CN112861347B - 一种柔性amoled模组弯折轨迹优化方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明适用于柔性OLED模组技术领域,提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法及装置,该方法包括:建立AMOLED模组;基于屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型并与AMOLED模组绑定约束;调整屏体弯折轨迹约束参数并使调整后的支撑体模型带动AMOLED模组进行弯折运动,计算各次弯折运动的应力曲线;将应力最大值最小的应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。本发明提供的方法通过绑定约束可以提高AMOLED模组在弯折运动过程中的稳定性,通过支撑体模型带动AMOLED模组进行弯折运动可以量化的调整AMOLED模组的弯折轨迹,从而准确高效的实现AMOLED模组弯折轨迹的优化。

Description

一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法及装置
技术领域
本发明属于柔性OLED模组技术领域,尤其涉及一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法及装置。
背景技术
柔性显示模组作为当前的研究热点具有十分广阔的发展前景,应用AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode,有源矩阵有机发光二极体)技术的柔性显示模组目前的应用较为广泛。为了保证柔性AMOLED模组在进行弯折运动时的可靠性,稳定的实现多次重复的弯折运动,需要准确确定柔性AMOLED模组的最优弯折轨迹。若柔性AMOLED模组的弯折轨迹存在缺陷,则会导致模组在弯折过程中的应力过于集中,出现模组中的膜层失效或褶皱等情况。
目前寻求最优弯折轨迹的方法通常使用耦合约束的方式将柔性AMOLED模组与支撑体模型进行连接,但是采用耦合约束方法的AMOLED模组在进行弯折运动时容易出现晃动等不稳定的情况,且弯折轨迹无法量化控制,难以准确高效的确定AMOLED模组的最优弯折轨迹。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法及装置,以解决现有技术中确定柔性AMOLED模组最优弯折轨迹的准确性低的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,包括:
建立AMOLED模组;
初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束;
在预设参数区间内多次调整所述支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数;
采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,并计算所述AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;
获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。
本发明实施例的第二方面提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化装置,包括:
AMOLED模组建立模块,用于建立AMOLED模组;
支撑体模型建立模块,用于初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
绑定约束模块,用于对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束;
本发明实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述方法的步骤。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本发明实施例提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,包括:建立AMOLED模组;初始化屏体弯折轨迹约束参数并建立支撑体模型;对AMOLED模组和支撑体模型进行绑定约束;在预设参数区间内多次调整支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数并采用支撑体模型带动AMOLED模组进行弯折运动,计算AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。本发明实施例提供的柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法一方面能够通过绑定约束提高AMOLED模组在弯折运动过程中的稳定性,另一方面能够通过调整屏体弯折轨迹约束参数来调整支撑体模型,再通过支撑体模型带动AMOLED模组进行弯折运动来量化的调整AMOLED模组的弯折轨迹,从而准确高效的实现AMOLED模组弯折轨迹的优化。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法的实现流程示意图;
图2是本发明实施例提供的AMOLED模组的膜层结构示意图;
图3是本发明实施例提供的支撑体模型和弯折前的AMOLED模组的结构示意图;
图4是本发明实施例提供的支撑体模型和弯折前的AMOLED模组结构的主视图;
图5是本发明实施例提供的支撑体模型和弯折后的AMOLED模组结构的主视图;
图6是现有技术中支撑体模型和弯折后的AMOLED模组结构的主视图;
图7是本发明实施例提供的柔性AMOLED模组弯折轨迹优化装置的结构示意图;
图8是本发明实施例提供的终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本发明实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中,省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为了说明本发明所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
