CN112578327A - 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质 - Google Patents

球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112578327A
CN112578327A CN202011391961.1A CN202011391961A CN112578327A CN 112578327 A CN112578327 A CN 112578327A CN 202011391961 A CN202011391961 A CN 202011391961A CN 112578327 A CN112578327 A CN 112578327A
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
test
scanning
calibration method
test probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011391961.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112578327B (zh
Inventor
漆一宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GENERAL TEST SYSTEMS Inc
Original Assignee
GENERAL TEST SYSTEMS Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GENERAL TEST SYSTEMS Inc filed Critical GENERAL TEST SYSTEMS Inc
Priority to CN202011391961.1A priority Critical patent/CN112578327B/zh
Publication of CN112578327A publication Critical patent/CN112578327A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112578327B publication Critical patent/CN112578327B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D30/00Reducing energy consumption in communication networks
    • Y02D30/70Reducing energy consumption in communication networks in wireless communication networks

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

本公开提供一种球面扫描测试***的校准方法,测试***至少包括转台和扫描机构,其中,转台用于带动被测件转动,扫描机构用于带动测试探头作圆弧形扫描运动。校准方法包括:转台转动预设角度,获得转台上至少一个第一定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第一定位数据;根据第一定位数据确定转台的转动平面和转动中心的位置,确定为转台坐标系;扫描机构按预设轨迹作圆弧形扫描运动,获得测试探头上至少一个第二定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第二定位数据;根据第二定位数据确定测试探头的扫描圆弧的半径和圆心的位置,确定为扫描坐标系;根据转台坐标系和扫描坐标系对测试***进行校准。

Description

球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质。
背景技术
在天线的测试技术中,通常使用性能已知的探头,在距离待测天线一定距离的某一表面进行扫描,测试待测天线在该表面离散点上的幅度和相位分布。其中,测试面可以是平面、柱面或球面,相应的扫描法称为平面、柱面或球面测试。当测试面位于待测天线的近场范围时,可以根据探头的性能以及扫描点的位置信息,将近场测试结果经近场-远场变换,得到待测天线的远场性能。
球面扫描测试,是对待测天线周围空间的完整测试。在球面扫描测试中,测试数据在围绕待测天线的球面上采集得到。这种方法最能完整地体现天线的辐射特性,理论上的误差最小,测试精度最高。可以用于测量任何天线,尤其适用于全向或近似全向的天线。
随着微波技术的不断发展,特别是毫米波的广泛应用,对天线测试提出了更高的精度要求。球面扫描测试中,在每个扫描点上,测试探头需指向球心并对两个正交极化进行采样。机械上的精度对测试结果的影响较大。一方面,测试***的机械结构由于加工误差或安装误差,可能导致一定的机械误差;另一方面,随着时间推移,机械结构会发生形变从而产生机械误差。为了消除机械误差引起的测试结果的不确定性,需要对测试***的机械结构进行调试校准。
发明内容
本公开描述了一种球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质。
根据本公开的实施例的第一方面,提供一种球面扫描测试***的校准方法,该测试***用于获得被测件的无线性能,测试***至少包括转台和扫描机构,其中,转台用于带动被测件转动,扫描机构用于带动测试探头作圆弧形扫描运动,校准方法包括:
