CN113433721A - 一种液晶显示面板测试方法及设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种液晶显示面板测试方法及设备，在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压；第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，第一电压处于栅极的额定电压区间之外，第二电压处于漏极的额定电压区间之外；对加压后的第一半成品进行测试；在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压；液晶显示面板包括第一半成品，第三电压处于栅极的额定电压区间之外，第四电压处于漏极的额定电压区间之外；对加压后的液晶显示面板进行测试，从而降低漏检率，提升液晶显示面板的质量。

Description

一种液晶显示面板测试方法及设备

技术领域

本申请涉及液晶显示领域，特别涉及一种液晶显示面板测试方法及设备。

背景技术

近年来，液晶显示技术获得了飞速发展，其具有成熟度较高、低辐射、低功耗和易集成等优异特点，因此，在显示领域获得了广泛的应用，特别是在便携式电子产品的显示上。

液晶显示面板在生产过程中需要进行测试，以确定液晶显示面板是否达到质量要求。但是，相关技术中，液晶显示面板测试过程粗糙，导致某些存在缺陷的液晶显示面板无法检测出来，从而导致漏检率高，液晶显示面板质量低、使用寿命短。

发明内容

本申请的主要目的是提供一种液晶显示面板测试方法及设备，旨在解决现有液晶显示面板测试过程粗糙，导致漏检率高的问题。

为了实现上述目的，本申请提供一种液晶显示面板测试方法，所述液晶显示面板测试方法包括：

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，所述第一电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常；

在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述液晶显示面板的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述液晶显示面板包括所述第一半成品，所述第三电压处于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。

可选的，所述对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常的步骤，包括：

对加压后的所述第一半成品进行点亮测试，以确定所述第一半成品是否异常。

可选的，所述阵列板的栅极走线由铜制成。

可选的，所述阵列板的漏极走线由铜或铝制成。

可选的，所述第一电压小于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最小值，所述第二电压大于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最大值。

可选的，所述第一电压大于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最大值，所述第二电压小于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最小值。

可选的，所述第三电压小于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间的最小值，所述第四电压大于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间的最大值。

可选的，所述第三电压大于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间的最大值，所述第四电压小于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间的最小值。

可选的，所述第一半成品的栅极的额定电压区间等于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间；其中，所述栅极的额定电压区间为-9V～30V；

所述第一半成品的漏极的额定电压区间等于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间；其中，所述漏极的额定电压区间为0V～14V。

此外，为实现上述目的，本申请还提出一种液晶显示面板测试设备，所述液晶显示面板测试设备用于：

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，所述第一电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常；

在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述液晶显示面板的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述液晶显示面板包括所述第一半成品，所述第三电压处于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。

本申请技术方案采用一种液晶显示面板测试方法及设备，通过在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压；其中，第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，第一电压处于第一半成品的栅极的额定电压区间之外，第二电压处于第一半成品的漏极的额定电压区间之外；对加压后的第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常；在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压；其中，液晶显示面板包括第一半成品，第三电压处于液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，第四电压处于液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常；解决了现有液晶显示面板测试过程粗糙，漏检率高的问题。

也就是说，本申请技术方案中，在切割后点片测试和芯片打线后点片测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，降低漏检率，从而提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在第一半成品之后，对第一半成品施加的电压不属于额定电压区间，使得第一半成品的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的第一半成品被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，降低了漏检率，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本申请一实施例的液晶显示面板测试方法的流程示意图一；

图2为本申请一实施例的液晶显示面板的像素结构示意图一；

图3为本申请一实施例的液晶显示面板的像素结构示意图二；

图4为本申请一实施例的液晶显示面板测试方法的流程示意图二。

附图标号说明：

标号	名称
		201	薄弱连接点

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

为了保证液晶显示面板的质量，在液晶显示面板的制作过程中，会对液晶显示面板进行测试。但是，相关测试中，测试方式比较粗糙，其仅能测试液晶显示面板的电路是否断开，但是，对于液晶显示面板的某些隐藏缺陷(例如，连接线路比较薄弱)，无法测试出，从而导致制作出的液晶显示面板质量低、使用寿命短。例如，随着液晶显示面板的清晰度和质量的要求越来越高，液晶显示面板的制作难度也越来越大，使得制作出的液晶显示面板容易出现隐藏缺陷，在一个示例中，对于高性能TFT-LCD(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，薄膜晶体管-液晶显示器)，其TFT沟道长度相对较小，TFT制程通常采用BCE(Back Channel Etching，背沟道刻蚀型)型结构，由于其特殊的制作工艺，很容易造成GOA(gate on Array，栅极电路集成在阵列面板上)区与面内pixel(像素)区出现PR(photoresist，光刻胶)remain(残留)，造成过蚀刻，导致线路薄弱，而相关测试中，仅能测试出线路是否断开，对于线路比较薄弱的情况，无法测试出来，从而导致液晶显示面板质量低、使用寿命短。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供一种液晶显示面板测试方法，参见图1所示，图1为本发明实施例提供的液晶显示面板测试方法的流程示意图，液晶显示面板测试方法包括：

