CN112630679A - 红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；直流电源，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；制冷探测器，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；数据采集卡，分用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。本发明能实现计算机自动控制和试验数据采集，支持多台产品进行性能测试，提供多种制冷性能测试参数指标，将测试参数与合格参数比较，对不合格产品进行故障报警，提示测试人员发现故障。

Description

红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法

技术领域

本发明涉及的是红外焦平面探测器领域,特别涉及一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置。

背景技术

近年来，基于红外焦平面的的红外探测技术在夜视、安防监控、地球资源探测、灾害预警等应用领域得到越来越广泛的应用。制冷探测器相较于非制冷探测器而言，在检测物体时具有灵敏度更高，精度更高的优点。红外焦平面探测器制冷组件的应用越来越广、产量也越来越大。同时，红外***的发展提出了快速制冷、低功耗消耗、高可靠性等方面的要求，而当前制冷异常是红外焦平面探测器制冷组件主要的故障模式之一，为快捷并全面的测试批量红外焦平面探测器制冷组件产品的制冷性能水平，发现并剔除制冷性能不良的产品，需开发一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置。

目前国内单位针对红外探测器的制冷性能测试研究较少，较多单位探测器的制冷性能测试过程中，自动化程度较低，由测试人员利用硬件开关启动和关闭制冷机和探测器芯片，运用计时器对制冷时间进行测量，通过人眼目视电源上的电流值以及万用表上的电压值，并手写记录数据。尤其是在测试产品环境试验过程中的制冷性能时，由于一些环境试验，如高低温试验和振动试验往往本身耗时较长，需要测试人员全程跟进，并观察记录数据。

行业内也有部分单位采用程控电源、万用表等设备对探测器进行制冷性能测试，电源针对制冷机与探测器芯片进行供电和电流采集，台式万用表针对探测器的焦温进行采集。通常程控电源只有3个电源通道供使用，其中1个通道给制冷机供电、1个通道给探测器芯片供电，另1个通道给测试工装供电，这样利用1台程控电源、1台万用表以及相应的采集软件只能同时对1台制冷探测器进行性能测试，测试效率偏低，所需硬件资源成本偏高。此外，行业内针对制冷探测器进行制冷性能测试时，只关注降温时间以及输入功率，一些反应产品制冷过程中工作稳定性的参数未能获取，对测试指标的覆盖不全，仅靠单一性能指标进行制冷性能筛选，难以控制制冷探测器存在的潜在风险。如制冷探测器产品电机的工作转速、工作电流波动值以及工作焦温的波动值，这些参数反应了制冷机的工作稳定性；杜瓦回温时间的变化客观上反应了探测器所配杜瓦真空泄漏率和冷损的变化。红外焦平面探测器制冷组件在整机热像仪应用时，需焦温稳定后，再成像进入画面，针对焦温波动允许范围有严格的要求，对于整机红外热像仪而言，制冷探测器的焦温稳定时间即为其成像进画面时间。然当前国内部分自研探测器尚不能在焦温首次达到规定温度后，便一直维持温度的稳定。因此，除测试降温时间之外，还需按照整机热像仪进画面时间的定义，测试制冷探测器的焦温稳定时间，从而在制冷探测器的制冷性能测试阶段，便可对其制冷时间是否满足整机红外热像仪进画面时间的要求进行判定。

因此，当前探测器制冷性能测试存在自动化程度较低、耗费硬件资源较多、制冷性能测试参数不全面、测试效率偏低的问题。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法。

为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；其中：

直流电源，分别与制冷探测器和数据采集卡连接，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；

制冷探测器，分别与直流电源和数据采集卡连接，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；

数据采集卡，分别与直流电源、制冷探测器和上位机数据处理软件连接，用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；

上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。

进一步地，直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

进一步地，制冷探测器为四个，直流电源采用两个三路输出可编程直流电源，其中，直流电源第一通道与四个制冷探测器连接，直流电源第二通道与数据采集卡，直流电源剩余四个通道分别与制冷探测器所配芯片连接，同时为四个制冷探测器制冷性能进行测试

进一步地，数据采集卡分为电压采集卡和电流采集卡，电流采集卡与电压采集卡通过RS485串口线与制冷探测器相连，将制冷探测器工作数据返回到上位机数据处理软件。

进一步地，制冷探测器工作数据至少包括：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温，电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。

进一步地，上位机数据处理软件还与直流电源连接，通过控制直流电源第一通道来控制制冷探测器所配制冷机的启动和关闭；当制冷机冷头温度达到上位机数据处理软件预设温度后，通过控制直流电源第二通道来实现探测器所配芯片的启动和关闭。

进一步地，一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，还包括：报警器，报警器与上位机数据处理软件连接，当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警。