转台转动预设角度,获得转台上至少一个第一定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第一定位数据;根据第一定位数据确定转台的转动平面和转动中心的位置,确定为转台坐标系;扫描机构按预设轨迹作圆弧形扫描运动,获得测试探头上至少一个第二定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第二定位数据;根据第二定位数据确定测试探头的扫描圆弧的半径和圆心的位置,确定为扫描坐标系;根据转台坐标系和扫描坐标系对测试***进行校准。
根据校准方法的一个实施例,通过激光定位装置获得第一定位数据和第二定位数据。
根据校准方法的一个实施例,激光定位装置是激光跟踪仪,第一定位点设有第一靶标,第二定位点设有第二靶标。
根据校准方法的一个实施例,还包括:获得扫描机构相对于测试***中预设固定点的初始位置;当扫描机构的位置改变时,获得扫描机构相对于测试***中预设固定点的更新位置;根据初始位置和更新位置对测试***进行校准。
根据校准方法的一个实施例,通过视觉定位装置获得初始位置或更新位置。
根据校准方法的一个实施例,视觉定位装置是工业相机,预设固定点设有标定板。
根据校准方法的一个实施例,还包括:获得测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的最大辐射方向的指向角度与预设指向角度的指向偏移值;根据指向偏移值对测试***进行校准;获得测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的极化方向与预设极化方向的极化偏移值;根据极化偏移值对测试***进行校准。
根据校准方法的一个实施例,通过可拆卸地安装在测试探头上的激光器获得指向偏移值:将激光器的激光的指向调整至与测试探头的最大辐射方向的指向角度相同;将激光投射至投射平面上,根据投射平面上激光的位置和参考中心位置,获得指向偏移值。
根据校准方法的一个实施例,若测试探头为单极化天线,通过可拆卸地安装在测试探头上的一字激光器获得极化偏移值:将一字激光器的激光的一字方向调整至与测试探头的极化方向相同;将激光投射至投射平面上,根据投射平面上激光的一字方向和参考极化方向获得极化偏移值;或者,若测试探头为双极化天线,通过可拆卸地安装在测试探头上的十字激光器获得极化偏移值:将十字激光器的激光的十字方向调整至与测试探头的极化方向相同,将激光投射至投射平面上,根据投射平面上激光的十字方向和参考极化方向获得极化偏移值。
根据本公开的实施例的第二方面,提供一种电子设备,包括:处理器;存储器,用于存储可由处理器执行的计算机程序;其中,处理器执行计算机程序时实现前述的校准方法。
根据本公开的实施例的第三方面,提供一种非暂时性计算机可读存储介质,存储介质上存储有计算机程序,当计算机程序被处理器执行时,实现前述的校准方法。
本公开的实施例可以对测试***的机械误差进行校准和修正,以消除机械误差引起的测试结果的不确定性,保证测试精度。
附图说明
图1a是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的示意图。
图1b是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的转台坐标系示意图。
图1c是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的扫描坐标系示意图。
图2是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的校准方法的流程图。
图3是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***中的转台的俯视图。
图4是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的校准方法的流程图。
图5是本公开根据一个实施例示出的球面扫描测试***的校准方法的流程图。
图6是本公开根据一个实施例示出的电子设备的结构框图。
具体实施方式
以下参照附图描述本公开的实施例。应当理解,附图不是必须为等比例的。描述的实施例是示例性的,而非旨在限制本公开,可以以相同方式或类似方式与实施例的特征组合或替代这些特征。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
本公开的一方面实施例提供了一种球面扫描测试***的校准方法。其中,测试***用于获得被测件的无线性能。本公开中,被测件是无线设备,无线设备指可以进行无线通信的设备,例如可以为电脑、手机、平板、可穿戴智能设备、无线路由器等小型设备,或基站、大型天线、车辆、飞机等大型设备。被测件的无线性能指无线设备的天线的无线信号传输能力,包括发射性能或/和接收性能。测试***至少包括转台和扫描机构,其中,转台用于承载被测件,并带动被测件转动,扫描机构用于带动测试探头作圆弧形扫描运动,并在到达每个采样点时,获得被测件的无线性能。具体而言,扫描机构可以为相关技术中的摇臂、导轨或机械臂等,一个或多个测试探头安装于扫描机构上,并可以沿着预设的圆弧形轨迹运动。
作为一个示例,参考图1a~1c,测试***至少包括转台100和扫描机构200。扫描机构200为二分之一圆弧形导轨,测试探头300安装在其轨道上。转台坐标系以转台100的转动中心为原点O,以转台100的转动平面为坐标系的XY平面,以过原点O并且垂直于XY平面的轴为Z轴。在转台坐标系中,转台100带动被测件400以原点O为中心在XY平面转动。扫描坐标系以扫描圆弧的圆心为原点O′,以圆弧形扫描轨迹所在的面为Y′Z′平面,以过原点O′并且垂直于Y′Z′平面的轴为X′轴。在扫描坐标系中,扫描机构200带动测试探头300以原点O′为圆心在Y′Z′平面作圆弧形扫描运动。