步骤S11：在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压。

应当明确的是，在液晶显示面板的整个制程中，会生产出一系列的半成品，为了避免由于半成品的质量问题导致成品质量出现问题，会对生成的半成品进行测试。对于切割后点片测试(又称为CT1，Cell test 1，单元测试1)，其为对第一半成品进行的测试，其中，第一半成品由阵列板(Array板)和彩色滤光片(CF，ColorFilter)制成。需要说明的是，在液晶显示面板的制程中，在制得阵列板和彩色滤光片后，会将阵列板和彩色滤光片贴合，并根据需要的尺寸对贴合后得到的半成品进行切割，以得到第一半成品，而切割后点片测试，即是对第一半成品进行的测试。在一个示例中，阵列板可以是TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)阵列板。

可以理解的是，在切割后点片测试中对应的半成品为第一半成品，在芯片打线后点片测试中对应的成品为液晶显示器，两者对应的栅极和漏极实质相同，都是最终得到的成品液晶显示面板的栅极和漏极，本文中为了区分是在不同的流程中进行加压，所以称之为第一半成品的栅极、漏极，液晶显示面板的栅极、漏极。

需要说明的是，阵列板上设置有栅极、源极、漏极、对应的驱动电路等，因此，第一半成品也包括栅极和漏极等。其中，薄膜晶体管阵列板上的驱动电路可以根据实际需要灵活设置。

在一些实施方式中，为了降低成本，阵列板上的驱动电路的导电走线可以均由铝制成。例如，阵列板上的栅极走线(即与栅极连接的线路)、源极走线、漏极走线可以均由铝制成。

在一些实施方式中，为了提升阵列板的导电性能，阵列板上的导电走线可以部分由铜制成。在一个示例中，阵列板上的栅极走线(即与栅极连接的线路)可以由铜制成，其他走线(例如源极走线、漏极走线)可以均由铝制成。

在一些实施方式中，为了进一步提升阵列板的导电性能，阵列板上的导电走线可以均由铜制成。例如，阵列板上的栅极走线(即与栅极连接的线路)、源极走线、漏极走线可以均由铜制成。

本发明实施例中，在将阵列板和彩色滤光片贴合并进行切割以制得第一半成品后，需要对第一半成品进行测试。为了使第一半成品的隐藏缺陷暴露出来，在测试过程中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压，即，在第一半成品的栅极和漏极同时加电压并保持第一时长，其中，第一半成品栅极上加的电压为第一电压，第一半成品漏极上加的电压为第二电压。其中，第一电压处于第一半成品栅极的额定电压区间之外，第二电压处于第一半成品漏极的额定电压区间之外。由于施加在第一半成品的栅极和漏极上的电压均不属于对应的额定电压区间，因此，会加速第一半成品上线路老化或恶化，使得第一半成品的隐藏缺陷暴露出来。例如，由于光刻胶残留等情况，导致第一半成品上的线路过蚀刻，某些连接点比较薄弱，在正常测试过程中，由于该连接点正常通电，无法检测出来；而本发明实施例中，在第一半成品的栅极和漏极施加的电压不属于额定电压区间，使得第一半成品加速老化或恶化，从而导致薄弱的连接点断开，在后续的过程中，即可测试出该连接点断开。

应当明确的是，额定电压为用电器正常工作时的电压，额定电压区间为用电器正常工作时的电压范围。第一半成品栅极的额定电压区间和漏极的额定电压区间的具体取值由第一半成品本身的性质决定。在一些实施方式中，可以选用第一半成品栅极的额定电压区间为-9V～30V，第一半成品漏极的额定电压区间为0V～14V。需要说明的是，本发明实施例中，A～B表示大于等于A且小于等于B，符号[]对应的区间包括端点值，符号()对应的区间不包括端点值，例如[A，B]表示大于等于A且小于等于B，(A，B)表示大于A且小于B，(A，B]表示大于A且小于等于B；下述用符号[]或()来表示区间。

