CN112579371B - 存储装置的测试方法、测试装置、测试*** - Google Patents
存储装置的测试方法、测试装置、测试*** Download PDFInfo
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 121
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 67
- 230000006399 behavior Effects 0.000 claims description 232
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 45
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000013524 data verification Methods 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 101150098958 CMD1 gene Proteins 0.000 description 5
- 101100382321 Caenorhabditis elegans cal-1 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 101000711846 Homo sapiens Transcription factor SOX-9 Proteins 0.000 description 3
- 102100034204 Transcription factor SOX-9 Human genes 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000003542 behavioural effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004816 latex Substances 0.000 description 2
- 229920000126 latex Polymers 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
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Abstract
本申请涉及存储装置测试技术领域，公开了存储装置的测试方法、测试装置、测试***。该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试，该方法包括：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。通过上述方式，提升对存储装置的测试效果。
Description
技术领域
本申请涉及存储装置测试技术领域，特别是涉及存储装置的测试方法、测试装置、测试***以及计算机可读存储介质。
背景技术
随着存储装置的不断发展升级，现有存储装置的种类、型号愈发丰富。如U盘、机械硬盘、固态硬盘、内存条等。每种存储装置被应用于不同电子设备中，在该存储装置应用于电子设备前，需要对该存储装置进行测试，或者存储装置在使用中出现异常，需要对该种类的存储装置进行测试。
不足之处在于，相关技术中对不同的存储装置进行测试的方式均是采用特定虚拟数据进行测试，测试结果并不能反应存储装置的真实使用场景。
发明内容
本申请主要解决的技术问题是提供存储装置的测试方法、测试装置、测试***，能够提升对存储装置的测试效果。
本申请采用的一种技术方案是提供一种存储装置的测试方法，该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试，该方法包括：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。
其中，该方法还包括：采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据；对行为数据进行解析，得到第一操作数据。
其中，对行为数据进行解析，得到第一操作数据，包括：获取当前行的行为数据的命令类型；基于命令类型对当前行的行为数据进行分类处理并保存至第一解析列表中；将第一解析列表进行解析，以生成第一操作数据。
其中，基于命令类型对当前行的行为数据进行分类处理并保存至解析列表中，包括：若命令类型为电流命令，则判断当前行的行为数据是否超过阈值，若是，则将当前行的行为数据保存至解析列表中；或，若命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中；或，若命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据进行解析，并基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至临时列表中；将临时列表中的行为数据保存至第一解析列表中。
其中，基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至临时列表中，包括：若上一行的行为数据的命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据和上一行的行为数据合并；或，若上一行的行为数据的命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中。
其中，将第一解析列表进行解析，以生成第一操作数据，包括：将第一解析列表中的行为数据合并为结构体；在结构体中设置延迟类型，得到第二解析列表；对第二解析列表进行预处理，以生成第一操作数据。
其中，对第二解析列表进行预处理，以生成第一操作数据，包括：清理第二解析列表中的校验命令；删除第二解析列表中重复的第一控制命令；调整第二解析列表中第二控制命令的参数；对第二解析列表中的部分行为数据设置组合标记，进而生成第一操作数据。
其中，基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作，包括：对第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据；利用第二操作数据对第一存储装置进行操作。
