CN113010004A - 异常耗电处理方法、装置和电子设备 - Google Patents

异常耗电处理方法、装置和电子设备 Download PDF

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CN113010004A CN202110291382.8A CN202110291382A CN113010004A CN 113010004 A CN113010004 A CN 113010004A CN 202110291382 A CN202110291382 A CN 202110291382A CN 113010004 A CN113010004 A CN 113010004A
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Abstract

本申请公开了一种异常耗电处理方法、装置和电子设备，属于电子控制领域。该方法包括：满足预设条件时，获取至少三个采样电压；根据采样电压，确定***电压的变化率参数；在变化率参数指示***电流超过预设门限电流值时，对耗电异常的模块进行降低耗电处理；本申请中，***电压的变化率参数反映一段时间内***电压的变化，进而反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值时，可降低模块耗电。由于预设门限电流值小于过流及结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过过流及结温保护门限电流值时，便可降低耗电，从而在***触发过流或结温保护之前，提前降低耗电，避免造成直接关机的情况。

Description

异常耗电处理方法、装置和电子设备
技术领域
本申请属于电子控制领域，具体涉及一种异常耗电处理方法、装置和电子设备。
背景技术
在使用电子设备的过程中，会出现***电流很高的情况，例如某些器件异常导致高耗电，启动大型游戏等，此类场景容易导致***电流过高，或是引起耗电器件的结温超标。在实际应用中，电子设备通常具有过流保护(Over Current Protection，OCP)功能，当***的瞬时电流过大，超过过流保护门限电流值，一定响应时间后，若电流持续超标，***就会关机，以保护电子设备的器件。此外，电流过大时，易导致器件的结温超标，造成器件损坏，因此，有些电子设备具有结温保护功能，以在***电流超过结温保护门限电流值而导致器件结温超标时，通过关机进行器件保护。
电池电量较低时，如果有较大电流的负载，会导致本来就很低的电池电压跌落到电池电压关机点之下，造成***未及时提醒用户就异常关机，对用户使用造成不便。目前，大型软件的瞬时电流越来越高，导致突然关机的发生概率也越来越高，而在低温环境下，电池的内阻增大，这种情况更容易触发。
发明内容
本申请实施例的目的是提供一种异常耗电处理方法、装置和电子设备，能够解决***电流过大或结温超标时，容易突然自动关机的问题。
为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：
第一方面，本申请实施例提供了一种异常耗电处理方法，该方法包括：
在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作；
其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
第二方面，本申请实施例提供了一种异常耗电处理的装置，该装置包括：
获取模块，用于在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
第一确定模块，用于根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
第二确定模块，用于在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
处理模块，用于对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作；
其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的方法。
在本申请实施例中，在满足预设条件的情况下，电子设备可以获取***电压对应的至少三个采样电压，然后根据至少三个采样电压，确定***电压的变化率参数，并在变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，进而对目标模块执行对应的降低耗电处理操作。在本申请实施例中，***电压的变化率参数可以反映一段时间内***电压的变化，而一段时间内***电压的变化可以反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，电子设备可以对引起耗电异常的目标模块进行降低耗电的处理，从而使***电流恢复至预设门限电流值以下。另外，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过电子设备的过流保护门限电流值及结温保护门限电流值时，电子设备便可以进行降低耗电处理，从而可以在***触发过流或结温保护功能之前，提前降低耗电，以避免过流或结温保护功能的触发造成直接关机的情况。
附图说明
图1是本申请实施例提供的一种异常耗电处理方法的流程图；
图2是本申请实施例提供的另一种异常耗电处理方法的流程图；
图3是本申请实施例提供的一种对***电压进行采样的示意图；
图4是本申请实施例提供的一种对闪光灯执行降低耗电处理操作的示意图；
