CN112213615A - 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112213615A
CN112213615A CN202010938627.7A CN202010938627A CN112213615A CN 112213615 A CN112213615 A CN 112213615A CN 202010938627 A CN202010938627 A CN 202010938627A CN 112213615 A CN112213615 A CN 112213615A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
radio frequency
debugged
frequency circuit
debugging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010938627.7A
Other languages
English (en)
Inventor
张牧野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maiteng Internet Of Things Technology Co ltd
Original Assignee
Maiteng Internet Of Things Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Maiteng Internet Of Things Technology Co ltd filed Critical Maiteng Internet Of Things Technology Co ltd
Priority to CN202010938627.7A priority Critical patent/CN112213615A/zh
Publication of CN112213615A publication Critical patent/CN112213615A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688—Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
    • G01R27/2694—Measuring dielectric loss, e.g. loss angle, loss factor or power factor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/15—Performance testing
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/29—Performance testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本公开提供一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电子电路技术领域，能够解决目前对射频电路进行调试时，研发人员的工作量大且对研发人员技能的要求较高的问题。具体技术方案为：获取待调试射频电路的电路参数；确定与电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；向用户发送第一调试指示信息，以便用户根据每个器件的标识信息将每个器件分别更换为目标特征值，生成更换后的电路；获取更换后的电路的特征参数；若确定特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将更换后的电路作为与待调试射频电路对应的调试后的射频电路。本发明用于减少研发人员的工作量且降低对研发人员调试技能的要求。

Description

一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本公开涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
目前，射频电路类产品研发阶段回板后，研发人员会根据射频电路类产品上射频电路的实际插损进行对射频电路进行调试，调试的过程为调整射频电路上的相关匹配，即对射频电路的各个器件的特征值进行调整，以降低射频电路的插损，使射频电路类产品满足协议标准并提高射频电路类产品的性能。
但是，射频电路调试过程相对繁琐，且调试过程中数据量相对较大，需要研发人员记录尽量详细调试的过程数据，造成研发人员的工作量较大。同时，对射频电路进行调试，需要研发人员熟练使用网络分析仪，了解射频电路的匹配形式，熟悉射频电路调试时，射频电路中各个器件的优先级，以便研发人员提高调试效率，因此，对研发人员技能的要求较高。
发明内容
本公开实施例提供一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质，能够解决对射频电路进行调试，会造成研发人员的工作量较大且对研发人员技能的要求较高的问题。所述技术方案如下：
根据本公开实施例的第一方面，提供一种射频电路调试方法，包括：
获取待调试射频电路的电路参数，所述待调试射频电路包括至少一个器件，所述电路参数包括所述待调试射频电路的电路类型；
确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
向用户发送第一调试指示信息，所述第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便所述用户根据所述每个器件的标识信息将所述每个器件分别更换为所述目标特征值，生成更换后的电路；
获取所述更换后的电路的特征参数；
若确定所述特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将所述更换后的电路作为与所述待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