在理想的测试***中,转台坐标系与扫描坐标系应该为同一个坐标系,它的原点即测试中心,也即扫描球面的球心,根据不同的测试需求,对该测试中心进行整个球面或局部球面的扫描测试。但测试***的机械结构由于加工误差或安装误差或使用过程中产生形变等原因,两个坐标系之间可能存在不确定的偏差。校准的目的即确定这个偏差,对其进行修正,以消除机械误差引起的测试结果的不确定性。
参考图2,本实施例的校准方法包括如下步骤:
步骤S11:转台转动预设角度,获得转台上至少一个第一定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第一定位数据。参考图3,作为一种示例,图3是转台100的俯视图,转台100上设有至少一个第一定位点101,当转台100转动预设角度,第一定位点101的位置随之发生改变,获得第一定位点101在至少三个不同的位置1011处的位置信息,确定为第一定位数据。
步骤S12:根据第一定位数据确定转台的转动平面和转动中心的位置,确定为转台坐标系。具体而言,参考图3,根据几何原理很容易获知,第一定位点101移动的轨迹为圆弧形,该圆弧位于XY平面上并且以原点O为圆心,第一定位点101移动的轨迹上的任意三个不同的位置1011都不共线,因此可以通过第一定位数据确定XY平面(即转台100的转动平面)以及原点O(即转台100的转动中心),也即确定了转台坐标系。转台坐标系以过原点O并且垂直于XY平面的轴为Z轴,Z轴的方向以及X轴和Y轴的具***置可以根据需要进行规定,图中仅为示例。此外,需要说明的是,对于部分被测件而言(例如尺寸较小的被测件),当转台带动被测件转动时,可以认为测试中心即转台的转动中心,也即是球面扫描的球心。然而,对于其他一些被测件而言(例如尺寸较大的被测件),其测试中心可能高于转台的转动中心,这种情况下,可以根据被测件的测试中心的位置将转台坐标系在Z轴方向上平移,例如,当被测件置于转台上时,其测试中心距离转台平面的高度为H,在建立坐标系时,相应地,转台坐标系以转台的转动中心垂直向上H距离处为原点O,以转台的转动平面垂直向上H距离处的平行平面为坐标系的XY平面,以过原点O并且垂直于XY平面的轴为Z轴。
步骤S21:与步骤S11类似地,扫描机构按预设轨迹作圆弧形扫描运动,获得测试探头上至少一个第二定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第二定位数据。
步骤S22:与步骤S12类似地,根据第二定位数据确定测试探头的扫描圆弧的半径和圆心的位置,确定为扫描坐标系。
步骤S31:根据转台坐标系和扫描坐标系对测试***进行校准。具体地,例如获得转台坐标系和扫描坐标系之间的变换矩阵,根据变换矩阵对测试***进行校准。校准的方式例如可以通过调整机械结构使两个坐标系在物理上一致,或者,对测试数据进行计算补偿以修正偏差。
可选地,在步骤S11和步骤S21中,通过激光定位装置获得第一定位数据和第二定位数据。
可选地,激光定位装置是激光跟踪仪,第一定位点设有第一靶标,第二定位点设有第二靶标。第一靶标和第二靶标的安装方式可以设置为可拆卸安装,在***需要校准时进行安装,在***进行测试时将其拆卸,避免对测试产生影响。
可选地,参考图4,本实施例的校准方法还包括如下步骤:
步骤S41:获得扫描机构相对于测试***中预设固定点的初始位置;
步骤S42:当扫描机构的位置改变时,获得扫描机构相对于测试***中预设固定点的更新位置;
步骤S43:根据初始位置和更新位置对测试***进行校准。
对于扫描机构可移动的测试***而言,通过步骤S41至S43的方法可以快速对扫描机构的位置进行重新定位。具体地,对于扫描坐标系已知的扫描机构,获得步骤S41中的初始位置,当扫描机构的位置发生改变时,获得步骤S42中的更新位置,然后,如步骤S43所述,根据初始位置和更新位置,可以快速确定扫描机构在更新位置下的扫描坐标系,从而根据步骤S31的方法对测试***进行校准,避免再次通过步骤S21和步骤S22对位置发生改变的扫描机构重新确定其扫描坐标系。
可选地,在步骤S41或步骤S42中,通过视觉定位装置获得初始位置或更新位置。
可选地,视觉定位装置是工业相机,预设固定点设有标定板。
在球面测试中,需要测试探头在各个采样点都保持指向测试中心,并且测试探头的极化方向需要对准。所谓“指向测试中心”,可以理解为测试探头以一个固定的辐射方向(通常为最大增益方向或接近最大增益方向)指向测试中心的方向。在一些相关技术中,天线的最大辐射方向与天线端口的法线方向一致。所谓“测试中心”,可以理解为测试***的中心,即测试区域的中心或测试转轴中心,对于球面扫描***而言,测试中心可以理解为扫描球面的球心。在相关技术中,通常需要将被测件的天线的相位中心或等效辐射中心置于测试中心,对被测件以此中心进行三维的无线性能测试。所谓“测试极化”,其定义如下:以测试中心建立球面坐标系,theta方向即是测试的theta极化(也叫V极化),phi方向即是测试的phi极化(也叫H极化)。为了确保测试的准确,测试探头的指向角度和极化方向也需要校准。
参考图5,在一些实施例中,校准方法还包括如下步骤:
步骤S51:获得测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的最大辐射方向的指向角度与预设指向角度的指向偏移值。可选地,通过可拆卸地安装在测试探头上的激光器获得该指向偏移值,具体地,将激光器发射的激光的指向调整至与测试探头的最大辐射方向的指向角度相同,将激光器发射的激光投射至一个预设的投射平面,根据投射平面上激光的位置和投射平面上的参考中心位置,获得该指向偏移值,并在测试探头位于各个预设位置时,获得相应的该指向偏移值。其中,作为一种示例,可以将激光器发射的激光投射至转台平面,将转台的转动中心(或其他表示测试中心的点)作为参考中心位置,根据转台上激光的位置和转动中心的位置获得该指向偏移值。