图1示出了本发明实施例提供的柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法的实现流程,参见图1,本发明实施例提供的柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,包括:
S101:建立AMOLED模组;
图2示出了本发明实施例提供的AMOLED模组的结构,参见图2,在本实施例中,所述AMOLED模组10包括自上而下的保护盖板层110、偏光片层120、柔性基板层130、光学透明胶层140、显示层150以及支撑膜层160。
在本实施例中,显示层150的材料包括OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光半导体),TFT(Thin Film Transistor,薄膜场效应晶体管)以及PI(Polyimide,聚酰亚胺)。
S102:初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
图3为本发明实施例中支撑体模型20和弯折前的AMOLED模组10的结构示意图,图4为图3中结构的主视图。
参见图3和图4,在本发明的一个实施例中,所述屏体弯折轨迹约束参数包括:支撑体圆弧位置弧度和非弯折区长度;
S102包括:
建立具有第一支撑面的刚体模型作为所述支撑体模型;
所述第一支撑面包ABC括平滑连接的第一倒角圆弧面AB和第一平面BC,所述第一倒角圆弧面AB的第一边A为所述第一支撑面ABC的第一边,所述第一倒角圆弧面AB的第二边B与所述第一平面BC的第一边B平滑连接,所述第一平面BC的第二边C为所述第一支撑面ABC的第二边C;
所述第一倒角圆弧面的弧度等于初始的支撑体圆弧位置弧度;
所述第一平面的第一边与第二边之间的距离等于初始的非弯折区长度。
参见图3和图4,在本实施例中,第一倒角圆弧面AB与第一平面BC相切,边A、边B和边C均为直边且互相平行,第一平面的第一边与第二边之间的距离记为第一平面的长度。
S103:对所述AMOLED模组10和所述支撑体模型20进行绑定约束;
在本发明的一个实施例中,所述AMOLED模组20为矩形屏体,且所述矩形屏体的一组对边包括动边D和定边E,所述对所述AMOLED模组10和所述支撑体模型20进行绑定约束,包括:
将所述AMOLED模组10的动边D与所述支撑体模型20的第一支撑面ABC的第一边A进行绑定约束。
在本实施例中,AMOLED模组10的边D和边E与支撑体模型20的边A、边B和边C相互平行。
现有技术通常使用耦合约束的方法连接柔性屏体和支撑体,即在柔性屏体上设置参考点带动模组运动,不符合屏体的实际弯折运动情况,会导致柔性屏体在弯折运动过程中出现晃动等不稳定的现象,甚至存在屏体失效的情况。本实施例中使用绑定约束的方法连接AMOLED模组10和支撑体模型20,由支撑体模型20带动AMOLED模组10实现弯折运动,与AMOLED模组的实际应用情况相符,可以减少弯折运动过程中屏体不稳定甚至失效的现象,从而能够准确的确定最优的弯折轨迹。
S104:在预设参数区间内多次调整所述支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数;
S105:采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,并计算所述AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;
图5为本发明实施例提供的支撑体模型和弯折后的AMOLED模组结构的主视图,参见图5,在本发明的一个实施例中,S105包括:
将所述AMOLED模组10做弯折运动前所在的平面为第一参考平面XX’,将与所述第一参考平面XX’垂直且包含所述AMOLED模组10的定边E的平面作为第二参考平面YY’;
保持所述AMOLED模组10的定边E位置不变,采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型20带动所述AMOLED模组10的动边D移动,以使所述AMOLED模组10做弯折运动,直至所述AMOLED模组10的动边D位于所述第二参考平面YY’,弯折运动完成。
具体的,弯折运动完成时第一倒角圆弧面AB与第二参考平面YY’在第一倒角圆弧面AB的第一边A处相切。
在本发明的一个实施例中,所述屏体弯折轨迹约束参数还包括水滴型半径FG;所述水滴型半径FG为所述AMOLED模组10弯折完成后,第一参考点F与所述第二参考平面YY’之间的垂直距离,所述第一参考点F为所述AMOLED模组10上距离所述第二参考平面YY’最远的点。
在本实施例中,在每次对支撑体模型进行调整时,除调整支撑体模型的第一倒角圆弧面的弧度和第一平面的第一边与第二边之间的距离外,还需要调整水滴型半径FG的长度,然后基于调整后的支撑体模型进行AMOLED模组的弯折运动,并获取每次弯折运动对应的应力曲线。
具体的,水滴型半径的调整方法为调整支撑体模型20在弯折运行完成时,第一边A至第一参考平面XX’的垂直距离,该垂直距离越小,水滴型半径FG的长度越长。
在本实施例中,通过设置屏体弯折轨迹约束参数,可以量化的调整AMOLED模组的弯折轨迹,为弯折轨迹的寻优提供依据。另一方面,根据本实施例提供的屏体弯折轨迹约束参数建立的第一支撑面ABC可以在弯折运动过程中充分贴合AMOLED模组,提高弯折运动的稳定性。
可选的,调整屏体弯折轨迹约束参数的方法为:保持水滴型半径、第一倒角圆弧面弧度和第一支撑面长度三个参数中的两个不变,对另一个参数进行调整寻优。
图6为现有技术中支撑体模型和弯折后的AMOLED模组结构的主视图,其中30为现有技术中的AMOLED模组,40为现有技术中的支撑体模型。对比图5和图6可知,现有技术中AMOLED模组的弯折轨迹难以控制,寻优过程复杂且准确性低。
S106:获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。
本发明实施例提供的AMOLED模组弯折轨迹优化方法通过耦合约束可以减少AMOLED模组的失效情况,通过设置屏体弯折轨迹约束参数量化的调整AMOLED模组的弯折轨迹,可以确定各组屏体弯折轨迹约束参数对应的应力强度,从而准确确定AMOLED模组的最优弯折轨迹。
具体的,调整屏体弯折轨迹约束参数的方法包括:保持一个屏体弯折轨迹约束参数不变,调整另外两个参数的取值进行寻优。
