CN113379073A - 一种不良品的统计管理方法以及*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种不良品的统计管理方法以及***，其中不良品的统计管理方法包括：获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量。通过实施本实施例可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及电子器件加工的技术领域，尤其涉及一种不良品的统计管理方法以及***。
背景技术
目前，对产品尤其是电子器件进行加工时，由于材料、加工设备、加工环境等等因素的影响，产品不可避免会出现加工失败的情况，因而产生不良品。
而一个产品需要经过多道工序加工，最终形成成品，在每道工序加工过程中均有可能加工失败，且同一型号的产品在同一道工序中频繁发生加工失败的问题，导致批量生产过程中同一型号的产品重复出现相同的不良品，产品的不良率较高，生产成本较高。
发明内容
本发明提供了一种不良品的统计管理方法以及***，旨在解决批量生产中产品重复出现相同的不良品导致生产成本高的问题。
第一方面，本发明提供了一种不良品的统计管理方法，所述统计管理方法包括：
获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；
判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；
若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；
统计每道工序产生的不合格产品的数量。
进一步地，所述统计管理方法还包括：
当所述产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为正常。
进一步地，所述统计管理方法还包括：
若所述产品可维修，则调整所述加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。
进一步地，所述统计管理方法还包括：
统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。
进一步地，所述统计管理方法还包括：
将所述产品信息与所述加工信息和所述维修信息相关联并存储到数据库中。
进一步地，所述加工工序包括：原材料加工、贴片加工、插件加工、涂层加工、产品测试和包装。
进一步地，所述加工信息还包括加工工序的先后顺序。
进一步地，所述统计管理方法还包括：将完成所有工序的产品判定为合格产品。
进一步地，扫描产品上的标识以获取所述标识对应的产品信息。
第二方面，本发明提供了一种不良品的统计管理***，包括处理器，所述处理器用于执行如第一方面所述的统计管理方法，还包括：
获取单元，用于获取产品的产品信息；
加工检测单元，用于判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
维修检测单元，用于判断所述产品是否可维修。
本发明的有益效果是：通过获取产品的产品信息并生成与产品信息相对应的加工信息，加工信息包括多道加工工序，判断产品在当前工序中加工是否符合预设条件，当产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为异常并判断产品是否可维修，若产品不可维修，则判定产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量，即可分析不合格产品的总数量、每道工序产生的不合格产品占不合格产品总数量的比例。通过实施本发明可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1展示了不良品的统计管理方法的流程示意图；
图2展示了S31步骤的详细流程示意图；
图3展示了S41步骤的详细流程示意图；
图4展示了S6步骤的流程示意图；
图5展示了S7步骤的流程示意图；
图6展示了S8步骤的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
本实施例中的产品优选为电子产品，电子产品在生产线上依次经过多道加工工序的加工，每道工序加工后对电子产品进行检测判断，检测加工正常的即可进入下一道工序，异常的则进行维修，不可维修的产品判定为不合格品，而本实施例的统计管理方法用于统计分析电子产品生产加工过程中产生的不合格品数量。
本实施例提供的不良品的统计管理方法，如图1-6所示，统计管理方法包括：
S1、获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序。
S2、判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件。
S3、当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修。
S31、当产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为正常。
本实施例中，对加工信息的标记可以对产品实现分类，使其在每道工序中进行对应处理。每道工序中加工后根据加工结果标记加工信息，如果加工后产品符合预设条件，则标记为正常，产品进入下一道工序继续加工，每道工序依次类推，直至产品完成所有工序的加工；如果加工后产品不符合预设条件，则将加工信息标记为异常，并将产品送去维修。
S4、若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品。
S41、若产品可维修，则调整加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。
每道工序中，对加工信息的当前工序标记为异常的产品进行维修，维修成功即为可维修的产品将其加工信息的当前工序调整为正常，并记录当前工序的维修信息，并将产品送入下一道工序加工，避免产品的浪费，且有利于减少不良品，降低产品的不良率；而对于无法进行维修或者维修失败的产品，将其判定为不合格，此时其加工信息的当前工序保留标记为异常，便于统计分析时了解导致产生该不良品的对应工序，为技术人员对产品的改良和工艺改进提供数据支持和引导。产品被判断为不合格后，将该产品进行隔离处理，如统一放置到对应的回收仓库，避免不良品混入后续加工工序，也便于后续的统计分析。
判断产品是否可维修的方法包括：通过人工或维修设备对产品进行维修，维修完成后对产品进行相应的检测，例如原材料加工、SMT贴片加工、插件加工、涂层加工工序中对应的维修完成后，可以通过AOI设备CCD视觉捕捉PCB板上的特定区域的特征，并经过AO I设备一系列算法验算其结果是否达到设置标准，控制***将录入AO I判定结果，AOI设备一系列算法验算其结果达到设置标准则表明该产品维修成功，将其加工信息对应的当前工序调整为正常，AOI设备一系列算法验算其结果达不到设置标准则表明维修失败或者无法维修，判定该产品为不合格产品，对产品进行隔离处理，且该不合格产品的加工信息中标记有异常的对应工序，可以用于统计对应工序产生的不合格产品的数量，设置标准根据实际需要设置即可。产品测试工序中对应的维修完成后可以通过电性能检测实现，检测PCB板上功能模块的工作状态即可判断维修是否成功，而包装工序可以通过摄像头检测或人工检测来判断维修是否成功。S5、统计每道工序产生的不合格产品的数量。