步骤S52:根据指向偏移值对测试***进行校准。具体地,校准的方式例如可以调整测试探头的安装机械结构使激光中心点在投射平面的位置和投射平面上的参考中心位置重合,或者,根据该指向偏移值对测试数据进行计算补偿以修正偏差。
步骤S61:获得测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的极化方向与预设极化方向的极化偏移值。可选地,若测试探头为单极化天线,通过可拆卸地安装在测试探头上的一字激光器获得该极化偏移值,具体地,将一字激光器发射的激光的一字方向调整至与测试探头的极化方向相同,将一字激光器发射的激光投射至一个预设的投射平面,根据投射平面上的激光的一字方向和参考极化方向获得该极化偏移值。若测试探头为双极化天线,通过可拆卸地安装在测试探头上的十字激光器获得极化偏移值,具体地,将十字激光器的激光的十字方向调整至与测试探头的极化方向相同,将十字激光器发射的激光投射至一个预设的投射平面,根据投射平面上的激光的十字方向和参考极化方向获得该极化偏移值。
步骤S62:根据极化偏移值对测试***进行校准。具体地,校准的方式例如可以调整测试探头的安装机械结构使投射平面的一字/十字激光方向和投射平面上的参考极化方向重合,或者,根据该极化偏移值对测试数据进行计算补偿以修正偏差。
可选地,图5所示的步骤S51~S62的校准可以在测试探头的运动轨迹上的多个位置执行,作为一种示例,可以为其运动轨迹上的多个采样点位置。因为当测试探头位于不同位置时,存在的机械形变可能不同,从而导致不同的指向偏移或极化偏移,在多个位置进行偏移值的标定和校准可以确保更准确的校准。
与前述球面扫描测试***的校准方法的实施例对应,本公开的另一方面实施例为一种电子设备,包括:处理器;存储器,用于存储可由处理器执行的计算机程序;其中,处理器执行计算机程序时实现前述的无线性能的测试方法,在此不再赘述。根据电子设备的一个实施例,图6示出了本实施例的结构框图。电子设备可以是计算机,移动电话,平板设备,消息收发设备等终端设备。电子设备可以包括存储器1001、处理器1002及存储在存储器1001上并可在处理器1002上执行的计算机程序。处理器1002执行计算机程序时实现上述实施例中提供的无线性能的测试方法。
可选地,本实施例的电子设备还包括:通信接口1003,用于存储器1001和处理器1002之间的通信。存储器1001可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。如果存储器1001、处理器1002和通信接口1003独立实现,则通信接口1003、存储器1001和处理器1002可以通过总线相互连接并完成相互间的通信。所述总线可以是工业标准体系结构(Industry StandardArchitecture,简称为ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component,简称为PCI)总线或扩展工业标准体系结构(Extended Industry Standard Architecture,简称为EISA)总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。
可选的,在具体实现上,如果存储器1001、处理器1002及通信接口1003,集成在一块芯片上实现,则存储器1001、处理器1002及通信接口1003可以通过内部接口完成相互间的通信。
处理器1002可能是一个中央处理器(Central Processing Unit,简称为CPU),或者是特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称为ASIC),或者是被配置成实施本公开实施例的一个或多个集成电路。
与前述球面扫描测试***的校准方法的实施例对应,本公开的另一方面实施例为一种非暂时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,当计算机程序被处理器执行时,实现前述的球面扫描测试***的校准方法,在此不再赘述。
以上描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施方式或示例中。在本公开中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施方式或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本公开的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本公开的可选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本公开的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行***、装置或设备(如基于计算机的***、包括处理器的***或其他可以从指令执行***、装置或设备取指令并执行指令的***)使用,或结合这些指令执行***、装置或设备而使用。就本公开而言,"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本公开的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。如,如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本公开的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本公开的限制,本领域的普通技术人员在本公开的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (11)

