CN112444678A - Pcb板***损耗的监控方法、监控***以及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及印刷电路板技术领域,具体公开了一种PCB板***损耗的监控方法、监控***以及装置,该方法包括:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库;对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值;计算预设型号PCB板对应的插损值的平均值以及方差或标准偏差;根据平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围。通过上述方式,本申请能够实现自动化数据分析,提高监控精确度。
Description
技术领域
本申请涉及印刷电路板技术领域,特别是涉及PCB板***损耗的监控方法、监控***以及装置。
背景技术
电子产品功能越来越强,集成度越来越高,信号的速率越来越快,相应研发周期也越来越短。由于电子产品的微小化、高速化,对设计及工程化带来各种挑战。印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)是电气连接的物理实现,通过PCB连接各种不同的电气器件,完成功能实现。PCB包含将各器件连接起来的金属传输线,在高速串行***中,我们还需要考虑高质量的传输损耗和传输线所在的绝缘环境的介质损耗性能,即PCB板***损耗。
本申请的发明人在长期的研发过程中,发现现有技术中,PCB板***损耗的监控过程通常由人工来完成,其效率低下,准确率低,无法自动监控PCB板制造过程中的***损耗。
发明内容
本申请提供一种PCB板***损耗的监控方法、监控***以及装置,实现了自动化数据分析,提高监控精确度。
一方面,本申请提供一种PCB板***损耗的监控方法,该方法包括:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库;对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值;计算预设型号PCB板对应的插损值的平均值以及方差或标准偏差;根据平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围。
另一方面,本申请提供一种PCB板***损耗的监控***,该***包括:抓取单元、数据库、特征提取单元以及计算单元,数据库连接抓取单元以及特征提取单元,计算单元连接特征提取单元;抓取单元,用于:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库;特征提取单元,用于:对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值;计算单元,用于:计算预设型号PCB板对应的插损值的平均值以及方差或标准偏差,并根据平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围。
又一方面,本申请提供一种具有存储功能的装置,存储有程序数据,程序数据能够被执行以实现如前述PCB板***损耗的监控方法中的步骤。
本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请提供一种PCB板***损耗的监控方法,该方法能够自动抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库,避免了采用人工来完成参数录入工作。同时,本申请能够对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值,准确地根据插损值的平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围,实现了自动化数据分析,进而在后续监控过程中自动分析出异常数据,提高监控精确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
图1是本申请PCB板***损耗的监控方法一实施方式的流程示意图;
图2是本申请PCB板***损耗的监控方法另一实施方式的流程示意图;
图3是本申请PCB板***损耗的监控方法又一实施方式的流程示意图;
图4是本申请PCB板***损耗的监控方法再一实施方式的流程示意图;
图5是本申请PCB板***损耗的监控***一实施方式的结构示意图;
图6是本申请PCB板***损耗的监控***另一实施方式的结构示意图;
图7是本申请具有存储功能的装置一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
参阅图1,图1是本申请PCB板***损耗的监控方法一实施方式的流程示意图,该方法包括以下步骤:
S10:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库。
