CN113295957B - 测试控制装置、方法及微控制单元 - Google Patents

Abstract

本发明实施例涉及测试技术领域，公开了一种测试控制装置、方法及微控制单元。测试控制装置包括：微控制单元、检测电路和采样单元，微控制单元用于先输出第一电压，并在在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出大于或等于待测部件的供电电压的第二电压，以供微控制单元对待测部件进行测试。本申请根据检测电路两端的电压是否大于或等于预设阈值，来判断待测部件是否已接入测试控制装置，并在检测到待测部件接入测试控制装置后，增大检测电路的输出电压，以对待测部件供电，避免在检测电路的输出电压较大时，将待测部件接入测试控制装置，可以显著减小接入过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而提升了待测部件的良品率。

Description

测试控制装置、方法及微控制单元

技术领域

本发明实施例涉及测试技术领域，特别涉及测试控制装置、方法及微控制单元。

背景技术

在手机零部件的生产过程中，工厂常采用热插拔的方式将IC芯片，半成品及成品模组等待测部件接入测试装置进行测试，以测试IC芯片为例，在测试装置处于上电状态时，测试装置中的微控制单元通过反复地进行读操作，检测IC芯片是否已接入测试装置，在检测到IC芯片已接入测试装置时，由测试装置为IC芯片供电并启动测试流程，以测试IC芯片；在测试流程结束后，再由测试装置中的微控制单元通过反复地进行读操作，检测IC芯片是否已拔出测试装置，待检测到已测试的IC芯片拔出测试装置后，再重复上述操作，不断测试待测部件。

但是，采用热插拔的方式将待测部件接入测试装置，或将待测部件从测试装置中拔出的过程中，会在待测部件内部产生瞬间脉冲，这可能会对待测部件造成不可逆的损坏，进而影响到待测部件的良品率。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种测试控制装置、方法及微控制单元，通过低电压检测到待测部件接入测试控制装置后，增大检测电路的输出电压，以对待测部件供电，避免在检测电路的输出电压较大时，将待测部件接入测试控制装置，可以显著减小接入过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而提升了待测部件的良品率。

为解决上述技术问题，本发明的实施例提供了一种测试控制装置，用于测试外部接入的待测部件，测试控制装置包括：微控制单元、检测电路和采样单元；微控制单元的第一输出端连接于检测电路的输入端，检测电路的输出端用于连接于待测部件，采样单元的第一输入端连接于检测电路的输入端，采样单元的第二输入端连接于检测电路的输出端，采样单元的输出端连接于微控制单元的检测端；微控制单元用于先输出第一电压，并在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出第二电压，以供微控制单元对待测部件进行测试；其中，采样电压为检测电路的输入端和检测电路的输出端之间的电压，第一电压小于待测部件的供电电压，第二电压大于或等于待测部件的供电电压。

本发明的实施例还提供了一种测试控制方法，包括：本发明实施例相对于现有技术而言，应用于测试控制装置中的微控制单元，用于测试外部接入的待测部件，测试控制装置还包括检测电路和采样单元；微控制单元的第一输出端连接于检测电路的输入端，检测电路的输出端用于连接于待测部件，采样单元的第一输入端连接于检测电路的输入端，采样单元的第二输入端连接于检测电路的输出端，采样单元的输出端连接于微控制单元的检测端；方法包括：微控制单元先输出第一电压，并在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出第二电压，以供微控制单元对待测部件进行测试；其中，采样电压为检测电路的输入端和检测电路的输出端之间的电压，第一电压小于待测部件的供电电压，第二电压大于或等于待测部件的供电电压。

本发明的实施例还提供了一种微控制单元，包括：至少一个处理器；以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行上述测试控制方法。

