CN112833777B - 用于实测实量的测量方法及测量*** - Google Patents

用于实测实量的测量方法及测量*** Download PDF

Info

Publication number
CN112833777B
CN112833777B CN202011417828.9A CN202011417828A CN112833777B CN 112833777 B CN112833777 B CN 112833777B CN 202011417828 A CN202011417828 A CN 202011417828A CN 112833777 B CN112833777 B CN 112833777B
Authority
CN
China
Prior art keywords
guiding rule
dimensional model
plane
model
rule
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011417828.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112833777A (zh
Inventor
李辉
金海建
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Angrui Hangzhou Information Technology Co ltd
Original Assignee
Angrui Shanghai Information Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Angrui Shanghai Information Technology Co Ltd filed Critical Angrui Shanghai Information Technology Co Ltd
Priority to CN202011417828.9A priority Critical patent/CN112833777B/zh
Publication of CN112833777A publication Critical patent/CN112833777A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112833777B publication Critical patent/CN112833777B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/28Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C1/00Measuring angles

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于实测实量的测量方法及测量***,所述测量方法包括:利用扫描装置扫描一目标区域;根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型;利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对;获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。本发明的用于实测实量的测量方法及测量***针对国内实测实量规范需要的主要尺寸测量需求,能够代替传统低效率的测量方法,同时建立测量项目管理和数据管理,进一步提供整体作业效率,提升行业信息化程度。

