CN112684945B - 显示面板、触控测试方法及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种显示面板、触控测试方法及电子设备，显示面板包括基板、触控测试端子、复用电路、触控单元以及触控显示芯片；该显示面板在绑定触控显示芯片之前，通过复用电路减少触控单元连接至触控测试端子的走线数量，以顺利进行触控测试；同时减少了触控测试端子的使用数量，可以节省边框的占用空间。
Description
技术领域
本申请涉及触控显示技术领域，具体涉及一种显示面板、触控测试方法及电子设备。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器具有主动发光、可视角度大，色域宽、亮度高、响应速度快、低功耗以及结构上可弯曲等优点，其越来越受到市场的欢迎，成为显示技术的主流。
目前，屏上直接触控(Direct On-Cell Touch，DOT)大多采用的是互容式的触摸屏设计方案，其触控芯片(TIC，Touch IC)与源驱动芯片(Drive IC)是彼此独立的两颗IC(Integrated Circuit，集成电路)，通常DIC位于AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)型Panel(显示面板)的柔性基板上，TIC位于MFPC(Main Flexible Printed Circuit，主柔性印刷电路板)上。
由于互容式的触摸屏的触控通道数较少，而且连接触控电极的触摸引线(TPTrace)可以从屏体的上、下、左、右边框中引出，因此，在Cell状态即未绑定(Bonding)FPC的状态时，可以直接将所有的触摸引线延伸至Panel的Bonding区，通过FPC假压的方式来测试。
与传统的TIC与DIC彼此独立的两颗IC方案相比，TDDI(TIC与DIC集成于一芯片的技术方案)相当于TIC集成到DIC的内部，直接作为一颗IC，绑定在柔性AMOLED基板上。
但是，对于S-DOT(Self-Capacitance DOT)的TDDI技术，其触控电极单元为点自电容设计方案，其包含几百甚至上千个触控电极单元，每个触控电极单元均单独通过对应的TP Trace分别一一对应连接至TDDI IC的触控输出引脚(TP Out Pin)；而且相应的TDDI IC中的TP驱动未采用含有复用电路的技术方案，即触摸屏中点自电容的感应单元(SensorUnit)的数目与TDDI IC中的TP Out Pin的数目保持一致。
基于当前采用S-DOT与TDDI技术的显示面板而言，TP Trace还需要连接至TDDI IC下方的TP Out Pin，加之TP Trace的数量众多，以及受限于空间布置，TP Trace无法全部拉出进行假压测试。因此，针对采用S-DOT与TDDI技术的显示面板，如何进行Cell状态下的触控测试成为急需解决的问题。
发明内容
本申请提供一种显示面板、触控测试方法及电子设备，解决了针对采用S-DOT与TDDI技术的显示面板在Cell状态下的触控测试问题。
第一方面，本申请提供一种显示面板，其包括基板、触控测试端子、复用电路、触控单元以及触控显示芯片；复用电路的输入端与触控测试端子对应连接；一触控单元与复用电路的一输出端对应连接；触控显示芯片的一触控输出引脚与一触控单元对应连接；其中，触控测试端子、复用电路位于基板与触控显示芯片之间；且触控显示芯片至少部分重叠触控测试端子和/或复用电路。
基于第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，触控显示芯片包括N个触控输出组；一触控输出组包括多个触控输出引脚；相邻的两个触控输出引脚之间的距离为第一距离；相邻的两个触控输出组之间的距离为第二距离；第一距离小于第二距离；复用电路包括N个复用子电路；一复用子电路与一触控输出组垂直对置；其中，N为大于或者等于2的整数。
基于第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，复用子电路包括多个复用单元；一复用单元的输入端与一触控测试端子对应连接。
基于第一方面的第二种实施方式，在第一方面的第三种实施方式中，触控显示芯片包括输入引脚、触控显示芯片主体以及触控输出引脚；输入引脚、触控输出引脚分别位于触控显示芯片主体的两个相对侧；显示面板还包括输入端子和输出端子；一输入引脚与一输入端子连接；一触控输出引脚与一输出端子连接；触控测试端子、复用电路位于输入端子与输出端子之间。