具体地,在PCB板加工过程中,对整个流程进行追踪,对于同一型号一定数量的PCB板,本申请可以用一个档案码记录该批次PCB板监控参数和插损值。其中PCB板的监控参数可以包括客户信息、型号、生产日期、生产场地、生产线、批号、序号、各个加工工序的工人工号、加工设备的编号、加工时间、芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息等。当然,PCB板的监控参数并不是一次性全部录入,而是需要在加工过程中不断补充完善,以全程记录PCB板的所有加工工序。在PCB板未加工之前,PCB板的监控参数可能仅包括客户信息和型号,其它信息则随着PCB板的加工流程不断补充完善。
档案码包括至少一个监控参数,监控参数的内容是可变的。例如,监控参数可以是说明监控参数含义的文字等等。例如,档案码包括两个监控参数V1、V2,V1、V2只是监控参数在档案码中的代号,并不表示打印出来的内容,V1、V2还可以用其他代号表示,例如还可以用A、B等代号表示,在此不一一列举。
监控参数V1、V2打印出的格式均可以为文本格式、条形码格式或二维码格式等等。
监控参数包括参数类型以及参数值,参数类型可以为“铜箔类型”、“PCB板层数”,“铜箔类型”、“PCB板层数”的本身“90箔”、“4层板”可以作为参数值的内容。
本步骤中,可以通过制前工程自动化软件抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,其中,制前工程自动化软件可以为Inplan,对应的数据库为Inplan数据库。
该监控参数可以包括板材名称、类型、厚度、玻璃布结构、铜箔类型、PP名称、胶含量、厚度、材料厂商等,在此不做限定。
S20:对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值。
具体地,对数据库中的监控参数进行特征提取时,可以设置一个或多个监控参数匹配规则,并根据监控参数匹配规则筛选数据库中的监控参数,进而调取预设型号PCB板的监控参数以及对应的插损值。
可以根据PCB板的型号调整对应的监控参数匹配规则所匹配监控参数的个数。例如,监控参数匹配规则1对应两个监控参数,监控参数匹配规则2对应一个监控参数。
可以建立监控参数匹配规则和PCB板之间的对应关系,可以每个型号的PCB板对应一个监控参数匹配规则,即,可以使用同一监控参数匹配筛选出同一种型号的多个PCB板。
例如,档案码“SI科邦(5L/12L)”为需要测试该档案号的第5层和第12层的插损值;档案码“SI科邦(NO)”即无需测量插损。在PCB板***损耗的监控***进行完上述判断之后,即需要对第5层和第12层的芯板和半固化片的种类、厚度、玻璃布型号、走线宽度、线宽间距、铜箔的种类、图形前处理的方式、棕化处理的方式等监控参数进行抓取,并输出成Excel参数。
S30:计算预设型号PCB板对应的插损值的平均值以及方差或标准偏差。
S40:根据平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围。
具体地,考虑到插损值可能根据正态分布波动,插损值的上限和下限经常由插损值的平均值和方差或标准偏差确定,例如,使用插损值的平均值“m”和方差“σ2”计算得到的m-3σ到m+3σ被设置为正常范围,其中,σ为标准偏差。
区别于现有技术的情况,本申请提供一种PCB板***损耗的监控方法,该方法能够自动抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库,避免了采用人工来完成参数录入工作。同时,本申请能够对数据库中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值,准确地根据插损值的平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围,实现了自动化数据分析,进而在后续监控过程中自动分析出异常数据,提高监控精确度。
在一实施方式中,参阅图2,图2是本申请PCB板***损耗的监控方法另一实施方式的流程示意图,上述步骤S40包括以下步骤:
S41:根据拉依达准则,取平均值加减三倍的标准偏差作为预设型号PCB板的插损值正常时的上限值和下限值。
其中,若预设型号PCB板的插损值未超出上限值或下限值,则可认为预设型号PCB板对应的生产线的制程能力指数大于等于1.0。
具体地,按照拉依达准则计算该插损值的标准值,插损值的标准值表示为插损值的平均值加减三倍标准偏差的范围,若预设型号PCB板的插损值未超出插损值的标准值,则可认为预设型号PCB板对应的生产线的制程能力指数大于等于1.0。
PCB板制造工艺可以用制程能力指数CPK来表示一定时间里的实际工艺能力。按照CPK数值的大小,可以将工艺能力分为5个等级:A+级:CPK≥1.67,无缺点,考虑降低成本;A级:1.33≤CPK<1.67,状态良好,维持现状;B级:1.0≤CPK<1.33,应改进为A级;C级:0.67≤CPK<1.0,制程不良较多,必须提升其能力;D级:CPK<0.67,制程能力较差,考虑整改设计制程。对照CPK指数等级的划分表,对本批次PCB板的制程好坏进行判断,并找到问题所在,以便后续进行改进。
在一实施方式中,上述监控参数包括芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息。