其中，对第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据，包括：从第一操作数据中获取对应于上电以及初始化的第一行为数据；确定截取的开始位置和结束位置，基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据；将第一行为数据和第二行为数据形成第二操作数据。
其中，确定截取的开始位置和结束位置，基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据，包括：判断开始位置是否位于第一组合标记之间；若是，则将第一组合标记的开始标记位置作为开始位置；以及判断结束位置是否位于第二组合标记之间；若是，则将第二组合标记的结束标记位置作为结束位置；基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据。
其中，基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作，包括：利用第一操作数据在第一存储装置进行重放；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试，包括：获取第一操作数据中当前行的行为数据的命令类型；若命令类型为延时命令，则根据上一执行数据做延时处理；或，若命令类型为控制命令，则确定控制命令的子类型，若子类型为读命令，则进行读数据校验；若子类型为写命令，则进行写保护验证；若子类型为设置写保护命令，则记录写保护状态；若子类型为擦除命令，则记录擦除状态，去掉写状态。
其中，该方法还包括：获取第一存储装置的第一容量以及第二存储装置的第二容量；若第一容量大于第二容量，则基于第一操作数据在第一存储装置进行多次重放，直至第一存储装置的所有地址空间完成测试。
本申请采用的另一种技术方案是提供一种存储装置的测试装置，该测试装置包括处理器和与处理器连接的存储器；其中，存储器用于存储程序数据，处理器用于执行程序数据，以实现如上述技术方案提供的方法。
本申请采用的另一种技术方案是提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储程序数据，程序数据在被处理器执行时，用于实现如上述技术方案提供的方法。
本申请采用的另一种技术方案是提供一种存储装置的测试***，该测试***包括：测试装置，测试装置用于获取第一操作数据，并基于第一操作数据对第一存储装置进行操作，并在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到。
其中，该测试***还包括：采集装置，用于采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据；解析装置，用于从采集装置中获取行为数据，并对行为数据进行解析，得到第一操作数据。
本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请的一种存储装置的测试方法，该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试，该方法包括：第一电子设备获取操作数据；其中，操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。通过上述方式，利用存储装置真实场景的行为数据对存储装置进行测试，提升对存储装置的测试效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
图1是本申请提供的存储装置的测试方法一实施例的流程示意图；
图2是本申请提供的存储装置的测试方法中操作数据的组成示意图；
图3是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图；
图4是本申请提供的图3中步骤34的具体流程示意图；
图5是本申请提供的图4中步骤343的具体流程示意图；
图6是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图；
图7是本申请提供的图6中步骤62的具体流程示意图；
图8是本申请提供的图7中步骤622的具体流程示意图；
图9是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图；
图10是本申请提供的存储装置的测试装置一实施例的结构示意图；
图11是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图；
图12是本申请提供的存储装置的测试***一实施例的结构示意图；
图13是本申请提供的存储装置的测试***另一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
参阅图1，图1是本申请提供的存储装置的测试方法一实施例的流程示意图。该方法用于第一电子设备对安装于第一电子设备中的第一存储装置进行测试，该方法包括：
步骤11：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到。
在本实施例中，第一电子设备和第二电子设备可以是同一电子设备也可以是不同电子设备。第一存储装置和第二存储装置可以是同一规格的存储装置，也可以是不同规格的装置。如，第一存储装置和第二存储装置可以是RAM(Random-Access Memory，随机存储器)、ROM(Read-Only Memory，只读存储器)、机械硬盘、固态硬盘、移动硬盘、CF(CompactFlash)卡、闪存卡和U盘。相应的，电子设备可以是一切可以安装存储装置的并进行使用的设备，如手机、电脑、可穿戴设备、相机和监控设备等。
存储装置的行为数据指的是电子设备对存储装置的所有操作行为，如，CMD(Command Prompt，命令指示符)，Data(数据)、Latency(延时)、上电、断电和复位等与存储相关的行为数据。其中，CMD的作用在于发送命令序列以及回复状态的判断。Data的作用在于确定带数据命令需要操作的数据长度。Latency的作用在于记录上一个行为数据结束到下一个行为数据开始的时间间隔。VCC用于记录电路供电电压的变化过程。VCCQ(信号线电压)用于记录信号线电压的变化过程。Reset(复位)用于记录电路中的复位操作。
在一些实施例中，具体的，第一操作数据可以如图2所示的结构组成，如图2所示，前面的1、2、3和4表示该第一操作数据的执行顺序，其中，Latency1表示在1执行顺序中的CMD&RESP在第二存储装置中执行前的延时时间。Latency2表示在2执行顺序中的Data1在第二存储装置中执行前的延时时间。Latency3表示在3执行顺序中的CMD&RESP在第二存储装置中执行前的延时时间。Latency4表示在4执行顺序中的Data2在第二存储装置中执行前的延时时间。从图2中可以看出，Data紧跟着CMD&RESP，只有在有命令或回复的前提下，才会对Data进行操作。可以理解，图2只是举例说明第一操作数据的组成成分，并不限制第一操作数据的具体构造。第一操作数据根据实际采集的存储装置的行为数据得到。
在一些实施例中，第一操作数据在采集完成后可以存放于服务器，第一电子设备与服务器连接后从服务器下载得到。
在一些实施例中，第一操作数据在采集完成后可以存放于指定的存储装置，如U盘，在使用时，第一电子设备与U盘连接后，从该U盘上获取该第一操作数据。
可以理解，在服务器或U盘中可以存放多个不同存储装置的第一操作数据，以便于第一电子设备选择需要的目标第一操作数据对该第一电子设备上设置的第一存储装置进行测试。通过这种方式，可以基于海量的第一操作数据对存储装置进行测试，减少第一操作数据的获取时间，提升存储装置的测试效率。
步骤12：基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作。
在本实施例中，可以在第一存储装置中按照第一操作数据中数据的序列进行执行，以使该第一存储装置重放第二存储装置的行为数据。
在一些实施例中，可以从第一操作数据对随机获取一段第一操作数据作为在第一存储装置中重放的数据。
步骤13：在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。
在本实施例中，在第一存储装置的操作过程中，基于第一存储装置自身的设置，对第二存储装置的行为数据进行重放。如，在当前重放时刻，第二存储装置的行为数据为写数据，而第一存储装置自身设置为写保护，不允许写数据操作，则在该行为数据执行后，确认第一存储装置是否写入数据，若写入成功，则说明第一存储装置存在缺陷，将该缺陷作为测试结果；若未写入，则说明第一存储装置的写保护功能正常，将正常结果作为测试结果。
在一些实施例中，第一存储装置与第二存储装置属于同规格、同批次产品，可以通过第一存储装置对第二存储装置的行为数据进行重放，以复现第二存储装置的行为数据。如第二存储装置在运行过程中发生故障，则可以利用第一存储装置重现第二存储装置的故障过程，能够基于故障过程得出第二存储装置的故障原因，并基于故障原因得到测试结果。
在一些实施例中，第一电子设备的第一存储装置可进行更换，以测试更多存储装置，同时，更换的存储装置的传输协议可以与第一存储装置的传输协议不同。在第一电子设备中针对第一操作数据封装了统一的接口，可是实现多协议兼容。
在一些实施例中，因第一电子设备的类型不同，则该方法还针对不同类型的第一电子设备进行适配，在适配第一电子设备后，执行步骤11。具体地，通过与第一电子设备的底层接口适配，如可以通过函数指针的方式动态调用不同函数以实现第一电子设备运行和协议测试的支持。如读操作，适配接口提供起始地址和数据长度，第一电子设备调用自己的读数据接口，传入适配接口提供的起始地址和数据长度即可。
在本实施例中，通过第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试，利用存储装置真实场景的行为数据对存储装置进行测试，提升对存储装置的测试效果。
参阅图3，图3是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图。该方法包括：
步骤31：采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据。
在本实施例中，利用采集装置与第二电子设备通信连接，在建立连接关系后，采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据以及第二电子设备的行为数据。其中，第二电子设备的行为数据可以是第二电子设备的协议处理阈值和异常处理方式。例如第二电子设备与第二存储装置之间为的传输协议为eMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡)协议。则可通过协议分析仪适配eMMC协议后，抓取若干台第二电子设备上的eMMC命令超时后的行为，并把行为记录到eMMC固件中，eMMC命令在第二电子设备上运行时，固件会从低到高步进增加命令处理延时，当检测到第二电子设备出现任意一种超时行为后，即认为该延时值是该第二电子设备命令超时值。从而实现eMMC命令在第二电子设备上运行后，能自动检测若干个常用eMMC命令的超时值，并把超时值记录在eMMC的私有数据块中。
其中，采集装置可以是协议分析仪或者逻辑分析仪。
具体地，采集装置可同时与多台第二电子设备通信连接，采集每台第二电子设备中第二存储装置运行的行为数据。
步骤32：获取当前行的行为数据的命令类型。
在本实施例中，采集装置将采集的行为数据以文本类型进行存储，并上传至解析装置。
可以理解，行为数据中的命令类型主要包括电流命令、控制命令、读写数据命令。其中，电流命令包括存储装置上电、掉电等。控制命令包括各种命令指示符，如cmd1为查询存储装置是否就绪命令、cmd12为数据终止操作命令、cmd13为查询状态操作命令、cmd18为读数据操作命令和cmd23为设置数据长度命令。读写数据命令包括读数据和写数据。
步骤33：基于命令类型对当前行的行为数据进行分类处理并保存至第一解析列表中。
在一些实施例中，若命令类型为电流命令，则判断当前行的行为数据是否超过阈值，若是，则将当前行的行为数据保存至所述解析列表中。
具体地，第二存储装置在上电过程中，对应的电压在持续上升，当上升到第一阈值时，则确定该第二装置上电。第二存储装置在此过程中会存在多个相应的电流命令，而在后续重放时，则只需要确认装置上电即可，无需其他多余的电流命令，则只保留上升到阈值时的电流命令，其余在电压上升到第一阈值前的命令丢弃。第二存储装置在掉电过程中，对应的电压在持续下降，当下降到第二阈值时，则确定该第二装置掉电。第二存储装置在此过程中会存在多个相应的电流命令，而在后续重放时，则只需要确认装置掉电即可，无需其他多余的电流命令，则只保留下降到第二阈值时的电流命令，其余在电压下降到阈值过程中的命令丢弃。
在一些实施例中，若命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中。其中，控制命令可以是CMD命令也可以是RESPONSE(响应)命令。在一应用场景中，若命令类型为控制命令，则确定是否存在临时列表，若不存在临时列表，则创建该临时列表，并解析出CMD、RESPONSE对应的结构体存储于该临时列表。若存在临时列表，则在该CMD命令为cmd1时，确认是否重复，若是，则将当前的cmd1替换临时列表中的cmd1。若不重复，则直接保存至临时列表中。可以理解，因cmd1为查询存储装置是否就绪命令，在存储装置启动时，存在多个cmd1来确认该存储装置是否就绪，而在重放时只需要对应确认存储装置就绪的一个命令即可，该命令也是最后一个cmd1命令，其他多余的cmd1均表示存储装置未就绪。
在一些实施例中，若命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据进行解析，并基于上一行的行为数据的命令将当前行的行为数据保存至所述临时列表中。在一应用场景中，若命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据解析出数据结构体，并判断上一行的行为数据的命令类型，若为读写数据命令，则将当前行的行为数据和上一行的行为数据合并。若上一行的行为数据的命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中，其中，当前行的行为数据与上一行的行为数据关联。将临时列表中的行为数据保存至第一解析列表中。
可以理解，若上一行的行为数据为读写数据命令，则说明与当前行的行为数据是一个整体。
步骤34：将第一解析列表进行解析，以生成第一操作数据。
在一些实施例中，参阅图4，步骤34的流程可以具体是：
步骤341：将第一解析列表中的行为数据合并为结构体。
在本实施例中，第一解析列表中包括有对应的读写数据的结构体、CMD结构体和RESPONSE的结构体，将三个结构体合并为指定格式的结构体。
步骤342：在结构体中设置延迟类型，得到第二解析列表。
延迟类型对应设置具体的延迟时间，用于表示每一行为数据之间的执行时间。
在一些实例中，第一解析列表中行为数据按照步骤341和步骤342处理结束后，则得到第二解析列表。
步骤343：对第二解析列表进行预处理，以生成第一操作数据。
在本实施例中，可以对重复无用的命令进行清理或部分删除。
具体地，参阅图5，步骤343的流程可以是：
步骤3431：清理第二解析列表中的校验命令。
在本实施例中，校验命令为CRC(Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验码)命令，用于对数据进行校验。在第二存储装置的行为数据中是需要进行数据校验的，但是在重放过程中，校验就失去了意义，因为校验的结果也已经在行为数据中体现出来，因此将校验命令删除。
步骤3432：删除第二解析列表中重复的第一控制命令。
在一些实施例中，第一控制命令为cmd13，cmd13为查询状态操作命令。因实际的第二存储装置的结果只有一个，所以可以删除多余的cmd13。保留最后一次出现的cmd13。
步骤3433：调整第二解析列表中第二控制命令的参数。
在本实施例中，第二控制命令包括cmd23。cmd23为设置数据长度命令。通常与cmd12和cmd18一起存在。如在cmd18命令控制下进行读数据操作，但是还未读取完毕，cmd12终止了读数据操作，则cmd23会获取实际读数据时的数据长度并进行设置。
步骤3434：对第二解析列表中的部分行为数据设置组合标记，进而生成第一操作数据。
在本实施例中，若连续出现的行为数据为cmd23、cmd18、cmd12命令，此为一个整体，则需要在cmd23命令前***组合标记的开始标记，在cmd12命令后***组合标记的结束标记。提高重放该序列时的时效性。若解析的设备不支持多线程，则需要舍弃cmd12命令，并调整cmd18或者cmd23命令的参数。进而生成操作数据。
在一些实施例中，上述的步骤3431、步骤3432、步骤3433和步骤3434中的清理第二解析列表中的校验命令、删除第二解析列表中重复的第一控制命令、调整第二解析列表中第二控制命令的参数以及对第二解析列表设置组合标记的流程，可以不按照本实施例中的顺序执行。
在一些实施例中，通过上述方式，将从第二存储装置采集的行为数据由文本类型转换为二进制文件，能够减少存储空间的占用和网络传输压力。
通过上述方式，可以将采集的存储装置的真实行为数据进行删减，留下该存储装置实际执行成功的行为数据，这样的行为数据更具有真实性，能够在后续利用该行为数据进行测试时，提升测试结果。
参阅图6，图6是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图。该方法包括：
步骤61：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到。
在本实施例中，采集存储装置的行为数据与上述实施例有相同或相似的技术方案，这里不做赘述。
步骤62：对第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据。
在一些实施例中，第一操作数据设置了验证信息，需要对该验证信息进行验证，在验证通过后才可执行步骤62。通过设置验证信息，可防止第一操作数据被篡改，增加数据安全性。
在本实施例中，第一电子设备在后续对第一存储装置进行操作时，不需要使用全部的第一操作数据，可以从中获取部分数据进行操作。
具体地，参阅图7，步骤62的流程可以是：
步骤621：从第一操作数据中获取对应于上电以及初始化的第一行为数据。
上电以及初始化的第一行为数据关系到第一存储装置的启动和初始配置，所以这是必要的数据，没有这些行为数据第一存储装置无法启动。该部分行为数据通常位于整个第一操作数据的前列。
步骤622：确定截取的开始位置和结束位置，基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据。
可以理解，在采集存储装置的行为数据后，对其进行排序，得到该第一操作数据。如，对第一操作数据中的每一条行为数据按照执行的时间序列排序，如，该第一操作数据共100条数据，则按照执行的时间序列从1至100进行排序。随机确定截取的开始位置为10，结束位置为30，则从操作数据中截取第10条-第30条对应的第二操行为数据。
在一些实施例中，第一操作数据中的部分行为数据进行了组合标记，形成了组合，则在随机截取时，涉及到组合的行为数据时，需要将整个组合进行截取。具体的，参阅图8，步骤622的流程可以是：
步骤6221：判断开始位置是否位于第一组合标记之间。
若开始位置未位于第一组合标记之间，则将此条行为数据作为开始位置。若开始位置位于第一组合标记之间，因第一组合标记的数据是个完整的执行逻辑，不能进行拆分，则执行步骤6222。
步骤6222：将第一组合标记的开始标记位置作为开始位置。
如，以第一操作数据有100条行为数据为例进行说明，第一组合标记对第20条行为数据-第40条行为数据进行了标记，其中，第20条行为数据为开始标记位置，第40条行为数据为结束标记位置。当截取的开始位置为第30条行为数据时，第30条行为数据位于第一组合标记之间，则将第20条行为数据作为开始位置。
步骤6223：判断结束位置是否位于第二组合标记之间。
若结束位置未位于第二组合标记之间，则将此条行为数据作为结束位置。若结束位置位于第二组合标记之间，因第二组合标记的数据是个完整的执行逻辑，不能进行拆分，则执行步骤6224。
步骤6224：将第二组合标记的结束标记位置作为结束位置。
如，以第一操作数据有100条行为数据为例进行说明，第二组合标记对第50条行为数据-第70条行为数据进行了标记，其中，第50条行为数据为开始标记位置，第70条行为数据为结束标记位置。当截取的结束位置为第60条行为数据时，第60条行为数据位于第二组合标记之间，则将第50条行为数据作为结束位置。
在一些实施例中，第一组合标记和第二组合标记可以是同一组合标记。如，以操作数据有200条行为数据为例进行说明，该组合标记对第20条行为数据-第150条行为数据进行了标记。若随机确定截取的开始位置为10，结束位置为30，则此时将第10条行为数据作为开始位置，将第150条行为数据作为结束位置。若随机确定截取的开始位置为50，结束位置为100，则此时将第20条行为数据作为开始位置，将第150条行为数据作为结束位置。若随机确定截取的开始位置为50，结束位置为170，则此时将第20条行为数据作为开始位置，将第170条行为数据作为结束位置。
步骤6225：基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据。
步骤623：将第一行为数据和第二行为数据形成第二操作数据。
将第一行为数据和第二行为数据进行组合，形成了本次对第一存储装置进行操作的第二操作数据。
步骤63：利用第二操作数据对第一存储装置进行操作。
在本实施例中，先利用第一行为数据对第一存储装置进行上电和初始化配置，然后使第一存储装置重放第二行为数据。
步骤64：在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。
通过上述方式，可以实现随机截取第一操作数据中部分行为操作数据作为第二操作数据并基于该第二操作数据对第一存储装置进行测试，减少测试的数据量，提高测试效率。
参阅图9，图9是本申请提供的存储装置的测试方法另一实施例的流程示意图。该方法包括：
步骤91：第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到。
在本实施例中，采集存储装置的行为数据与上述实施例有相同或相似的技术方案，这里不做赘述。
步骤92：利用第一操作数据在第一存储装置进行重放。
在本实施例中，若产生该第一操作数据的第二存储装置的容量成整数倍小于第一存储装置的容量，则可设置地址放大功能，在当前倍数小于地址放大倍数时，在该第一操作数据会再次在第一存储装置中进行重放，以对第一存储装置的每个地址空间进行测试。如，第二存储装置的容量为32GB，第一存储装置的容量为64GB，则在第一电子设备获取操作数据时，对第一存储装置和第二存储装置的容量进行比较，在第一存储装置的容量大于第二存储装置时，开启地址放大功能。该地址放大功能可在第一电子设备获取第一操作数据时进行设置。
可以理解，目前存储装置的容量均是呈倍数的设置，如，8GB、16GB、32GB、64GB、128GB、256GB、512GB和1TB，如果存在一个存储装置的容量比另一个存储装置的容量大，则其容量必然为另一个存储装置的容量的整数倍。
步骤93：获取第一操作数据中当前行的行为数据的命令类型。
步骤94：基于命令类型对第一存储装置进行测试。
在本实施例中，若命令类型为延时命令，则根据上一行的行为数据做延时处理，如进行延时校正。若命令类型为控制命令，则确定控制命令的子类型，若子类型为读命令，则进行读数据校验。若子类型为写命令，则进行写保护验证。若子类型为设置写保护命令，则记录写保护状态。若子类型为擦除命令，则记录擦除状态，去掉写状态。
具体地，进行上述操作是为了校验读写擦除数据的正确性。写操作时根据地址及该地址写入次数生成数据并写入并将该地址标记为写入。擦除操作则是将该地址数据擦除并将状态标记为擦除。读操作时如该地址为擦除状态，则数据全为0为检验通过，如该地址为写入状态则根据地址与写入次数生成数据与读出来的数据比较，一致则通过读校验。写保护验证支持验证写保护是否有效。如地址已设置写保护，则对该地址写入前先读取并保存该地址数据，执行写入操作后再一次读取该地址数据，两次数据一致则通过验证。通过这样的方式，利用操作数据对第一存储装置进行测试，以测试第一存储装置基于存储装置真实的行为数据和电子设备的行为数据的兼容性。
在一些实施例中，在采集存储装置的行为数据时，可同时获取对应该存储装置的电子设备的性能数据，在重放时，获取当前重放的存储装置所在的电子设备的性能数据，将两者进行比较，可验证不同电子设备之间的性能，实现性能卡关。例如，两个存储装置属于同类型的存储装置，安装于不同电子设备，如，第二电子设备为手机，第一电子设备为可穿戴设备，从第二电子设备中获取第二电子设备的行为数据和设置于第二电子设备中的存储装置的行为数据，以及第二电子设备的性能数据。然后，利用第二电子设备中的存储装置的行为数据在第一电子设备的存储装置中进行重放，以此获取第一电子设备的性能数据，第一电子设备和第二电子设备的存储装置同规格，则可以测试出该存储装置在不同电子设备的性能。通过这样的方式，利用操作数据对第一存储装置进行测试，以测试第一存储装置基于存储装置真实的行为数据和电子设备的行为数据的兼容性。
参阅图10，图10是本申请提供的存储装置的测试装置一实施例的结构示意图。该测试装置100包括处理器101和与处理器101连接的存储器102；其中，存储器102用于存储程序数据，处理器101用于执行程序数据，以实现如下的方法：
第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。
可以理解，本实施例中的处理器101还可以实现上述实施例的任一方法，这里不再赘述。
参阅图11，图11是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。该计算机可读存储介质110用于存储程序数据111，程序数据111在被处理器执行时，用于实现如下的方法：