基于第一方面的第三种实施方式，在第一方面的第四种实施方式中，基板上设置有至少一行的输入端子；基板上设置有至少三行的输出端子。
基于第一方面的第四种实施方式，在第一方面的第五种实施方式中，触控显示芯片还包括设置于触控输出引脚同侧的显示输出引脚；显示输出引脚分布于触控输出组之间；一显示输出引脚与一输出端子连接。
基于第一方面的第五种实施方式，在第一方面的第六种实施方式中，显示面板包括显示区和边框区；边框区包括弯折区；弯折区靠近显示区；显示面板还包括触控线组和数据线组；触控线组包括触控走线，一触控走线与一触控输出引脚或者一输出端子对应连接；数据线组包括数据走线，一数据走线与一显示输出引脚或者一输出端子对应连接；其中，触控线组、数据线组依次交替分布；触控线组、数据线组位于弯折区的一侧，且远离显示区。
基于第一方面的第六种实施方式，在第一方面的第七种实施方式中，显示面板还包括电源线组，电源线组包括电源走线；一电源线组位于相邻的触控线组与数据线组之间。
基于第一方面的第六种实施方式，在第一方面的第八种实施方式中，显示面板还包括触控线，一触控线与一触控走线和一触控单元连接；其中，触控线等间距且两端平齐地分布于显示区。
基于第一方面的第八种实施方式，在第一方面的第九种实施方式中，触控单元包括设置于第一金属层的触控电极；触控线位于第一金属层，且与触控电极连接；或者触控单元包括设置有触控电极的第一金属层、设置有触控线的第二金属层，以及位于第一金属层与第二金属层之间的绝缘层；第一金属层与第二金属层之间设置有过孔；一触控电极通过至少一个过孔与一触控线连接。
基于第一方面的上述任一种实施方式，在第一方面的第十种实施方式中，显示面板还包括：复用信号线和复用测试端子；复用信号线与复用电路中对应薄膜晶体管的栅极电连接；一复用信号线与至少一个复用测试端子连接。
基于第一方面的的第十种实施方式，在第一方面的第十一种实施方式中，复用测试端子位于薄膜晶体管的一侧。
第二方面，本申请提供一种上述任一实施方式中的显示面板的触控测试方法，其包括：提供一触控测试芯片，触控测试芯片包括测试引脚，一测试引脚与一触控测试端子对应连接，触控测试芯片输出的复用信号用于对应控制复用电路；确定复用信号与复用电路的对应控制关系；基于对应控制关系，连接对应的测试引脚与触控测试端子；在安装触控显示芯片之前，进行触控测试。
第三方面，本申请提供一种电子设备，其包括上述任一实施方式中的显示面板。
本申请提供的显示面板、触控测试方法及电子设备，该显示面板在绑定触控显示芯片之前，通过复用电路减少触控单元连接至触控测试端子的走线数量，以及减少了触控测试端子的使用数量，可以将触控单元的引线全部延伸至触控测试端子，以顺利进行触控测试；同时，触控显示芯片与触控测试端子和/或复用电路至少部分重叠，并不影响后续触控显示芯片的装设，且可以节省边框的占用空间。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本申请实施例提供的显示面板的第一种结构示意图。
图2为本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图。
图3为本申请实施例提供的显示面板的第三种结构示意图。
图4为本申请实施例提供的复用电路的第一种结构示意图。
图5为本申请实施例提供的复用电路的第二种结构示意图。
图6为本申请实施例提供的复用电路的第三种结构示意图。
图7为本申请实施例提供的显示面板的第四种结构示意图。
图8为本申请实施例提供的显示面板的第五种结构示意图。
图9为本申请实施例提供的子像素与触控电极或者触控线的对应关系的第一种结构示意图。
图10为本申请实施例提供的子像素与触控电极或者触控线的对应关系的第二种结构示意图。
图11为本申请实施例提供的顶针与触控测试端子的结构示意图。
图12为本申请实施例提供的触控测试的结构示意图。
图13为本申请实施例提供的触控测试的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参阅图1至图13，其中，如图1和图2所示，本实施例提供了一种显示面板，其包括基板、触控测试端子TP、复用电路MUX、触控单元TPU以及触控显示芯片TDDI；复用电路MUX的输入端与触控测试端子TP对应连接；一触控单元TPU与复用电路MUX的一输出端对应连接；触控显示芯片TDDI的一触控输出引脚与一触控单元TPU对应连接；其中，触控测试端子TP、复用电路MUX位于基板与触控显示芯片TDDI之间。
