CN113325828A - 驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质 - Google Patents

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王强
胡博春
赵楠楠
田辉
祝贵阳
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    • G05B23/02—Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0221—Preprocessing measurements, e.g. data collection rate adjustment; Standardization of measurements; Time series or signal analysis, e.g. frequency analysis or wavelets; Trustworthiness of measurements; Indexes therefor; Measurements using easily measured parameters to estimate parameters difficult to measure; Virtual sensor creation; De-noising; Sensor fusion; Unconventional preprocessing inherently present in specific fault detection methods like PCA-based methods

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Abstract

本申请实施例公开了一种驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质。其中，该方法包括：从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务；通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通；控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果。本申请实施例提供的技术方案，能够实现对至少一个DUT进行自动化测试。

Description

驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质
技术领域
本申请实施例涉及汽车技术领域，尤其涉及一种驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质。
背景技术
随着汽车行业的发展，对汽车的驻车锁止控制器(Device Under Test，DUT)的测试也越来越多。驻车锁止控制器是指由电子控制方式实现停车制动的技术。现有技术中，对驻车锁止控制器的测试方法是：通过人工使用测试工具测试被测样品在预设工作模式下是否能够正常工作，但是，现有技术无法自动检测被测样品的测试状态，且被测样品出现异常时无法追溯原因。
因此，亟需一种能够自动化实现测试驻车锁止控制器性能的方法。
发明内容
本申请实施例提供了一种驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质，能够实现对至少一个DUT进行自动化测试。
第一方面，本申请实施例提供了一种驻车锁止控制器测试方法，该方法包括：
从所述候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定所述待测DUT对应的测试任务；
通过所述电源组件控制所述待测DUT与关联的负载单元之间导通；
控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，并得到测试结果。
第二方面，本申请实施例提供了一种驻车锁止控制器测试装置，该装置包括：
确定模块，用于从所述候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定所述待测DUT对应的测试任务；
控制模块，用于通过所述电源组件控制所述待测DUT与关联的负载单元之间导通；
测试模块，用于控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，并得到测试结果。
第三方面，本申请实施例提供了一种驻车锁止控制器测试***，该***包括：
上位机、至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元、测试环境控制单元；所述电源组件分别与所述上位机和所述负载单元连接；所述候选DUT与关联的负载单元连接；所述测试环境控制单元与所述上位机连接；
所述驻车锁止控制器测试***用于执行本申请任意实施例所述的驻车锁止控制器测试方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现本申请任意实施例所述的驻车锁止控制器测试方法。
本申请实施例提供了一种驻车锁止控制器测试方法、装置、***及存储介质，从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务；通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通；控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果。执行本申请技术方案，能够实现对至少一个DUT进行自动化测试。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