本发明实施例相对于相关技术而言，微控制单元会先默认输出会使检测电路的输出端的电压小于待测部件的供电电压的第一电压，此时先不为待测部件供电，由采样单元先采集检测电路两端的电压作为采样电压，当待测部件未接入测试控制装置时，具体是当待测部件未连接于检测电路的输出端时，检测电路的输出端处于开路状态，可以认为检测电路的阻值为无穷大，此时采样电压是小于预设阈值的；当待测部件接入测试控制装置时，检测电路的输出端不再处于开路状态，可以认为检测电路的阻值不再是无穷大，此时采样电压会大于或等于预设阈值，微控制单元在判定采样电压大于或等于预设阈值时会输出第二电压，第二电压会使检测电路的输出端的电压大于或等于待测部件的供电电压，以对待测部件供电，进而使微控制单元可以启动测试流程，对待测部件进行测试。本申请设置通过在微控制单元输出不足以对待测部件供电的电压时，根据检测电路两端的电压是否大于或等于预设阈值，来判断待测部件是否已接入测试控制装置，并在判定待测部件已接入测试控制装置后，再由微控制单元输出足以对待测部件供电的电压，以对待测部件进行供电，相较于相关技术中，在测试控制装置输出足以对待测部件供电的电压时，将待测部件接入测试控制装置，进而会在待测部件内部产生瞬间脉冲，本申请可以有效减小将待测部件接入测试控制装置的过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而可以尽可能地避免待测部件出现不可逆的损坏，可以在一定程度上提高待测部件的良品率。

另外，检测电路包括第一开关管、第二开关管、第一电阻和第二电阻；第一开关管的第一端作为检测电路的输入端，第一开关管的第二端连接于第一电阻的第一端，第一电阻的第二端作为检测电路的输出端，第二开关管的第一端连接于第一开关管的第一端，第二开关管的第二端连接于第二电阻的第一端，第二电阻的第二端连接于第一电阻的第二端，第一开关管的第三端连接于微控制单元的第二输出端，第二开关管的第三端连接于微控制单元的第三输出端；其中，第一电阻的阻值远大于第二电阻的阻值；微控制单元还用于先向第一开关管输出第三电压，向第二开关管输出第四电压，并在在判定采样电压大于或等于预设阈值时，向第一开关管输出第五电压，并向第二开关管输出第六电压；其中，第三电压大于或等于第一开关管的导通电压，第四电压小于第二开关管的导通电压，第五电压小于第一开关管的导通电压，第六电压大于或等于第二开关管的导通电压。本实施例中，检测电路包括两条支路，分别是第一开关管所在的支路和第二开关管所在的支路，在待测部件接入测试控制装置的过程中，通过第一开关管所在的支路与待测部件连接，由于第一开关管所在的支路的第一电阻的阻值较大(远大于第二电阻的阻值)，故检测电路能够与待测部件(第一电压下不工作，高阻态)形成串联电路并产生一个容易被采样电路捕捉的电压；在待测部件已接入测试控制装置后，会由微控制单元输出第二电压，以对待测部件供电，此时通过第二开关管所在的支路与待测部件(第二电压下工作，低阻态)连接，由于第二开关管所在的支路的第二电阻阻值较小(远小于第一电阻的阻值)，采样单元可以实时监控检测电路两端的电压，在判断待测部件是否出现大电流异常的同时，也不影响待测部件的正常工作。

另外，测试控制装置还包括第一转换单元和第二转换单元；微控制单元的第二输出端通过第一转换单元连接于第一开关管的第三端，微控制单元的第三输出端通过第二转换单元连接于第二开关管的第三端；第一转换单元用于将微控制单元输出的电压，转换为第三电压或第五电压输出；第二转换单元用于将微控制单元输出的电压，转换为第四电压或第六电压输出。本实施例中，第一转换单元和第二转换单元均可以将微控制单元输出的第一电压和第二电压，分别转化为能够导通第一开关管或第二开关管的电压，和不能导通第一开关管或第二开关管的电压，则对微控制单元输出的电压的电压范围要求会相对变松。

另外，第一转换单元具体包括电源、电容、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6和放大器；电容的第一端接地，电容的第二端连接于电源的输出端，电容的第二端还连接于第三电阻R3的第一端，第三电阻R3的第二端分别连接于放大器的反相输入端和第四电阻R4的第一端，第四电阻R4的第二端连接于放大器的输出端，第五电阻R5的第一端作为第一转换单元的输入端，第五电阻R5的第二端分别连接于放大器的同相输入端和第六电阻R6的第一端，第六电阻R6的第二端接地，放大器的输出端作为第一转换单元的输出端；电源用于输出恒定电压Vs；放大器用于输出转换电压Vo；其中，

