CN112649717A - 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质 - Google Patents

一种测试方法、装置、终端设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112649717A
CN112649717A CN202010968115.5A CN202010968115A CN112649717A CN 112649717 A CN112649717 A CN 112649717A CN 202010968115 A CN202010968115 A CN 202010968115A CN 112649717 A CN112649717 A CN 112649717A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tested
equipment
test
calibration
identification information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010968115.5A
Other languages
English (en)
Inventor
罗宁
李滨村
曹子鹏
张雨力
甄浩凯
刘维球
刘契荣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHENZHEN JIMI IOT Co.,Ltd.
Original Assignee
Guangzhou Jimi Wulian Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou Jimi Wulian Technology Co ltd filed Critical Guangzhou Jimi Wulian Technology Co ltd
Priority to CN202010968115.5A priority Critical patent/CN112649717A/zh
Publication of CN112649717A publication Critical patent/CN112649717A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本申请适用于生产智能制造技术领域,提供了一种测试方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。从而提高PCBA进入组装阶段之前的测试效率。

Description

一种测试方法、装置、终端设备及存储介质
技术领域
本申请属于生产智能制造技术领域,尤其涉及一种测试方法、装置、终端设备及存储介质。
背景技术
在现有的绝大多数的移动终端加工厂,印刷电路板(Printed Circuit Boards,PCB)在经过表面贴装技术(Surface Mounted Technology,SMT)贴片后,得到装配印刷电路板(Printed Circuit Board Assembly,PCBA),而得到的PCBA则需通过软件下载、参数校准以及功能测试,才能进入组装阶段,进而投入市场,而现有的PCBA进入组装阶段之间的各个功能的测试,以及功能测试之前的软件下载和参数校准,均需产线工人进行操作,需在其中耗费大量的人力以及设备仪器,导致自动化水平低,而且在测试过程中还会出现遗漏或重复相同工序的现象发生,进而导致测试效率较低。
发明内容
本申请实施例提供了一种测试方法、装置、终端设备及存储介质,可以解决PCBA进入组装阶段之前测试效率较低的问题。
第一方面,本申请实施例提供了一种测试方法,包括:
获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;
从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;
从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;
控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
可选的,在从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备之前,包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备的设备编码,根据所述设备编码确定所述待测设备的当前状态;
将所述当前状态符合预设状态的待测设备从所述待测设备集中删除。
可选的,在从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备之前,还包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备的设备类型,根据所述设备类型确定所述待测设备的功能测试项,并根据所述功能测试项匹配对应的标识信息。
可选的,在控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试之后,包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备操作过程中的日志信息,根据所述日志信息确定所述待测设备的操作结果,并将所述操作结果进行显示。
可选的,在控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试之后,还包括:
获取符合所述第一待测设备的功能测试完成信号,根据预设调度规则控制完成功能测试的第一待测设备进行参数校准。