附图用于更好地理解本方案，不构成对本申请的限定。其中：
图1为本申请实施例提供的驻车锁止控制器的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试方法的第一流程示意图；
图3为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试方法的第二流程示意图；
图4为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试装置的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试***示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在介绍本申请实施例之前，对DUT的结构进行介绍：参见图1，DUT包括嵌入式功率模块、电机驱动模块、位置传感模块和机械模块。DUT的外部由蓄电池为其进行供电，由整车控制器进行驱动控制。DUT通过机械模块带动电机驱动模块入驻车档和出驻车档，通过位置传感模块和嵌入式功率模块计算电机驱动模块是否完成入驻车档和出驻车档的操作。
实施例一
图2为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试方法的第一流程示意图，本实施例可适用于在生产测试阶段中对多个驻车锁止控制器的可靠性进行自动测试的情况。本实施例提供的一种驻车锁止控制器测试方法可以由本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试装置来执行，该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现，并集成在执行本方法的驻车锁止控制器测试***中。
参见图2，本实施例的方法包括但不限于如下步骤：
S110、从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务。
其中，DUT测试***包括上位机、至少一个候选DUT。
在本申请实施例中，DUT的测试方法由上位机执行，其中，上位机是指可以直接发出测试操控命令的计算机，如工控机(即工业控制电脑)。在一次测试过程中，上位机可以从候选DUT中选择一个待测DUT进行测试，也可以从候选DUT中同时选择多个待测DUT进行测试，其中，待测DUT的个数可由用户根据自身需求进行设置。此外，上位机还需确定待测DUT对应的测试任务。需要说明的是，不同待测DUT所对应的测试任务相同，也就是，使用相同的测试任务对至少一个待测DUT进行测试。
S120、通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通。
其中，DUT测试***还包括电源组件、至少一个负载单元；其中，电源组件分别与上位机和负载单元连接；候选DUT与其所关联的负载单元连接。
其中，电源组件由配电模块和程控可编程电源组成，其中，程控可编程电源为待测DUT进行供电，其输出端连接配电模块，其控制端通过网口与上位机连接，以使上位机可以配置程控可编程电源的输出电压电流的能力；配电模块的输入端连接程控可编程电源，输出端分别与至少一个负载单元相连接，其功能是当上位机选择多个待测DUT时，可以将程控可编程电源变成多路电源向所对应的待测DUT进行供电以及进行过流保护。
在本申请实施例中，上位机从候选DUT中选择了至少一个待测DUT之后，再通过电源组件中的程控可编程电源为DUT测试***进行供电，然后通过电源组件中的配电模块对所选择的待测DUT对应的负载单元进行上电，以使所选择的待测DUT与其所对应的负载单元之间由断开状态切换为导通状态。
在本申请中，上位机可以从候选DUT中选择多少个待测DUT进行测试，对应的，DUT测试***需要配置多少个负载单元。现有技术中，在开发测试负载设备时，因环境试验负载单元不能满足手动测试和电磁兼容性检测(Electro Magnetic Compatibility，EMC)试验等需求，且环境试验负载单元体积较大不方便移动，因而还需要再开发EMC试验负载单元和手动测试负载单元。与现有技术不同的是，本申请的负载单元采用独立封装设计，内部集成了单个待测DUT工作所需的接口，体积小重量轻方便携带，可在不同办公场景应用。其中，负载单元集成了连接待测DUT的电源接口、CAN通信接口、LIN通信接口以及为待测DUT提供机械负载的接口。本申请独立封装的负载单元能够支持手动测试、EMC试验测试、电性能试验测试等，并可与整个DUT测试***灵活组装和拆分，单独使用即可满足手动测试和EMC试验需求，这种结构设计大大降低了设备开发费用。
S130、控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果。
在本申请实施例中，经上述步骤，通过电源组件控制待测DUT与所关联的负载单元之间导通之后，再通过控制负载单元对待测DUT进行测试，完成测试任务，得到测试结果。具体的，负载单元根据测试任务的具体内容对待测DUT进行测试，若待测DUT能够满足测试任务对应的性能指标，表明待测DUT性能优良，则测试结果为成功；若待测DUT不能满足测试任务对应的性能指标，表明待测DUT性能差，则测试结果为失败。
可选的，本步骤控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试的具体过程可以通过以下两个子步骤实现：
S1301、根据测试环境参数信息，通过测试环境控制单元调节待测DUT的测试环境，以得到每一个子测试任务对应的测试环境。