本发明还公开了一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，包括：

开启直流电源，为制冷探测器和数据采集卡进行供电；

用户通过上位机数据处理软件，设置制冷机各项参数后启动软件，制冷探测器所配制冷机开始工作，数据采集卡开始实时采集制冷探测器的电流、温度以及转速数据，并将所述数据发送给上位机数据处理软件，在上位机数据处理软件显示电流-时间曲线、温度-时间曲线，转速-时间曲线；

制冷探测器的冷头温度达到预设温度后，探测器所配芯片所对应的电源通道自动开启，使探测器所配芯片实现上电工作，将探测器芯片的功耗以及探测器组件的总功耗均在上位机数据处理软件上实时显示，制冷探测器的降温时间以及焦温稳定时间也在上位机数据处理软件界面上显示，同时将这些数据实时记录和保存；

制冷探测器制冷完成，且测试温度和时间达到后，上位机采集软件将通过控制电源通道使制冷探测器所配制冷机与探测器芯片断电，上位机采集软件开始测试探测器所配杜瓦的回温时间，上位机测试软件将实时显示冷头温度的温度-时间曲线，并将这些数据实时记录和保存；

当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警，达到对探测器制冷组件的制冷性能测试目的。

进一步地，直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

进一步地，制冷探测器工作数据至少包括：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温，电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。

本发明实施例提供的上述技术方案的有益效果至少包括：

本发明公开了一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；直流电源，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；制冷探测器，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；数据采集卡，分用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。本发明能实现计算机自动控制和试验数据采集，测试时间可供选择，实现无人值守，便可对探测器所配的制冷机与探测器芯片进行启动和关闭；本发明能同时支持多台产品进行性能测试，满足批量产品的测试需求；本发明能全面的监测产品制冷性能测试过程中的参数，并对测试数据进行充分挖掘，获取更多信息，以便测试人员充分判定产品的性能水平及变化趋势.本发明能将测试参数与合格判据进行比较，对不合格产品进行故障报警，提示测试人员发现故障。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明实施例1中，红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置的结构图；

图2为本发明实施例1中，红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置的具体结构图；

图3为本发明实施例2中，红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

为了解决现有技术中存在的探测器制冷性能测试自动化程度较低、耗费硬件资源较多、制冷性能测试参数不全面、测试效率偏低的问题，本发明实施例提供一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法。

实施例1

一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，如图1，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；其中：

直流电源，分别与制冷探测器和数据采集卡连接，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电。

在本实施例中，直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

制冷探测器，分别与直流电源和数据采集卡连接，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡。

在本实施例中，如图2，制冷探测器优选为四个，直流电源采用两个三路输出可编程直流电源，其中，直流电源第一通道与四个制冷探测器连接，直流电源第二通道与数据采集卡，直流电源剩余四个通道分别与制冷探测器所配芯片连接，同时为四个制冷探测器制冷性能进行测试。可以理解的，制冷探测器的个数不设限制，当直流电源个数和装置功率满足要求时，可以同时为更多制冷探测器进行测试。

数据采集卡，分别与直流电源、制冷探测器和上位机数据处理软件连接，用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件。

在本实施例中，数据采集卡分为电压采集卡和电流采集卡，电流采集卡与电压采集卡通过RS485串口线与制冷探测器相连，将制冷探测器工作数据返回到上位机数据处理软件。

具体的，在本实施例中，制冷探测器工作数据至少包括：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温，电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。其中，电流采集卡检测的参数有：探测器所配制冷机的功耗、探测器芯片的功耗。电压采集卡检测的参数有：制冷机的冷头温度。自编数据采集软件经读取制冷探测器电控的通信指令，获取制冷探测器的电机转速数据。电流采集卡与电压采集卡通过RS485串口线与探测器相连，将数据返回到上位机。探测器的电机工作转速数据通过RS232串口线将数据返回到上位机，自编采集软件可对每台探测器的测试数据进行画图显示：含电流-时间曲线、温度-时间曲线，转速-时间曲线，并可实现曲线的缩放或放大、通过“一键显示”、“一键关闭”按钮实现所有图表的全部显示或关闭。

自编数据采集软件通过对检测的参数进行数据处理，得到的参数有：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温、电流波动值、工作焦温波动值、电机工作转速以及每次开机的降温时间和焦温稳定时间。其中降温时间为制冷探测器由环境温度首次降至规定温度的时间，焦温稳定时间为冷头温度降至满足焦温波动允许范围所需的时间。杜瓦回温时间定义为：冷头温度达到设定要求后，测试装置将制冷机与探测器芯片自动断电，杜瓦由90K升温到110K所需的时间。该参数反应了杜瓦冷损以及真空泄漏率的变化情况。

上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。

在本实施例中，上位机数据处理软件还与直流电源连接，通过控制直流电源第一通道来控制制冷探测器所配制冷机的启动和关闭；当制冷机冷头温度达到上位机数据处理软件预设温度后，通过控制直流电源第二通道来实现探测器所配芯片的启动和关闭，达到对探测器制冷组件的制冷性能进行测试目的。