需要进行说明的是，在本实施例中，触控显示芯片TDDI为集触控芯片与源驱动芯片于一体的一个芯片。
可以理解的是，在本实施例中，基于触控测试端子TP、复用电路MUX位于基板与触控显示芯片TDDI之间，这样的位置关系可以在绑定触控显示芯片TDDI之前，通过复用电路MUX减少触控单元TPU连接至触控测试端子TP的走线数量，将触控单元TPU的引线全部延伸至触控测试端子TP，以顺利进行触控测试；同时，采用复用电路MUX减少了触控测试端子TP的使用数量，可以节省边框的占用空间。
在其中一个实施例中，基板上设置有至少一行的输入端子IP；基板上设置有至少三行的输出端子OP。
可以理解的是，在基板上，输出端子OP多于输入端子IP，且输入端子IP或者输出端子OP是成行分布于基板上的。其中，每一列的输出端子OP呈现一定的倾斜度，同一列中相邻两个的输出端子OP在行方向上具有一定错位，在相同面积的情况下，有利于布局更多的输出端子OP；同时，可以减少两个输出端子OP之间正对的面积，能够降低耦合电路产生的干扰。
在其中一个实施例中，触控显示芯片TDDI包括N个触控输出组TG；一触控输出组TG包括多个触控输出引脚；相邻的两个触控输出引脚之间的距离为第一距离；相邻的两个触控输出组TG之间的距离为第二距离；第一距离小于第二距离；一复用子电路SMUX与一触控输出组TG垂直对置；其中，N为大于或者等于2的整数。
需要进行说明的是，一复用子电路SMUX与一触控输出组TG垂直对置，在显示面板的厚度方向即垂直于显示面板的方向上，与触控输出组TG相比，复用子电路SMUX更为接近基板；同时，一触控输出组TG位于一复用子电路SMUX的正上方。在本实施例中，这样的位置关系不仅可以同时满足布线至触控单元TPU的连接需求，同时，又可以减少不必要的绕线设置，能够以最短距离满足连接需求，节省了边框空间。
在其中一个实施例中，触控显示芯片TDDI包括输入引脚、触控显示芯片主体以及触控输出引脚；输入引脚、触控输出引脚分别位于触控显示芯片主体的两个相对侧；显示面板还包括输入端子IP和输出端子OP；一输入引脚与一输入端子IP连接；一触控输出引脚与一输出端子OP连接；触控测试端子TP、复用电路MUX位于输入端子IP与输出端子OP之间。
需要进行说明的是，该触控显示芯片TDDI的形状可以为矩形，该矩形具有两个相对的长边和两个相对的短边，输入引脚位于两个长边所在侧中的一个，触控输出引脚位于两个长边所在侧中的另一个。其中，输入引脚朝向边框区NA的边缘，触控输出引脚朝向显示区AA，有利于传输来自于显示面板外部的输入信号至输入引脚，例如，输入信号可以为数据信号；同时，触控输出引脚通过输出端子OP布线至触控单元TPU，有利于以较短距离实现该布线至显示区AA。可以理解的是，从边框区NA至显示区AA的方向上，依次分布着输入端子IP、触控测试端子TP、复用电路MUX以及输出端子OP；这样的布局有利于实现相邻的两个物件之间最短距离的布线。
在其中一个实施例中，触控显示芯片TDDI还包括设置于触控输出引脚同侧的显示输出引脚；显示输出引脚分布于触控输出组TG之间；一显示输出引脚与一输出端子OP连接。
需要进行说明的是，在本实施例中，触控显示芯片TDDI的输出引脚至少包括位于同一长边的触控输出引脚和显示输出引脚；其中，显示输出引脚也是以组为单位分布的，一显示输出组DG至少包括一个显示输出引脚，与触控输出组TG交替分布。显示输出组DG与触控输出组TG交替分布，有更充分的空间布置与触控输出组TG对应的触控测试端子TP，为触控测试提供更适合的空间，例如，可以增加触控测试端子TP之间的距离，为顶针的按压提供便利。
如图1所示，在其中一个实施例中，显示面板包括显示区AA和边框区NA；边框区NA包括弯折区BA；弯折区BA靠近显示区AA；显示面板还包括触控线TPL组和数据线组；触控线TPL组包括触控走线，一触控走线与一触控输出引脚或者一输出端子OP对应连接；数据线组包括数据走线，一数据走线与一显示输出引脚或者一输出端子OP对应连接；其中，触控线TPL组、数据线组依次交替分布；触控线TPL组、数据线组位于弯折区BA的一侧，且远离显示区AA。
在其中一个实施例中，显示面板还包括电源线组PG，电源线组PG包括电源走线；一电源线组PG位于相邻的触控线TPL组与数据线组之间。
需要进行说明的是，电源走线包括恒压高电位信号走线和恒压低电位信号走线中的至少一种。