第一电子设备获取第一操作数据；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于第一操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试。
可以理解，本实施例中的计算机可读存储介质110还可以实现上述实施例的任一方法，这里不再赘述。
参阅图12，图12是本申请提供的存储装置的测试***一实施例的结构示意图。该测试***120包括测试装置121。测试装置121用于获取第一操作数据，并基于第一操作数据对第一存储装置进行操作，并在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试；其中，第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到。
在其他实施例中，测试装置121还可同时对多个存储装置进行测试，其中，每个存储装置可是不同的数据传输协议。测试装置可以对每个数据传输协议进行适配，以实现同时测试多个存储装置。
在一些实施例中，测试装置121的第一存储装置可进行更换，以测试更多存储装置，同时，更换的存储装置的传输协议可以与第一存储装置的传输协议不同。在测试装置121中针对第一操作数据封装了统一的接口，可是实现多协议兼容。
在一些实施例中，因测试装置121的类型不同，还针对不同类型的测试装置121进行适配，在适配测试装置121后，进行存储装置的测试。具体地，通过与测试装置121的底层接口适配，如可以通过函数指针的方式动态调用不同函数以实现测试装置121运行和协议测试的支持。如读操作，适配接口提供起始地址和数据长度，测试装置121调用自己的读数据接口，传入适配接口提供的起始地址和数据长度即可。
参阅图13，该测试***120还包括采集装置122、解析装置123。其中，采集装置122用于采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据。解析装置123用于从采集装置122中获取行为数据，并对行为数据进行解析，得到操作数据。
采集装置122还用于采集第二存储装置在第二电子设备中运行的行为数据时，采集第二电子设备的协议处理阈值和异常处理方式，并以结构体形式保存所有处理后的数据。
其中，采集装置122被配置为可适配多种传输协议，如Emmc、UFS(UNIX文件***)、SCSI(Small Computer System Interface，小型计算机***接口)、PCIE(PeripheralComponent Interconnect Express，高速串行计算机扩展总线标准)等传输协议。在与第二电子设备连接时，对第二电子设备中的存储装置的传输协议进行适配，进而采集该存储装置的行为数据。
解析装置123还用于获取当前行的行为数据的命令类型；基于命令类型对当前行的行为数据进行分类处理并保存至第一解析列表中；将第一解析列表进行解析，以生成第一操作数据。
解析装置123还用于若命令类型为电流命令，则判断当前行的行为数据是否超过阈值，若是，则将当前行的行为数据保存至解析列表中；或，若命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中；或，若命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据进行解析，并基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至临时列表中；将临时列表中的行为数据保存至第一解析列表中。
解析装置123还用于若上一行的行为数据的命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据和上一行的行为数据合并；或，若上一行的行为数据的命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中。
解析装置123还用于将第一解析列表中的行为数据合并为结构体；在结构体中设置延迟类型，得到第二解析列表；对第二解析列表进行预处理，以生成第一操作数据。
解析装置123还用于清理第二解析列表中的校验命令；删除第二解析列表中重复的第一控制命令；调整第二解析列表中第二控制命令的参数；对第二解析列表中的部分行为数据设置组合标记，进而生成第一操作数据。
测试装置121还用于对第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据；利用第二操作数据对第一存储装置进行操作。
测试装置121还用于从第一操作数据中获取对应于上电以及初始化的第一行为数据；确定截取的开始位置和结束位置，基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据；将第一行为数据和第二行为数据形成第二操作数据。
测试装置121还用于判断开始位置是否位于第一组合标记之间；若是，则将第一组合标记的开始标记位置作为开始位置；以及判断结束位置是否位于第二组合标记之间；若是，则将第二组合标记的结束标记位置作为结束位置；基于开始位置和结束位置进行截取，得到第二行为数据。
测试装置121还用于利用第一操作数据在第一存储装置进行重放；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试，包括：获取第一操作数据中当前行的行为数据的命令类型；若命令类型为延时命令，则根据上一执行数据做延时处理；或，若命令类型为控制命令，则确定控制命令的子类型，若子类型为读命令，则进行读数据校验；若子类型为写命令，则进行写保护验证；若子类型为设置写保护命令，则记录写保护状态；若子类型为擦除命令，则记录擦除状态，去掉写状态。
测试装置121还用于获取第一存储装置的第一容量以及第二存储装置的第二容量；若第一容量大于第二容量，则基于第一操作数据在第一存储装置进行多次重放，直至第一存储装置的所有地址空间完成测试。
在本实施例中，通过第一电子设备获取操作数据；其中，操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；基于操作数据，对第一存储装置进行操作；在第一存储装置的操作过程中，对第一存储装置进行测试的方式，利用存储装置真实场景的行为数据对存储装置进行测试，提升对存储装置的测试效果。可以实现各电子设备的真实行为的性能卡关，使得一次运行测试不同电子设备成为可能；且统一的数据管理方案，极大的方便了分析问题和解决问题。
在本申请所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外，在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述其他实施方式中的集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施方式所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (18)
1.一种存储装置的测试方法，其特征在于，所述方法用于第一电子设备对安装于所述第一电子设备中的第一存储装置进行测试，所述方法包括：
第一电子设备获取第一操作数据；其中，所述第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；
基于所述第一操作数据，对所述第一存储装置进行操作；
在所述第一存储装置的操作过程中，对所述第一存储装置进行测试；
其中，所述方法还包括：
采集所述第二存储装置在所述第二电子设备中运行的行为数据；
获取当前行的行为数据的命令类型；
若所述命令类型为电流命令，则判断当前行的行为数据是否超过阈值，若是，则将当前行的行为数据保存至第一解析列表中；或，若所述命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中；或，若所述命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据进行解析，并基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至所述临时列表中；
将所述临时列表中的行为数据保存至第一解析列表中；
将所述第一解析列表中的行为数据合并为结构体；
在所述结构体中设置延迟类型，得到第二解析列表；
对所述第二解析列表进行预处理，以生成所述第一操作数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至所述临时列表中，包括：
若上一行的行为数据的命令类型为所述读写数据命令，则将当前行的行为数据和上一行的行为数据合并；或，
若上一行的行为数据的命令类型为所述控制命令，则将当前行的行为数据保存至所述临时列表中。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述对所述第二解析列表进行预处理，以生成所述第一操作数据，包括：
清理所述第二解析列表中的校验命令；
删除所述第二解析列表中重复的第一控制命令；
调整所述第二解析列表中第二控制命令的参数；
对所述第二解析列表中的部分行为数据设置组合标记，进而生成所述第一操作数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述基于所述第一操作数据，对所述第一存储装置进行操作，包括：
对所述第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据；
利用所述第二操作数据对所述第一存储装置进行操作。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述对所述第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据，包括：
从所述第一操作数据中获取对应于上电以及初始化的第一行为数据；
确定截取的开始位置和结束位置，基于所述开始位置和所述结束位置进行截取，得到第二行为数据；
将所述第一行为数据和第二行为数据形成所述第二操作数据。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，
所述确定截取的开始位置和结束位置，基于所述开始位置和所述结束位置进行截取，得到第二行为数据，包括：
判断所述开始位置是否位于第一组合标记之间；
若是，则将所述第一组合标记的开始标记位置作为所述开始位置；
以及判断所述结束位置是否位于第二组合标记之间；
若是，则将所述第二组合标记的结束标记位置作为所述结束位置；
基于所述开始位置和所述结束位置进行截取，得到第二行为数据。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述基于所述第一操作数据，对所述第一存储装置进行操作，包括：
利用所述第一操作数据在所述第一存储装置进行重放；
所述在所述第一存储装置的操作过程中，对所述第一存储装置进行测试，包括：
获取所述第一操作数据中当前行的行为数据的命令类型；
若所述命令类型为延时命令，则根据上一执行数据做延时处理；
或，若所述命令类型为控制命令，则确定所述控制命令的子类型，若所述子类型为读命令，则进行读数据校验；若所述子类型为写命令，则进行写保护验证；若所述子类型为设置写保护命令，则记录写保护状态；若所述子类型为擦除命令，则记录擦除状态，去掉写状态。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：
获取所述第一存储装置的第一容量以及所述第二存储装置的第二容量；
若所述第一容量大于所述第二容量，则基于所述第一操作数据在所述第一存储装置进行多次重放，直至所述第一存储装置的所有地址空间完成测试。
9.一种存储装置的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括处理器和与所述处理器连接的存储器；
其中，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据，以实现如权利要求1-8任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用于实现如权利要求1-8任一项所述的方法。
11.一种存储装置的测试***，其特征在于，所述测试***包括：
测试装置，所述测试装置用于获取第一操作数据，并基于所述第一操作数据对第一存储装置进行操作，并在所述第一存储装置的操作过程中，对所述第一存储装置进行测试；其中，所述第一操作数据为第二存储装置在第二电子设备中运行时，采集的存储装置的行为数据得到；
采集装置，用于采集所述第二存储装置在所述第二电子设备中运行的行为数据；
解析装置，用于获取当前行的行为数据的命令类型；
若所述命令类型为电流命令，则判断当前行的行为数据是否超过阈值，若是，则将当前行的行为数据保存至第一解析列表中；
或，若所述命令类型为控制命令，则将当前行的行为数据保存至临时列表中；或，若所述命令类型为读写数据命令，则将当前行的行为数据进行解析，并基于上一行的行为数据的命令类型将当前行的行为数据保存至所述临时列表中；