其中，DUT测试***还包括与上位机连接的测试环境控制单元；测试任务包括至少一个子测试任务；子测试任务包括测试环境参数信息和档位切换信息；本申请是在测试环境参数信息对应的测试环境下，测试待测DUT按照档位切换信息运行时的可靠性。其中，测试环境参数信息包括温度参数、湿度参数、机械压力参数、电压参数等。
在本申请实施例中，上位机控制每一个待测DUT逐个执行测试任务中各个子测试任务。其中，在待测DUT执行某一个子测试任务的过程中，首先上位机将子测试任务中的测试环境参数信息发送至测试环境控制单元，将子测试任务中的档位切换信息发送至待测DUT所关联的负载单元；然后测试环境控制单元接收该子测试任务对应的测试环境参数信息，并调节该待测DUT的测试环境，以使该待测DUT的测试环境满足该子测试任务对应的测试环境；最后，上位机控制负载单元根据档位切换信息，对待测DUT进行测试。
可选的，可以将待测DUT放在一个测试箱中，通过测试任务的测试环境参数信息调节测试箱的环境，以使待测DUT的测试环境满足测试任务对应的测试环境。
S1302、根据档位切换信息，通过该负载单元控制待测DUT在测试环境中进行档位切换，并且采集待测DUT在档位切换过程中的电气参数。
其中，档位切换信息包括从驻车档切换为非驻车档、从非驻车档切换为驻车档；电气参数包括电压值和电流值。
在本申请实施例中，上位机控制负载单元根据档位切换信息对待测DUT进行测试的具体过程为：通过该负载单元控制待测DUT在测试环境中从驻车档切换为非驻车档，并采集待测DUT在非驻车档的电压值和电流值；在预设时间之后，通过该负载单元控制待测DUT在测试环境中从非驻车档切换为驻车档，并采集待测DUT在驻车档的电压值和电流值。
可选的，在采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数之后，还包括：确定与子测试任务对应的测试环境所关联的电气参数的门限值；判断待测DUT在档位切换过程中的电气参数值是否超过门限值；若是，则将子测试任务标记为测试失败，并生成报文记录。
在本申请实施例中，待测DUT的一个子测试任务对应一个测试环境，对应一个电气参数的门限值。也就是，子测试任务、测试环境和电气参数的门限值是一一对应的关系。可选的，可以建立子测试任务、测试环境与电气参数的门限值的关联关系表，存储在上位机中。具体的，当待测DUT在执行某一个子测试任务时，负载单元根据档位切换信息控制待测DUT在子测试任务对应的测试环境中进行档位切换，并采集待测DUT在档位切换过程中的电气参数。通过在关联关系表中查找该子测试任务对应的电气参数的门限值(例如电气参数为电压值时，门限值为正负0.1V；电气参数为电流值时，门限值为正负0.1A)，再将所采集的电气参数与该电气参数的门限值进行比较，若所采集的电气参数未超过该电气参数的门限值，表明待测DUT性能正常，则继续执行子测试任务；若所采集的电气参数超过该电气参数的门限值，表明待测DUT性能异常，则将子测试任务标记为测试失败，并生成报文记录。其中，报文记录中包含测试失败发生的时间、测试失败发生所对应的子测试任务、测试失败所对应的电气参数。
需要说明的是，当待测DUT在某一个子测试任务中出现测试失败的状况后，结束该子测试任务，执行下一个子测试任务，直到将该待测DUT对应的测试任务中的各个子测试任务都执行完为止。
可选的，在子测试任务中可以设置档位切换的循环次数，用于测试待测DUT在该子测试任务中的可靠性。可在上位机的显示屏幕中参看待测DUT已运行的循环次数。假如待测DUT在某一个子测试任务中的电气参数不满足所对应的电气参数的门限值时，报文记录中还可以记录该待测DUT测试失败所对应的循环次数。
本实施例提供的技术方案，通过从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务；通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通；控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果。本申请通过DUT测试***中的上位机选择多个待测DUT，并控制负载单元对多个待测DUT进行自动测试，并在测试失败时生成报文记录，本申请能够解决现有技术中无法自动检测被测样品的测试状态，且被测样品出现异常时无法追溯原因，本申请能够实现对至少一个DUT进行自动化测试，并且可追溯测试失败的原因。
实施例二
图3为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试方法的第二流程示意图。本申请实施例是在上述实施例的基础上进行优化，具体优化为：增加了对驻车锁止控制器评估的过程进行详细的解释说明。
参见图3，本实施例的方法包括但不限于如下步骤：
S210、从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务。
其中，测试任务包括至少一个子测试任务；子测试任务包括如下至少一项：对待测DUT进行温度环境测试、对待测DUT进行机械环境测试、对待测DUT进行化学试剂腐蚀环境测试。
在本申请实施例中，待测DUT的测试任务中包含了模拟DUT在各种严苛环境下工作的可靠性。其中，对待测DUT进行的温度环境测试中具体包括：温度冲击试验、温度梯度试验、湿热循环试验、稳态湿热试验、高温耐久试验、温度循环试验等等；对待测DUT进行的机械环境测试中具体包括：随机振动试验、机械冲击试验、自由跌落试验等等。
可选的，在上位机控制负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试之前，可以对待测DUT进行预测试，如低温存储试验、高温存储试验等；还可以对待测DUT进行外观检查、尺寸检查等。
S220、通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通。