Description

用于实测实量的测量方法及测量***
技术领域
本发明涉及一种用于实测实量的测量方法及测量***。
背景技术
所谓实际测量,是指应用测量工具,通过现场测试、测量并能真实反映产品质量数据的一种方法。根据相关的质量验收标准,计量控制工程质量数据误差在国家住房建设标准允许的范围内。
实际测量涉及的项目发展阶段主要有主体结构阶段、砌体阶段、抹灰阶段、设备安装阶段和精装修阶段。测量范围包括混凝土结构、砌体工程、抹灰工程、防水工程、门窗工程、油漆工程、精装修工程等。
现有的实测实量工具使用效率低且功能单一。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中现有的实测实量工具使用效率低且功能单一的缺陷,提供一种针对国内实测实量规范需要的主要尺寸测量需求,能够代替传统低效率的测量方法,同时建立测量项目管理和数据管理,进一步提供整体作业效率,提升行业信息化程度的用于实测实量的测量方法及测量***。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题:
一种用于实测实量的测量方法,其特点在于,所述测量方法包括:
利用扫描装置扫描一目标区域;
根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型;
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对;
获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
较佳地,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
获取所述三维模型的尺寸;
根据所述尺寸获取所述在所述三维模型上的下尺位置及下尺角度;
利用所述下尺位置及下尺角度,在所述三维模型上截取一个形状与所述靠尺平面匹配的截面。
较佳地,所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
将所述截面沿所述靠尺模型的长度方向划分为若干子截面;
获取每一子截面的中心点距离所述靠尺平面的垂直距离;
获取所述垂直距离中的最大值作为所述比对数据的平整度数据。
较佳地,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
获取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
根据下尺后的靠尺平面与投影区域的模型获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
较佳地,所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
获取下尺后的靠尺平面与重垂线的夹角作为所述比对数据中的垂直度数据。
较佳地,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
利用一垂直于所述靠尺平面的截面沿所述靠尺模型的长度方向截取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
根据所述截面与靠尺平面和投影区域的交线获取靠尺平面上的点到三维模型的距离作为所述比对数据。
较佳地,所述目标区域为一房间,所述测量方法包括:
获取所述房间的三维房间模型;
获取所述三维房间模型中两面相对的墙面;
在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点;
对于一对相互对应的点,获取相互对应的点之间的距离。
较佳地,所述在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点,包括:
在两个所述墙面上获取边界;
根据距离边界的距离分别在两个墙面上获取相互对应的点。
较佳地,所述测量方法包括对墙面面积、水平度极差值或阴阳角角度的测量方法,其中,
墙面面积的测量方法包括:
目标区域为一墙面,获取所述墙面的三维模型,根据三维模型的尺寸获取所述墙面的实际面积;
所述水平度极差值的测量方法包括:
目标区域为一房间,获取所述房间的三维房间模型,获取所述三维房间模型中两面相对的墙面,获取两面相对的墙面之间的最大距离和最小距离的差值;
所述阴阳角角度的测量方法包括:
目标区域为一阴阳角,分别获取阴阳角的相交墙体的拟合平面,获取两个拟合平面的夹角作为所述阴阳角的角度。
本发明还提供一种用于实测实量的测量***,其特点在于,所述测量***用于实现如上所述的测量方法。
符合本领域常识的基础上,上述各优选条件,可任意组合,即得本发明各较佳实例。
本发明的积极进步效果在于:
本发明的用于实测实量的测量方法及测量***针对国内实测实量规范需要的主要尺寸测量需求,能够代替传统低效率的测量方法,同时建立测量项目管理和数据管理,进一步提供整体作业效率,提升行业信息化程度。
附图说明
图1为本发明实施例1的测量方法的流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明,但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
实施例1
本实施例提供一种用于实测实量的测量***,所述测量***包括一测量模块以及一处理模块,所述测量模块在本实施例中为激光扫描装置,测量模块也可以是其他用于获取空间三维点云的扫描装置,所述处理模块可以是计算机也可以是服务端处理器。
测量模块与所述处理模块可以是一体机也可以是测量模块为扫描机配合处理模块的计算机使用。
所述测量模块用于利用扫描装置扫描一目标区域;
所述处理模块用于根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型;
所述处理模块用于利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对;
所述处理模块用于获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
本实施例中所述目标区域为一墙面。
所述处理模块用于获取所述三维模型的尺寸;
所述处理模块用于根据所述尺寸获取所述在所述三维模型上的下尺位置及下尺角度;
所述处理模块用于利用所述下尺位置及下尺角度,在所述三维模型上截取一个形状与所述靠尺平面匹配的截面。
所述处理模块用于将所述截面沿所述靠尺模型的长度方向划分为若干子截面;
所述处理模块用于获取每一子截面的中心点距离所述靠尺平面的垂直距离;
所述处理模块用于获取所述垂直距离中的最大值作为所述比对数据的平整度数据。
进一步地,所述处理模块用于利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
所述处理模块用于获取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
所述处理模块用于根据下尺后的靠尺平面与投影区域的模型获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
所述处理模块用于获取下尺后的靠尺平面与重垂线的夹角作为所述比对数据中的垂直度数据。
具体地,如果是平整度测量,则在三维模型上取2000mm*200mm*40mm的模型,沿长度方向分割成50等分的小点云,通过计算每个小点云到靠尺平面的距离。而垂直度是取靠尺两端各100mm的点云,计算两端平面中心点连线跟重力方向的夹角得到垂直度。
进一步地,所述处理模块还用于:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
利用一垂直于所述靠尺平面的截面沿所述靠尺模型的长度方向截取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
根据所述截面与靠尺平面和投影区域的交线获取靠尺平面上的点到三维模型的距离作为所述比对数据。
另外,所述目标区域还可以为一房间,所述处理模块用于:
获取所述房间的三维房间模型;
获取所述三维房间模型中两面相对的墙面;
在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点;
对于一对相互对应的点,获取相互对应的点之间的距离。
所述处理模块还用于:
在两个所述墙面上获取边界;
根据距离边界的距离分别在两个墙面上获取相互对应的点。
所述测量***用于对墙面面积、水平度极差值或阴阳角角度进行测量,其中,
墙面面积的测量方法包括:
目标区域为一墙面,获取所述墙面的三维模型,根据三维模型的尺寸获取所述墙面的实际面积;
所述水平度极差值的测量方法包括:
目标区域为一房间,获取所述房间的三维房间模型,获取所述三维房间模型中两面相对的墙面,获取两面相对的墙面之间的最大距离和最小距离的差值;