在一个具体的实施例中,保持第一平面BC的长度为23mm不变,调整第一倒角圆弧面AB的弧度和水滴型半径FG的长度。其中第一倒角圆弧面的取值为5°、9°和13°,水滴型半径的长度调整范围为16mm至24mm。应用本发明实施例提供的柔性AMOLED弯折轨迹优化方法,确定当水滴型半径FG为16mm,第一倒角圆弧面AB的弧度为13°时获取到应力最大值最小的最优应力曲线。具体的,此时内弯折区的应变最大值为0.0217164%,外弯折区的应变最大值为0.000373571%,最优应力曲线相对于最差应力曲线(水滴型半径FG为24mm,第一倒角圆弧面AB的弧度为5°)的应力最大值下降87.8%。
作为与本实施例提供的柔性AMOLED弯折轨迹优化方法的对照组,保持第一平面长度为23mm不变,不设置倒角圆弧面,仅调整水滴形半径的取值,并将水滴型半径的调整范围设置为16mm至24mm,同样通过应力曲线进行弯折轨迹的寻优。当水滴型半径为16mm时获得应力最大值最小的应力曲线,此时内弯折区的应变最大值为0.0327895%,外弯折区的应变最大值为0.0004385214%,整体的应变最大值相对于本实施例方法得到的最优弯折轨迹的应变最大值高出32.7%,且AMOLED模组在弯折运动过程中出现晃动的情况,与实际路径存在差异。
在一个具体的实施例中,保持第一倒角圆弧面AB的弧度为13°不变,调整第一平面BC的长度和水滴型半径FG的长度。其中第一平面BC的长度调整范围为23mm至26mm,水滴型半径FG的调整范围为16mm至24mm。应用本发明实施例提供的柔性AMOLED弯折轨迹优化方法,确定当水滴型半径FG的长度为16mm,第一平面BC的长度为26mm时,获取到应力最大值最小的最优应力曲线。具体的,此时内弯折区的应变最大值为0.036574%,外弯折区的应变最大值为0.00052463%,此时整体的应力最大值相对于各组参数中最大的应力最大值减小56.9%。
在一个具体的实施例中,还可以保持水滴型半径FG的长度不变,调整第一平面BC的长度和第一倒角圆弧面的长度进行AMOLED模组弯折轨迹的寻优。
在以上具体的实施例中,AMOLED模组在弯折运动的过程中能够保持稳定,避免出现屏体失效的情况。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
参见图7,本发明实施例提供了一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化装置70,包括:
AMOLED模组建立模块710,用于建立AMOLED模组;
支撑体模型建立模块720,用于初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
绑定约束模块730,用于对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束;
参数调整模块740,用于在预设参数区间内多次调整所述支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数;
应力曲线获取模块750,用于采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,并计算所述AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;
最优弯折轨迹确定模块770,用于获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。
本发明实施例提供的AMOLED模组弯折轨迹优化装置通过耦合约束可以减少AMOLED模组的失效情况,通过设置屏体弯折轨迹约束参数量化的调整AMOLED模组的弯折轨迹,可以确定各组屏体弯折轨迹约束参数对应的应力强度,从而准确确定AMOLED模组的最优弯折轨迹。
在本发明的一个实施例中,所述AMOLED模组包括:
保护盖板层、偏光片层、柔性基板层、光学透明胶层、显示层以及支撑膜层。
在本发明的一个实施例中,所述屏体弯折轨迹约束参数包括:支撑体圆弧位置弧度和非弯折区长度;
支撑体模型建立模块720具体用于:
建立具有第一支撑面的刚体模型作为所述支撑体模型;
所述第一支撑面包括平滑连接的第一倒角圆弧面和第一平面,所述第一倒角圆弧面的第一边为所述第一支撑面的第一边,所述第一倒角圆弧面的第二边与所述第一平面的第一边平滑连接,所述第一平面的第二边为所述第一支撑面的第二边;
所述第一倒角圆弧面的弧度等于初始的支撑体圆弧位置弧度;
所述第一平面的第一边与第二边之间的距离等于初始的非弯折区长度。
在本发明的一个实施例中,所述AMOLED模组为矩形屏体,且所述矩形屏体的一组对边包括动边和定边,
所述绑定约束模块730模块具体用于:
将所述AMOLED模组的动边与所述支撑体模型的第一支撑面的第一边进行绑定约束。
在本发明的一个实施例中,所述应力曲线获取模块750包括:
参考平面确定单元,用于将所述AMOLED模组做弯折运动前所在的平面为第一参考平面,将与所述第一参考平面垂直且包含所述AMOLED模组的定边的平面作为第二参考平面;
弯折运动单元,用于保持所述AMOLED模组的定边位置不变,采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组的动边移动,以使所述AMOLED模组做弯折运动,直至所述AMOLED模组的动边位于所述第二参考平面,弯折运动完成。
在本发明的一个实施例中,所述屏体弯折轨迹约束参数还包括水滴型半径;
所述水滴型半径为所述AMOLED模组弯折完成后,第一参考点与所述第二参考平面之间的垂直距离,所述第一参考点为所述AMOLED模组上距离所述第二参考平面最远的点。
图8是本发明一实施例提供的终端设备的示意图。如图8所示,该实施例的终端设备8包括:处理器80、存储器81以及存储在所述存储器81中并可在所述处理器80上运行的计算机程序82,例如柔性AMOLED模组弯折轨迹优化程序。所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各个柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法实施例中的步骤,例如图1所示的S101至S106。或者,所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能,例如图7所示模块710至760的功能。