本公开实施例提供的射频电路调试方法，能够获取待调试射频电路的电路参数，该待调试射频电路包括至少一个器件，该电路参数包括该待调试射频电路的电路类型；确定与该电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；向用户发送第一调试指示信息，该第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便该用户根据该每个器件的标识信息将该每个器件分别更换为该目标特征值，生成更换后的电路；获取该更换后的电路的特征参数；若确定该特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，本公开实施例提供的射频电路调试方法，用户只需根据第一调试指示信息中该每个器件的标识信息将该每个器件分别更换为该目标特征值，生成更换后的电路；若确定该更换后的电路特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，该待调试射频电路即调试完成，大大减少了用户的工作量，且不需要用户熟练使用网络分析仪，了解射频电路的匹配形式，熟悉射频电路调试时，射频电路中各个器件的优先级，大大降低了对用户调试技能的要求。
在一个实施例中，所述获取所述更换后的电路的特征参数后，所述方法还包括：
若确定所述特征参数大于所述预设特征参数阈值，则执行预设步骤，所述预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，所述第二调试指示信息用于指示用户将所述至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便所述用户根据所述第二调试指示信息将所述待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加所述预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；
获取所述新的更换后的电路的特征参数。
通过向用户发送第二调试指示信息，用户可以根据该第二调试指示信息将该待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加该预设步长后的特征值，即可生成新的更换后的电路，提高了用户体验。
在一个实施例中，所述电路参数还包括所述待调试射频电路的特征参数，所述方法还包括：
若所述待调试射频电路的特征参数小于或者等于所述预设特征参数阈值，则向用户发送第三调试指示消息，所述第三调试指示消息用户指示所述待调试射频电路为最佳匹配状态。
通过向用户发送第三调试指示信息，用户根据该第三调试指示信息即可获知该待射频调试电路为最佳匹配状态，提高了用户体验。
在一个实施例中，所述确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息包括：
若所述待调试射频电路的特征参数大于所述预设特征参数阈值，则确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息。
通过在该待调试射频电路的特征参数大于预设特征参数阈值时，确定与该电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，避免了待调试射频电路的特征参数小于或者等于预设特征参数阈值时，对该待调试射频电路的调试工作，大大减少了用户的调试工作量。
在一个实施例中，所述获取待调试射频电路的电路参数后，所述方法还包括：
获取所述待调试射频电路中目标器件的特定特征值，所述目标器件是与目标芯片直接连接的器件；
向用户发送第四调试指示信息，所述第四调试指示信息包括所述目标器件的特定特征值，以指示用户将所述目标器件更换为所述特定特征值。
通过获取该待调试射频电路中目标器件的特定特征值并向用户发送第四调试指示信息，用户可以根据该第四调试指示信息将目标器件更换为特定特征值，在提高了射频电路性能的同时，确保了目标芯片的性能，进而确保了射频电路产品的性能。
根据本公开实施例的第二方面，提供一种射频电路调试装置，包括：
电路参数获取模块，用于获取待调试射频电路的电路参数，所述待调试射频电路包括至少一个器件，所述电路参数包括所述待调试射频电路的电路类型；
目标特征值确定模块，用于确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
第一调试指示信息发送模块，用于向用户发送第一调试指示信息，所述第一调试指示信息包括至少一个器件的目标特征值以及标识信息，以便所述用户根据所述每个器件的标识信息将所述每个器件分别更换为所述目标特征值，生成更换后的电路；
特征参数获取模块，用于获取所述更换后的电路的特征参数；
调试射频电路确定模块，用于若确定所述特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将所述更换后的电路作为与所述待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
在一个实施例中，所述装置还包括：
第二调试指示信息发送模块，用于若确定所述特征参数大于所述预设特征参数阈值，则执行预设步骤，所述预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，所述第二调试指示信息用于指示用户将所述至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便所述用户根据所述第二调试指示信息将所述待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加所述预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；
获取所述新的更换后的电路的特征参数。
在一个实施例中，所述电路参数还包括所述待调试射频电路的特征参数，所述装置还包括：
第三调试指示信息发送模块，用于若所述待调试射频电路的特征参数小于或者等于所述预设特征参数阈值，则向用户发送第三调试指示消息，所述第三调试指示消息用户指示所述待调试射频电路为最佳匹配状态。
在一个实施例中，所述目标特征值确定模块用于：
若所述待调试射频电路的特征参数大于所述预设特征参数阈值，则确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息。
在一个实施例中，所述装置还包括：