在其中一个实施例中，显示面板还包括触控线TPL，一触控线TPL与一触控走线和一触控单元TPU连接；其中，触控线TPL等间距且两端平齐地分布于显示区AA。可以理解的是，触控线TPL等间距且两端平齐地分布于显示区AA，有利于实现不同触控线TPL之间实现等阻抗，减少信号传递的不同步性；以及有利于实现不同触控线TPL之间耦合电容的均衡分布，降低对信号传递的干扰。
如图2所示，在其中一个实施例中，触控单元TPU包括设置于第一金属层的触控电极；触控线TPL位于第一金属层，且与触控电极连接。其中，在本实施例中，触控线TPL的一部分位于相邻两列的触控电极之间。相邻两列的触控电极之间的空间被定义为触控盲区DZ。
需要进行说明的是，在本实施例中，触控线TPL、触控电极均位于第一金属层，可以降低显示面板的厚度。其中，触控电极可以为金属网格，且与触控线TPL可以通过蚀刻一体成型，有利于节省工艺环节。
如图3所示，在其中一个实施例中，触控单元TPU包括设置有触控电极的第一金属层、设置有触控线TPL的第二金属层，以及位于第一金属层与第二金属层之间的绝缘层；第一金属层与第二金属层之间设置有过孔；一触控电极通过至少一个过孔与一触控线TPL连接。其中，在垂直于显示面板的方向上，触控电极位于触控线TPL的一侧。
如图4所示，在其中一个实施例中，复用电路MUX包括N个复用子电路SMUX。复用子电路SMUX包括多个复用单元UMUX；一复用单元UMUX的输入端与一触控测试端子TP对应连接。
每一复用单元UMUX可以但不限于包括两个薄膜晶体管，同一触控测试端子TP与两个薄膜晶体管的输入端连接，第一复用信号MUX1、第二复用信号MUX2分时对应控制两个薄膜晶体管的打开与关断，以满足触控测试的需求。
在其中一个实施例中，显示面板还包括复用信号线和复用测试端子；复用信号线与复用电路中对应薄膜晶体管的栅极电连接；一复用信号线与至少一个复用测试端子连接。其中，复用测试端子可以但不限于用于接入对应的复用信号，然后再通过复用信号线将复用信号传输至对应的薄膜晶体管的栅极。
具体地，复用测试端子可以但不限于位于薄膜晶体管的一侧，也可以同时位于复用电路MUX中所有薄膜晶体管的两个外侧。即复用测试端子位于复用信号线的两个端部附近。如此有利于接入对应的复用信号。
可以理解的是，在本实施例中，复用单元UMUX的TFT开关数量为2，即复用电路MUX的输入输出之比为1:2。如有800个触控单元TPU的话，经过复用电路MUX的1:2变换后，只需要400个触控测试端子TP；触控显示芯片TDDI的触控输出组TG分为10个的话，则在每个触控输出组TG下方对应的基板上，只需设置40个触控测试端子TP即可。极大地减少了触控测试端子TP的使用数量，降低了空间占用，有利于进行触控测试。
如图5所示，每一复用单元UMUX还可以包括五个薄膜晶体管，同一触控测试端子TP与五个薄膜晶体管的输入端连接，第一复用信号MUX1、第二复用信号MUX2、第三复用信号MUX3、第四复用信号MUX4以及第五复用信号MUX5分时对应控制五个薄膜晶体管的打开与关断，以满足触控测试的需求。
可以理解的是，在本实施例中，复用单元UMUX的TFT开关数量为5，即复用电路MUX的输入输出之比为1:5。如有800个触控单元TPU的话，经过复用电路MUX的1:5变换后，只需要160个触控测试端子TP；触控显示芯片TDDI的触控输出组TG分为10个的话，则在每个触控输出组TG下方对应的基板上，只需设置16个触控测试端子TP即可。极大地减少了触控测试端子TP的使用数量，降低了空间占用，有利于进行触控测试。
如图6所示，每一复用单元UMUX还可以包括十个薄膜晶体管，同一触控测试端子TP与十个薄膜晶体管的输入端连接，第一复用信号MUX1、第二复用信号MUX2至第九复用信号MUX9以及第十复用信号MUX10分时对应控制五个薄膜晶体管的打开与关断，以满足触控测试的需求。
可以理解的是，在本实施例中，复用单元UMUX的TFT开关数量为10，即复用电路MUX的输入输出之比为1:10。如有800个触控单元TPU的话，经过复用电路MUX的1:10变换后，只需要80个触控测试端子TP；触控显示芯片TDDI的触控输出组TG分为10个的话，则在每个触控输出组TG下方对应的基板上，只需设置8个触控测试端子TP即可。极大地减少了触控测试端子TP的使用数量，降低了空间占用，有利于进行触控测试。