图5是本申请实施例提供的一种对CPU执行降低耗电处理操作的示意图；
图6是本申请实施例提供的一种实现异常耗电处理的电路示意图；
图7是本申请实施例提供的一种异常耗电处理装置的结构框图；
图8是本申请实施例提供的一种电子设备的结构框图；
图9是本申请实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的异常耗电处理方法进行详细地说明。
参见图1，本申请一实施例提供了一种异常耗电处理方法，该异常耗电处理方法包括：
步骤101，在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压。
在本申请实施例中，预设条件可以是电子设备执行获取***电压对应的至少三个采样电压的操作的触发条件，在满足预设条件的情况下，电子设备可以对***电压进行至少三次采样，从而获取到***电压对应的至少三个采样电压。其中，采样方式可以是周期性采样。例如，T为一个采样周期，可以每间隔时间T采集一个采样电压，采集2T的时间，获得3个采样电压，则2T即为一个检测周期。再例如，可以每间隔时间T采集一个采样电压，采集4T的时间，获得4个采样电压，则3T即为一个检测周期。
根据至少三个采样电压判断***电流是否超过预设门限电流值，可以防止***电流短时间波动而造成降低耗电处理操作的误触发。
步骤102，根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数。
在本申请实施例中，采样电压，也即瞬时的***电压，可以反映瞬时的***电流，采样电压随时间的变化率，也即采样电压随时间变化的斜率，可以反映***电流在一段时间内的变化量，综合瞬时的***电压，以及***电压的变化量，能够确定***电流的情况。因此，***电压的变化率参数可以反映***电流的情况。
步骤103，在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
在本申请实施例中，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，若***电流只是超过预设门限电流值，则说明***电流的增大还达不到触发过流保护或结温保护的条件，此时，可以确定引起耗电异常的目标模块。
在实际应用中，***中可以提前预存各个模块能够正常工作的需求电流，当检测到某个模块的***电流超过该模块对应的需求电流时，可以确定该模块耗电异常。其中，模块可以是电子设备中的功能模块或实体模块，本申请实施例对此不作具体限定。
步骤104，对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作。
在本申请实施例中，对于不同的模块，可以预设不同的降低耗电处理操作，从而可以对目标模块执行对应的降低耗电处理操作。例如，对于异常耗电的闪光灯，可以采用降低闪光灯电流的方式降低耗电，又例如，对于异常耗电的中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)，可以采用降低CPU时钟频率的方式降低耗电，再例如，对于异常耗电的扬声器，可以采用降低扬声器音量的方式降低耗电，本申请实施例对此不作具体限定。
在本申请实施例中，***电压的变化率参数可以反映一段时间内***电压的变化，而一段时间内***电压的变化可以反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，电子设备可以对引起耗电异常的目标模块进行降低耗电的处理，从而使***电流恢复至预设门限电流值以下。另外，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过电子设备的过流保护门限电流值及结温保护门限电流值时，电子设备便可以进行降低耗电处理，从而可以在***触发过流或结温保护功能之前，提前降低耗电，以避免过流或结温保护功能的触发造成直接关机的情况。
可选地，参照图2，步骤102可以具体包括以下步骤：
步骤1021：确定所述预设门限电流值对应的电压到第一采样电压的目标电压变化率；
步骤1022：确定第二采样电压到所述第一采样电压的第一电压变化率；
步骤1023：在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率；
其中，所述第一采样电压为所述至少三个采样电压中采样时刻最早的采样电压，所述第二采样电压为所述至少三个采样电压中除所述第一采样电压之外采样时刻最早的采样电压。
可以理解的是，在本申请实施例中，变化率是指某物理量相对于时间的变化率，例如电压变化率是指电压相对于时间的变化率。
在步骤1021中，由于P＝UI，因此，根据***的输出功率P，可以确定***电流等于预设门限电流值I0时对应的电压U0，然后可以在第一采样电压U1大于预设门限电流值I0对应的电压U0的情况下，确定预设门限电流值I0对应的电压U0到第一采样电压U1的目标电压变化率i0，其中，i0＝(U0-U1)/T，T为一个采样周期。在本申请实施例中，i0＜0，因为，若i0≥0，则U0≥U1，则I0≤I1，I1为第一采样电压U1对应的电流，I0≤I1也即第一采样电压U1对应的电流大于或等于预设门限电流值，也就是***电流超过预设门限电流值的情况，而这种情况将会在上一个检测周期被检测出，从而通过降低耗电处理操作将电流控制在预设门限电流值，因此，在每个检测周期内，i0是小于0的。