特定特征值获取模块，用于获取所述待调试射频电路中目标器件的特定特征值，所述目标器件是与目标芯片直接连接的器件；
第四调试指示信息发送模块，用于向用户发送第四调试指示信息，所述第四调试指示信息包括所述目标器件的特定特征值，以指示用户将所述目标器件更换为所述特定特征值。
根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条计算机指令，所述指令由所述处理器加载并执行以实现第一方面中任一项所述的射频电路调试方法中所执行的步骤。
根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条计算机指令，所述指令由处理器加载并执行以实现第一方面中任一项所述的射频电路调试方法中所执行的步骤
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
图1是本公开实施例提供的一种射频电路调试方法的流程图；
图2是本公开实施例提供的一种待调试射频电路的示意图一；
图3是本公开实施例提供的一种待调试射频电路的示意图二；
图4是本公开实施例提供的一种待调试射频电路的示意图三；
图5是本公开实施例提供的一种射频电路调试装置的结构图一；
图6是本公开实施例提供的一种射频电路调试装置的结构图二；
图7是本公开实施例提供的一种电子设备的结构图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
本公开实施例提供一种射频电路调试方法的流程图。如图1所示，该方法包括：
S101、获取待调试射频电路的电路参数，该待调试射频电路包括至少一个器件，该电路参数包括该待调试射频电路的电路类型。
示例性地，该电路参数包括待调试射频电路的电路类型以及该调试射频电路中每个器件的特征值以及标识信息，该电路类型包括待调试射频电路的匹配类型，例如L型匹配、π型匹配以及双L型匹配。
此处结合图2至图4进行说明。图2至图4是根据本公开实施例提供的一种待调试射频电路的示意图。如图2所示，该待调试射频电路为L型匹配，该L型匹配的待调试射频电路包括两个器件，分别为L1847和L1846，两个器件互相连接。其中，L1847的特征值为3nH，L1846的特征值为33pF。其中，该调试射频电路中每个器件的标识信息可以用于标识该器件的位置。例如，L1847的标识信息用于标识L1847位于该调试射频电路的左侧，为并联的器件，L1846的标识信息用于标识L1846位于该调试射频电路的右侧，为串联的器件。
如图3所示，该待调试射频电路为π型匹配，该π型匹配的待调试射频电路包括3个器件，分别为L1733、L1726和L1738，其中，L1726的一端与L1733连接，另一端与L1738连接。其中，L1733的特征值为8.2nH，L1726的特征值为33pF，L1738器件的特征值为空。同样，该调试射频电路中每个器件标识信息可以用于标识该器件的位置。例如，L1733的标识信息用于标识L1733位于该调试射频电路的左侧，为并联的器件，L1726的标识信息用于标识L1726位于该调试射频电路的中间，为串联的器件，L1738的标识信息用于标识L1846位于该调试射频电路的右侧，为并联的器件。
如图4所示，该待调试射频电路为双L型匹配，该双L型匹配的待调试射频电路包括4个器件，分别为L1801、L1840、C1827和L1841，其中，L1801和C1827串联连接，L1840分别与L1801和C1827并联连接，L1841和C1827并联连接。其中，L1801的特征值为33pF，L1840的特征值为0.25pF，C1827器件的特征值为2.7nH，L1841的特征值为空。同样，该调试射频电路中每个器件标识信息可以用于标识该器件的位置，本实施例此处不再赘述。
在一个实施例中，该电路参数还包括待调试射频电路的特征参数，该特征参数为该待调试射频电路的插损和/或阻抗值。若该待调试射频电路的插损小于或者等于预设插损阈值，和/或该待调试射频电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则向用户发送第三调试指示消息，该第三调试指示消息用户指示该待调试射频电路为最佳匹配状态，即该待调试射频电路满足协议标准且性能良好，不需要进行进一步调试。
S102、确定与该电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
S103、向用户发送第一调试指示信息，该第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便该用户根据该每个器件的标识信息将该每个器件分别更换为该目标特征值，生成更换后的电路。
在本步骤中，若该待调试射频电路的插损大于预设插损阈值，和/或该待调试射频电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值大于预设差值阈值，则确定与该电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，并向用户发送第一调试指示信息。
此处结合图2进行说明。若该待调试射频电路如图2所示的L型匹配，则获取与L型匹配的电路类型对应的最佳匹配，该最佳匹配包括L型匹配的待调试射频电路中每个器件的目标特征值以及标识信息。例如，获取的图2所示的L型匹配的待调试射频电路中L1847的目标特征值1nH，L1846的目标特征值0.5pF以及L1847和L1846的标识信息，再向用户发送第一调试指示信息，该第一调试指示信息包括的图2所示的L型匹配的射频调试电路中L1847的目标特征值1nH，L1846的目标特征值0.5pF以及L1847和L1846的标识信息，以便用户根据L1847和L1846的标识信息分别将L1847和L1846更换为1nH和0.5pF，生成更换后的电路。
S104、获取该更换后的电路的特征参数；
S105、若确定该特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
示例性地，获取该更换后的电路的插损和/或阻抗值。在一个实施中，若该更换后的电路的插损小于或者等于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，即该待调试射频电路调试完成，调试后的射频电路满足协议标准且性能良好。