示例性的,所述计算机程序82可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器81中,并由所述处理器80执行,以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序82在所述终端设备8中的执行过程。例如,所述计算机程序82可以被分割成AMOLED模组建立模块、支撑体模型建立模块、绑定约束模块、参数调整模块、应力曲线获取模块、最优弯折轨迹确定模块(虚拟装置中的模块)。
所述终端设备8可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括,但不仅限于,处理器80、存储器81。本领域技术人员可以理解,图8仅仅是终端设备8的示例,并不构成对终端设备8的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器80可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器81可以是所述终端设备8的内部存储单元,例如终端设备8的硬盘或内存。所述存储器81也可以是所述终端设备8的外部存储设备,例如所述终端设备8上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器81还可以既包括所述终端设备8的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器81用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器81还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述***中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,包括:
建立AMOLED模组;
初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束;
在预设参数区间内多次调整所述支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数;
采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,并计算所述AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;
获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。
2.如权利要求1所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,所述AMOLED模组包括:
保护盖板层、偏光片层、柔性基板层、光学透明胶层、显示层以及支撑膜层。
3.如权利要求1所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,所述屏体弯折轨迹约束参数包括:支撑体圆弧位置弧度和非弯折区长度;所述基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型,包括:
建立具有第一支撑面的刚体模型作为所述支撑体模型;
所述第一支撑面包括平滑连接的第一倒角圆弧面和第一平面,所述第一倒角圆弧面的第一边为所述第一支撑面的第一边,所述第一倒角圆弧面的第二边与所述第一平面的第一边平滑连接,所述第一平面的第二边为所述第一支撑面的第二边;
所述第一倒角圆弧面的弧度等于初始的支撑体圆弧位置弧度;
所述第一平面的第一边与第二边之间的距离等于初始的非弯折区长度。
4.如权利要求3所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,所述AMOLED模组为矩形屏体,且所述矩形屏体的一组对边包括动边和定边,所述对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束,包括:
将所述AMOLED模组的动边与所述支撑体模型的第一支撑面的第一边进行绑定约束。
5.如权利要求4所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,所述采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,包括:
将所述AMOLED模组做弯折运动前所在的平面为第一参考平面,将与所述第一参考平面垂直且包含所述AMOLED模组的定边的平面作为第二参考平面;
保持所述AMOLED模组的定边位置不变,采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组的动边移动,以使所述AMOLED模组做弯折运动,直至所述AMOLED模组的动边位于所述第二参考平面,弯折运动完成。
6.如权利要求5所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化方法,其特征在于,所述屏体弯折轨迹约束参数还包括水滴型半径;
所述水滴型半径为所述AMOLED模组弯折完成后,第一参考点与所述第二参考平面之间的垂直距离,所述第一参考点为所述AMOLED模组上距离所述第二参考平面最远的点。
7.一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化装置,其特征在于,包括:
AMOLED模组建立模块,用于建立AMOLED模组;
支撑体模型建立模块,用于初始化屏体弯折轨迹约束参数,并基于初始化的屏体弯折轨迹约束参数建立支撑体模型;
绑定约束模块,用于对所述AMOLED模组和所述支撑体模型进行绑定约束;
参数调整模块,用于在预设参数区间内多次调整所述支撑体模型对应的屏体弯折轨迹约束参数;
应力曲线获取模块,用于采用各次调整后的屏体弯折轨迹约束参数对应的支撑体模型带动所述AMOLED模组进行弯折运动,并计算所述AMOLED模组在各组屏体弯折轨迹约束参数对应的弯折运动下的应力曲线;
最优弯折轨迹确定模块,用于获取各个应力曲线的应力最大值,选取应力最大值最小的应力曲线作为最优应力曲线,并将所述最优应力曲线对应的AMOLED模组的弯折轨迹作为最优弯折轨迹。
8.如权利要求7所述的一种柔性AMOLED模组弯折轨迹优化装置,其特征在于,所述AMOLED模组包括:
保护盖板层、偏光片层、柔性基板层、光学透明胶层、显示层以及支撑膜层。
9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
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