在时间T内，不同的第一采样电压变化到预设门限电流值对应的电压，***所允许增大的电流是不同的，也就是说，第一采样电压较低时，电流增大的多一些也不会超过预设门限电流值，而第一采样电压较高时，电流只增大一点可能就会超过预设门限电流值。因此，对于不同的第一采样电压，可以确定出不同的目标电压变化率，该目标电压变化率可以作为一个标准值，当经过时间T，第一采样电压变化为第二采样电压，就可以将第二采样电压到第一采样电压的电压变化率与该标准值进行对比，以确定***电压的真实变化量是否超过***电压所允许的变化量，进而就能够确定***电流的真实变化量是否超过了***电流所允许的变化量。
在步骤1022中，可以确定第二采样电压U2到第一采样电压U1的第一电压变化率i1，其中，i1＝(U2-U1)/T。
在步骤1023中，当第一电压变化率i1小于目标电压变化率i0时，对于第二采样电压U2之后的每个第三采样电压，可以确定每个第三采样电压分别到各自前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率。
参照图3，对于曲线U1-U2-U3-U4，第二采样电压U2之后的第三采样电压包括U3和U4，在i0＜0的基础上，当第一电压变化率i1小于目标电压变化率i0时，说明在U1变化到U2的时间T内，***电压降低了较多，而***电流升高了较多，已超过预设门限电流值I0，因此，可以继续确定U3到U2的电压变化率i2，以及U4到U3的电压变化率i3，以确定***电流在一个检测周期内是否能够回落至预设门限电流值I0以下，若能够回落，则可以排除***的瞬时电流偶然过大的情况，其中，i2＝(U3-U2)/T，i3＝(U4-U3)/T。
相应地，参照图2，步骤103具体可以包括以下步骤：
步骤1031：在每个所述第二电压变化率均小于或等于零的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
在i1＜i0的情况下，也即***电流已超过预设门限电流值I0的情况下，参照图3中所示的曲线U1-U2-U3”，若i2＜0，则说明在接下来的1个采样周期内，***电流在U2基础上继续降低，***电流已连续2个采样周期超过预设门限电流值I0。参照图3中所示的曲线U1-U2-U3’，若i2＝0，则说明在接下来的1个采样周期内，***电流在U2基础上保持不变，***电流已连续2个采样周期超过预设门限电流值I0。
在i1＜i0，且i2≤0的情况下，也即***电流已连续2个采样周期超过预设门限电流值I0的情况下，参照图3中所示的曲线U1-U2-U3”-U4”，若i3＜0，则说明在又接下来的1个采样周期内，***电流在U3”基础上继续降低，***电流已连续3个采样周期超过预设门限电流值I0。参照图3中所示的曲线U1-U2-U3’-U4’，若i3＝0，则说明在又接下来的1个采样周期内，***电流在U3’基础上保持不变，***电流已连续3个采样周期超过预设门限电流值I0。
在***电流已连续至少两个采样周期超过预设门限电流值I0的情况下，可排除***的瞬时电流偶然过大的情况，说明电子设备出现了耗电异常，进而电子设备可以确定引起耗电异常的目标模块。
可选地，参照图2，在步骤1022之后，还包括以下步骤：
步骤1024：在所述第一电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
其中，触发电子设备执行获取***电压对应的至少三个采样电压的操作的预设条件，具体可以包括第一电压变化率大于或等于目标电压变化率。若第二采样电压U2到第一采样电压U1的第一电压变化率i1大于或等于目标电压变化率i0，说明在U1变化到U2的时间T内，***电压升高了，而***电流降低了，第二采样电压U2对应的电流I2低于预设门限电流值I0，此时，电子设备可以确定满足预设条件，并开始一个新的检测周期，开始执行获取***电压对应的至少三个采样电压的操作。如此，可以在确定***电流未超过预设门限电流值时，重新开始一个新的检测周期进行检测，避免***增加更多的过流判断条件，降低了***的运算量。
在实际应用中，在一个新的检测周期开始后，电子设备可以对***电压重新采集至少三个新的采样电压，当然，也可以将最后采集的第三采样电压作为一个新检测周期中的第一采样电压，然后再对***电压采集至少两个新的采样电压，从而组成一个新的检测周期，本申请实施例对此不作具体限定。
可选地，参照图2，在步骤1023之后，还可以包括以下步骤：
步骤1025：对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率。
在i1＜i0的情况下，也即***电流已超过预设门限电流值I0的情况下，参照图3中所示的曲线U1-U2-U3，若U3到U2的i2＞0，则说明在接下来的1个采样周期内，***电流在U2基础上有所降低，***电流出现低于预设门限电流值I0的趋势。此时，电子设备可以继续确定U3到U1的电压变化率i31，以确定在U3到U1的时间2T内，***电流是否超过了预设门限电流值I0。
参照图3中所示的曲线U1-U2-U3-U4，若U4到U3的i3＞0，则说明在又接下来的1个采样周期内，***电流在U3基础上又有所降低，***电流已经连续2个采用周期出现低于预设门限电流值I0的趋势。此时，电子设备可以继续确定U4到U1的电压变化率i41，以确定在U4到U1的时间3T内，***电流是否超过了预设门限电流值I0。
相应地，参照图2，步骤103还可以包括以下步骤：
步骤1032：在每个所述第三电压变化率均小于所述目标电压变化率的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