其中，第一电压可以大于第一半成品栅极的额定电压区间的最大值，或，小于第一半成品栅极的额定电压区间的最小值；第二电压可以大于第一半成品漏极的额定电压区间的最大值，或，小于第一半成品漏极的额定电压区间的最小值。

在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第一电压可以大于第一半成品栅极的额定电压区间的最大值，第二电压小于第一半成品漏极的额定电压区间的最小值。例如，假设第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第一电压可以大于30V，第二电压可以小于0V。其中，第一电压和第二电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第一电压与第一半成品栅极的额定电压区间的最大值的差值绝对值可以小于等于a，第二电压与第一半成品漏极的额定电压区间的最小值的差值绝对值可以小于等于b，其中，a、b为正整数，a与b可以相等，也可以不等，a和b的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，a可以设置为3V、6V等，b可以设置为7V、9V等。在一个示例中，假设a为6V，b为12V，第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第一电压的取值范围为(30V，36V]，即大于30V，且小于等于36V；第二电压的取值范围为[-12V，0V)，即小于0V，且大于等于-12V。

在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第一电压可以小于第一半成品栅极的额定电压区间的最小值，第二电压大于第一半成品漏极的额定电压区间的最大值。例如，假设第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第一电压可以小于-9V，第二电压可以大于14V。需要说明的是，第一电压、第二电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第一电压与第一半成品栅极的额定电压区间的最小值的差值绝对值可以小于等于x1，第二电压与第一半成品漏极的额定电压区间最大值的差值绝对值可以小于等于y1，其中，x1与y1可以相等，也可以不等，x1和y1的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，x1可以设置为5V、7V等，y1可以设置为6V、11V等。在一个示例中，假设x1为3V，y1为11V，第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第一电压的取值范围为[-12V，-9V)，即大于等于-12V，且小于-9V；第二电压的取值范围为(14V，25V]，即大于14V，且小于等于25V。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太小，恶化/老化速度较慢，第一电压与第一半成品栅极的额定电压区间的最小值的差值绝对值可以大于等于x2，第二电压与第一半成品漏极的额定电压区间最大值的差值绝对值可以大于等于y2，其中x2小于等于x1，y2小于等于y1，x2、y2的具体取值可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中，假设x1为6V，x2为1V，y1为21V，y2为1V，第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第一电压的取值范围为[-15V，-10V]，即大于等于-15V，且小于等于-10V；第二电压的取值范围为[15V，35V]，即大于15V，且小于等于35V；例如，第一电压可以是-10V，第二电压可以是35V。

本发明实施例中，第一时长可以根据实际需要灵活设置，例如，可以设置为1秒、2秒、3秒等。在一个示例中，为了避免过度老化/恶化，线路出现故障，第一时长可以根据第一电压与第一半成品栅极的额定电压区间的偏差、第二电压与第一半成品漏极的额定电压区间的偏差确定，其中，第一电压与第一半成品栅极的额定电压区间的偏差越大、第二电压与第一半成品漏极的额定电压区间的偏差越大，第一时长越小。例如，假设第一半成品栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，第一半成品漏极的额定电压区间为[0V，14V]，若第一电压取值处于(-10V，-9V)，第二电压取值处于(14V，30V]，则第一时长可以是2秒，若第一电压取值处于[-15V，-10V]，第二电压取值处于(30V，35V]，则第一时长可以是1秒。

步骤S12：对加压后的第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常。

本发明实施例中，在第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压之后，对第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常。由于对第一半成品的栅极和漏极施加了不属于额定电压区间的电压，从而加速了第一半成品的线路的老化/恶化，使得第一半成品上隐藏的缺陷暴露出来，从而被检测到。例如，由于对第一半成品的栅极和漏极施加了不属于额定电压区间的电压，从而加速了第一半成品的线路的老化/恶化，使得第一半成品上薄弱的连接点断开，从而被测试出来，保障第一半成品的质量。

其中，具体的测试方式可以根据实际需要灵活设置。

例如，在一些实施方式中，步骤S12包括：对加压后的第一半成品进行点亮测试，以确定第一半成品是否异常。

其中，可以通过在第一半成品的栅极和漏极加额定电压，以驱动液晶显示面板点亮，从而测试第一半成品是否异常。

步骤S13：在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压。

应当明确的是，在制成第一半成品并对第一半成品进行测试后，基于测试通过的第一半成品进行进一步生产，以制成液晶显示面板，其中，液晶显示面板包括第一半成品、偏光板、PCB(Printed Circuit Board，印制线路板)等。也就是说，在制成阵列板和彩色滤光片后，将阵列板和彩色滤光片贴合并切割，以得到第一半成品，将第一半成品和偏光板、PCB板等贴合，以制成液晶显示面板。