可选的,在获取校准仪器类型之前,包括:
获取所述待测设备集的订单编号,根据所述订单编号确定所述待测设备集的调度规则。
可选的,在获取校准仪器类型之前,包括:
以预设时间间隔将请求信息发送给操作工具,以使所述操作工具根据所述请求信息进行反馈;
若预设请求次数内没有获取反馈信息,则进行重启操作。
第二方面,本申请实施例提供了一种测试装置,包括:
获取模块,用于获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;
第一选取模块,用于从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;
第二选取模块,用于从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;
执行模块,用于控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
第三方面,本申请实施例提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一种测试方法的步骤。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述的计算机程序被处理器执行时实现上述任一种测试方法的步骤。
第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在终端设备上运行时,使得终端设备执行上述第一方面中任一种测试方法。
本申请实施例中获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。通过自动化控制符合上述条件的待测设备集中的各个待测设备的参数校准以及功能测试同时进行,来提高了校准以及测试过程中仪器的复用率,并通过对应待测设备的选取,而避免了测试过程中待测设备的遗漏,从而整体提高PCBA进入组装阶段之前的测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的测试方法的第一种流程示意图;
图2是本申请实施例提供的测试方法的第二种流程示意图;
图3是本申请实施例提供的测试装置的结构示意图;
图4是本申请实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中,省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解,当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外,在本申请说明书和所附权利要求书的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
图1所示为本申请实施例中一种测试方法的流程示意图,该方法的执行主体可以是终端设备,如图1所示,所述测试方法可以包括如下步骤:
步骤S101、获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量。
在本实施例中,因当前大多数终端设备加工厂PCBA板中的经软件程序下载、参数校准、功能测试之后的成功品,才能进入组装阶段,而目前这三种组装之前的工序所需手段均需耗费大量人力以及设备仪器,自动化程度较低,而对此可利用将上述三种工序整合一体,进行综合控制的终端设备,来进行整体各个工序的调度,而因不同的生产线所用的仪器仪表也略有不同,为减少仪器的空闲时间,提高仪器的复用率,可预先获取当前操作过程中校准所用的仪器类型,根据该仪器类型判断当前可以同时执行参数校准这一工序的待测设备的数量,以便于后续终端设备进行综合调度时,合理利用校准仪器。其中,上述校准仪器类型是指校准仪器的型号;上述待测设备是指经SMT贴片后的PCBA板。
具体示例而非限定的,目前不同工厂生产线所用到的校准仪器不同,校准仪器大概包括安捷伦8960、大唐校准仪器、CMW100等,具体仪器仪表的使用情况由生产工厂决定,这里不做限定。其中,若上述各个工序同时进行的话,则上述安捷伦8960只能进行1个待测设备进行参数校准,上述大唐校准仪器仅支持2个待测设备同时进行参数校准,而上述CMW100最多可支持8个待测设备同时进行参数校准。
可选的,步骤S101之前,包括:
获取所述待测设备集的订单编号,根据所述订单编号确定所述待测设备集的调度规则。
在本实施例中,因不同的待测设备集,可能存在所进行校准的参数标准不同、所进行功能测试的测试项不同以及工序过程中相关的指令配置也有所不同,故可预先在进行综合调控的终端设备中进行相关的配置,也就是将订单编号与上述所涉及的配置项进行关联,以使终端设备在获取待测设备集的订单编号后,根据订单编号来确定配置项,进而根据该配置项确定该待测设备集的调度规则。例如,不同配置项可能在进行参数校准时所用到的时间不同,故可根据时间的不同对不同的功能测试进行整体调度;又或者是根据上述配置项,来确定当前要进行功能测试的测试项,因存在有些测试项需在参数校准之后或者一些特定测试项之后,故终端设备可根据测试项的需求进行整体调度。其中,上述订单编号为代表当前批量待测设备的编号;上述调度规则为根据不同的原则进行待测设备的调度,以使待测设备进行功能测试、参数校准或软件程序下载等工序的进行。
可以理解的是,因各个待测设备的生产后的各项硬件参数不可能完全一致,而且不同的硬件参数会影响待测设备的测试结果,需设定一个参数标准,将硬件参数校准到相对统一的水平下再进行测试,故可以根据参数标准来调整待测设备内部的参数,从而修正偏差,保障各个待测设备的射频性能指标和一致性。
可选的,如图2所示,步骤S102之前,包括:
步骤S201、获取所述待测设备集中各个待测设备的设备编码,根据所述设备编码确定所述待测设备的当前状态。