需要进行说明的是，一复用子电路SMUX可以但不限于包括多个复用单元UMUX，也可以为至少包括一个复用单元UMUX。该复用单元UMUX的输入输出之比可以为1:2至1:10；该复用单元UMUX也可以为一个输入端对应至少十一个输出端。可以理解的是，采用复用单元UMUX可以极大地减少触控测试端子TP至对应的触控单元TPU之间的走线数量，同时也有利于将触控单元TPU的引线全部延伸至对应的触控测试端子TP。
如图7所示，显示面板还可以包括依次叠层设置的PI(Polyimide，聚酰亚胺)基板层10、薄膜晶体管层20、有机发光功能层30、薄膜封装层40、触控功能层50、偏光层60、光学胶层70以及盖板80。
其中，PI基板层10包括依次叠层设置的保护膜11、基板12、阻挡层13以及第一缓冲层14。其中，基板12为双层PI设计。阻挡层13、第一缓冲层14的材料可以但不限于为氮化硅，还可以采用氧化硅。
薄膜晶体管层20包括依次叠层设置的有源层21、栅极绝缘层22、栅极层23、层间绝缘层24、源漏极层25以及第二缓冲层26。
有机发光功能层30包括依次叠层设置的阳极层31、像素定义层32、有机发光层33以及阴极层34。
薄膜封装层40包括依次叠层设置的第一无机层41、有机材料层42以及第二无机层43。其中，第一无机层41、第二无机层43均可以采用化学气相沉积工艺制备。有机材料层42可以采用打印技术制备。
在其中一个实施例中，触控功能层50包括依次叠层设置的第三缓冲层51、第一金属层52以及钝化层53。其中，第一金属层52包括触控单元TPU和触控线TPL。
如图8所示，在其中一个实施例中，触控功能层50包括依次叠层设置的第三缓冲层51、第二金属层54、绝缘层55、第一金属层52以及钝化层53。其中，第一金属层52包括阵列分布的触控单元TPU。第二金属层54包括触控线TPL。一触控单元TPU通过至少一个过孔541与一触控线TPL对应连接。
如图9所示，在其中一个实施例中，显示面板还包括多个子像素SP和触控金属线SL。其中，触控金属线SL可以为触控电极或者触控线TPL。如果子像素SP为方形或者其他多边形结构，则围绕子像素SP形成的触控电极或者触控线TPL设置为相应的为直线型。围绕着子像素SP的折线型触控电极或者触控线TPL，避开下方的子像素SP。
如图10所示，在其中一个实施例中，如果子像素SP为椭圆或者其他弧边形结构，则围绕子像素SP形成的触控电极或者触控线TPL设置为相应的为弧线型。围绕着子像素SP的折线型触控电极或者触控线TPL，避开下方的子像素SP。
如图11至图13所示，在其中一个实施例中，本申请提供一种上述任一实施例中的显示面板的触控测试方法，其包括以下步骤：
步骤S10：提供一触控测试芯片，触控测试芯片包括测试引脚，一测试引脚与一触控测试端子对应连接，触控测试芯片输出的复用信号用于对应控制复用电路。
步骤S20：确定复用信号与复用电路的对应控制关系。
步骤S30：基于对应控制关系，连接对应的测试引脚与触控测试端子。
步骤S40：在安装触控显示芯片之前，进行触控测试。
具体地，如图11和图12所示，触控测试仪器200与触控测试芯片100的输入端和服务器300连接，触控测试芯片100的测试引脚通过连接线与顶针90连接，然后将顶针90按压在触控测试端子TP上，触控测试端子TP与复用电路MUX的输入端对应连接。在触控测试仪器200的控制下完成上述触控测试过程，并将触控测试结果反馈至服务器300。
其中，该触控测试过程可以选择一次完成，也可以选择分时多次完成。
需要进行说明的是，本实施例中的触控测试芯片100具有与复用电路MUXMUX对应的复用功能，可以减少测试引脚的数量，降低触控测试芯片100的成本。复用信号用于控制对应的复用单元UMUX中的晶体管打开或者关闭。
在其中一个实施例中，本申请提供一种电子设备，其包括上述任一实施例中的显示面板。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的显示面板、触控测试方法及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。
Claims (14)
1.一种显示面板，其特征在于，包括：
基板；
触控测试端子；
复用电路，所述复用电路的输入端与所述触控测试端子对应连接；
触控单元，一所述触控单元与所述复用电路的一输出端对应连接；
触控显示芯片，所述触控显示芯片的一触控输出引脚与一所述触控单元对应连接；