V_dac为微控制单元向第一转换单元输出的电压。本实施例中，提供了第一转换单元的一种具体实现形式。

另外，第一开关管和第二开关管均为MOS管；第一开关管的第一端为MOS管的源极或漏极，第一开关管的第二端为MOS管的漏极或源极，第一开关管的第三端为MOS管的栅极；第二开关管的第一端为MOS管的源极或漏极，第二开关管的第二端为MOS管的漏极或源极，第二开关管的第三端为MOS管的栅极。

另外，微控制单元的通信端用于连接于待测部件的通信端；微控制单元用于在输出第二电压后，通过微控制单元的通信端与待测部件的通信端传输数据。

另外，测试控制装置还包括第三转换单元，微控制单元的通信端用于通过第三转换单元连接于待测部件的通信端；第三转换单元用于将微控制单元输出的数据，转换为待测部件可接收到的数据后，输出给待测部件；将待测部件输出的数据，转换为微控制单元可接收到的数据后，输出给微控制单元。

另外，第三转换单元的供电端连接与微控制单元的第四输出端；微控制单元用于在向检测电路输出第一电压时，禁止向第三转换单元输出大于或等于第三转换单元的供电电压的电压。本实施例中，在微控制单元还未对待测部件供电，但待测部件的通信端已连接于第三转换单元时，若启动第三转换单元开始工作，则可能会使待测部件内部器件出现电流倒灌现象，进而会损坏待测部件，故设置微控制单元在微控制单元未对待测部件供电时，禁止向第三转换单元供电，有效保证了待测部件的安全。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是根据一个实施例中的测试控制装置的方框示意图一；

图2是根据一个实施例中的测试控制装置的方框示意图二；

图3是根据一个实施例中的测试控制装置中的第一转换单元的电路图；

图4是根据一个实施例中的测试控制装置的方框示意图三；

图5是根据一个实施例中的测试控制方法的流程图；

图6是根据一个实施例中的微控制单元的方框示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本发明的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。

本发明的一个实施例涉及一种测试控制装置，用于测试外部接入的待测部件，请参考图1，测试控制装置包括：微控制单元1、检测电路2和采样单元3，微控制单元1的第一输出端101连接于检测电路2的输入端201，检测电路2的输出端202用于连接于待测部件4，采样单元3的第一输入端301连接于检测电路2的输入端201，采样单元3的第二输入端302连接于检测电路2的输出端202，采样单元3的输出端303连接于微控制单元1的检测端102。

微控制单元1会先默认输出第一电压，并在判定采样单元3输出的采样电压大于或等于预设阈值时，输出第二电压，以供微控制单元1对待测部件4进行测试。

其中，采样电压为检测电路2的输入端201和检测电路2的输出端202之间的电压，第一电压小于待测部件4的供电电压，第二电压大于或等于待测部件4的供电电压，在一个实施例中，微控制单元1输出第一电压时，检测电路2的输出端202的电压小于待测部件4的供电电压，微控制单元1输出第二电压时，检测电路2的输出端202的电压大于或等于待测部件4的供电电压。

本实施例中，微控制单元会先默认输出会使检测电路的输出端的电压小于待测部件的供电电压的第一电压，此时先不为待测部件供电，由采样单元先采集检测电路两端的电压作为采样电压，当待测部件未接入测试控制装置时，具体是当待测部件未连接于检测电路的输出端时，检测电路的输出端处于开路状态，可以认为检测电路的阻值为无穷大，此时采样电压是小于预设阈值的；当待测部件接入测试控制装置时，检测电路的输出端不再处于开路状态，可以认为检测电路的阻值不再是无穷大，此时采样电压会大于或等于预设阈值，微控制单元在判定采样电压大于或等于预设阈值时会输出第二电压，第二电压会使检测电路的输出端的电压大于或等于待测部件的供电电压，以对待测部件供电，进而使微控制单元可以启动测试流程，对待测部件进行测试。本申请设置通过在微控制单元输出不足以对待测部件供电的电压时，根据检测电路两端的电压是否大于或等于预设阈值，来判断待测部件是否已接入测试控制装置，并在判定待测部件已接入测试控制装置后，再由微控制单元输出足以对待测部件供电的电压，以对待测部件进行供电，相较于相关技术中，在测试控制装置输出足以对待测部件供电的电压时，将待测部件接入测试控制装置，进而会在待测部件内部产生瞬间脉冲，本申请可以有效减小将待测部件接入测试控制装置的过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而可以尽可能地避免待测部件出现不可逆的损坏，可以在一定程度上提高待测部件的良品率。