S230、控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果。
S240、根据测试结果，确定待测DUT的功能状态等级；其中，功能状态等级用于表征待测DUT的性能。
在本申请实施例中，根据测试结果对待测DUT进行评估分析，得到待测DUT对应的功能状态等级。功能状态等级包括五个等级，其中，第一等级是指测试任务进行中以及测试任务结束后，DUT全部功能与设计需求相符合；第二等级是指测试任务进行中，DUT的全部功能基本符合设计需求(也就是，允许一个或多于一个的功能超出指定误差)，但测试任务结束后所有功能能够自动恢复到正常工作状态；第三等级是指测试任务进行中DUT一个或多于一个功能运行不能满足设计需求，但测试任务结束后所有功能能够自动恢复到正常工作状态；第四等级是指测试任务进行中DUT一个或多于一个功能不能满足设计需求，且测试结束后不能自动回到正常工作状态，但测试任务结束后通过“reset”按钮可以重置DUT恢复到正常工作状态；第五等级是指测试任务进行中DUT一个或多于一个功能不能满足设计要求，但测试任务结束后经过修理或更换元器件能够恢复到正常工作状态。
本实施例提供的技术方案，通过从候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定待测DUT对应的测试任务；通过电源组件控制待测DUT与关联的负载单元之间导通；控制该负载单元根据测试任务对待测DUT进行测试，并得到测试结果；根据测试结果，确定待测DUT的功能状态等级。本申请在执行完自动化测试之后，再通过对待测DUT的测试结果进行评估分析，得到待测DUT对应的功能状态等级。执行本申请方案，可以实现对至少一个DUT进行自动化测试。
实施例三
图4为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试装置的结构示意图，如图4所示，该装置400可以包括：
确定模块410，用于从所述候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定所述待测DUT对应的测试任务。
控制模块420，用于通过所述电源组件控制所述待测DUT与关联的负载单元之间导通。
测试模块430，用于控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，并得到测试结果。
进一步的，上述测试模块430，包括：环境配置单元和性能测试单元；
所述环境配置单元，用于根据所述测试环境参数信息，通过测试环境控制单元调节所述待测DUT的测试环境，以得到每一个子测试任务对应的测试环境。
所述性能测试单元，用于根据档位切换信息，通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中进行档位切换，并且采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数。
进一步的，上述性能测试单元，具体用于：通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中从驻车档切换为非驻车档，并采集所述待测DUT在非驻车档的电气参数；在预设时间之后，通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中从非驻车档切换为驻车档，并采集所述待测DUT在驻车档的电气参数。
进一步的，上述驻车锁止控制器测试装置，还可以包括：判断模块；
所述判断模块，用于在采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数之后，确定与子测试任务对应的测试环境所关联的电气参数的门限值；判断所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数值是否超过所述门限值；若是，则将所述子测试任务标记为测试失败，并生成报文记录。
可选的，所述子测试任务包括如下至少一项：对待测DUT进行温度环境测试、对待测DUT进行机械环境测试、对待测DUT进行化学试剂腐蚀环境测试。
进一步的，上述驻车锁止控制器测试装置，还可以包括：评估模块
所述评估模块，用于根据所述测试结果，确定所述待测DUT的功能状态等级；其中，所述功能状态等级用于表征所述待测DUT的性能。
本实施例提供的驻车锁止控制器测试装置可适用于上述任意实施例提供的驻车锁止控制器测试方法，具备相应的功能和有益效果。
实施例四
图5为本申请实施例提供的驻车锁止控制器测试***示意图，所述***包括上位机、至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元、测试环境控制单元；所述电源组件分别与所述上位机和所述负载单元连接；所述候选DUT与关联的负载单元连接；所述测试环境控制单元与所述上位机连接，用于为候选DUT配置测试环境。上位机、至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元、测试环境控制单元之间可以通过以太网总线或CAN总线连接。
本实施例提供的驻车锁止控制器测试***可适用于上述任意实施例提供的驻车锁止控制器测试方法，具备相应的功能和有益效果。
实施例五
本申请实施例五还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序(或称为计算机可执行指令)，该程序被处理器执行时可以用于执行本申请上述任一实施例所提供的驻车锁止控制器测试方法。
本申请实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请实施例操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