其中，芯片打线后点片测试(CT3，cell test 3，单元测试3)为制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行的测试。

应当明确的是，第一半成品包括栅极和漏极，液晶显示面板也包括栅极和漏极，本发明实施例中，在制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行测试，在测试过程中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压，即，在液晶显示面板的栅极加第三电压，在液晶显示面板的漏极加第四电压，并保持第二时长。其中，第三电压处于液晶显示面板栅极的额定电压区间之外，第四电压处于液晶显示面板漏极的额定电压区间之外。由于施加在液晶显示面板的栅极和漏极上的电压均不属于对应的额定电压区间，因此，会加速液晶显示面板上线路老化/恶化，使得液晶显示面板隐藏的缺陷暴露出来。例如，参见图2、3所示，图2为液晶显示面板的电路连接示意图，图2中，由于光刻胶残留等问题，导致过蚀刻，某些线路存在薄弱连接点201，在正常测试中，由于薄弱连接点201可以导电，无法测试出来，本发明实施例中，通过在液晶显示面板的栅极和漏极施加不属于额定电压区间的电压，从而加速液晶显示面板的老化或恶化，使得薄弱连接点201断开，参见图3所示，图3为如图2所示的液晶显示面板，在液晶显示面板栅极施加第三电压、在液晶显示面板漏极施加第四电压，并保持第二时长后，液晶显示面板的电路连接示意图，图3中，薄弱连接点201断开，在后续的测试中，即可将薄弱连接点201测试出来。

其中，第三电压可以大于液晶显示面板栅极的额定电压区间的最大值，或，小于液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值；第四电压可以大于液晶显示面板漏极的额定电压区间的最大值，或，小于液晶显示面板漏极的额定电压区间的最小值。

在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第三电压可以大于液晶显示面板栅极的额定电压区间的最大值，第四电压小于液晶显示面板漏极的额定电压区间的最小值。例如，假设液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第三电压可以大于30V，第四电压可以小于0V。其中，第三电压和第四电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第三电压与液晶显示面板栅极的额定电压区间的最大值的差值绝对值可以小于等于c，第四电压与液晶显示面板漏极的额定电压区间最小值的差值绝对值可以小于等于d，其中，c与d可以相等，也可以不等，c和d的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，c可以设置为5V、8V等，d可以设置为3V、15V等。在一个示例中，假设c为7V，d为13V，液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第三电压的取值范围为(30V，37V]，即大于30V，且小于等于37V；第四电压的取值范围为[-13V，0V)，即小于0V，且大于等于-13V。

在一些实施方式中，为了进一步加速线路老化或恶化速度，第三电压可以小于液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值，第四电压大于液晶显示面板漏极的额定电压区间的最大值。例如，假设液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第三电压可以小于-9V，第四电压可以大于14V。需要说明的是，第三电压、第四电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太大，线路烧断，第三电压与液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值的差值绝对值可以小于等于e1，第四电压与液晶显示面板漏极的额定电压区间最大值的差值绝对值可以小于等于f1，其中，e1与f1可以相等，也可以不等，e1和f1的具体取值可以根据实际需要灵活设置，例如，e1可以设置为5V、10V等，f1可以设置为6V、8V等。在一个示例中，假设e1为5V，f1为25V，液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第三电压的取值范围为[-14V，-9V)，即大于等于-14V，且小于-9V；第四电压的取值范围为(14V，39V]，即大于14V，且小于等于39V。

可以理解的是，为了避免与额定电压区间偏差太小，恶化/老化速度较慢，第三电压与液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值的差值绝对值可以大于等于e2，第四电压与液晶显示面板漏极的额定电压区间最大值的差值绝对值可以大于等于f2，其中e2小于等于e1，f2小于等于f1，e2、f2的具体取值可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中，假设e1为9V，e2为1V，f1为24V，f2为1V，液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，则第三电压的取值范围为[-18V，-10V]，即大于等于-18V，且小于等于-10V；第四电压的取值范围为[15V，38V]，即大于15V，且小于等于38V；例如，第三电压可以是-10V，第四电压可以是35V。