所述阴阳角角度的测量方法包括:
目标区域为一阴阳角,分别获取阴阳角的相交墙体的拟合平面,获取两个拟合平面的夹角作为所述阴阳角的角度。
参见图1,利用上述测量***,本实施例还提供一种测量方法,包括:
步骤100、利用扫描装置扫描一目标区域;
步骤101、根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型;
步骤102、利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对;
步骤103、获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
在本实施例中,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
获取所述三维模型的尺寸;
根据所述尺寸获取所述在所述三维模型上的下尺位置及下尺角度;
利用所述下尺位置及下尺角度,在所述三维模型上截取一个形状与所述靠尺平面匹配的截面。
所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
将所述截面沿所述靠尺模型的长度方向划分为若干子截面;
获取每一子截面的中心点距离所述靠尺平面的垂直距离;
获取所述垂直距离中的最大值作为所述比对数据的平整度数据。
所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
获取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
根据下尺后的靠尺平面与投影区域的模型获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
获取下尺后的靠尺平面与重垂线的夹角作为所述比对数据中的垂直度数据。
所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
利用一垂直于所述靠尺平面的截面沿所述靠尺模型的长度方向截取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
根据所述截面与靠尺平面和投影区域的交线获取靠尺平面上的点到三维模型的距离作为所述比对数据。
所述目标区域为一房间,所述测量方法包括:
获取所述房间的三维房间模型;
获取所述三维房间模型中两面相对的墙面;
在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点;
对于一对相互对应的点,获取相互对应的点之间的距离。
所述在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点,包括:
在两个所述墙面上获取边界;
根据距离边界的距离分别在两个墙面上获取相互对应的点。
所述测量方法包括对墙面面积、水平度极差值或阴阳角角度的测量方法,其中,
墙面面积的测量方法包括:
目标区域为一墙面,获取所述墙面的三维模型,根据三维模型的尺寸获取所述墙面的实际面积;
所述水平度极差值的测量方法包括:
目标区域为一房间,获取所述房间的三维房间模型,获取所述三维房间模型中两面相对的墙面,获取两面相对的墙面之间的最大距离和最小距离的差值;
所述阴阳角角度的测量方法包括:
目标区域为一阴阳角,分别获取阴阳角的相交墙体的拟合平面,获取两个拟合平面的夹角作为所述阴阳角的角度。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种用于实测实量的测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:
利用扫描装置扫描一目标区域;
根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型;
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对;
获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据;
其中,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
获取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
根据下尺后的靠尺平面与投影区域的模型获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。
2.如权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
获取所述三维模型的尺寸;
根据所述尺寸获取所述在所述三维模型上的下尺位置及下尺角度;
利用所述下尺位置及下尺角度,在所述三维模型上截取一个形状与所述靠尺平面匹配的截面。
3.如权利要求2所述的测量方法,其特征在于,所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
将所述截面沿所述靠尺模型的长度方向划分为若干子截面;
获取每一子截面的中心点距离所述靠尺平面的垂直距离;
获取所述垂直距离中的最大值作为所述比对数据的平整度数据。
4.如权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据,包括:
获取下尺后的靠尺平面与重垂线的夹角作为所述比对数据中的垂直度数据。
5.如权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述目标区域为一墙面,所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对,包括:
利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺,所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧,所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域;
利用一垂直于所述靠尺平面的截面沿所述靠尺模型的长度方向截取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型;
根据所述截面与靠尺平面和投影区域的交线获取靠尺平面上的点到三维模型的距离作为所述比对数据。
6.如权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述目标区域为一房间,所述测量方法包括:
获取所述房间的三维房间模型;
获取所述三维房间模型中两面相对的墙面;
在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点;
对于一对相互对应的点,获取相互对应的点之间的距离。
7.如权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述测量方法包括对墙面面积、水平度极差值或阴阳角角度的测量方法,其中,
墙面面积的测量方法包括:
目标区域为一墙面,获取所述墙面的三维模型,根据三维模型的尺寸获取所述墙面的实际面积;
所述水平度极差值的测量方法包括:
目标区域为一房间,获取所述房间的三维房间模型,获取所述三维房间模型中两面相对的墙面,获取两面相对的墙面之间的最大距离和最小距离的差值;
所述阴阳角角度的测量方法包括:
目标区域为一阴阳角,分别获取阴阳角的相交墙体的拟合平面,获取两个拟合平面的夹角作为所述阴阳角的角度。
8.一种用于实测实量的测量***,其特征在于,所述测量***用于实现如权利要求1至7中任意一项所述的测量方法。
CN202011417828.9A 2020-12-07 2020-12-07 用于实测实量的测量方法及测量*** Active CN112833777B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011417828.9A CN112833777B (zh) 2020-12-07 2020-12-07 用于实测实量的测量方法及测量***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011417828.9A CN112833777B (zh) 2020-12-07 2020-12-07 用于实测实量的测量方法及测量***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112833777A CN112833777A (zh) 2021-05-25
CN112833777B true CN112833777B (zh) 2023-09-22