如图2所示的L型匹配的待调试射频电路在调试之前插损的大于4dB，调试后的射频电路的插损小于2dB，调试后的射频电路的插损小于待调试射频电路的插损，即对待调试射频电路进行调试后，其插损变小，性能更好。
在另一个实施中，若确定该更换后的电路的插损大于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值大于预设差值阈值，则执行预设步骤，该预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，该第二调试指示信息用于指示用户将该至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便用户根据该第二调试指示信息将该待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加该预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；获取该新的更换后的电路的特征参数。
此处结合图2进行说明。将L型匹配的待调试射频电路中L1847和L1846更换为1nH和0.5pF，生成更换后的电路后，获取该更换后的电路的插损和/或阻抗值。若该更换后的电路的插损小于或者等于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则将该更换后的电路作为与该L型匹配的待调试射频电路对应的调试后的射频电路，即该L型匹配的待调试射频电路调试完成，调试后的射频电路满足协议标准且性能良好。
若确定该更换后的电路的插损大于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值大于预设差值阈值，则执行预设步骤，该预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，该第二调试指示信息用于指示用户将该L型匹配的待调试射频电路中L1847的目标特征值1nH增加预设步长(例如0.5nH)和/或L1846的目标特征值0.5pF增加预设步长(例如0.1pF)，以便用户根据该第二调试指示信息将该L型匹配的待调试射频电路中1847和/或L1846更换为增加该预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；再获取该新的更换后的电路的特征参数。若该新的更换后的电路的插损小于或者等于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则将该新的更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，即该待调试射频电路调试完成，调试后的射频电路满足协议标准且性能良好。
若该新的更换后的电路的插损大于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值大于预设差值阈值，则循环执行该预设步骤，直至新的更换后的电路的插损小于或者等于预设插损阈值，和/或该更换后的电路的阻抗值与预设阻抗阈值(50欧)之间的差值小于或者等于预设差值阈值。
此处需要说明的是，若该待调试射频电路中存在与目标芯片直接连接的目标器件，则在获取待调试射频电路的电路参数后，获取该待调试射频电路中目标器件的特定特征值；并向用户发送第四调试指示信息，该第四调试指示信息包括该目标器件的特定特征值，以指示用户将该目标器件更换为该特定特征值。
此处结合图2进行说明。如图2所示，该L型匹配的待调试射频电路中L1847和L1846均与目标芯片连接，且L1847与目标芯片并联，L1846与目标芯片串联。从预先存储的该目标芯片的芯片手册获取到该目标芯片在并联10nH电感时性能最佳，则L1847为目标器件，且L1847的特定特征值为10nH。则向用户发送第四调试指示信息，该第四调试指示信息包括目标器件L1847的标识信息和L1847的特定特征值10nH，以指示用户将L1847更换为10nH。
本公开实施例提供的射频电路调试方法，能够获取待调试射频电路的电路参数，该待调试射频电路包括至少一个器件，该电路参数包括该待调试射频电路的电路类型；确定与该电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；向用户发送第一调试指示信息，该第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便该用户根据该每个器件的标识信息将该每个器件分别更换为该目标特征值，生成更换后的电路；获取该更换后的电路的特征参数；若确定该特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，本公开实施例提供的射频电路调试方法，用户只需根据第一调试指示信息中每个器件的标识信息将该每个器件分别更换为该目标特征值，生成更换后的电路；若确定该更换后的电路特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将该更换后的电路作为与该待调试射频电路对应的调试后的射频电路，该待调试射频电路即调试完成，大大减少了用户的工作量，且不需要用户熟练使用网络分析仪，了解射频电路的匹配形式，熟悉射频电路调试时，射频电路中各个器件的优先级，大大降低了对用户调试技能的要求。
基于上述图1至图4对应的实施例中所描述的射频电路调试方法，下述为本公开装置实施例，可以用于执行本公开方法实施例。
图5是本公开实施例提供的提供一种射频电路调试装置的结构图。如图5所示，该装置50包括：
电路参数获取模块501，用于获取待调试射频电路的电路参数，所述待调试射频电路包括至少一个器件，所述电路参数包括所述待调试射频电路的电路类型；
目标特征值确定模块502，用于确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
第一调试指示信息发送模块503，用于向用户发送第一调试指示信息，所述第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便所述用户根据所述每个器件的标识信息将所述每个器件分别更换为所述目标特征值，生成更换后的电路；
特征参数获取模块504，用于获取所述更换后的电路的特征参数；