在一些实施方式中，由于第一电压和第三电压均是加在栅极的电压，第二电压和第四电压均是加在漏极的电压，第一电压和第三电压可以相等，第二电压和第四电压可以相等；或者，第一电压和第三电压可以不等，第二电压和第四电压可以不等，即，第一电压可以大于或小于第三电压，第二电压可以大于或小于第四电压，在一个示例中，第一电压小于第三电压，第二电压小于第四电压，或，第一电压大于第三电压，第二电压大于第四电压。

本发明实施例中，第二时长可以根据实际需要灵活设置，例如，可以设置为1秒、4秒、5秒等。在一个示例中，为了避免老化/恶化过度，线路出现故障，第二时长可以根据第三电压与液晶显示面板栅极的额定电压区间的偏差、第四电压与液晶显示面板漏极的额定电压区间的偏差确定，其中，第三电压与液晶显示面板栅极的额定电压区间的偏差越大、第四电压与液晶显示面板漏极的额定电压区间的偏差越大，第二时长越小。例如，假设液晶显示面板栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，液晶显示面板漏极的额定电压区间为[0V，14V]，若第三电压取值处于(-10V，-9V)，第四电压取值处于(14V，20V]，则第二时长可以是3秒，若第三电压取值处于[-15V，-10V]，第四电压取值处于(20V，35V]，则第二时长可以是1秒。

在一些实施方式中，第二时长与第一时长可以相等，也可以不等，例如，第二时长可以小于第一时长。

步骤S14：对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。

本发明实施例中，在液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压之后，对液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。

其中，具体的测试方式可以根据实际需要灵活设置。

在一些实施方式中，步骤S14包括：对加压后的液晶显示面板进行点亮测试，以确定液晶显示面板是否异常。

其中，可以通过在液晶显示面板的栅极和漏极加额定电压，以驱动液晶显示面板点亮，从而测试液晶显示面板是否异常。

在一些实施方式中，步骤S14包括：对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。

其中，可以通过在液晶显示面板的栅极和漏极施加额定电压，并输入对应的显示数据，以驱动液晶显示面板显示画面，从而测试液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。预设条件可以根据实际需要灵活设置。

本发明实施例中，在切割后点片测试和芯片打线后点片测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，从而降低漏检率，提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在第一半成品之后，对第一半成品施加的电压不属于额定电压区间，使得第一半成品的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的第一半成品被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。

基于前述实施例，提出本申请的又一实施例。参见图4所示，图4为本发明实施例提供的液晶显示面板测试方法的流程示意图，液晶显示面板测试方法包括：

步骤S41：在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压。

在液晶显示面板的制程中，在制得阵列板和彩色滤光片后，会将阵列板和彩色滤光片贴合，并根据需要的尺寸对贴合后得到的半成品进行切割，以得到第一半成品。切割后点片测试，是对第一半成品进行的测试。

第一半成品包括阵列板，阵列板上设置有栅极、源极、漏极、对应的驱动电路等。其中，为了提升阵列板的导电性能，栅极走线、源极走线、漏极走线可以均由铜制成。本发明实施例中，阵列板的栅极的额定电压区间为[-9V，30V]，漏极的额定电压区间为[0V，14V]。

本发明实施例中，在制成第一半成品后，在第一半成品的栅极加第一电压，在第一半成品的漏极加第二电压，并保持第一时长，其中，第一电压小于第一半成品栅极的额定电压区间的最小值，第二电压大于第一半成品漏极的额定电压区间的最大值，以加速第一半成品的老化或恶化，从而使得第一半成品上，连接薄弱的点断开，从而使得隐藏的缺陷暴露出来。

其中，为了避免老化或恶化过度，影响正常电路，且避免老化或恶化不足，使得隐藏缺陷无法暴露出来，第一时长为1秒，第一电压比第一半成品栅极的额定电压区间的最小值小1V，第二电压比第一半成品漏极的额定电压区间的最大值大21V，即第一电压为-10V，第二电压为35V。

步骤S42：对加压后的第一半成品进行点亮测试，以确定第一半成品是否异常。

本发明实施例中，在第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压之后，在第一半成品的栅极和漏极加额定电压，以驱动液晶显示面板点亮，从而测试第一半成品是否异常。

步骤S43：在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压。

应当明确的是，在制作第一半成品并对第一半成品进行测试后，基于测试通过的第一半成品进行进一步生产，以制成液晶显示面板，其中，液晶显示面板包括第一半成品、偏光板、PCB板等。