步骤S202、将所述当前状态符合预设状态的待测设备从所述待测设备集中删除。
在本实施例中,在对上述待测设备集中的各个待测设备进行调度,以使各个待测设备投入相应的工序之前,还需对上述各个待测设备进行审核,以防止存在某些待测设备重复进行相应工序或一直未进行工序,导致待测设备发生遗漏的现象,且每个待测设备均携带代表其身份的唯一的设备编码,以及相关的工序中所用到的工具会将在其工序过程中得到的相关数据和相关数据所对应的设备编码上传至MES***。故可通过获取上述待测设备集中各个待测设备的设备编码,通过该设备编码在MES***进行查询,确定出设备编码所对应的待测设备在生产工序中的当前状态,并将预设状态设定为已测试完成的状态,将两者进行比对,当上述当前状态符合上述预设状态时,说明该订单编号所对应的待测设备已完成测试,故可将该待测设备从待测设备集中删除,该待测设备不投入工序中进行相关测试。
具体示例而非限定的,若通过设备编号在终端设备内部查询到相应的记录,例如操作成功或失败的记录,若查询到相应的记录,说明该订单编号所对应的待测设备已测试完成,可将待测设备从待测设备集中删除,不进行该待测设备的测试;若未查询到相应的记录,说明该订单编号所对应的待测设备未进行测试,或测试未完成,则可继续进行测试。
可选的,步骤S102之前,还包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备的设备类型,根据所述设备类型确定所述待测设备的功能测试项,并根据所述功能测试项匹配对应的标识信息。
在本实施例中,因不同待测设备的生产测试所需要测试的功能并不相同,故需根据不同待测设备的功能定制不同的测试项,以应对待测设备的需求,故可根据串口连接或相关的接口协议,判断出待测设备集中各个待测设备的设备类型,根据不同的设备类型确定所对应的待测设备的功能测试项,并进行配置。以实现待测设备进行符合待测设备本身的功能测试,并根据所确定的功能测试匹配对应的标识信息,也就是说,待测设备确定出几项功能测试项,就针对该功能测试项匹配各个对应的标识信息,以便于后续进行总调度的终端设备根据待测设备不同的标识信息以相应的调度规则进行功能测试调度。
具体示例而非限定的,若通过设备类型确定上述待测设备需进行电流测试项、震动测试项、GPS测试项、WIFI信号测试项以及SIM卡测试项,则需针对上述各个测试项匹配对应的标识信息,如震动测试项匹配震动标识、GPS测试项匹配GPS标识等。
可选的,因待测设备在开发过程中,除实现待测设备基本功能之外,还需开发测试模块来验证待测设备的功能是否完善以及性能是否合格,而当待测设备在运行测试模块时,也就处于测试模式,而负责总控的终端设备会进行指令交互控制测试模块,对产品的各功能项进行测试。而在测试的过程中,终端设备可通过串口收发交互信息,来进行待测设备的功能测试;还可根据上述相关的接口协议调用芯片平台测试库来进行对应的功能测试。
可以理解的是,上述产品所具备的功能不同,其所对应的测试项也不同,例如,产品含有震动传感器时,进行总控的终端设备可控制外界部件对震动该产品,并通过串口获取该产品发送过来的测试信息,也就是震动传感器所得到的信息,以判断震动传感器是否正常;又或者产品具有WIFI功能,进行总控的终端设备可通过串口指令控制产品搜索WIFI热点,搜索完成后通过串口获取该产品发送过来的测试信息,以判断WIFI功能是否正常等。
步骤S102、从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备。
在本实施例中,因在终端设备进行总控的过程中,为提高仪器的复用率,控制各工序互补进行工作,可根据当前状况将待测设备将要进行的功能测试项分为校准前功能测试和校准后功能测试,而在这个过程中,终端设备控制待测设备进行功能测试时就可能存在校准前功能测试、校准后功能测试以及校准已完成后的全功能测试,故终端设备可从待测设备集中获取待测设备的标识信息并进行判断,若当前待测设备的表示信息符合预设标识信息,则将符合预设标识信息的待测设备设置为第一待测设备。其中,上述第一待测设备可以为一个,也可以为两个及两个以上;上述预设标识信息为对应于校准前功能测试、校准后功能测试或全功能测试的标识信息,且该标识信息携带当前校准后功能测试项以及全功能测试项所对应的待测设备是否进行参数校准的信息,因上述校准后功能测试项以及全功能测试项,需进行参数校准后才能进行,故需携带对应参数校准信息才能选取出符合上述要求的第一待测设备。
可选的,上述校准前功能测试和校准后功能测试的具体划分可根据校准参数进行划分,也就是需利用校准后的硬件参数才能进行的功能测试项,将会划分在校准后功能测试中,例如,检查RF校准标志位测试;也可根据测试基础条件进行划分,也就是需根据一些功能测试项测试完成的基础上再进行功能测试的功能测试项,将会划分为校准后功能测试,再将作为条件的功能测试项划分为校准前功能测试;也可根据校准时间进行划分,也就是根据待测设备的校准时间,将比较符合校准时间的功能测试划分为校准前功能测试;又或者根据技术人员的操作需求进行划分,这里不做限定,且可将上述划分规则一种或多种进行结合,来进行划分。
可选的,为提高待测设备测试过程中的自动化水平,在进行总控的终端设备获取用户发出的测试指令后,即可根据预设的调度规则进行对应的自动化工序的进行,以提高整体效率。而当用户发出测试指令后,终端设备根据测试指令,对各个待测设备进行程序下载,以使待测设备具备其所对应的功能,便于后续进行参数校准以及功能测试。
步骤S103、从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备。
在本实施例中,从上述步骤选取出当前可进行功能测试的第一待测设备后,从设备集中排除上述所选取的第一待测设备,而留下的,则是当前可进行参数校准的待测设备,并将该待测设备设定为第二待测设备,以便于后需终端设备进行对应的控制,其中,上述第二待测设备可以为一个,也可以为两个及两个以上。