在i1＜i0，且每个第三采样电压对应的第二电压变化率大于零的情况下，若每个第三电压变化率均小于目标电压变化率i0，***电压升高，说明***电流虽然有所回落，但始终还是超过预设门限电流值I0的，也即是在一个检测周期内，***电流未能回落至预设门限电流值I0以下，此时，电子设备可以确定***电流超过预设门限电流值I0，并确定引起耗电异常的目标模块。
参照图3中所示的曲线U1-U2-U3-U4，U2到U1的i1＜i0，第三采样电压包括U3和U4，U3对应的第二电压变化率为U3到U2的i2，i2＞0，U4对应的第二电压变化率为U4到U3的i3，i3＞0，U3到U1的第三电压变化率为i31，i31＜0，U4到U1的第三电压变化率为i41，i41＜0，因此，U4到U3再到U2的过程中，***电压升高，说明***电流虽然有所回落，但直至U4还是超过预设门限电流值I0的，也即是在U1-U2-U3-U4这一个检测周期内，***电流未能回落至预设门限电流值I0以下，此时，电子设备可以确定***电流超过预设门限电流值I0，并确定引起耗电异常的目标模块。
可选地，参照图2，在步骤1025之后，还可以包括以下步骤：
步骤1026：在所述第三电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
其中，触发电子设备执行获取***电压对应的至少三个采样电压的操作的预设条件，具体可以包括第三电压变化率大于或等于目标电压变化率。参照图3，第三采样电压U3到第一采样电压U1的第三电压变化率i31大于或等于目标电压变化率i0，说明在U1变化到U3的时间2T内，***电压升高了，而***电流降低了，且回落到了预设门限电流值I0以下，此时，电子设备可以确定满足预设条件，并开始一个新的检测周期，开始执行获取***电压对应的至少三个采样电压的操作。如此，可以在确定***电流未超过预设门限电流值时，重新开始一个新的检测周期进行检测，避免***增加更多的过流判断条件，降低了***的运算量。
当然，在实际应用中，为了确保***电流回落到了预设门限电流值I0以下，避免***电流短时间波动造成的影响，可以在至少两个第三电压变化率均大于或等于目标电压变化率的情况下，确定满足预设条件。例如参照图3，在U3到U1的第三电压变化率i31大于或等于目标电压变化率i0的情况下，还可以继续确定U4到U1的第三电压变化率i41是否大于或等于目标电压变化率i0，若是，则可以确定满足预设条件，若否，则可以确定***电流在一个检测周期内仍然未回落至预设门限电流值I0以下，进而可以确定引起耗电异常的目标模块。
在具体应用时，在目标模块为闪光灯的情况下，步骤104具体可以包括：将闪光灯的电流降低至预设电流，其中，预设电流大于或等于闪光灯的最低工作电流，且小于闪光灯的当前工作电流。例如，拍照闪光灯闪光时，单颗发光二极管(Light Emitting Diode，LED)的电流可以达到1.2-1.5A，当确定引起耗电异常的目标模块为闪光灯时，可以将闪光灯从当前工作电流1.5A降低至预设电流0.5A，如图4所示。
在目标模块为CPU的情况下，步骤104具体可以包括：将CPU的时钟频率降低至预设频率，其中，预设频率大于或等于CPU的最低时钟频率，且小于CPU的当前时钟频率。例如，正常配置时，***CPU的时钟频率按照最大值运转，当确定引起耗电异常的目标模块为CPU时，可以控制CPU降频，如图5所示。
进一步可选地，在通过降低耗电处理操作使***电流恢复至预设门限电流值以下的情况下，可以确定满足预设条件，从而再重新开始一个新的检测周期，继续进行异常耗电的检测和处理。例如，参照图5，在通过降低时钟频率的操作使***电流恢复至预设门限电流值以下时，可以将CPU的时钟频率恢复到正常频率，也即最大时钟频率，从而使***CPU的时钟频率继续按照最大值运转。
图6示例性地示出了一种实现异常耗电处理的电路示意图，参照图6，充电集成电路(Integrated Circuit，IC)可以将***电压Vsys输出至***中的各个模块。在本申请实施例中，可以在充电IC与运算模块之间增加电压比较器，电压比较器的输出信号可以直接反馈给微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)或CPU，电压比较器的正极可以输入对***电压采样得到的采样电压，电压比较器的负极可以输入与该采样电压进行比较的电压。例如对于图3中U1到U2的过程，电压比较器的正极可以输入U2，电压比较器的负极可以输入U1，进而可以将(U2-U1)的值输入控制模块，以使MCU根据(U2-U1)执行后续的变化率计算、过流判断等步骤，并执行后续的降低耗电处理操作。当然，在实际应用中，也可以是通过CPU进行变化率计算、过流判断等步骤，以及通过MCU执行后续的降低耗电处理操作，本申请实施例对此不作具体限定。另外，参照图6，***级芯片(System on Chip，SOC)可以用于采样的控制，控制每隔时间T触发一次对***电压的采样。
需要说明的是，图6所示的电路图仅为实现本申请实施例的一种电路示例，并不对本申请构成限定。
在本申请实施例中，在满足预设条件的情况下，电子设备可以获取***电压对应的至少三个采样电压，然后根据至少三个采样电压，确定***电压的变化率参数，并在变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，进而对目标模块执行对应的降低耗电处理操作。在本申请实施例中，***电压的变化率参数可以反映一段时间内***电压的变化，而一段时间内***电压的变化可以反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，电子设备可以对引起耗电异常的目标模块进行降低耗电的处理，从而使***电流恢复至预设门限电流值以下。另外，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过电子设备的过流保护门限电流值及结温保护门限电流值时，电子设备便可以进行降低耗电处理，从而可以在***触发过流或结温保护功能之前，提前降低耗电，以避免过流或结温保护功能的触发造成直接关机的情况。