其中，所述触控测试端子、所述复用电路位于所述基板与所述触控显示芯片之间；且所述触控显示芯片至少部分重叠所述触控测试端子和/或所述复用电路。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述触控显示芯片包括N个触控输出组；一所述触控输出组包括多个所述触控输出引脚；相邻的两个所述触控输出引脚之间的距离为第一距离；相邻的两个所述触控输出组之间的距离为第二距离；所述第一距离小于所述第二距离；
所述复用电路包括N个复用子电路；一所述复用子电路与一所述触控输出组垂直对置；
其中，N为大于或者等于2的整数。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述复用子电路包括多个复用单元；一所述复用单元的输入端与一所述触控测试端子对应连接。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述触控显示芯片包括输入引脚、触控显示芯片主体以及所述触控输出引脚；所述输入引脚、所述触控输出引脚分别位于所述触控显示芯片主体的两个相对侧；
所述显示面板还包括输入端子和输出端子；一所述输入引脚与一所述输入端子连接；一所述触控输出引脚与一所述输出端子连接；
所述触控测试端子、所述复用电路位于所述输入端子与所述输出端子之间。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述基板上设置有至少一行的所述输入端子；所述基板上设置有至少三行的所述输出端子。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述触控显示芯片还包括设置于所述触控输出引脚同侧的显示输出引脚；所述显示输出引脚分布于所述触控输出组之间；一所述显示输出引脚与一所述输出端子连接。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和边框区；所述边框区包括弯折区；所述弯折区靠近所述显示区；
所述显示面板还包括：
触控线组，所述触控线组包括触控走线，一所述触控走线与一所述触控输出引脚或者一所述输出端子对应连接；
数据线组，所述数据线组包括数据走线，一所述数据走线与一所述显示输出引脚或者一所述输出端子对应连接；
其中，所述触控线组、所述数据线组依次交替分布；所述触控线组、所述数据线组位于所述弯折区的一侧，且远离所述显示区。
8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
电源线组，所述电源线组包括电源走线；一所述电源线组位于相邻的所述触控线组与所述数据线组之间。
9.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括触控线，一所述触控线与一所述触控走线和一所述触控单元连接；
其中，所述触控线等间距且两端平齐地分布于所述显示区。
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述触控单元包括设置于第一金属层的触控电极；所述触控线位于所述第一金属层，且与所述触控电极连接；
或者
所述触控单元包括设置有触控电极的第一金属层、设置有触控线的第二金属层，以及位于所述第一金属层与所述第二金属层之间的绝缘层；所述第一金属层与所述第二金属层之间设置有过孔；一所述触控电极通过至少一个所述过孔与一所述触控线连接。
11.根据权利要求1至10任一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
复用信号线，所述复用信号线与所述复用电路中对应薄膜晶体管的栅极电连接；
复用测试端子，一所述复用信号线与至少一个所述复用测试端子连接。
12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述复用测试端子位于所述薄膜晶体管的一侧。
13.一种如权利要求1至12任一项所述的显示面板的触控测试方法，其特征在于，包括：
提供一触控测试芯片，所述触控测试芯片包括测试引脚，一所述测试引脚与一所述触控测试端子对应连接，所述触控测试芯片输出的复用信号用于对应控制所述复用电路；
确定所述复用信号与所述复用电路的对应控制关系；
基于所述对应控制关系，连接对应的所述测试引脚与所述触控测试端子；
在安装所述触控显示芯片之前，进行触控测试。
14.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1至12任一项所述的显示面板。
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