点灯测试的过程包括以下步骤：在所述第一测试垫灌注偶数列数据驱动信号，在所述第二测试垫灌注奇数列数据驱动信号，所述偶数列数据驱动信号通过所述第一测试引线传输至偶数列数据线，所述奇数列数据驱动信号通过所述第二测试引线传输至奇数列数据线；在所述第三测试垫灌注公共电压信号，所述公共电压信号通过所述第三测试垫传输至所述公共电极；

和/或，在涂布所述防水胶层之前，对具有所述覆晶薄膜的所述显示面板再次进行点灯测试，所述再次进行点灯测试的过程包括以下步骤：通过所述覆晶薄膜将数据驱动信号传输至所述多根数据线；在所述第三测试垫灌注公共电压信号，使所述公共电压信号通过所述第三测试垫传输至所述公共电极。

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