需要说明的是，本申请实施例提供的异常耗电处理方法，执行主体可以为异常耗电处理装置，或者该异常耗电处理装置中的用于执行异常耗电处理的方法的控制模块。本申请实施例中以异常耗电处理装置执行异常耗电处理的方法为例，说明本申请实施例提供的异常耗电处理的装置。
参照图7，提供了一种异常耗电处理的装置700，所述装置700包括：
获取模块701，用于在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
第一确定模块702，用于根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
第二确定模块703，用于在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
处理模块704，用于对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作；
其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
可选地，所述第一确定模块702包括：
第一确定子模块，用于确定所述预设门限电流值对应的电压到第一采样电压的目标电压变化率；
第二确定子模块，用于确定第二采样电压到第一采样电压的第一电压变化率；
第三确定子模块，用于在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率；
其中，所述第一采样电压为所述至少三个采样电压中采样时刻最早的采样电压，所述第二采样电压为所述至少三个采样电压中除所述第一采样电压之外采样时刻最早的采样电压；
所述第二确定模块703包括：
第四确定子模块，用于在每个所述第二电压变化率均小于或等于零的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
可选地，所述第一确定模块702还包括：
第五确定子模块，用于在所述第一电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
可选地，所述第一确定模块还包括：
第六确定子模块，用于对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率；
所述第二确定模块703还包括：
第七确定子模块，用于在每个所述第三电压变化率均小于所述目标电压变化率的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
可选地，所述第一确定模块702还包括：
第八确定子模块，用于在所述第三电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
在本申请实施例中，在满足预设条件的情况下，可以通过获取模块获取***电压对应的至少三个采样电压，然后通过第一确定模块，根据至少三个采样电压，确定***电压的变化率参数，并通过第二确定模块，在变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，进而通过处理模块，对目标模块执行对应的降低耗电处理操作。在本申请实施例中，***电压的变化率参数可以反映一段时间内***电压的变化，而一段时间内***电压的变化可以反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，电子设备可以对引起耗电异常的目标模块进行降低耗电的处理，从而使***电流恢复至预设门限电流值以下。另外，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过电子设备的过流保护门限电流值及结温保护门限电流值时，电子设备便可以进行降低耗电处理，从而可以在***触发过流或结温保护功能之前，提前降低耗电，以避免过流或结温保护功能的触发造成直接关机的情况。
本申请实施例中的异常耗电处理装置可以是装置，也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备，也可以为非移动电子设备。示例性的，移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等，非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(Network Attached Storage，NAS)、个人计算机(personal computer，PC)、电视机(television，TV)、柜员机或者自助机等，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例中的异常耗电处理装置可以为具有操作***的装置。该操作***可以为安卓(Android)操作***，可以为ios操作***，还可以为其他可能的操作***，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例提供的异常耗电处理装置能够实现图1至图2的方法实施例实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，如图8所示，本申请实施例还提供一种电子设备800，包括处理器801，存储器802，存储在存储器802上并可在所述处理器801上运行的程序或指令，该程序或指令被处理器801执行时实现上述异常耗电处理方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