步骤S104、控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
在本实施例中,因当前为减少仪器的闲置时间,提高仪器的复用率,故从上述步骤中选取符合条件的第一待测设备和第二待测设备,进行总控的终端设备可控制上述确定的同时执行参数校准的待测设备数量,来从第二待测设备中按照预设顺序或预设优先级等选取规则来选取符合上述待测设备数量的第二待测设备,终端设备在控制所选取的第二待测设备执行参数校准,并控制上述所确定的第一待测设备执行符合其所标识信息的功能测试,例如当前标识信息为震动标识,则进行震动测试。
可选的,因当前终端设备控制待测设备进行相应工序的仪器不同,故当前可控制待测设备同时进行工作的数量不同。例如,若当前终端设备利用射频综测仪进行控制,因上述射频综测仪有四个通道,每个通道对应一个待测设备的话,若终端设备仅利用一个射频综测仪,则当前可同时工作的待测设备只有四台,终端设备可实时监控射频综测仪通道所连接的待测设备的工序情况,若通过上述步骤得到当前执行参数校准的待测设备数量为1台,则终端设备控制第二待测设备中排位第一的第二待测设备进行参数校准,而再从所确定的第一待测设备中按上述选取规则,选取三个第一待测设备进行符合其标识信息的功能测试,例如校准前功能测试、校准后功能测试或全功能测试,而当上述进行校准的第二待测设备参数校准完成后,则将其归为第一待测设备排队等待进行功能测试,而上述进行功能测试的第一待测设备功能测试完成后,看其标识信息判断是否将其归为第二待测设备排队等待进行参数校准,因三路中进行功能测试的第一待测设备中,可能存在进行的是全功能测试或校准后功能测试,也就是其已完成参数校准,故需进行判断。
可选的,若当前第二待测设备的数量大于上述所确定的执行参数校准的待测设备数量,可从中选取符合上述执行参数校准的待测设备数量的第二待测设备后,将剩余未被选取的,且未进行功能测试的第二待测设备划分为第一待测设备中,来等待校准前功能测试的进行。
可选的,步骤S104之后,包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备操作过程中的日志信息,根据所述日志信息确定所述待测设备的操作结果,并将所述操作结果进行显示。
在本实施例中,因待测设备集中可能存在功能或性能不符合相关规定的待测设备,为方便用户观看结果,终端设备可获取待测设备集中各个待测设备在上述软件下载、参数校准以及功能测试等工序操作过程中所产生的日志信息,并将该日志信息记录到本地,用户也可通过终端设备的主控界面看到相关的日志信息,并且终端设备会根据上述日志信息确定待测设备的操作结果,也就是成功数以及失败数,并且还会将对应设备编号的待测设备的相关结果信息进行相应的显示。
可选的,步骤S104之后,还包括:
获取符合所述第一待测设备的功能测试完成信号,根据预设调度规则控制完成功能测试的第一待测设备进行参数校准。
在本实施例中,因待测设备进行工序工作时,不同待测设备所完成工序的时间不同,故终端设备可实时监听各个工序中待测设备完成的进度,当其中某一个的待测设备的工序完成后,终端设备得到该工序完成信号后,终端设备实时按照上述的调度规则,通过继电器指令下发给另一个待测设备,以使该待测设备进行对应工序的工作。
可选的,步骤S104之前,可通过继电器控制第二待测设备进行重启操作。
在本实施例中,因上述第二待测设备为防止因当前参数不稳定,而导致参数校准不合格,故需在进行参数校准之前进行重启,终端设备可通过继电器的开关控制第二待测设备进行重启操作。
可选的,上述终端设备可利用气动夹具来进行上述工序的进行,利用多拼板模式进行工序中各个待测设备的切换,利用一套夹具完成上述三个工序作业,无需转移和拆板,并通过控制继电器切换工序,实现自动化下载、校准以及测试;通过利用同轴开关实现校准仪器的参数校准工序的进行。其中,上述气动夹具中可添加气缸使用气动代替手动压板,并添加马达震动来代替手动震动,以应对震动测试项。
可选的,在进行上述步骤S101之前,终端设备获取当前操作用户的账号密码信息,并与其内部预存的权限信息进行验证,当验证通过后,再根据用户输入的订单号进行相关配置。在用户输入信息阶段,若信息发生错误,则终端设备返回错误提示信息,并重新获取。
可选的,步骤S101之前,包括:
以预设时间间隔将请求信息发送给操作工具,以使所述操作工具根据所述请求信息进行反馈。
若预设请求次数内没有获取反馈信息,则进行重启操作。
在本实施例中,当终端设备发送请求信息开启串口、校准仪器等工序中所对应的操作工具时,若上述操作工具在预设请求次数内没有回复,则需重启对应的操作工具,以便于操作工具的正常运行。
可选的,若上述操作工具为测试工具,则终端设备可查询对应端口占用情况,并解除对应端口占用,重新发送请求信息,以使上述测试工具回复请求信息。
可选的,终端设备发送请求信息给相应的下载工具,当下载工具回复请求信息后,终端设备发送待测设备所对应的配置信息给下载工具,以使下载工具将相应的程序下载到待测设备中,在这一过程中,终端设备将实时显示当前的状态文本、进度信息以及对应结果。当上述程序下载成功后,终端设备可通过继电器控制相应的校准仪器进行工作,当校准仪器回复终端设备发送的请求信息后,终端设备创建共享内存区,并将COM号发送给校准工具,并进行相关测试模式设置、配置文件设置等相关配置的设置,并进行校准,获取校准仪器反馈的校准结果。终端设备可通过继电器控制相应的测试工具进行工作,当测试工具回复终端设备发送的请求信息后,终端设备向测试工具发送订单等相关配置信息以及COM号,进行测试工序,并获取测试工具反馈的相关测试信息、测试结果以及停止测试信息。