调试射频电路确定模块505，用于若确定所述特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将所述更换后的电路作为与所述待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
在一个实施例中，如图6所示，该装置50还包括：
第二调试指示信息发送模块506，用于若确定所述特征参数大于所述预设特征参数阈值，则执行预设步骤，所述预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，所述第二调试指示信息用于指示用户将所述至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便所述用户根据所述第二调试指示信息将所述待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加所述预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；
获取所述新的更换后的电路的特征参数。
在一个实施例中，所述电路参数还包括所述待调试射频电路的特征参数，该装置50还包括：
第三调试指示信息发送模块507，用于若所述待调试射频电路的特征参数小于或者等于所述预设特征参数阈值，则向用户发送第三调试指示消息，所述第三调试指示消息用户指示所述待调试射频电路为最佳匹配状态。
在一个实施例中，目标特征值确定模块502用于：
若所述待调试射频电路的特征参数大于所述预设特征参数阈值，则确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息。
在一个实施例中，该装置50还包括：
特定特征值获取模块508，用于获取所述待调试射频电路中目标器件的特定特征值，所述目标器件是与目标芯片直接连接的器件；
第四调试指示信息发送模块509，用于向用户发送第四调试指示信息，所述第四调试指示信息包括所述目标器件的特定特征值，以指示用户将所述目标器件更换为所述特定特征值。
本公开实施例提供的射频电路调试装置，其实现过程和技术效果可以参见上述图1至图4实施例，在此不再赘述。
图7是本公开实施例提供的一种电子设备的结构图，如图7所示，该电子设备70包括：
处理器701和存储器702，所述存储器702中存储有至少一条计算机指令，所述指令由所述处理器701加载并执行以实现上述方法实施例中所描述的射频电路调试方法。
基于上述图1至图4对应的实施例中所描述的射频电路调试方法，本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，例如，非临时性计算机可读存储介质可以是只读存储器(英文：Read Only Memory，ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储装置等。该存储介质上存储有计算机指令，用于执行上述图1至图4对应的实施例中所描述的射频电路调试方法，此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

Claims (10)

1.一种射频电路调试方法，其特征在于，包括：
获取待调试射频电路的电路参数，所述待调试射频电路包括至少一个器件，所述电路参数包括所述待调试射频电路的电路类型；
确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
向用户发送第一调试指示信息，所述第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便所述用户根据所述每个器件的标识信息将所述每个器件分别更换为所述目标特征值，生成更换后的电路；
获取所述更换后的电路的特征参数；
若确定所述特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将所述更换后的电路作为与所述待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述更换后的电路的特征参数后，所述方法还包括：
若确定所述特征参数大于所述预设特征参数阈值，则执行预设步骤，所述预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，所述第二调试指示信息用于指示用户将所述至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便所述用户根据所述第二调试指示信息将所述待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加所述预设步长后的特征值，生成新的更换后的电路；
获取所述新的更换后的电路的特征参数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电路参数还包括所述待调试射频电路的特征参数，所述方法还包括：
若所述待调试射频电路的特征参数小于或者等于所述预设特征参数阈值，则向用户发送第三调试指示消息，所述第三调试指示消息用户指示所述待调试射频电路为最佳匹配状态。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息包括：
若所述待调试射频电路的特征参数大于所述预设特征参数阈值，则确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待调试射频电路的电路参数后，所述方法还包括：
获取所述待调试射频电路中目标器件的特定特征值，所述目标器件是与目标芯片直接连接的器件；
向用户发送第四调试指示信息，所述第四调试指示信息包括所述目标器件的特定特征值，以指示用户将所述目标器件更换为所述特定特征值。
6.一种射频电路调试装置，其特征在于，包括：
电路参数获取模块，用于获取待调试射频电路的电路参数，所述待调试射频电路包括至少一个器件，所述电路参数包括所述待调试射频电路的电路类型；
目标特征值确定模块，用于确定与所述电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；
第一调试指示信息发送模块，用于向用户发送第一调试指示信息，所述第一调试指示信息包括至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息，以便所述用户根据所述每个器件的标识信息将所述每个器件分别更换为所述目标特征值，生成更换后的电路；