在一些优选实施例中，红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，还包括：报警器，报警器与上位机数据处理软件连接，当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警。优选的，报警器选用蜂鸣器，当制冷探测器的测试参数超出合格判据规定范围时，上位机测试软件能控制的蜂鸣器实现故障报警，报警时长以及报警声音频率范围均可通过软件进行设置。

本实施例公开了一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；直流电源，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；制冷探测器，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；数据采集卡，分用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。本发明能实现计算机自动控制和试验数据采集，测试时间可供选择，实现无人值守，便可对探测器所配的制冷机与探测器芯片进行启动和关闭；本发明能同时支持多台产品进行性能测试，满足批量产品的测试需求；本发明能全面的监测产品制冷性能测试过程中的参数，并对测试数据进行充分挖掘，获取更多信息，以便测试人员充分判定产品的性能水平及变化趋势；本发明能将测试参数与合格判据进行比较，对不合格产品进行故障报警，提示测试人员发现故障。

实施例2

本实施例公开了一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，如图3，包括：

开启直流电源，为制冷探测器和数据采集卡进行供电；直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

用户通过上位机数据处理软件，设置制冷机各项参数后，启动软件，制冷探测器所配制冷机开始工作，数据采集卡采集制冷探测器工作数据，将探测器工作数据发送给上位机采集软件，上位机采集软件开始实时采集制冷探测器的电流、温度以及转速数据，并将所述数据发送给上位机数据处理软件，在上位机数据处理软件显示电流-时间曲线、温度-时间曲线，转速-时间曲线。

具体的，上位机数据处理软件的“测试时间”、“测试电压”、“产品型号”及“编号”均为数值输入控件，供操作人员进行设置，通过控制电源实现制冷机的启动，并在工作焦温达到规定要求后，通过控制电源实现探测器芯片的启动或关闭。

电流采集卡检测的参数有：探测器所配制冷机的功耗、探测器芯片的功耗。电压采集卡检测的参数有：制冷机的冷头温度。自编数据采集软件经读取电控的通信指令获取制冷探测器的电机转速数据。自编采集软件可对每台探测器的测试数据进行画图显示：含电流-时间曲线、温度-时间曲线，转速-时间曲线，并可实现曲线的缩放或放大、通过“一键显示”、“一键关闭”按钮实现所有图表的全部显示或关闭。

上位机数据处理软件通过对检测的参数进行数据处理，得到的参数有：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温、电流波动值、工作焦温波动值、电机工作转速以及每次开机的降温时间和焦温稳定时间。其中降温时间为制冷探测器由环境温度首次降至规定温度的时间，焦温稳定时间为冷头温度降至满足焦温波动允许范围所需的时间。杜瓦回温时间定义为：冷头温度达到设定要求后，测试装置将制冷机与探测器芯片自动断电，杜瓦由90K升温到110K所需的时间。该参数反应了杜瓦冷损以及真空泄漏率的变化情况。采集时间间隔可选(0.1s、1s、2s、1min等)，采集后的数据保存为xlsx文件；

制冷探测器的冷头温度达到预设温度后，探测器所配芯片所对应的电源通道自动开启，使探测器所配芯片实现上电工作，将探测器芯片的功耗以及探测器组件的总功耗均在上位机数据处理软件上实时显示，制冷探测器的降温时间以及焦温稳定时间也在上位机数据处理软件界面上显示，同时将这些数据实时记录和保存；

制冷探测器制冷完成，且测试温度和时间达到后，上位机采集软件将通过控制电源通道使制冷探测器所配制冷机与探测器芯片断电，上位机采集软件开始测试探测器所配杜瓦的回温时间，上位机测试软件将实时显示冷头温度的温度-时间曲线，并将这些数据实时记录和保存；

当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警，达到对探测器制冷组件的制冷性能测试目的。

本实施例公开的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，能实现计算机自动控制和试验数据采集，测试时间可供选择，实现无人值守，便可对探测器所配的制冷机与探测器芯片进行启动和关闭；本发明能同时支持多台产品进行性能测试，满足批量产品的测试需求；本发明能全面的监测产品制冷性能测试过程中的参数，并对测试数据进行充分挖掘，获取更多信息，以便测试人员充分判定产品的性能水平及变化趋势；

本发明能将测试参数与合格判据进行比较，对不合格产品进行故障报警，提示测试人员发现故障。

应该明白，公开的过程中的步骤的特定顺序或层次是示例性方法的实例。基于设计偏好，应该理解，过程中的步骤的特定顺序或层次可以在不脱离本公开的保护范围的情况下得到重新安排。所附的方法权利要求以示例性的顺序给出了各种步骤的要素，并且不是要限于所述的特定顺序或层次。