其中，芯片打线后点片测试为制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行的测试。

本发明实施例中，在制成液晶显示面板后，对液晶显示面板进行测试，在测试过程中，在液晶显示面板的栅极加第三电压，在液晶显示面板的漏极加第四电压，并保持第三时长，其中，第三电压小于液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值，第四电压大于液晶显示面板漏极的额定电压区间的最大值，以加速液晶显示面板的老化或恶化，使得液晶显示面板，连接薄弱的点断开，从而使得隐藏的缺陷暴露出来。

其中，为了避免老化或恶化过度，影响正常电路，且避免老化或恶化不足，使得隐藏缺陷无法暴露出来，第二时长为1秒，第三电压比液晶显示面板栅极的额定电压区间的最小值小1V，第四电压比液晶显示面板漏极的额定电压区间的最大值大21V，即第三电压为-10V，第四电压为35V，即第一电压与第三电压相等，第二电压与第四电压相等。

步骤S44：对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试，以确定液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。

预设条件可以根据实际需要灵活设置。

在液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压之后，可以获取对应的显示数据输入至液晶显示面板，以驱动液晶显示面板显示画面，从而测试液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。

本发明实施例中，在切割后点片测试和芯片打线后点片测试过程中，对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间，从而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化，使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来，降低漏检率，从而提升液晶显示面板的质量和使用寿命；并且，在制成第一半成品之后，对第一半成品施加的电压不属于额定电压区间，使得第一半成品的隐藏缺陷暴露出来，从而避免存在隐藏缺陷的第一半成品被用来制作液晶显示面板，导致浪费时间、材料的情况，提升了制作效率、良品率，降低了制作成本。

基于前述实施例，提出本申请的液晶显示面板测试设备，液晶显示面板测试设备用于：

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对第一半成品的漏极加持续第一时长的第二电压；其中，第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，第一电压处于第一半成品的栅极的额定电压区间之外，第二电压处于第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的第一半成品进行测试，以确定第一半成品是否异常；

在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对液晶显示面板的漏极加持续第二时长的第四电压；其中，液晶显示面板包括第一半成品，第三电压处于液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，第四电压处于液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的液晶显示面板进行测试，以确定液晶显示面板是否异常。

需要说明的是，本发明实施例中的液晶显示面板测试设备还可以用于实施前述液晶显示面板测试方法中的其他步骤，在此不再一一赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者***不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者***所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者***中还存在另外的相同要素。

上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

以上所述仅为本申请的可选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的申请构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述液晶显示面板测试方法包括：

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，所述第一电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常；

在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述液晶显示面板的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述液晶显示面板包括所述第一半成品，所述第三电压处于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常的步骤，包括：

对加压后的所述第一半成品进行点亮测试，以确定所述第一半成品是否异常。

3.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述阵列板的栅极走线由铜制成。

4.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述阵列板的漏极走线由铜或铝制成。

5.如权利要求1-4中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一电压小于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最小值，所述第二电压大于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最大值。

6.如权利要求1-4中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一电压大于所述第一半成品的栅极的额定电压区间的最大值，所述第二电压小于所述第一半成品的漏极的额定电压区间的最小值。

7.如权利要求1-4中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第三电压小于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间的最小值，所述第四电压大于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间的最大值。

8.如权利要求1-4中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第三电压大于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间的最大值，所述第四电压小于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间的最小值。

9.如权利要求1-4中任一项所述的液晶显示面板测试方法，其特征在于，所述第一半成品的栅极的额定电压区间等于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间；其中，所述栅极的额定电压区间为-9V～30V；

所述第一半成品的漏极的额定电压区间等于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间；其中，所述漏极的额定电压区间为0V～14V。

10.一种液晶显示面板测试设备，其特征在于，所述液晶显示面板测试设备用于：

在切割后点片测试中，对第一半成品的栅极加持续第一时长的第一电压，对所述第一半成品的漏极加持续所述第一时长的第二电压；其中，所述第一半成品由阵列板和彩色滤光片制成，所述第一电压处于所述第一半成品的栅极的额定电压区间之外，所述第二电压处于所述第一半成品的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述第一半成品进行测试，以确定所述第一半成品是否异常；

在芯片打线后点片测试中，对液晶显示面板的栅极加持续第二时长的第三电压，对所述液晶显示面板的漏极加持续所述第二时长的第四电压；其中，所述液晶显示面板包括所述第一半成品，所述第三电压处于所述液晶显示面板的栅极的额定电压区间之外，所述第四电压处于所述液晶显示面板的漏极的额定电压区间之外；

对加压后的所述液晶显示面板进行测试，以确定所述液晶显示面板是否异常。

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