1.球面扫描测试***的校准方法,所述测试***用于获得被测件的无线性能,所述测试***至少包括转台和扫描机构,其中,所述转台用于带动所述被测件转动,所述扫描机构用于带动测试探头作圆弧形扫描运动,其特征在于,所述校准方法包括:
所述转台转动预设角度,获得所述转台上至少一个第一定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第一定位数据;
根据所述第一定位数据确定所述转台的转动平面和转动中心的位置,确定为转台坐标系;
所述扫描机构按预设轨迹作圆弧形扫描运动,获得所述测试探头上至少一个第二定位点的至少三个不同的位置信息,确定为第二定位数据;
根据所述第二定位数据确定所述测试探头的扫描圆弧的半径和圆心的位置,确定为扫描坐标系;
根据所述转台坐标系和所述扫描坐标系对所述测试***进行校准。
2.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,通过激光定位装置获得所述第一定位数据和所述第二定位数据。
3.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述激光定位装置是激光跟踪仪,所述第一定位点设有第一靶标,所述第二定位点设有第二靶标。
4.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,还包括:
获得所述扫描机构相对于所述测试***中预设固定点的初始位置;
当所述扫描机构的位置改变时,获得所述扫描机构相对于所述测试***中预设固定点的更新位置;
根据所述初始位置和所述更新位置对所述测试***进行校准。
5.根据权利要求4所述的校准方法,其特征在于,通过视觉定位装置获得所述初始位置或所述更新位置。
6.根据权利要求5所述的校准方法,其特征在于,所述视觉定位装置是工业相机,所述预设固定点设有标定板。
7.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,还包括:
获得所述测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的最大辐射方向的指向角度与预设指向角度的指向偏移值;
根据所述指向偏移值对所述测试***进行校准;
获得所述测试探头在其运动轨迹上至少一个位置的极化方向与预设极化方向的极化偏移值;
根据所述极化偏移值对所述测试***进行校准。
8.根据权利要求7所述的校准方法,其特征在于,通过可拆卸地安装在所述测试探头上的激光器获得所述指向偏移值:
将所述激光器的激光的指向调整至与所述测试探头的最大辐射方向的指向角度相同;
将所述激光投射至投射平面上,根据所述投射平面上所述激光的位置和参考中心位置,获得所述指向偏移值。
9.根据权利要求7所述的校准方法,其特征在于,若所述测试探头为单极化天线,通过可拆卸地安装在所述测试探头上的一字激光器获得所述极化偏移值:
将所述一字激光器的激光的一字方向调整至与所述测试探头的极化方向相同;
将所述激光投射至投射平面上,根据所述投射平面上所述激光的一字方向和参考极化方向获得所述极化偏移值;
或者,若所述测试探头为双极化天线,通过可拆卸地安装在所述测试探头上的十字激光器获得所述极化偏移值:
将所述十字激光器的激光的十字方向调整至与所述测试探头的极化方向相同;
将所述激光投射至所述投射平面上,根据所述投射平面上所述激光的十字方向和参考极化方向获得所述极化偏移值。
10.电子设备,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,用于存储可由处理器执行的计算机程序;
其中,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-9中任一所述的校准方法。
11.非暂时性计算机可读存储介质,所述存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,当所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1-9中任一所述的校准方法。
CN202011391961.1A 2020-12-01 2020-12-01 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质 Active CN112578327B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011391961.1A CN112578327B (zh) 2020-12-01 2020-12-01 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011391961.1A CN112578327B (zh) 2020-12-01 2020-12-01 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112578327A true CN112578327A (zh) 2021-03-30
CN112578327B CN112578327B (zh) 2023-09-12

Family