本申请实施例中获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。通过自动化控制符合上述条件的待测设备集中的各个待测设备的参数校准以及功能测试同时进行,来提高了校准以及测试过程中仪器的复用率,并通过对应待测设备的选取,而避免了测试过程中待测设备的遗漏,从而整体提高PCBA进入组装阶段之前的测试效率。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
对应于上文所述的一种测试方法,图3所示为本申请实施例中一种测试装置的结构示意图,如图3所示,所述测试装置可以包括:
获取模块301,用于获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量。
第一选取模块302,用于从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备。
第二选取模块303,用于从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备。
执行模块304,用于控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
可选的,所述测试装置还可以包括:
获取编码模块,用于获取所述待测设备集中各个待测设备的设备编码,根据所述设备编码确定所述待测设备的当前状态。
删除模块,用于将所述当前状态符合预设状态的待测设备从所述待测设备集中删除。
可选的,所述测试装置还可以包括:
获取类型模块,用于获取所述待测设备集中各个待测设备的设备类型,根据所述设备类型确定所述待测设备的功能测试项,并根据所述功能测试项匹配对应的标识信息。
可选的,所述测试装置还可以包括:
获取日志模块,用于获取所述待测设备集中各个待测设备操作过程中的日志信息,根据所述日志信息确定所述待测设备的操作结果,并将所述操作结果进行显示。
可选的,所述测试装置还可以包括:
参数校准模块,用于获取符合所述第一待测设备的功能测试完成信号,根据预设调度规则控制完成功能测试的第一待测设备进行参数校准。
可选的,所述测试装置还可以包括:
确定规则模块,用于获取所述待测设备集的订单编号,根据所述订单编号确定所述待测设备集的调度规则。
可选的,所述测试装置还可以包括:
发送模块,用于以预设时间间隔将请求信息发送给操作工具,以使所述操作工具根据所述请求信息进行反馈。
重启模块,用于若预设请求次数内没有获取反馈信息,则进行重启操作。
本申请实施例中获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。通过自动化控制符合上述条件的待测设备集中的各个待测设备的参数校准以及功能测试同时进行,来提高了校准以及测试过程中仪器的复用率,并通过对应待测设备的选取,而避免了测试过程中待测设备的遗漏,从而整体提高PCBA进入组装阶段之前的测试效率。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的装置和模块的具体工作过程,可以参考前述***实施例以及方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
图4为本申请实施例提供的终端设备的结构示意图。为了便于说明,仅示出了与本申请实施例相关的部分。
如图4所示,该实施例的终端设备4包括:至少一个处理器400(图4中仅示出一个),与所述处理器400连接的存储器401,以及存储在所述存储器401中并可在所述至少一个处理器400上运行的计算机程序402,例如测试程序。所述处理器400执行所述计算机程序402时实现上述各个测试方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤S101至S104。或者,所述处理器400执行所述计算机程序402时实现上述各装置实施例中各模块的功能,例如图3所示模块301至304的功能。
示例性的,所述计算机程序402可以被分割成一个或多个模块,所述一个或者多个模块被存储在所述存储器401中,并由所述处理器400执行,以完成本申请。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序402在所述终端设备4中的执行过程。例如,所述计算机程序402可以被分割成获取模块301、第一选取模块302、第二选取模块303、执行模块304,各模块具体功能如下:
获取模块301,用于获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量。
第一选取模块302,用于从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备。
第二选取模块303,用于从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备。
执行模块304,用于控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
