CN113008548A - 一种检测密封圈缺陷的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及密封圈生产检验技术领域,尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法,S1、将检测基座平置,再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处;S2、分别按下上下两侧的开关,令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置,以活动销的端部露出定位座外2cm为准;S3、按下按钮,启动装置,并手动原地转动密封圈,对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销出现上下移动的情况,此时,指示灯闪烁,反之,指示灯不闪烁,即若指示灯出现了闪烁现象,则说明此密封圈存在缺陷。本发明通过设计检测基座来对密封圈的表面进行检测,以判定其表面是否存在多料或少料的问题,能够有效地提高检测质量及检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及密封圈生产检验技术领域,尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法。
背景技术
密封圈材料的选择对其密封性能和使用寿命有着重要意义,材料的性能直接影响密封圈的使用性能。常见的密封圈类型有NBR丁腈橡胶密封圈、HNBR氢化丁腈橡胶密封圈、SIL硅橡胶密封圈、FLS氟硅橡胶密封圈以及CR氯丁橡胶密封圈等。
在密封圈的生产过程中,由于注塑过程中的不当因素,使得密封圈出现多料或少料的现象,而影响了密封圈成品的质量,因此,我们提出了一种检测密封圈缺陷的方法用于解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种检测密封圈缺陷的方法。
一种检测密封圈缺陷的装置,包括检测基座,所述检测基座上开设有检测口,检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座,定位座内开设有空腔,空腔内通过弹簧活动设有多组活动销,活动销的两侧侧壁上均焊有滑块,滑块滑动在导杆上,导杆焊接在空腔的内壁之间,并且滑块的上表面嵌有光敏二极管,与光敏二极管相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管。
优选的,所述检测基座上设有两个开关、一个指示灯以及一个按钮。
优选的,所述定位座呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。
优选的,所述活动销的一端端部呈尖状设置且为球体结构。
优选的,所述指示灯与光敏二极管之间通过电性连接,且按钮与发光二极管之间也通过电性连接。
一种检测密封圈缺陷的方法,包括以下步骤:
S1、将检测基座平置,再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处;
S2、分别按下上下两侧的开关,令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置,以活动销的端部露出定位座外2cm为准;
S3、按下按钮,启动装置,并手动原地转动密封圈,对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销出现上下移动的情况,此时,指示灯闪烁,反之,指示灯不闪烁,即若指示灯出现了闪烁现象,则说明此密封圈存在缺陷。
相比于现有技术,本发明的有益效果是:
本发明通过设计一组检测基座,将密封圈置于其中,通过定位座与密封圈的接触来对其进行定位,再由工人转动密封圈,使得活动销不断地对密封圈的表面进行检测,以判定其表面是否存在多料或少料的问题,能够有效地提高检测质量及检测效率。
附图说明
图1为本发明一种检测密封圈缺陷的方法所用检测基座的结构示意图;
图2为图1中的定位座及其内部活动销连接示意图;
图3为图2中局部A放大结构示意图。
图中:1检测基座、11开关、12指示灯、13按钮、2密封圈、3定位座、31导杆、4活动销、41滑块、5发光二极管、6光敏二极管。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步解说。
参照图1-3,一种检测密封圈缺陷的装置,包括检测基座1,检测基座1上开设有检测口,检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座3,用于对密封圈2的定位,定位座3呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定,定位座3内开设有空腔,空腔内通过弹簧活动设有多组活动销4,用于判断密封圈2的表面是否存在凸起或凹槽,活动销4的底端呈尖状设置且为球体结构,活动销4的两侧侧壁上均焊有滑块41,用于测定光敏二极管6与发光二极管5之间接收信号的时间,滑块41滑动在导杆31上,导杆31焊接在空腔的内壁之间,导杆31对滑块41有导向作用,并且滑块41的上表面嵌有光敏二极管6,与光敏二极管6相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管5。
检测基座1上设有两个开关11、一个指示灯12以及一个按钮13,指示灯12与光敏二极管6之间通过电性连接,且按钮13与发光二极管5之间也通过电性连接。
一种检测密封圈缺陷的方法,包括以下步骤:
S1、将检测基座1平置,再将待检测的密封圈2置于检测基座1的检测口处;
S2、分别按下上下两侧的开关11,令两侧的定位座3均调至与密封圈2相接触的位置,以活动销4的端部露出定位座3外2cm为准;
S3、按下按钮13,启动装置,并手动原地转动密封圈2,对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销4出现上下移动的情况,此时,指示灯12闪烁,反之,指示灯12不闪烁,即若指示灯12出现了闪烁现象,则说明此密封圈2存在缺陷。
本实施例中:
首先,将检测基座1平置,再将待检测的密封圈2置于检测基座1的检测口处,令密封圈2处于检测口的竖直方向上;
接着,分别按下上下两侧的开关11,令两侧的电动推杆启动,使得电动推杆带动定位座3移动调节,调节至与密封圈2相接触的位置后松开开关11停止,当两组电动推杆均停止时,密封圈2夹于两侧的定位座3之间,且此时的活动销4的端部露出定位座3外2cm为准;
然后,按下按钮13,启动装置,手动原地转动密封圈2,对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销4出现上下移动的情况,此时,指示灯12闪烁,反之,指示灯12不闪烁,即若指示灯12出现了闪烁现象,则说明此密封圈2存在缺陷。
上述过程中,在出现缺料或多料的问题时,也就是意味着密封圈2的表面存在凸起或凹槽,当活动销4经过凸起的位置时,活动销4向定位座3内移动,此时,光敏二极管6接收到发光二极管5的信号的时间变短,而当活动销4经过凹槽的位置时,活动销4向定位座3外移动,此时,光敏二极管6接收到发光二极管5的信号的时间变长,在这两种情况下,光敏二极管6接收的信号都出现了短暂的波动,从而使得通过电信号控制指示灯12闪烁,当指示灯12闪烁时,即可按下按钮13,关闭装置,取下该存在缺陷的密封圈2,再继续下一密封圈2的检测。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种检测密封圈缺陷的装置,包括检测基座(1),其特征在于,所述检测基座(1)上开设有检测口,检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座(3),定位座(3)内开设有空腔,空腔内通过弹簧活动设有多组活动销(4),活动销(4)的两侧侧壁上均焊有滑块(41),滑块(41)滑动在导杆(31)上,导杆(31)焊接在空腔的内壁之间,并且滑块(41)的上表面嵌有光敏二极管(6),与光敏二极管(6)相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管(5)。
2.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述检测基座(1)上设有两个开关(11)、一个指示灯(12)以及一个按钮(13)。
3.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述定位座(3)呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。
4.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述活动销(4)的一端端部呈尖状设置且为球体结构。
5.根据权利要求2所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述指示灯(12)与光敏二极管(6)之间通过电性连接,且按钮(13)与发光二极管(5)之间也通过电性连接。
6.一种检测密封圈缺陷的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、将检测基座(1)平置,再将待检测的密封圈(2)置于检测基座(1)的检测口处;
S2、分别按下上下两侧的开关(11),令两侧的定位座(3)均调至与密封圈(2)相接触的位置,以活动销(4)的端部露出定位座(3)外2cm为准;
S3、按下按钮(13),启动装置,并手动原地转动密封圈(2),对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销(4)出现上下移动的情况,此时,指示灯(12)闪烁,反之,指示灯(12)不闪烁,即若指示灯(12)出现了闪烁现象,则说明此密封圈(2)存在缺陷。
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