具体地，当待测部件4未接入测试控制装置时，具体是当待测部件4未连接于检测电路2的输出端202时，检测电路2处于开路状态，可以认为检测电路2的阻值为无穷大，此时采样电压是小于预设阈值的，微控制单元1会在判定采样单元3输出的采样电压小于预设阈值时，输出不足以对待测部件4供电的电压，进一步地，这个电压可以尽可能地小，以避免在待测部件4接入测试控制装置的过程中，检测电路2的输出端202的电压过大，而使得待测部件4产生瞬间脉冲，进而损坏待测部件4。

当待测部件4接入测试控制装置时，检测电路2不再处于开路状态，可以认为检测电路2的阻值不再是无穷大，此时采样电压会大于或等于预设阈值，微控制单元1会在判定采样单元3输出的采样电压大于或等于预设阈值时，输出足以对待测部件4供电的电压，以供微控制单元1对待测部件4进行测试。

在一个实施例中，请参考图2，检测电路2包括第一开关管21、第二开关管22、第一电阻R1和第二电阻R2。

第一开关管21的第一端211作为检测电路2的输入端201，第一开关管21的第二端212连接于第一电阻R1的第一端，第一电阻R1的第二端作为检测电路2的输出端202，第二开关管22的第一端221连接于第一开关管21的第一端211，第二开关管22的第二端222连接于第二电阻R2的第一端，第二电阻R2的第二端连接于第一电阻R1的第二端，第一开关管21的第三端213连接于微控制单元1的第二输出端103，第二开关管22的第三端223连接于微控制单元1的第三输出端104；其中，第一电阻R1的阻值远大于第二电阻R2的阻值。

具体地，图2中的第一开关管21和第二开关管22均为MOS管，第一开关管21的第一端211为MOS管的源极或漏极，第一开关管21的第二端212为MOS管的漏极或源极，第一开关管21的第三端213为MOS管的栅极，第二开关管22的第一端221为MOS管的源极或漏极，第二开关管22的第二端222为MOS管的漏极或源极，第二开关管22的第三端223为MOS管的栅极。

微控制单元1会默认先向第一开关管21输出第三电压，具体地，向第一开关管21输出大于或等于第一开关管21的导通电压的电压，使第一开关管21处于导通状态，向第二开关管22输出第四电压，具体地，向第二开关管22输出小于第二开关管22的导通电压的电压，使第二开关管22处于关断状态。

微控制单元1还会在判定采样电压大于或等于预设阈值时，向第一开关管输出第五电压，即，向第一开关管21输出小于第一开关管21的导通电压的电压，使第一开关管21处于关断状态；并向第二开关管22输出第六电压，即，向第二开关管22输出大于或等于第二开关管22的导通电压的电压，使第二开关管22处于导通状态。

本实施例中，检测电路包括两条支路，分别是第一开关管所在的支路和第二开关管所在的支路，在待测部件接入测试控制装置的过程中，通过第一开关管所在的支路与待测部件连接，由于第一开关管所在的支路的第一电阻的阻值较大(远大于第二电阻的阻值)，故检测电路能够与待测部件(第一电压下不工作，高阻态)形成串联电路并产生一个容易被采样电路捕捉的电压；在待测部件已接入测试控制装置后，会由微控制单元输出第二电压，以对待测部件供电，此时通过第二开关管所在的支路与待测部件(第二电压下工作，低阻态)连接，由于第二开关管所在的支路的第二电阻阻值较小(远小于第一电阻的阻值)，采样单元可以实时监控检测电路两端的电压，在判断待测部件是否出现大电流异常的同时，也不影响待测部件的正常工作。