具体的,芯板信息至少包括芯板的名称、规格,优选等级,封装信息,交期价格,备注信息中的一种或几种;半固化片信息至少包括半固化片的名称、规格,优选等级,封装信息,交期价格,备注信息中的一种或几种;走线信息至少包括走线的名称、规格,优选等级,封装信息,交期价格,备注信息中的一种或几种;铜箔信息至少包括铜箔的名称、规格,优选等级,封装信息,交期价格,备注信息中的一种或几种;玻璃布型号信息至少包括玻璃布的名称、规格,优选等级,封装信息,交期价格,备注信息中的一种或几种。
在一实施方式中,参阅图3,图3是本申请PCB板***损耗的监控方法又一实施方式的流程示意图,该方法还包括以下步骤:
S50:依次将PCB板关联对应芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息。
具体地,将PCB板进行编号,并按照时间顺序依次对应关联芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息,提供了详细的追溯信息。
S60:根据PCB板关联的芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息生成PCB板的唯一身份标识编码。
S70:将唯一身份标识编码置于PCB板上作为档案码。
具体地,根据PCB板对应关联存储的芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息生成该PCB板的唯一身份标识编码,唯一身份标识编码置于PCB板上作为档案码,具有唯一性和不可修改性,提升了追溯结果的真实性。
在一实施方式中,上述半固化片信息包括:半固化片的种类以及半固化片的厚度。走线信息包括:走线的宽度以及线宽间距。
在一实施方式中,参阅图4,图4是本申请PCB板***损耗的监控方法再一实施方式的流程示意图,上述步骤S10之前,该方法进一步包括:
S80:接收对PCB板上档案码的扫描请求。
具体地,档案码为条码或RFID电子标签。
S90:扫描档案码,以抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值。
具体地,可以使用条码扫描器或RFID电子标签扫描器扫描PCB板上的条码或RFID电子标签,以抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值。
参阅图5,图5是本申请PCB板***损耗的监控***一实施方式的结构示意图,该***100包括:抓取单元101、数据库102、特征提取单元103以及计算单元104,数据库102连接抓取单元101以及特征提取单元103,计算单元104连接特征提取单元103。
需要说明的是,本实施方式的装置可以执行上述方法中的步骤,相关内容的详细说明请参见上述方法部分,在此不再赘叙。
上述抓取单元101,用于:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库102。
特征提取单元103,用于:对数据库102中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值。
计算单元104,用于:计算预设型号PCB板对应的插损值的平均值以及方差或标准偏差,并根据平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围。
在一实施方式中,上述计算单元104,还用于:
根据拉依达准则,取平均值加减三倍的标准偏差作为预设型号PCB板的插损值正常时的上限值和下限值。其中,若预设型号PCB板的插损值未超出上限值或下限值,则可认为预设型号PCB板对应的生产线的制程能力指数大于等于1。
在一实施方式中,上述监控参数包括芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息。
半固化片信息包括:半固化片的种类以及半固化片的厚度。
走线信息包括:走线的宽度以及线宽间距。
在一实施方式中,参阅图6,图6是本申请PCB板***损耗的监控***另一实施方式的结构示意图,该PCB板***损耗的监控***100还包括:接收单元106和扫描单元107,扫描单元107连接接收单元106。
接收单元106用于,接收对PCB板上档案码的扫描请求;
扫描单元107用于,扫描档案码,以抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值。其中,扫描单元107可以为条码扫描器或RFID电子标签扫描器。
区别于现有技术的情况,本申请提供一种PCB板***损耗的监控***100,该***100能够自动抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库102,避免了采用人工来完成参数录入工作。同时,本申请能够对数据库102中的监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的监控参数以及插损值,准确地根据插损值的平均值以及方差或标准偏差确定预设型号PCB板的插损值的标准范围,实现了自动化数据分析,进而在后续监控过程中自动分析出异常数据,提高监控精确度。