Family

ID=75923503

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011417828.9A Active CN112833777B (zh) 2020-12-07 2020-12-07 用于实测实量的测量方法及测量***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112833777B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113251926B (zh) * 2021-06-04 2021-09-24 山东捷瑞数字科技股份有限公司 一种不规则物体的尺寸测量方法及测量装置
CN113702985B (zh) * 2021-06-28 2024-04-02 盎锐(杭州)信息科技有限公司 用于实测实量的测量方法及激光雷达

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106524920A (zh) * 2016-10-25 2017-03-22 上海建科工程咨询有限公司 基于三维激光扫描实测实量在建筑工程中的应用
WO2018039871A1 (zh) * 2016-08-29 2018-03-08 北京清影机器视觉技术有限公司 三维视觉测量数据的处理方法和装置
CN109785375A (zh) * 2019-02-13 2019-05-21 盎锐(上海)信息科技有限公司 基于3d建模的距离检测方法及装置
CN109828284A (zh) * 2019-03-18 2019-05-31 上海盎维信息技术有限公司 基于人工智能的实测实量的方法及装置
CN110398231A (zh) * 2019-06-18 2019-11-01 广东博智林机器人有限公司 墙面参数的获取方法、装置、计算机设备和存储介质
CN110567445A (zh) * 2019-09-03 2019-12-13 天韵(广州)房地产开发有限公司 一种建筑室内实测实量数据采集和分析***
CN110595446A (zh) * 2019-08-19 2019-12-20 广东领盛装配式建筑科技有限公司 一种基于虚拟靠尺的建筑实测实量方法及装置
CN209980547U (zh) * 2019-04-19 2020-01-21 四川唐小猪科技有限公司 一种用于视觉***vi设计培训用模型对比装置
CN110823077A (zh) * 2019-11-19 2020-02-21 广东博智林机器人有限公司 一种基于三维点云的墙面靠尺检测方法及***
CN111197979A (zh) * 2019-06-20 2020-05-26 广东领盛装配式建筑科技有限公司 一种基于点云数据分析的建筑检测方法及装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422406A (zh) * 2013-08-30 2015-03-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 平面度量测***及方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018039871A1 (zh) * 2016-08-29 2018-03-08 北京清影机器视觉技术有限公司 三维视觉测量数据的处理方法和装置
CN106524920A (zh) * 2016-10-25 2017-03-22 上海建科工程咨询有限公司 基于三维激光扫描实测实量在建筑工程中的应用
CN109785375A (zh) * 2019-02-13 2019-05-21 盎锐(上海)信息科技有限公司 基于3d建模的距离检测方法及装置
CN109828284A (zh) * 2019-03-18 2019-05-31 上海盎维信息技术有限公司 基于人工智能的实测实量的方法及装置
CN209980547U (zh) * 2019-04-19 2020-01-21 四川唐小猪科技有限公司 一种用于视觉***vi设计培训用模型对比装置
CN110398231A (zh) * 2019-06-18 2019-11-01 广东博智林机器人有限公司 墙面参数的获取方法、装置、计算机设备和存储介质
CN111197979A (zh) * 2019-06-20 2020-05-26 广东领盛装配式建筑科技有限公司 一种基于点云数据分析的建筑检测方法及装置
CN110595446A (zh) * 2019-08-19 2019-12-20 广东领盛装配式建筑科技有限公司 一种基于虚拟靠尺的建筑实测实量方法及装置
CN110567445A (zh) * 2019-09-03 2019-12-13 天韵(广州)房地产开发有限公司 一种建筑室内实测实量数据采集和分析***
CN110823077A (zh) * 2019-11-19 2020-02-21 广东博智林机器人有限公司 一种基于三维点云的墙面靠尺检测方法及***