在一个实施例中，在图2对应的实施例的基础上，测试控制装置还包括第一转换单元5和第二转换单元6。

微控制单元1的第二输出端103通过第一转换单元5连接于第一开关管21的第三端213，微控制单元1的第二输出端103连接于第一转换单元5的输入端501，第一转换单元5的输出端502连接于第一开关管21的第三端213，微控制单元1的第三输出端104通过第二转换单元6连接于第二开关管22的第三端223，微控制单元1的第三输出端104连接于第二转换单元6的输入端601，第二转换单元5的输出端602连接于第二开关管22的第三端223。

微控制单元1具体会在判定采样电压小于预设阈值时，分别向第一转换单元5和第二转换单元6输出电压，第一转换单元5会将获取的电压，转换为第三电压输出到第一开关管21，具体地，转换为大于或等于第一开关管21的导通电压输出到第一开关管21的第三端213，以控制第一开关管21导通，第二转换单元6会将获取的电压，转换为第四电压输出到第二开关管22，具体地，转换为小于第二开关管22的导通电压输出到第二开关管22的第三端223，以控制第二开关管22关断，其中，第一开关管21和第二开关管22的导通电压可以相等，也可以不相等。

微控制单元1还会在判定采样电压大于或等于预设阈值时，分别向第一转换单元5和第二转换单元6输出电压，第一转换单元5会将获取的电压，转换为第五电压输出到第一开关管21，具体地，转换为小于第一开关管21的导通电压输出到第一开关管21的第三端213，以控制第一开关管21关断，第二转换单元6会将获取的电压，转换为第六电压输出到第二开关管22，具体地，转换为大于或等于第二开关管22的导通电压输出到第二开关管22的第三端223，以控制第二开关管22导通。

在一个实施例中，请参考图3，第一转换单元5具体包括电源51、电容C、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6和放大器52。

电容C的第一端接地，电容C的第二端连接于电源51的输出端511，电容C的第二端还连接于第三电阻R3的第一端，第三电阻R3的第二端分别连接于放大器52的反相输入端522和第四电阻R4的第一端，第四电阻R4的第二端连接于放大器52的输出端523，第五电阻R5的第一端作为第一转换单元5的输入端501，第五电阻R5的第二端分别连接于放大器52的同相输入端521和第六电阻R6的第一端，第六电阻R6的第二端接地，放大器52的输出端523作为第一转换单元5的输出端502。

电源51会输出恒定电压Vs，放大器52会如下公式计算出的输出转换电压Vo：

其中，V_dac为微控制单元向第一转换单元5输出的电压。

举例来说，若控制电源51输出Vs＝1.0V，V_dac的输出范围为0～3.3V，R3＝R4＝R5＝R6＝1KΩ，则根据上述公式，可以得到：Vo＝V_dac-Vs，Vo的输出范围为-1.0V～2.3V，可见，第一转换单元5可以将微控制单元1输出的0～3.3V的电压，转换为-1.0V～2.3V的电压输出到第一开关管21的第三端213。在一个实施例中，第二转换单元6具有与第一转换单元5相同的结构与原理。

在一个实施例中，具体地，可以通过控制微控制单元1输出的第二电压，来控制第一转换单元5转换得到的输出电压Vo小于0。在第一开关管5处于导通状态时，若要关断第一开关管5，相较于向第一开关管21的第三端213输出小于第一开关管21的导通电压但大于0的电压，直接输出小于0的负电压，可以更快地关断第一开关管21，以在需要切换检测电路2的两条检测支路时，能够更快地进行切换。