在一实施方式中,参阅图7,图7是本申请具有存储功能的装置一实施方式的结构示意图,本申请提供一种具有存储功能的装置80,存储有程序数据81,程序数据81能够被执行以实现如上述实施方式中PCB板***损耗的监控方法中的步骤。其中,详细的终端设置的方法可参见上述实施方式,在此不再赘述。
具有存储功能的装置80包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体,可以由任何方法或技术来实现程序数据81存储。程序数据81可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的程序数据81。按照本文中的界定,具有存储功能的装置80不包括暂存电脑可读媒体(transitorymedia),如调制的数据信号和载波。
以上仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种PCB板***损耗的监控方法,其特征在于,所述方法包括:
抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库;
对所述数据库中的所述监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的所述监控参数以及所述插损值;
计算所述预设型号PCB板对应的所述插损值的平均值以及方差或标准偏差;
根据所述平均值以及所述标准偏差确定所述预设型号PCB板的插损值的标准范围。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述平均值以及所述标准偏差确定所述预设型号PCB板的插损值的标准范围的步骤包括:
根据拉依达准则,取所述平均值加减三倍的标准偏差作为所述预设型号PCB板的插损值正常时的上限值和下限值;
其中,若所述预设型号PCB板的插损值未超出所述上限值或所述下限值,则可认为所述预设型号PCB板对应的生产线的制程能力指数大于等于1.0。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述监控参数包括芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
依次将PCB板关联对应所述芯板信息、所述半固化片信息、所述走线信息、所述铜箔信息、所述图形前处理信息、所述棕化处理信息、所述玻璃布型号信息;
根据所述PCB板关联的所述芯板信息、所述半固化片信息、所述走线信息、所述铜箔信息、所述图形前处理信息、所述棕化处理信息、所述玻璃布型号信息生成所述PCB板的唯一身份标识编码;
将所述唯一身份标识编码置于所述PCB板上作为所述档案码。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
所述半固化片信息包括:半固化片的种类以及半固化片的厚度;
所述走线信息包括:走线的宽度以及线宽间距。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至数据库的步骤之前,所述方法进一步包括:
接收对PCB板上档案码的扫描请求;
扫描所述档案码,以抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值。
7.一种PCB板***损耗的监控***,其特征在于,所述***包括:抓取单元、数据库、特征提取单元以及计算单元,所述数据库连接所述抓取单元以及所述特征提取单元,所述计算单元连接所述特征提取单元;
所述抓取单元,用于:抓取PCB板上的档案码对应的监控参数和插损值,并存储至所述数据库;
所述特征提取单元,用于:对所述数据库中的所述监控参数进行特征提取,以获取预设型号PCB板对应的所述监控参数以及所述插损值;
所述计算单元,用于:计算所述预设型号PCB板对应的所述插损值的平均值以及方差或标准偏差,并根据所述平均值以及所述标准偏差确定所述预设型号PCB板的插损值的标准范围。
8.根据权利要求7所述的***,其特征在于,所述计算单元,还用于:
根据拉依达准则,取所述平均值加减三倍的标准偏差作为所述预设型号PCB板的插损值正常时的上限值和下限值;
其中,若所述预设型号PCB板的插损值未超出所述上限值或所述下限值,则可认为所述预设型号PCB板对应的生产线的制程能力指数大于等于1。
9.根据权利要求7所述的***,其特征在于,所述监控参数包括芯板信息、半固化片信息、走线信息、铜箔信息、图形前处理信息、棕化处理信息、玻璃布型号信息;
所述半固化片信息包括:半固化片的种类以及半固化片的厚度;
所述走线信息包括:走线的宽度以及线宽间距。
10.一种具有存储功能的装置,其特征在于,存储有程序数据,所述程序数据能够被执行以实现如权利要求1至6任一项所述的PCB板***损耗的监控方法中的步骤。
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刘丰等: "PCB信号完整性测试技术研究", 《印制电路信息》 * |
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