在上述的详细描述中，各种特征一起组合在单个的实施方案中，以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图，即，所要求保护的主题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反，如所附的权利要求书所反映的那样，本发明处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此，所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中，其中每项权利要求独自作为本发明单独的优选实施方案。

本领域技术人员还应当理解，结合本文的实施例描述的各种说明性的逻辑框、模块、电路和算法步骤均可以实现成电子硬件、计算机软件或其组合。为了清楚地说明硬件和软件之间的可交换性，上面对各种说明性的部件、框、模块、电路和步骤均围绕其功能进行了一般地描述。至于这种功能是实现成硬件还是实现成软件，取决于特定的应用和对整个***所施加的设计约束条件。熟练的技术人员可以针对每个特定应用，以变通的方式实现所描述的功能，但是，这种实现决策不应解释为背离本公开的保护范围。

结合本文的实施例所描述的方法或者算法的步骤可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或其组合。软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质连接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该ASIC可以位于用户终端中。当然，处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于用户终端中。

对于软件实现，本申请中描述的技术可用执行本申请所述功能的模块(例如，过程、函数等)来实现。这些软件代码可以存储在存储器单元并由处理器执行。存储器单元可以实现在处理器内，也可以实现在处理器外，在后一种情况下，它经由各种手段以通信方式耦合到处理器，这些都是本领域中所公知的。

上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然，为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的，但是本领域普通技术人员应该认识到，各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此，本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外，就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”，该词的涵盖方式类似于术语“包括”，就如同“包括，”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外，使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。

Claims (10)

1.一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；其中：

直流电源，分别与制冷探测器和数据采集卡连接，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；

制冷探测器，分别与直流电源和数据采集卡连接，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；

数据采集卡，分别与直流电源、制冷探测器和上位机数据处理软件连接，用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；

上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。

2.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

3.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，制冷探测器为四个，直流电源采用两个三路输出可编程直流电源，其中，直流电源第一通道与四个制冷探测器所配制冷机连接，直流电源第二通道与数据采集卡，直流电源剩余四个通道分别与制冷探测器所配芯片连接，同时为四个制冷探测器制冷性能进行测试。

4.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，数据采集卡分为电压采集卡和电流采集卡，电流采集卡与电压采集卡通过RS485串口线与制冷探测器相连，将制冷探测器工作数据返回到上位机数据处理软件。

5.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，制冷探测器工作数据至少包括：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温，电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。

6.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，上位机数据处理软件还与直流电源连接，通过控制直流电源第一通道来控制制冷探测器所配制冷机的启动和关闭；当制冷机冷头温度达到上位机数据处理软件预设温度后，通过控制直流电源第二通道来实现探测器所配芯片的启动和关闭。

7.如权利要求1的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，其特征在于，还包括：报警器，报警器与上位机数据处理软件连接，当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警。

8.一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，其特征在于，包括：

开启直流电源，为制冷探测器和数据采集卡进行供电；

用户通过上位机数据处理软件，设置制冷机各项参数后启动软件，制冷探测器所配制冷机开始工作，数据采集卡采集制冷探测器工作数据，上位机采集软件开始实时采集制冷探测器的电流、温度以及转速数据，并将所述数据发送给上位机数据处理软件，在上位机数据处理软件显示电流-时间曲线、温度-时间曲线，转速-时间曲线；

制冷探测器的冷头温度达到预设温度后，探测器所配芯片所对应的电源通道自动开启，使探测器所配芯片实现上电工作，将探测器芯片的功耗以及探测器组件的总功耗均在上位机数据处理软件上实时显示，制冷探测器的降温时间以及焦温稳定时间也在上位机数据处理软件界面上显示，同时将这些数据实时记录和保存；

制冷探测器制冷完成，且测试时间达到预设要求后，上位机采集软件将通过控制电源通道使制冷探测器所配制冷机与探测器芯片断电，上位机采集软件开始测试探测器所配杜瓦的回温时间，上位机测试软件将实时显示冷头温度的温度-时间曲线，并将这些数据实时记录和保存；

当上位机数据处理软件接收到的制冷探测器工作数据超过制冷探测器合格判据阈值时，通过报警器实现故障报警，达到对探测器制冷组件的制冷性能测试目的。

9.如权利要求8的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，其特征在于，直流电源采用60V三路输出可编程直流电源，其中，电源第一通道为制冷探测器所配制冷机供电，电源第二通道为制冷探测器所配芯片供电，电源第三通道为数据采集卡供电。

10.如权利要求8的一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试方法，其特征在于，制冷探测器工作数据至少包括：制冷探测器的启动电流、峰值电流、工作电流、工作焦温，电流波动值、工作焦温波动值、降温时间、焦温稳定时间、电机工作转速、杜瓦回温时间。

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