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于三维激光扫描技术的建筑物墙面平整度检测;李广;吴长悦;冯腾;王春鑫;;山西建筑(11);全文 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112833777A (zh) 2021-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112833777B (zh) 用于实测实量的测量方法及测量***
CN112669364A (zh) 用于实测实量的显示方法及测量***
CN111197979B (zh) 一种基于点云数据分析的建筑检测方法及装置
Mill et al. Combined 3D building surveying techniques–terrestrial laser scanning (TLS) and total station surveying for BIM data management purposes
CN107424193B (zh) 一种门窗信息提取方法及其装置
CN109990761B (zh) 水平度测量***及水平度测量方法
CN108180881B (zh) 建筑物变形实时测量***
CN113702985B (zh) 用于实测实量的测量方法及激光雷达
KR101934319B1 (ko) 측량 방법 및 측량 장치
CN113436244B (zh) 用于实测实量的模型处理方法、***及激光雷达
CN113375556B (zh) 全栈式实测实量***、测量方法及激光雷达
CN113064145B (zh) 基于激光雷达的水平标定方法、***及激光雷达
CN111551115A (zh) 测量视线受阻构件定位坐标的方法
CN114740801B (zh) 一种用于数控设备群协同生产线安装的基坐标系创建方法
Gražulis et al. The horizontal deformation analysis of high-rise buildings
CN116677211B (zh) 一种用于建筑物立面精准放线的施工方法
CN113569856B (zh) 用于实测实量的模型语义分割方法及激光雷达
Funtik et al. Geometric Tolerance Verification-Innovative Evaluation of Facade Surface Flatness Using TLS (Terrestrial Laser Scanning)
CN117846333A (zh) 用于建筑抹灰放线的***
CN115600395B (zh) 一种室内工程质量验收评价方法及装置
Stathas et al. New monitoring techniques on the determination of structure deformation
CN113325396A (zh) 用于激光雷达的拼接标定方法、***及激光雷达
CN113670234A (zh) 用于实测实量的显示方法、测量***及激光雷达
CN117490639A (zh) 一种建筑外墙立面平整度的测量方法、***及装置
Algadhi et al. Assessment of accuracy and performance of terrestrial laser scanner in monitoring of retaining walls

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP03 Change of name, title or address

Address after: Room 390, Building 17, No. 2723 Fuchunwan Avenue, Chunjiang Street, Fuyang District, Hangzhou City, Zhejiang Province, 311400

Patentee after: Angrui (Hangzhou) Information Technology Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: 201703 No.206, building 1, no.3938 Huqingping Road, Qingpu District, Shanghai

Patentee before: UNRE (SHANGHAI) INFORMATION TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Country or region before: China

CP03 Change of name, title or address