通过获取产品的产品信息并生成与产品信息相对应的加工信息，加工信息包括多道加工工序，判断产品在当前工序中加工是否符合预设条件，当产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为异常并判断产品是否可维修，若产品不可维修，则判定产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量，即可分析不合格产品的总数量、每道工序产生的不合格产品占不合格产品总数量的比例。通过实施本发明可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。
S6、统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。
针对加工工序被标记为异常的产品，即使其经过维修后调整为正常，但是依然表明在某道加工工序中出现过加工问题，因此也需要对完成维修的产品进行统计分析，通过统计分析得到该批次的产品需要经过维修的数量以及导致加工问题的工序，便于技术人员进行产品优化和工序改进，降低该工序出现加工问题的频率，减少维修次数，降低生产成本。
S7、将产品信息与加工信息、维修信息相关联并存储到数据库中。
在生成加工信息和维修信息后，将其导入数据库储存，数据库设置在控制***中，控制***在整个加工过程中根据产品的加工情况直接在数据库中记录其加工信息和维修信息，包括但不限于调整加工信息的每道工序的标记、记录产品已经完成的加工工序等等，所有信息储存于数据库中，与每个产品的产品信息一一对应，便于随时追溯和分析。当然，也可以由人工操作在数据库中记录信息。
S8、将完成所有工序的产品判定为合格产品。
通过统计合格产品的数量，分析得到产品的良品率。
本实施例中，对加工信息的工序的标记包括正常、异常两类，可以在数据库中采用编码对加工信息的每道工序进行标记，例如编码“0”代表正常，“1”代表异常，可以通过控制***对数据库中的加工信息进行调整，调整其标记的编码，即可调整加工信息的标记，便于在加工过程中判断产品处于正常或异常的状态。
本实施例中，产品优选为电子产品，加工工序包括但不限于：原材料加工、SMT贴片加工、插件加工、涂层加工(如三防漆喷涂加工)、产品测试和包装，产品也可以是其他类型的加工对象。每道工序加工完成后进行相应的检测，例如原材料加工、SMT贴片加工、插件加工、涂层加工后，可以通过CCD视觉捕捉PCB板上的特定区域的特征，控制***将该特征的图像与标准样品的图像进行比较，图像相似程度达到一定阈值则当前工序标记为正常，相似程度低于阈值则当前工序标记为异常，该阈值根据实际需要设置即可。产品测试工序可以通过电性能检测实现，检测电子产品上功能模块的工作状态即可判断为正常或异常，而包装工序可以通过摄像头检测或人工检测来判断为正常或异常。
本实施例中，产品的加工信息还包括加工工序的先后顺序，产品信息记录有产品的编号，该编号是单个产品的专属编号，后续产品售出后，如果存在质量问题，可以根据编号追溯该产品的产品信息，包括其加工过程的所有记录，便于分析质量问题是由哪道工序导致的；加工信息中包括需要加工的工序和工序的先后顺序，在加工过程中可以根据加工信息依次对产品进行进行不同工序的加工，确保加工顺序准确，且避免遗漏加工工序。
本实施例中，产品的标识优选为二维码，加工前在产品上喷码，形成该产品专属的二维码，二维码上对应有该产品的产品信息，例如该产品的型号、编号，用于标识该产品，且该二维码与数据库连接，二维码与加工信息、维修信息等一一对应，通过二维码可以直接获取到对应的信息。通过二维码扫描枪扫描产品上的二维码识别该产品以获取产品信息，简单快捷。
本发明提供了一种不良品的统计管理***，包括处理器，处理器用于执行如上述实施例所述的统计管理方法，还包括：获取单元，用于获取产品的产品信息；加工检测单元，用于判断产品在当前工序中加工是否符合预设条件；维修检测单元，用于判断产品是否可维修。
通过获取产品的产品信息并生成与产品信息相对应的加工信息，加工信息包括多道加工工序，判断产品在当前工序中加工是否符合预设条件，当产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为异常并判断产品是否可维修，若产品不可维修，则判定产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量，即可分析不合格产品的总数量、每道工序产生的不合格产品占不合格产品总数量的比例。通过实施本发明可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法包括：
获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；
判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；
若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；
统计每道工序产生的不合格产品的数量。
2.根据权利要求1所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：
当所述产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为正常。
3.根据权利要求2所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：
若所述产品可维修，则调整所述加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。
4.根据权利要求3所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：
统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。
5.根据权利要求4所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：
将所述产品信息与所述加工信息和所述维修信息相关联并存储到数据库中。
6.根据权利要求5所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述加工工序包括：原材料加工、贴片加工、插件加工、涂层加工、产品测试和包装。
7.根据权利要求6所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述加工信息还包括加工工序的先后顺序。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：将完成所有工序的产品判定为合格产品。
9.根据权利要求8所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，扫描产品上的标识以获取所述标识对应的产品信息。
10.一种不良品的统计管理***，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于执行如权利要求1至9任意一项所述的统计管理方法，还包括：
获取单元，用于获取产品的产品信息；
加工检测单元，用于判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
维修检测单元，用于判断所述产品是否可维修。
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