需要说明的是，本申请实施例中的电子设备包括上述所述的移动电子设备和非移动电子设备。
图9为实现本申请实施例的一种电子设备的硬件结构示意图。
该电子设备900包括但不限于：射频单元901、网络模块902、音频输出单元903、输入单元904、传感器905、显示单元906、用户输入单元907、接口单元908、存储器909、以及处理器910等部件。
本领域技术人员可以理解，电子设备900还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池)，电源可以通过电源管理***与处理器910逻辑相连，从而通过电源管理***实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。图9中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，电子设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置，在此不再赘述。
其中，处理器910，用于在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作。
可选的，处理器910，还用于确定所述预设门限电流值对应的电压到第一采样电压的目标电压变化率；
确定第二采样电压到所述第一采样电压的第一电压变化率；
在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率；
其中，所述第一采样电压为所述至少三个采样电压中采样时刻最早的采样电压，所述第二采样电压为所述至少三个采样电压中除所述第一采样电压之外采样时刻最早的采样电压；
在每个所述第二电压变化率均小于或等于零的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
可选的，处理器910，还用于在所述第一电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
可选的，处理器910，还用于对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率；
在每个所述第三电压变化率均小于所述目标电压变化率的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
可选的，处理器910，还用于在所述第三电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
在本申请实施例中，在满足预设条件的情况下，电子设备可以获取***电压对应的至少三个采样电压，然后根据至少三个采样电压，确定***电压的变化率参数，并在变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，进而对目标模块执行对应的降低耗电处理操作。在本申请实施例中，***电压的变化率参数可以反映一段时间内***电压的变化，而一段时间内***电压的变化可以反映一段时间内***电流的变化，在***电压的变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，电子设备可以对引起耗电异常的目标模块进行降低耗电的处理，从而使***电流恢复至预设门限电流值以下。另外，由于预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于电子设备的结温保护门限电流值，因此，在***电流较高，但还未超过电子设备的过流保护门限电流值及结温保护门限电流值时，电子设备便可以进行降低耗电处理，从而可以在***触发过流或结温保护功能之前，提前降低耗电，以避免过流或结温保护功能的触发造成直接关机的情况。
应理解的是，本申请实施例中，输入单元904可以包括图形处理器(GraphicsProcessing Unit，GPU)9041和麦克风9042，图形处理器9041对在视频捕获模式或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处理。显示单元906可包括显示面板9061，可以采用液晶显示器、有机发光二极管等形式来配置显示面板9061。用户输入单元907包括触控面板9071以及其他输入设备9072。触控面板9071，也称为触摸屏。触控面板9071可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其他输入设备9072可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆，在此不再赘述。存储器909可用于存储软件程序以及各种数据，包括但不限于应用程序和操作***。处理器910可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作***、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器910中。
本申请实施例还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现上述异常耗电处理方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