ID=75126795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011391961.1A Active CN112578327B (zh) 2020-12-01 2020-12-01 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112578327B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113776574A (zh) * 2021-08-12 2021-12-10 广东嘉腾机器人自动化有限公司 一种区域传感器测试方法及***

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630761A (zh) * 2013-11-20 2014-03-12 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种多探头球面近场通道校准装置及方法
CN106354094A (zh) * 2016-09-14 2017-01-25 大连理工大学 基于空间标准球的机床随动激光扫描坐标标定方法
CN106980099A (zh) * 2017-05-26 2017-07-25 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 一种电路板自动测试***的校准方法及***
WO2018011335A1 (en) * 2016-07-13 2018-01-18 Naked Labs Austria Gmbh Alignment of scan parts on a turntable
CN108107871A (zh) * 2017-12-26 2018-06-01 中科新松有限公司 优化的机器人性能测试方法及装置
CN108344360A (zh) * 2017-11-15 2018-07-31 北京航空航天大学 一种视觉测量***的激光扫描式全局校准装置及方法
CN108508393A (zh) * 2018-07-03 2018-09-07 上海益麦电磁技术有限公司 一种多探头天线测试***探头校准***和校准方法
CN108535705A (zh) * 2018-01-31 2018-09-14 中国人民解放军国防科技大学 一种基于频率补偿的同时全极化雷达校准方法
CN108844459A (zh) * 2018-05-03 2018-11-20 华中科技大学无锡研究院 一种叶片数字化样板检测***的标定方法及装置
CN109249392A (zh) * 2018-08-31 2019-01-22 先临三维科技股份有限公司 工件抓取***的校准方法、标定件、装置、设备和介质
CN110375650A (zh) * 2019-08-15 2019-10-25 中国铁建重工集团股份有限公司 一种拱架位姿测量方法及***
CN110887568A (zh) * 2019-12-03 2020-03-17 上海航天测控通信研究所 一种月球观测***
CN110997064A (zh) * 2017-05-26 2020-04-10 爱可瑞公司 基于放射的处置束位置校准和验证
CN111174721A (zh) * 2019-12-27 2020-05-19 中国特种设备检测研究院 基于三维激光扫描的起重机械结构变形检测方法
CN111965438A (zh) * 2020-08-14 2020-11-20 中国电子科技集团公司第十四研究所 基于机械臂的多任务天线测试***、方法及装置
CN111988094A (zh) * 2020-09-18 2020-11-24 漆一宏 无线性能的测试装置、***、方法、设备及存储介质
CN112557769A (zh) * 2020-11-23 2021-03-26 中山香山微波科技有限公司 片上天线测试***及测试方法

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630761A (zh) * 2013-11-20 2014-03-12 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种多探头球面近场通道校准装置及方法
WO2018011335A1 (en) * 2016-07-13 2018-01-18 Naked Labs Austria Gmbh Alignment of scan parts on a turntable
CN106354094A (zh) * 2016-09-14 2017-01-25 大连理工大学 基于空间标准球的机床随动激光扫描坐标标定方法
CN110997064A (zh) * 2017-05-26 2020-04-10 爱可瑞公司 基于放射的处置束位置校准和验证
CN106980099A (zh) * 2017-05-26 2017-07-25 深圳市赛伦北斗科技有限责任公司 一种电路板自动测试***的校准方法及***
CN108344360A (zh) * 2017-11-15 2018-07-31 北京航空航天大学 一种视觉测量***的激光扫描式全局校准装置及方法
CN108107871A (zh) * 2017-12-26 2018-06-01 中科新松有限公司 优化的机器人性能测试方法及装置
CN108535705A (zh) * 2018-01-31 2018-09-14 中国人民解放军国防科技大学 一种基于频率补偿的同时全极化雷达校准方法
CN108844459A (zh) * 2018-05-03 2018-11-20 华中科技大学无锡研究院 一种叶片数字化样板检测***的标定方法及装置