注意，上述仅为本申请的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本申请不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本申请的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本申请实施例进行了较为详细的说明，但是本申请实施例不仅仅限于以上实施例，在不脱离本申请构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本申请的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种驻车锁止控制器测试方法，其特征在于，由驻车锁止控制器DUT测试***中的上位机执行，所述DUT测试***还包括至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元；所述电源组件分别与所述上位机和所述负载单元连接；所述候选DUT与关联的负载单元连接；
所述方法包括：
从所述候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定所述待测DUT对应的测试任务；
通过所述电源组件控制所述待测DUT与关联的负载单元之间导通；
控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，并得到测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述DUT测试***还包括与所述上位机连接的测试环境控制单元；所述测试任务包括至少一个子测试任务；所述子测试任务包括测试环境参数信息和档位切换信息；
所述控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，包括：
根据所述测试环境参数信息，通过测试环境控制单元调节所述待测DUT的测试环境，以得到每一个子测试任务对应的测试环境；
根据档位切换信息，通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中进行档位切换，并且采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述档位切换信息包括从驻车档切换为非驻车档、从非驻车档切换为驻车档；
所述根据档位切换信息，通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中进行档位切换，并且采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数，包括：
通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中从驻车档切换为非驻车档，并采集所述待测DUT在非驻车档的电气参数；
在预设时间之后，通过该负载单元控制所述待测DUT在所述测试环境中从非驻车档切换为驻车档，并采集所述待测DUT在驻车档的电气参数。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在采集所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数之后，还包括：
确定与子测试任务对应的测试环境所关联的电气参数的门限值；
判断所述待测DUT在档位切换过程中的电气参数值是否超过所述门限值；
若是，则将所述子测试任务标记为测试失败，并生成报文记录。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述子测试任务包括如下至少一项：对待测DUT进行温度环境测试、对待测DUT进行机械环境测试、对待测DUT进行化学试剂腐蚀环境测试。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
根据所述测试结果，确定所述待测DUT的功能状态等级；其中，所述功能状态等级用于表征所述待测DUT的性能。
7.一种驻车锁止控制器测试装置，其特征在于，集成于驻车锁止控制器DUT测试***，所述***包括上位机、至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元；所述电源组件分别与所述上位机和所述负载单元连接；所述候选DUT与关联的负载单元连接；
所述装置包括：
确定模块，用于从所述候选DUT中选择至少一个待测DUT，并确定所述待测DUT对应的测试任务；
控制模块，用于通过所述电源组件控制所述待测DUT与关联的负载单元之间导通；
测试模块，用于控制该负载单元根据所述测试任务对所述待测DUT进行测试，并得到测试结果。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：评估模块；
所述评估模块，用于根据所述测试结果，确定所述待测DUT的功能状态等级；其中，所述功能状态等级用于表征所述待测DUT的性能。
9.一种驻车锁止控制器测试***，其特征在于，所述***包括上位机、至少一个候选DUT、电源组件、至少一个负载单元、测试环境控制单元；所述电源组件分别与所述上位机和所述负载单元连接；所述候选DUT与关联的负载单元连接；所述测试环境控制单元与所述上位机连接；
所述驻车锁止控制器测试***用于执行如权利要求1-6中任一所述的驻车锁止控制器测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的驻车锁止控制器测试方法。
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