在本实施例中，微控制单元会先默认输出会使检测电路的输出端的电压小于待测部件的供电电压的第一电压，此时先不为待测部件供电，由采样单元先采集检测电路两端的电压作为采样电压，当待测部件未接入测试控制装置时，具体是当待测部件未连接于检测电路的输出端时，检测电路的输出端处于开路状态，可以认为检测电路的阻值为无穷大，此时采样电压是小于预设阈值的；当待测部件接入测试控制装置时，检测电路的输出端不再处于开路状态，可以认为检测电路的阻值不再是无穷大，此时采样电压会大于或等于预设阈值，微控制单元在判定采样电压大于或等于预设阈值时会输出第二电压，第二电压会使检测电路的输出端的电压大于或等于待测部件的供电电压，以对待测部件供电，进而使微控制单元可以启动测试流程，对待测部件进行测试。本申请设置通过在微控制单元输出不足以对待测部件供电的电压时，根据检测电路两端的电压是否大于或等于预设阈值，来判断待测部件是否已接入测试控制装置，并在判定待测部件已接入测试控制装置后，再由微控制单元输出足以对待测部件供电的电压，以对待测部件进行供电，相较于相关技术中，在测试控制装置输出足以对待测部件供电的电压时，将待测部件接入测试控制装置，进而会在待测部件内部产生瞬间脉冲，本申请可以有效减小将待测部件接入测试控制装置的过程中在待测部件内部产生的瞬间脉冲，进而可以尽可能地避免待测部件出现不可逆的损坏，可以在一定程度上提高待测部件的良品率。

本发明的另一个实施例涉及一种测试控制装置，请参考图4，微控制单元1的通信端105用于连接于待测部件4的通信端401，图4中以微控制单元1的通信端105已与待测部件4的通信端41连接为例进行示出，微控制单元1会在输出第二电压后，即，在由微控制单元1为待测部件4供电时，通过微控制单元1的通信端105与待测部件4的通信端401传输数据。

在一个实施例中，请参考图4，测试控制装置还包括第三转换单元7，微控制单元1的通信端105用于通过第三转换单元7连接于待测部件4的通信端401，图4中以第三转换单元7的第二端702已与待测部件4的通信端401连接为例进行示出。

第三转换单元7会将微控制单元1输出的数据，转换为待测部件4可接收到的数据后，输出给待测部件；还可以将待测部件4输出的数据，转换为微控制单元1可接收到的数据，输出给微控制单元，具体地，将微控制单元1输出的数据的电压，调整到待测部件4可接收到的数据的电压范围，并将待测部件4输出的数据的电压，调整到微控制单元1可接收到的数据的电压范围，以使微控制单元1和待测部件4之间可以传输数据，进而微控制单元1可以对待测部件4的各种性能进行测试，并获取到测试数据。

在一个实施例中，第三转换单元7的供电端703连接与微控制单元1的第四输出端106。

微控制单元1会在向检测电路2输出第一电压时，向第三转换单元7输出不足以为第三转换单元7供电的电压，在向检测电路2输出第二电压时，向第三转换单元7输出足以为第三转换单元7供电的电压，以对第三转换单元7供电。可见，微控制单元1在未对待测部件4供电时，也不对第三转换单元7进行供电；在对待测部件4供电时，才对第三转换单元7进行供电，使第三转换单元7处于工作状态。

本实施例中，在微控制单元还未对待测部件供电，但待测部件的通信端已连接于第三转换单元时，若启动第三转换单元开始工作，则可能会使待测部件内部器件出现电流倒灌现象，进而会损坏待测部件，故设置微控制单元在微控制单元未对待测部件供电时，禁止向第三转换单元供电，有效保证了待测部件的安全。

上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包括相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。

本发明一个实施例涉及一种测试控制方法，应用于测试控制装置中的微控制单元，用于测试外部接入的待测部件，测试控制装置还包括检测电路和采样单元，微控制单元的第一输出端连接于检测电路的输入端，检测电路的输出端用于连接于待测部件，采样单元的第一输入端连接于检测电路的输入端，采样单元的第二输入端连接于检测电路的输出端，采样单元的输出端连接于微控制单元的检测端。

本实施例的测试控制方法的流程图请参考图5。

步骤501，输出第一电压。

步骤502，判断采样单元输出的采样电压是否大于或等于预设阈值，若是，则进入步骤503；若不是，则回到步骤502。

步骤503，输出第二电压。

不难发现，本实施例为与图1对应的实施例相对应的方法实施例，本实施例可与与图1对应的实施例互相配合实施。与图1对应的实施例中提到的相关技术细节在本实施例中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施例中提到的相关技术细节也可应用在与图1对应的实施例中。