特征参数获取模块，用于获取所述更换后的电路的特征参数；
调试射频电路确定模块，用于若确定所述特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将所述更换后的电路作为与所述待调试射频电路对应的调试后的射频电路。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二调试指示信息发送模块，用于若确定所述特征参数大于所述预设特征参数阈值，则执行预设步骤，所述预设步骤包括：
向用户发送第二调试指示信息，所述第二调试指示信息用于指示用户将所述至少一个器件的目标特征值增加预设步长，以便所述用户根据所述第二调试指示信息将所述待调试射频电路中至少一个的器件更换为增加所述预设步长后的特征值，生成更换后的电路；
获取所述更换后的电路的特征参数。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述电路参数还包括所述待调试射频电路的特征参数，所述装置还包括：
第三调试指示信息发送模块，用于若所述待调试射频电路的特征参数小于或者等于所述预设特征参数阈值，则向用户发送第调试三指示消息，所述第三调试指示消息用户指示所述待调试射频电路为最佳匹配状态。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条计算机指令，所述指令由所述处理器加载并执行以实现权利要求1至权利要求5任一项所述的射频电路调试方法中所执行的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条计算机指令，所述指令由处理器加载并执行以实现权利要求1至权利要求5任一项所述的射频电路调试方法中所执行的步骤。
CN202010938627.7A 2020-09-09 2020-09-09 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质 Pending CN112213615A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010938627.7A CN112213615A (zh) 2020-09-09 2020-09-09 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010938627.7A CN112213615A (zh) 2020-09-09 2020-09-09 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112213615A true CN112213615A (zh) 2021-01-12

Family

ID=74049226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010938627.7A Pending CN112213615A (zh) 2020-09-09 2020-09-09 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112213615A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023056807A1 (zh) * 2021-10-09 2023-04-13 深圳飞骧科技股份有限公司 一种应用于射频电路组装调试的收纳盒

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030115506A1 (en) * 1999-10-01 2003-06-19 Edwards David Alan Apparatus and method for shadowing processor information
US20060066443A1 (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Tagsys Sa Self-adjusting RF assembly
CN103152005A (zh) * 2013-01-29 2013-06-12 北京小米科技有限责任公司 一种匹配电路的调试方法和装置
CN103596645A (zh) * 2012-12-26 2014-02-19 华为技术有限公司 一种终端调试的方法、装置和设备
CN106571841A (zh) * 2016-10-28 2017-04-19 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 射频匹配***和实现射频匹配自动化的方法
CN107992689A (zh) * 2017-12-07 2018-05-04 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种阻抗匹配的方法及***
CN108267646A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 北京小米移动软件有限公司 射频电路及调节方法
CN109150326A (zh) * 2018-11-05 2019-01-04 Oppo（重庆）智能科技有限公司 天线阻抗调试方法、电子装置及计算机可读存储介质
CN109274347A (zh) * 2018-09-14 2019-01-25 上海展扬通信技术有限公司 射频匹配装置、射频匹配装置的调试方法
CN109474731A (zh) * 2018-12-22 2019-03-15 Oppo（重庆）智能科技有限公司 射频调试方法及相关产品
CN109586735A (zh) * 2018-11-12 2019-04-05 维沃移动通信有限公司 阻抗匹配电路、收发装置及收发设备
CN110011943A (zh) * 2019-03-20 2019-07-12 珠海市杰理科技股份有限公司 电子产品调试设备的调试方法和装置
CN110958061A (zh) * 2019-11-01 2020-04-03 恒大智慧充电科技有限公司 信号干扰调试方法、信号干扰调试装置、计算机设备及存储介质