将所述临时列表中的行为数据保存至所述第一解析列表中；
将所述第一解析列表中的行为数据合并为结构体；
在所述结构体中设置延迟类型，得到第二解析列表；
对所述第二解析列表进行预处理，以生成所述第一操作数据。
12.根据权利要求11所述的测试***，其特征在于，
所述解析装置，还用于若上一行的行为数据的命令类型为所述读写数据命令，则将当前行的行为数据和上一行的行为数据合并；或，若上一行的行为数据的命令类型为所述控制命令，则将当前行的行为数据保存至所述临时列表中。
13.根据权利要求11所述的测试***，其特征在于，
所述解析装置，还用于清理所述第二解析列表中的校验命令；删除所述第二解析列表中重复的第一控制命令；调整所述第二解析列表中第二控制命令的参数；对所述第二解析列表中的部分行为数据设置组合标记，进而生成所述第一操作数据。
14.根据权利要求11所述的测试***，其特征在于，
所述测试装置还用于对所述第一操作数据进行截取，以得到第二操作数据；利用所述第二操作数据对所述第一存储装置进行操作。
15.根据权利要求14所述的测试***，其特征在于，所述测试装置还用于从所述第一操作数据中获取对应于上电以及初始化的第一行为数据；确定截取的开始位置和结束位置，基于所述开始位置和所述结束位置进行截取，得到第二行为数据；将所述第一行为数据和第二行为数据形成所述第二操作数据。
16.根据权利要求15所述的测试***，其特征在于，所述测试装置还用于判断所述开始位置是否位于第一组合标记之间；若是，则将所述第一组合标记的开始标记位置作为所述开始位置；以及判断所述结束位置是否位于第二组合标记之间；若是，则将所述第二组合标记的结束标记位置作为所述结束位置；基于所述开始位置和所述结束位置进行截取，得到第二行为数据。
17.根据权利要求11所述的测试***，其特征在于，所述测试装置还用于利用所述第一操作数据在所述第一存储装置进行重放；获取所述第一操作数据中当前行的行为数据的命令类型；若所述命令类型为延时命令，则根据上一执行数据做延时处理；或，若所述命令类型为控制命令，则确定所述控制命令的子类型，若所述子类型为读命令，则进行读数据校验；若所述子类型为写命令，则进行写保护验证；若所述子类型为设置写保护命令，则记录写保护状态；若所述子类型为擦除命令，则记录擦除状态，去掉写状态。
18.根据权利要求17所述的测试***，其特征在于，所述测试装置还用于获取所述第一存储装置的第一容量以及所述第二存储装置的第二容量；若所述第一容量大于所述第二容量，则基于所述第一操作数据在所述第一存储装置进行多次重放，直至所述第一存储装置的所有地址空间完成测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011412743.1A CN112579371B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 存储装置的测试方法、测试装置、测试*** |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011412743.1A CN112579371B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 存储装置的测试方法、测试装置、测试*** |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112579371A CN112579371A (zh) | 2021-03-30 |
| CN112579371B true CN112579371B (zh) | 2024-06-18 |
Family
ID=75127305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202011412743.1A Active CN112579371B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 存储装置的测试方法、测试装置、测试*** |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112579371B (zh) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109144842A (zh) * | 2017-06-16 | 2019-01-04 | 百度在线网络技术（北京）有限公司 | 用于测试应用的方法和装置 |
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Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7137037B2 (en) * | 2003-03-27 | 2006-11-14 | Silicon Motion, Inc. | Data storage system and method for testing the same |
| CN111782446A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深圳忆联信息***有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN111930581A (zh) * | 2020-08-14 | 2020-11-13 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 一种内存接口测试方法、装置、设备及可读存储介质 |
| CN112017723B (zh) * | 2020-08-31 | 2022-11-15 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | 存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
-
2020
- 2020-12-03 CN CN202011412743.1A patent/CN112579371B/zh active Active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112579371A (zh) | 2021-03-30 |
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