值得一提的是，本实施例中所涉及到的各模块可以均为逻辑模块，在实际应用中，一个逻辑单元可以是一个物理单元，也可以是一个物理单元的一部分，还可以以多个物理单元的组合实现。此外，为了突出本发明的创新部分，本实施例中并没有将与解决本发明所提出的技术问题关系不太密切的单元引入，但这并不表明本实施例中不存在其它的单元。

本发明一个实施例涉及一种微控制单元，如图6所示，包括至少一个处理器601；以及，与至少一个处理器601通信连接的存储器602；其中，存储器602存储有可被至少一个处理器601执行的指令，指令被至少一个处理器601执行，以使至少一个处理器601能够执行上述测试控制方法。

其中，存储器和处理器采用总线方式连接，总线可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线将一个或多个处理器和存储器的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如***设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件，也可以是多个元件，比如多个接收器和发送器，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器处理的数据通过天线在无线介质上进行传输，进一步，天线还接收数据并将数据传送给处理器。

处理器负责管理总线和通常的处理，还可以提供各种功能，包括定时，***接口，电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器可以被用于存储处理器在执行操作时所使用的数据。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施例是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (9)

1.一种测试控制装置，其特征在于，用于测试外部接入的待测部件，所述测试控制装置包括：微控制单元、检测电路和采样单元；

所述微控制单元的第一输出端连接于所述检测电路的输入端，所述检测电路的输出端用于连接于所述待测部件，所述采样单元的第一输入端连接于所述检测电路的输入端，所述采样单元的第二输入端连接于所述检测电路的输出端，所述采样单元的输出端连接于所述微控制单元的检测端；

所述微控制单元用于先输出第一电压，并在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出第二电压，以供所述微控制单元对所述待测部件进行测试；

其中，所述采样电压为所述检测电路的输入端和所述检测电路的输出端之间的电压，所述第一电压小于所述待测部件的供电电压，所述第二电压大于或等于所述待测部件的供电电压；

所述检测电路包括第一开关管、第二开关管、第一电阻和第二电阻；

所述第一开关管的第一端作为所述检测电路的输入端，所述第一开关管的第二端连接于所述第一电阻的第一端，所述第一电阻的第二端作为所述检测电路的输出端，所述第二开关管的第一端连接于所述第一开关管的第一端，所述第二开关管的第二端连接于所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端连接于所述第一电阻的第二端，所述第一开关管的第三端连接于所述微控制单元的第二输出端，所述第二开关管的第三端连接于所述微控制单元的第三输出端；其中，所述第一电阻的阻值远大于所述第二电阻的阻值；

所述微控制单元还用于先向所述第一开关管输出第三电压，向所述第二开关管输出第四电压，并在判定所述采样电压大于或等于所述预设阈值时，向所述第一开关管输出第五电压，并向所述第二开关管输出第六电压；

其中，所述第三电压大于或等于所述第一开关管的导通电压，所述第四电压小于所述第二开关管的导通电压，所述第五电压小于所述第一开关管的导通电压，所述第六电压大于或等于所述第二开关管的导通电压。

2.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述测试控制装置还包括第一转换单元和第二转换单元；

所述微控制单元的第二输出端通过所述第一转换单元连接于所述第一开关管的第三端，所述微控制单元的第三输出端通过所述第二转换单元连接于所述第二开关管的第三端；

所述第一转换单元用于将所述微控制单元输出的电压，转换为所述第三电压或所述第五电压输出；

所述第二转换单元用于将所述微控制单元输出的电压，转换为所述第四电压或所述第六电压输出。

3.根据权利要求2所述的测试控制装置，其特征在于，所述第一转换单元具体包括电源、电容、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6和放大器；

