CN112730488A - 一种x射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法 - Google Patents
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Abstract
一种涉及轴承热处理无损检测技术领域的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，包含如下具体步骤：步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；步骤二：获得测量设备零位偏差值A；使用X射线衍射设备对制备好的残余奥氏体含量为零的0#试样进行检测，将得到的检测值A作为零位偏差值；步骤三：利用同一个X射线衍射设备对待测样品进行检测，待测样品的残余奥氏体含量Y=实际测量值B－零位偏差值A；该标定方法能对X射线衍射法测定的残余奥氏体含量进行修正，使测量结果更加准确。
Description
技术领域
本发明涉及轴承热处理无损检测技术领域，尤其是涉及一种X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法。
背景技术
根据X射线的衍射原理，某物相的X射线衍射线累积强度随该相在试样中的相对含量的增加而提高，通过测量轴承钢马氏体相和奥氏体相衍射线的累积强度计算出钢中残余奥氏体的含量，但测量过程中存在设备与计算偏差，一般在1%～2%之间；精密轴承、轧机轴承和风电轴承对钢中残余奥氏体含量要求较低，一般要求不超过3%，在此偏差下无法获得准确的测量结果，需要一种标定方法对测量结果进行修正，以准确的获得试样的残余奥氏体含量。
发明内容
为了克服背景技术中的不足，本发明公开了一种X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，能对X射线衍射法测定的残余奥氏体含量进行修正，使测量结果更加准确。
为实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：
一种X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，包含如下具体步骤：
步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；将高碳铬轴承钢GCr15或GCr15SiMn试样进行球化退火，先放入加热炉中加热，加热温度：790℃±10℃，保温时间：6h～7h；然后打开炉盖快冷到620℃±10℃；再随炉升温至720℃±10℃，保温时间2h～3h；最后炉冷至600℃±10℃出炉。
步骤二：获得测量设备零位偏差值A；使用X射线衍射设备对制备好的残余奥氏体含量为零的0#试样进行检测，将得到的检测值A作为零位偏差值。
步骤三：利用同一个X射线衍射设备对待测样品进行检测，待测样品的残余奥氏体含量Y=实际测量值B－零位偏差值A。
进一步，在步骤三中，待测样品的实际测量值的绝对值小于6%。
进一步，当待测样品的实际测量值的绝对值大于等于6%时，更换X射线衍射设备，重新进行标定。
进一步，所述待测样品需与0#试样的材质相同。
进一步，在步骤一中0#试样在加热阶段的保温时间为6.5h。
由于采用如上所述的技术方案，本发明具有如下有益效果：
本发明公开的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，能够更准确的检测出钢中残余奥氏含量，解决对于精密轴承、轧机轴承和风电轴承等残余奥氏体含量要求低的轴承零件，X射线衍射法无法精确获得残余奥氏体含量的问题，便于对热处理工艺的优化调整提供技术支撑，满足用户需求。
附图说明
无。
具体实施方式
通过下面的实施例可以详细的解释本发明，公开本发明的目的旨在保护本发明范围内的一切技术改进，本发明并不局限于下面的实施例：
实施例一：
一种X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，包含如下具体步骤：
步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；先将高碳铬轴承钢GCr15或GCr15SiMn试样进行球化退火，先放入加热炉中加热，加热温度：780℃，保温时间：6h；然后打开炉盖快冷到610℃；再随炉升温至710℃，保温时间2h；最后炉冷至590℃出炉；
步骤二：获得测量设备零位偏差值A；使用X射线衍射设备对制备好的残余奥氏体含量为零的0#试样进行检测，将得到的检测值A作为零位偏差值；
步骤三：利用同一个X射线衍射设备对待测样品进行检测，待测样品需与选用的0#试样的材质相同，待测样品的残余奥氏体含量Y=实际测量值B－零位偏差值A；此外，为保证标定更加准确，在步骤三中，待测样品的实际测量值的绝对值需要小于6%，一般根据偏差要求，待测样品的奥氏体只有小于6%，才有标定的意义；根据需要，当待测样品的实际测量值的绝对值大于等于6%时，基于X射线衍射设备测量偏差的不确定性，能够选择更换合适的X射线衍射设备，重新进行标定。
实施例二：
与实施例一的不同之处在于步骤一：
步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；将高碳铬轴承钢GCr15或GCr15SiMn试样进行球化退火，先放入加热炉中加热，加热温度：790℃，保温时间：6.5h；然后打开炉盖快冷到620℃；再随炉升温至720℃，保温时间2.5h；最后炉冷至600℃出炉。
实施例三：
与实施例一的不同之处在于步骤一：
步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；将高碳铬轴承钢GCr15或GCr15SiMn试样进行球化退火，先放入加热炉中加热，加热温度：800℃，保温时间：7h；然后打开炉盖快冷到630℃；再随炉升温至730℃，保温时间3h；最后炉冷至610℃出炉。
X射线衍射法测定的残余奥氏体含量 %
本发明未详述部分为现有技术。
Claims (5)
1.一种X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，其特征在于：包含如下具体步骤：
步骤一：残余奥氏体含量为零的轴承钢0#试样制备；
将高碳铬轴承钢GCr15或GCr15SiMn试样进行球化退火，先放入加热炉中加热，加热温度：790℃±10℃，保温时间：6h～7h；然后打开炉盖快冷到620℃±10℃；再随炉升温至720℃±10℃，保温时间2h～3h；最后炉冷至600℃±10℃出炉。
步骤二：获得测量设备零位偏差值A；使用X射线衍射设备对制备好的残余奥氏体含量为零的0#试样进行检测，将得到的检测值A作为零位偏差值。
步骤三：利用同一个X射线衍射设备对待测样品进行检测，待测样品的残余奥氏体含量Y=实际测量值B－零位偏差值A。
2.根据权利要求1所述的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，其特征是：在步骤三中，待测样品的实际测量值的绝对值小于6%。
3.根据权利要求2所述的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，其特征是：当待测样品的实际测量值的绝对值大于等于6%时，更换X射线衍射设备，重新进行标定。
4.根据权利要求1所述的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，其特征是：所述待测样品需与0#试样的材质相同。
5.根据权利要求1所述的X射线衍射法测定钢种残余奥氏体的标定方法，其特征是：在步骤一中0#试样在加热阶段的保温时间为6.5h。
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