其中，所述处理器为上述实施例中所述的电子设备中的处理器。所述可读存储介质，包括计算机可读存储介质，如计算机只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等。
本申请实施例另提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现上述异常耗电处理方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
应理解，本申请实施例提到的芯片还可以称为***级芯片、***芯片、芯片***或片上***芯片等。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。

Claims (12)

1.一种异常耗电处理方法，其特征在于，所述方法包括：
在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作；
其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数，包括：
确定所述预设门限电流值对应的电压到第一采样电压的目标电压变化率；
确定第二采样电压到所述第一采样电压的第一电压变化率；
在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率；
其中，所述第一采样电压为所述至少三个采样电压中采样时刻最早的采样电压，所述第二采样电压为所述至少三个采样电压中除所述第一采样电压之外采样时刻最早的采样电压；
所述在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，包括：
在每个所述第二电压变化率均小于或等于零的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定第二采样电压到第一采样电压的第一电压变化率之后，还包括：
在所述第一电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率之后，还包括：
对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率；
所述在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块，还包括：
在每个所述第三电压变化率均小于所述目标电压变化率的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率之后，还包括：
在所述第三电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
6.一种异常耗电处理的装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于在满足预设条件的情况下，获取***电压对应的至少三个采样电压；
第一确定模块，用于根据所述至少三个采样电压，确定所述***电压的变化率参数；
第二确定模块，用于在所述变化率参数指示***电流超过预设门限电流值的情况下，确定引起耗电异常的目标模块；
处理模块，用于对所述目标模块执行对应的降低耗电处理操作；
其中，所述预设门限电流值小于电子设备的过流保护门限电流值，且小于所述电子设备的结温保护门限电流值。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块包括：
第一确定子模块，用于确定所述预设门限电流值对应的电压到第一采样电压的目标电压变化率；
第二确定子模块，用于确定第二采样电压到第一采样电压的第一电压变化率；
第三确定子模块，用于在所述第一电压变化率小于所述目标电压变化率的情况下，对于所述第二采样电压之后的任一第三采样电压，确定所述第三采样电压到前一采样时刻的采样电压的第二电压变化率；
其中，所述第一采样电压为所述至少三个采样电压中采样时刻最早的采样电压，所述第二采样电压为所述至少三个采样电压中除所述第一采样电压之外采样时刻最早的采样电压；
所述第二确定模块包括：
第四确定子模块，用于在每个所述第二电压变化率均小于或等于零的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块还包括：
第五确定子模块，用于在所述第一电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块还包括：
第六确定子模块，用于对于任一所述第三采样电压，在所述第三采样电压对应的所述第二电压变化率大于零的情况下，确定所述第三采样电压到所述第一采样电压的第三电压变化率；
所述第二确定模块还包括：
第七确定子模块，用于在每个所述第三电压变化率均小于所述目标电压变化率的情况下，确定所述***电流超过所述预设门限电流值，并确定引起耗电异常的目标模块。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块还包括：
第八确定子模块，用于在所述第三电压变化率大于或等于所述目标电压变化率的情况下，确定满足所述预设条件。
11.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-10任一项所述的异常耗电处理方法的步骤。
12.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-10任一项所述的异常耗电处理的步骤。
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