所述电容的第一端接地，所述电容的第二端连接于所述电源的输出端，所述电容的第二端还连接于所述第三电阻R3的第一端，所述第三电阻R3的第二端分别连接于所述放大器的反相输入端和所述第四电阻R4的第一端，所述第四电阻R4的第二端连接于所述放大器的输出端，所述第五电阻R5的第一端作为所述第一转换单元的输入端，所述第五电阻R5的第二端分别连接于所述放大器的同相输入端和所述第六电阻R6的第一端，所述第六电阻R6的第二端接地，所述放大器的输出端作为所述第一转换单元的输出端；

所述电源用于输出恒定电压Vs；

所述放大器用于输出转换电压Vo；其中，

V_dac为所述微控制单元向所述第一转换单元输出的电压，其中，R1为第一电阻，R2为第二电阻。

4.根据权利要求2或3所述的测试控制装置，其特征在于，所述第一开关管和所述第二开关管均为MOS管；

所述第一开关管的第一端为所述MOS管的源极或漏极，所述第一开关管的第二端为所述MOS管的漏极或源极，所述第一开关管的第三端为所述MOS管的栅极；

所述第二开关管的第一端为所述MOS管的源极或漏极，所述第二开关管的第二端为所述MOS管的漏极或源极，所述第二开关管的第三端为所述MOS管的栅极。

5.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述微控制单元的通信端用于连接于所述待测部件的通信端；

所述微控制单元用于在输出所述第二电压后，通过所述微控制单元的通信端与所述待测部件的通信端传输数据。

6.根据权利要求5所述的测试控制装置，其特征在于，还包括第三转换单元，所述微控制单元的通信端用于通过所述第三转换单元连接于所述待测部件的通信端；

所述第三转换单元用于将所述微控制单元输出的数据，转换为所述待测部件可接收到的数据后，输出给所述待测部件；将所述待测部件输出的数据，转换为所述微控制单元可接收到的数据后，输出给所述微控制单元。

7.根据权利要求6所述的测试控制装置，其特征在于，所述第三转换单元的供电端连接与所述微控制单元的第四输出端；

所述微控制单元用于在向所述检测电路输出所述第一电压时，禁止向所述第三转换单元输出大于或等于所述第三转换单元的供电电压的电压。

8.一种测试控制方法，其特征在于，应用于测试控制装置中的微控制单元，用于测试外部接入的待测部件，所述测试控制装置还包括检测电路和采样单元；

所述微控制单元的第一输出端连接于所述检测电路的输入端，所述检测电路的输出端用于连接于所述待测部件，所述采样单元的第一输入端连接于所述检测电路的输入端，所述采样单元的第二输入端连接于所述检测电路的输出端，所述采样单元的输出端连接于所述微控制单元的检测端；所述检测电路包括第一开关管、第二开关管、第一电阻和第二电阻；所述第一开关管的第一端作为所述检测电路的输入端，所述第一开关管的第二端连接于所述第一电阻的第一端，所述第一电阻的第二端作为所述检测电路的输出端，所述第二开关管的第一端连接于所述第一开关管的第一端，所述第二开关管的第二端连接于所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端连接于所述第一电阻的第二端，所述第一开关管的第三端连接于所述微控制单元的第二输出端，所述第二开关管的第三端连接于所述微控制单元的第三输出端；其中，所述第一电阻的阻值远大于所述第二电阻的阻值；

所述方法包括：

先输出第一电压，并在判定采样电压大于或等于预设阈值时，输出第二电压，以供所述微控制单元对所述待测部件进行测试；

其中，所述采样电压为所述检测电路的输入端和所述检测电路的输出端之间的电压，所述第一电压小于所述待测部件的供电电压，所述第二电压大于或等于所述待测部件的供电电压；

向所述第一开关管输出第三电压，向所述第二开关管输出第四电压，并在判定所述采样电压大于或等于所述预设阈值时，向所述第一开关管输出第五电压，并向所述第二开关管输出第六电压；

其中，所述第三电压大于或等于所述第一开关管的导通电压，所述第四电压小于所述第二开关管的导通电压，所述第五电压小于所述第一开关管的导通电压，所述第六电压大于或等于所述第二开关管的导通电压。

9.一种微控制单元，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求8所述的测试控制方法。

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