CN108508393A (zh) * 2018-07-03 2018-09-07 上海益麦电磁技术有限公司 一种多探头天线测试***探头校准***和校准方法
CN109249392A (zh) * 2018-08-31 2019-01-22 先临三维科技股份有限公司 工件抓取***的校准方法、标定件、装置、设备和介质
CN110375650A (zh) * 2019-08-15 2019-10-25 中国铁建重工集团股份有限公司 一种拱架位姿测量方法及***
CN110887568A (zh) * 2019-12-03 2020-03-17 上海航天测控通信研究所 一种月球观测***
CN111174721A (zh) * 2019-12-27 2020-05-19 中国特种设备检测研究院 基于三维激光扫描的起重机械结构变形检测方法
CN111965438A (zh) * 2020-08-14 2020-11-20 中国电子科技集团公司第十四研究所 基于机械臂的多任务天线测试***、方法及装置
CN111988094A (zh) * 2020-09-18 2020-11-24 漆一宏 无线性能的测试装置、***、方法、设备及存储介质
CN112557769A (zh) * 2020-11-23 2021-03-26 中山香山微波科技有限公司 片上天线测试***及测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113776574A (zh) * 2021-08-12 2021-12-10 广东嘉腾机器人自动化有限公司 一种区域传感器测试方法及***
CN113776574B (zh) * 2021-08-12 2024-04-02 广东嘉腾机器人自动化有限公司 一种区域传感器测试方法及***

Also Published As

Publication number Publication date
CN112578327B (zh) 2023-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10484110B2 (en) Method and system for testing beam forming capabilities of wireless devices
JP6535046B2 (ja) 無線端末のアンテナ指向特性測定システムおよび測定方法
US20210091863A1 (en) Calibration method and communications device
CN112098964B (zh) 路端雷达的标定方法、装置、设备及存储介质
JP6616810B2 (ja) 無線端末の受信特性測定システムおよび測定方法
US10871366B2 (en) Supplementary metrology position coordinates determination system for use with a robot
US10913156B2 (en) Robot system with end tool metrology position coordinates determination system
CN110618408A (zh) 一种精密测距***天线相位中心的***标定方法
US5485158A (en) Linear near field test facility and process
CN109286453A (zh) 用于波束成形测量的具有定位***的测量***和测量方法
JP2018021893A (ja) 放射パターン測定システム及び方法
CN112578327B (zh) 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质
US5419631A (en) Three-axis motion tracking interferometer for measurement and correction of positional errors between an article under test and a measurement probe
CN111988094B (zh) 无线性能的测试装置、***、方法、设备及存储介质
CN212367282U (zh) 无线性能的测试装置和测试***
CN113446985A (zh) 一种反射面天线电轴指向标定方法
CN115542024A (zh) 一种天线方向图近场测量方法
CN115542268A (zh) 一种大口径相控阵天线分块测试方法及测试***
CN112557769B (zh) 片上天线测试***及测试方法
CN218298384U (zh) 相控阵天线的测试***
US20200220632A1 (en) Method and system for positioning a device under test within a test area
JP2021534983A (ja) ロボットと共に使用される位置合わせセンサを含む補足計測位置座標決定システム
CN116819186B (zh) 一种物联网通信终端天线性能调测方法
CN115833972B (zh) 对阵列馈电***输出的目标角位置进行校准的***及方法
CN117723849B (zh) 一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法、设备及介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant