CN113341560A - 一种曲面异形mems二维扫描微镜机器制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出了一种曲面异形MEMS二维扫描微镜,包括外框、内框、线圈、曲面镜面、快轴以及慢轴,曲面镜面位于整体结构的中心,通过快轴与内框相连接,内框通过慢轴与外框连接,其中:曲面镜面采用球冠面,为一个球面被平面所截后剩下的曲面;线圈采用内置方式,由外置永磁体提供与微镜成45°的磁场,通过Z方向的洛伦兹力控制快轴及慢轴的扭臂梁的扭转,实现慢轴、快轴即Y轴、X轴的扫描;曲面异形二维扫描微镜在电磁力的控制下,在X、Y轴实现周期性、高频率摆动。本发明采用曲面异形结构,用曲面镜代替平面镜,极大地增加了MEMS二维扫描微镜的扫描视场,增大了激光雷达的扫描角度。
Description
技术领域
本发明涉及微机电***技术,具体涉及一种曲面异型MEMS二维扫描微镜及其制备方法。
背景技术
MEMS微镜是指采用光学MEMS技术制造的,把微光反射镜与MEMS驱动器集成在一起的光学MEMS器件。相较于传统的扫描镜,MEMS二维扫描微镜作为新一代三维成像激光雷达的核心部件,具有尺寸小、成本低、扫描频率高、响应速度快和功耗低等优点,广泛应用于光通信、扫描成像、激光雷达等领域。
传统的MEMS二维扫描微镜的反射镜面采用平面镜,受限于MEMS扫描微镜转动梁的刚度极限和可靠性等制约,MEMS扫描微镜的扫描角度与转台式激光雷达相比较小,这大大的制约了新一代三维成像激光雷达的应用。
发明内容
本发明的目的在于提出一种曲面异形MEMS二维扫描微镜及其制备方法。
实现本发明目的的技术解决方案为:一种曲面异形MEMS二维扫描微镜,包括外框、内框、线圈、曲面镜面、快轴以及慢轴,曲面镜面位于整体结构的中心,通过快轴与内框相连接,内框通过慢轴与外框连接,其中:
曲面镜面采用球冠面,为一个球面被平面所截后剩下的曲面,也可看作圆弧绕过它的一个端点的圆的直径旋转一周得到的面;线圈采用内置方式,由外置永磁体提供与微镜成45°的磁场,通过Z方向的洛伦兹力控制快轴及慢轴的扭臂梁的扭转,实现X轴(慢轴)的扫描与Y轴(快轴)的扫描;曲面异形二维扫描微镜在电磁力的控制下,在X、Y轴实现周期性、高频率摆动。
进一步的,在快、慢轴上集成微型角度传感器,用于实时反馈快轴及慢轴的扭转信息,为后端进行进一步反馈控制提供信号,以进一步增强微镜转动线性度。
更进一步的,微型角度传感器采用磁控溅射技术沉积一层压电薄膜,将压电薄膜置于惠斯通电桥内构成,当梁扭转时产生压力,压电薄膜阻值发生变化,信号通过电桥放大读出。
一种曲面异形二维MEMS微镜的制作方法,采用6英寸MEMS工艺技术,相比较4英寸工艺技术而言,前者具有更高的效率,有利于提升微镜批量化制备水平,制备流程如下:
步骤1,预处理6英寸SOI晶圆,首先对晶圆进行标准RCA清洗,去离子水冲洗,并氮气吹干;
步骤2,对晶圆的顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的刻蚀区域进行线宽为2μm,厚度400nm的金属薄膜沉积;采用lift-off工艺去除光刻胶,形成内置线圈;
步骤3,对晶圆的顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ4620,光刻胶厚度为8μm;显影后通过ICP深硅刻蚀机、BOSCH工艺对顶层硅进行高垂直度深硅刻蚀,刻蚀至氧化层终止;
步骤4,对顶层硅的中心区域进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的中心区域进行反射金属薄膜的沉积,沉积的薄膜厚度为250nm;完成工艺后采用PECVD沉积一层厚度为500nm的二氧化硅层作为保护层;
步骤5,对晶圆的背部衬底进行光刻,采用MA6/BA6接触式光刻,以二氧化硅作为掩膜,进行深硅刻蚀,刻蚀至埋氧层时,终止刻蚀;
步骤6,将晶圆放置于BOE溶液中,以去除二氧化硅层,释放结构;
步骤7,利用复数束激光对晶圆进行微细结构加工,形成特定曲率的曲面镜面,然后通过30微米Au线将信号引出至基板上,完成曲面异形MEMS二维扫描微镜的封装,以备测试。
本发明与现有技术相比,其显著优点为:1)采用曲面异形结构的反射镜面,改变了扫描的空间特性,极大地增大了微镜的扫描角度;2)采用3D MEMS加工工艺,在传统平面MEMS加工艺基础上,引入激光精密刻蚀技术,实现曲率的精度刻蚀,大大提高了加工精度。
附图说明
图1为本发明曲面异形MEMS二维扫描微镜的结构图。
图2为本发曲面异形MEMS二维扫描微镜的工艺制备流程图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
如图1所示,一种曲面异形MEMS二维扫描微镜,包括外框、内框、线圈、曲面镜面、快轴以及慢轴,曲面镜面位于整体结构的中心,通过快轴与内框相连接,内框通过慢轴与外框连接,其中:曲面镜面采用球冠面,为一个球面被平面所截后剩下的曲面,也可看作圆弧绕过它的一个端点的圆的直径旋转一周得到的面;线圈采用内置方式,由外置永磁体提供与微镜成45°的磁场,通过Z方向的洛伦兹力控制快轴及慢轴的扭臂梁的扭转,实现X轴(慢轴)的扫描与Y轴(快轴)的扫描;曲面异形二维扫描微镜在电磁力的控制下,在X、Y轴实现周期性、高频率摆动。
所述快、慢轴上集成微型角度传感器,用于实时反馈快轴及慢轴的扭转信息,为后端进行进一步反馈控制提供信号,以进一步增强微镜转动线性度。作为一种优选实施方式,所述微型角度传感器采用磁控溅射技术沉积一层压电薄膜,将压电薄膜置于惠斯通电桥内构成,当梁扭转时产生压力,压电薄膜阻值发生变化,信号通过电桥放大读出。
基于上述结构,本发明还提出一种曲面异形二维MEMS微镜的制作方法,采用6英寸MEMS工艺技术制备,相比较4英寸工艺技术而言,前者具有更高的效率,有利于提升微镜批量化制备水平。如图2所示,制备流程如下:
步骤1,对6英寸SOI晶圆进行预处理;
首先对6英寸SOI晶圆进行标准RCA清洗,去除硅片表面的有机沾污,溶解氧化膜,去除颗粒、金属等沾污,同时使硅片表面钝化,再用去离子水冲洗晶圆,并用氮气吹干;
步骤2,沉积微镜的内置线圈;
对晶圆的顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的刻蚀区域进行线宽为2μm,厚度为400nm的金属薄膜沉积;最后采用lift-off工艺去除光刻胶,形成内置线圈;
步骤3,对顶层硅进行高垂直度深硅刻蚀;
对顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,使用光刻胶AZ4620,光刻胶厚度为8μm;显影后通过ICP深硅刻蚀机、BOSCH工艺,首先采用氟基活性基团对顶层硅进行垂直方向的刻蚀,然后进行侧壁钝化,刻蚀和保护两步工艺交替进行,刻蚀至氧化层终止,实现对顶层硅的高垂直度深硅刻蚀;
步骤4,沉积反射金属膜,并在表面沉积一层二氧化硅作为保护层;
对顶层硅的中心区域MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的中心区域进行反射金属薄膜的沉积,金属薄膜厚度为250nm;完成工艺后采用PECVD方法沉积一层500nm厚的二氧化硅层作为保护层;
步骤5,对背部衬底进行光刻;
对晶圆的背部衬底进行MA6/BA6接触式光刻,以二氧化硅作为掩膜,进行深硅刻蚀,刻蚀至埋氧层终止;
步骤6,释放结构;
将SOI晶圆放置于BOE溶液中,以去除二氧化硅层,释放结构;
步骤7,加工特定曲率的反射镜面;
利用复数束激光对晶圆进行微细结构加工,形成特定曲率的曲面镜面,然后通过30微米Au线将信号引出至基板上,完成曲面异形MEMS二维扫描微镜的封装,以备测试。
综上所述,本发明采用曲面异形结构,用曲面镜代替平面镜,极大地增加了MEMS二维扫描微镜的扫描视场,增大了激光雷达的扫描角度。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (4)
1.一种曲面异形MEMS二维扫描微镜,其特征在于,包括外框、内框、线圈、曲面镜面、快轴以及慢轴,曲面镜面位于整体结构的中心,通过快轴与内框相连接,内框通过慢轴与外框连接,其中:
曲面镜面采用球冠面,为一个球面被平面所截后剩下的曲面;线圈采用内置方式,由外置永磁体提供与微镜成45°的磁场,通过Z方向的洛伦兹力控制快轴及慢轴的扭臂梁的扭转,实现慢轴、快轴即Y轴、X轴的扫描;曲面异形二维扫描微镜在电磁力的控制下,在X、Y轴实现周期性、高频率摆动。
2.根据权利要求1所述的曲面异形MEMS二维扫描微镜,其特征在于,在快、慢轴上集成微型角度传感器,用于实时反馈快轴及慢轴的扭转信息,为后端进行进一步反馈控制提供信号,以进一步增强微镜转动线性度。
3.根据权利要求2所述的曲面异形MEMS二维扫描微镜,其特征在于,微型角度传感器采用磁控溅射技术沉积一层压电薄膜,将压电薄膜置于惠斯通电桥内构成,当梁扭转时产生压力,压电薄膜阻值发生变化,信号通过电桥放大读出。
4.一种曲面异形二维MEMS微镜的制作方法,采用6英寸MEMS工艺技术,制备权利要求1-3任一项所述的曲面异形二维MEMS微镜,制备流程如下:
步骤1,预处理6英寸SOI晶圆,首先对晶圆进行标准RCA清洗,去离子水冲洗,并氮气吹干;
步骤2,对晶圆的顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的刻蚀区域进行线宽为2μm,厚度400nm的金属薄膜沉积;采用lift-off工艺去除光刻胶,形成内置线圈;
步骤3,对晶圆的顶层硅进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ4620,光刻胶厚度为8μm;显影后通过ICP深硅刻蚀机、BOSCH工艺对顶层硅进行高垂直度深硅刻蚀,刻蚀至氧化层终止;
步骤4,对顶层硅的中心区域进行MA6/BA6接触式光刻,选用光刻胶AZ5214,光刻胶厚度为1.5μm;显影后采用磁控溅射技术,对顶层硅的中心区域进行反射金属薄膜的沉积,沉积的薄膜厚度为250nm;完成工艺后采用PECVD沉积一层厚度为500nm的二氧化硅层作为保护层;
步骤5,对晶圆的背部衬底进行光刻,采用MA6/BA6接触式光刻,以二氧化硅作为掩膜,进行深硅刻蚀,刻蚀至埋氧层时,终止刻蚀;
步骤6,将晶圆放置于BOE溶液中,以去除二氧化硅层,释放结构;
步骤7,利用复数束激光对晶圆进行微细结构加工,形成特定曲率的曲面镜面,然后通过30微米Au线将信号引出至基板上,完成曲面异形MEMS二维扫描微镜的封装,以备测试。
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