所述终端设备4可包括,但不仅限于,处理器400、存储器401。本领域技术人员可以理解,图4仅仅是终端设备4的举例,并不构成对终端设备4的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器400可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),该处理器400还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器401在一些实施例中可以是所述终端设备4的内部存储单元,例如终端设备4的硬盘或内存。所述存储器401在另一些实施例中也可以是所述终端设备4的外部存储设备,例如所述终端设备4上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器401还可以既包括所述终端设备4的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器401用于存储操作***、应用程序、引导装载程序(BootLoader)、数据以及其他程序等,例如所述计算机程序的程序代码等。所述存储器401还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述***中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括:能够将计算机程序代码携带到拍照装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试方法,其特征在于,包括:
获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;
从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;
从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;
控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备之前,包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备的设备编码,根据所述设备编码确定所述待测设备的当前状态;
将所述当前状态符合预设状态的待测设备从所述待测设备集中删除。
3.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备之前,还包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备的设备类型,根据所述设备类型确定所述待测设备的功能测试项,并根据所述功能测试项匹配对应的标识信息。
4.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试之后,包括:
获取所述待测设备集中各个待测设备操作过程中的日志信息,根据所述日志信息确定所述待测设备的操作结果,并将所述操作结果进行显示。
5.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试之后,还包括:
获取符合所述第一待测设备的功能测试完成信号,根据预设调度规则控制完成功能测试的第一待测设备进行参数校准。
6.如权利要求5所述的测试方法,其特征在于,在获取校准仪器类型之前,包括:
获取所述待测设备集的订单编号,根据所述订单编号确定所述待测设备集的调度规则。
7.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在获取校准仪器类型之前,包括:
以预设时间间隔将请求信息发送给操作工具,以使所述操作工具根据所述请求信息进行反馈;
若预设请求次数内没有获取反馈信息,则进行重启操作。
8.一种测试装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取校准仪器类型,根据所述校准仪器类型确定当前同时执行参数校准的待测设备数量;
第一选取模块,用于从已进行程序下载的待测设备集中选取符合预设标识信息的第一待测设备;
第二选取模块,用于从除所述第一待测设备的待测设备集中选取符合所述待测设备数量的第二待测设备;
执行模块,用于控制符合所述待测设备数量的第二待测设备执行参数校准,并控制所述第一待测设备执行符合所述标识信息的功能测试。
9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种测试方法的步骤。
CN202010968115.5A 2020-09-15 2020-09-15 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质 Pending CN112649717A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010968115.5A CN112649717A (zh) 2020-09-15 2020-09-15 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010968115.5A CN112649717A (zh) 2020-09-15 2020-09-15 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112649717A true CN112649717A (zh) 2021-04-13

Family

ID=75347129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010968115.5A Pending CN112649717A (zh) 2020-09-15 2020-09-15 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112649717A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113051179A (zh) * 2021-04-27 2021-06-29 思享智汇(海南)科技有限责任公司 一种自动化测试方法、***及存储介质
CN113240247A (zh) * 2021-04-21 2021-08-10 深圳铭锋达精密技术有限公司 一种品质测量方法、装置、终端设备及存储介质
CN113252665A (zh) * 2021-04-27 2021-08-13 深圳市安仕新能源科技有限公司 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113810129A (zh) * 2021-09-15 2021-12-17 深圳市德普华电子测试技术有限公司 一种5g nr测试方法、装置、终端及存储介质
CN115826521A (zh) * 2022-11-22 2023-03-21 广州致远仪器有限公司 一种生产过程管控方法、装置、电子设备及存储介质

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1610834A (zh) * 2001-07-05 2005-04-27 英特泰克公司 用于电子电路的优化并行测试和访问的方法及设备
CN202631671U (zh) * 2012-01-05 2012-12-26 深圳创维数字技术股份有限公司 一种pcb板测试设备
CN103025074A (zh) * 2012-12-11 2013-04-03 广东欧珀移动通信有限公司 一种改善pcb测试点接触可靠性的方法
CN204028339U (zh) * 2014-07-17 2014-12-17 浙江万胜电力仪表有限公司 一种用电信息采集终端多功能检测装置
CN106771972A (zh) * 2016-12-29 2017-05-31 百富计算机技术(深圳)有限公司 一种pos机主板的自动测试装置、***及方法
US20170261354A1 (en) * 2016-03-08 2017-09-14 International Business Machines Corporation Methods and systems for performing test and calibration of integrated sensors
CN107222882A (zh) * 2017-06-12 2017-09-29 胡绪健 一种并行测试wifi模块的方法
CN108572312A (zh) * 2018-04-12 2018-09-25 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) SoC芯片测试方法、装置、***和SoC芯片测试验证板
CN109031086A (zh) * 2017-04-28 2018-12-18 爱德万测试公司 测试程序流程控制
CN109100634A (zh) * 2018-06-29 2018-12-28 深圳市沃特沃德股份有限公司 Smt贴片防呆测试方法及防呆测试方法
CN109444725A (zh) * 2019-01-11 2019-03-08 西安君信电子科技有限责任公司 一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法
WO2019196274A1 (zh) * 2018-04-10 2019-10-17 平安科技(深圳)有限公司 网页页面测试方法、装置、电子设备和介质
CN111130653A (zh) * 2019-11-19 2020-05-08 北京航天测控技术有限公司 自动校准方法、***、终端设备及计算机可读存储介质

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1610834A (zh) * 2001-07-05 2005-04-27 英特泰克公司 用于电子电路的优化并行测试和访问的方法及设备
CN202631671U (zh) * 2012-01-05 2012-12-26 深圳创维数字技术股份有限公司 一种pcb板测试设备
CN103025074A (zh) * 2012-12-11 2013-04-03 广东欧珀移动通信有限公司 一种改善pcb测试点接触可靠性的方法
CN204028339U (zh) * 2014-07-17 2014-12-17 浙江万胜电力仪表有限公司 一种用电信息采集终端多功能检测装置
US20170261354A1 (en) * 2016-03-08 2017-09-14 International Business Machines Corporation Methods and systems for performing test and calibration of integrated sensors
CN106771972A (zh) * 2016-12-29 2017-05-31 百富计算机技术(深圳)有限公司 一种pos机主板的自动测试装置、***及方法
CN109031086A (zh) * 2017-04-28 2018-12-18 爱德万测试公司 测试程序流程控制
CN107222882A (zh) * 2017-06-12 2017-09-29 胡绪健 一种并行测试wifi模块的方法
WO2019196274A1 (zh) * 2018-04-10 2019-10-17 平安科技(深圳)有限公司 网页页面测试方法、装置、电子设备和介质
CN108572312A (zh) * 2018-04-12 2018-09-25 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) SoC芯片测试方法、装置、***和SoC芯片测试验证板
CN109100634A (zh) * 2018-06-29 2018-12-28 深圳市沃特沃德股份有限公司 Smt贴片防呆测试方法及防呆测试方法
CN109444725A (zh) * 2019-01-11 2019-03-08 西安君信电子科技有限责任公司 一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法
CN111130653A (zh) * 2019-11-19 2020-05-08 北京航天测控技术有限公司 自动校准方法、***、终端设备及计算机可读存储介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘鹏 等: "基于网络分析仪的EMC测量天线校准方法研究", 电子产品可靠性与环境试验, no. 2, 20 April 2017 (2017-04-20), pages 44 - 49 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113240247A (zh) * 2021-04-21 2021-08-10 深圳铭锋达精密技术有限公司 一种品质测量方法、装置、终端设备及存储介质
CN113051179A (zh) * 2021-04-27 2021-06-29 思享智汇(海南)科技有限责任公司 一种自动化测试方法、***及存储介质
CN113252665A (zh) * 2021-04-27 2021-08-13 深圳市安仕新能源科技有限公司 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113252665B (zh) * 2021-04-27 2023-02-10 深圳市安仕新能源科技有限公司 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113810129A (zh) * 2021-09-15 2021-12-17 深圳市德普华电子测试技术有限公司 一种5g nr测试方法、装置、终端及存储介质
CN115826521A (zh) * 2022-11-22 2023-03-21 广州致远仪器有限公司 一种生产过程管控方法、装置、电子设备及存储介质
CN115826521B (zh) * 2022-11-22 2023-10-20 广州致远仪器有限公司 一种生产过程管控方法、装置、电子设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112649717A (zh) 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质
CN111371638B (zh) 智能设备测试方法、装置、服务器及存储介质
CN101118513A (zh) 板卡测试***及方法
CN105354140A (zh) 一种自动化测试的方法及***
CN109274807B (zh) 测试方法、装置及***
CN108271150B (zh) 支持同时对多台手机进行刷机或数据清除的方法及***
CN103424683A (zh) 主板测试***及方法
CN111221727A (zh) 测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质
CN108376110B (zh) 一种自动检测方法、***及终端设备
CN111190621A (zh) 固件烧录方法、装置、***、终端设备及存储介质
CN113220322A (zh) 测试软件更新方法、电子设备及存储介质
CN113132522A (zh) 测试方法、装置、服务器及介质
CN108647149B (zh) 电子设备的测试方法、装置、***和存储介质
CN110990381A (zh) 服务器的处理方法及装置、存储介质和电子装置
CN113419955B (zh) 软件版本自动测试***、方法、介质及设备
CN114244427B (zh) 光纤网络端口资源核查方法、装置及计算机可读介质
CN109541426B (zh) 一种晶圆测试中测试仪自动读取参数的方法
CN114036008A (zh) 设备信息检测方法、装置、计算机设备及存储介质
CN113472611A (zh) 获取WiFi信号强度的方法、装置及可读存储介质
CN105740114A (zh) 移动终端的容错测试方法及装置
CN113341300A (zh) 矩阵按键电路自动检测方法、***、介质及设备
CN113515447A (zh) ***自动化测试方法及装置
CN106603623B (zh) 一种向远程移动终端安装程序的方法及***
CN110618826A (zh) 一种应用程序更新的方法、装置及终端设备
CN115314384A (zh) Rs485总线下设备升级方法、设备升级***以及采集器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20210428

Address after: Floor 4, gaoxinxin factory building, district 67, Xingdong community, Xin'an street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant after: SHENZHEN JIMI IOT Co.,Ltd.

Address before: Floor 4, gaoxinxin factory building, district 67, Xingdong community, Xin'an street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: Guangzhou Jimi Wulian Technology Co.,Ltd.

TA01 Transfer of patent application right