CN111010726A (zh) * 2019-12-24 2020-04-14 上海闻泰信息技术有限公司 射频通信配置参数的确定方法、装置、设备及介质

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030115506A1 (en) * 1999-10-01 2003-06-19 Edwards David Alan Apparatus and method for shadowing processor information
US20060066443A1 (en) * 2004-09-15 2006-03-30 Tagsys Sa Self-adjusting RF assembly
CN103596645A (zh) * 2012-12-26 2014-02-19 华为技术有限公司 一种终端调试的方法、装置和设备
CN103152005A (zh) * 2013-01-29 2013-06-12 北京小米科技有限责任公司 一种匹配电路的调试方法和装置
CN106571841A (zh) * 2016-10-28 2017-04-19 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 射频匹配***和实现射频匹配自动化的方法
CN108267646A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 北京小米移动软件有限公司 射频电路及调节方法
CN107992689A (zh) * 2017-12-07 2018-05-04 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种阻抗匹配的方法及***
CN109274347A (zh) * 2018-09-14 2019-01-25 上海展扬通信技术有限公司 射频匹配装置、射频匹配装置的调试方法
CN109150326A (zh) * 2018-11-05 2019-01-04 Oppo（重庆）智能科技有限公司 天线阻抗调试方法、电子装置及计算机可读存储介质
CN109586735A (zh) * 2018-11-12 2019-04-05 维沃移动通信有限公司 阻抗匹配电路、收发装置及收发设备
CN109474731A (zh) * 2018-12-22 2019-03-15 Oppo（重庆）智能科技有限公司 射频调试方法及相关产品
CN110011943A (zh) * 2019-03-20 2019-07-12 珠海市杰理科技股份有限公司 电子产品调试设备的调试方法和装置
CN110958061A (zh) * 2019-11-01 2020-04-03 恒大智慧充电科技有限公司 信号干扰调试方法、信号干扰调试装置、计算机设备及存储介质
CN111010726A (zh) * 2019-12-24 2020-04-14 上海闻泰信息技术有限公司 射频通信配置参数的确定方法、装置、设备及介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
邵幸荣: "基于HP VEE的MDTF数字调谐式射频跳频滤波器自动调试***设计", 电子质量, no. 07, pages 31 - 34 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023056807A1 (zh) * 2021-10-09 2023-04-13 深圳飞骧科技股份有限公司 一种应用于射频电路组装调试的收纳盒

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7983866B2 (en) Device testing system and test data obtaining method
CN105517128B (zh) 一种网络切换方法、装置以及终端
CN107748718B (zh) 应用程序测试方法、装置及服务器
CN109582655B (zh) ***日志的定位方法及装置、计算机可读存储介质
US12019529B2 (en) Testing method and testing device
CN112213615A (zh) 一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质
EP2991234A1 (en) Method, apparatus, and system for configuring high-speed serial bus parameter
CN111353265A (zh) 基于Matlab GUI平台的EMI滤波器插损仿真***及方法
TW201536013A (zh) 藉由通過引發中斷來控制測試流程以測試射頻收發器的系統及方法
CN109995548B (zh) 设备管理方法、***和数据传输方法、***及终端设备
CN112988489A (zh) 一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质
CN106708688A (zh) 模块测试方法及终端
CN117391019A (zh) Emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质
CN111812445B (zh) 智能电容器误差校正方法、装置、计算机设备和存储介质
US11074384B1 (en) Method for simulating signal integrity of hybrid model
CN107885674B (zh) 蓝牙设备模拟器及其工作方法、蓝牙设备作业***
CN114650211B (zh) 故障修复方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
CN115356561A (zh) 线损校准方法、***、电子设备和计算机可读存储介质
CN112420019B (zh) 设备的测试方法及装置
CN113612717A (zh) 频偏校准方法、装置、电子设备及存储介质
CN114577498B (zh) 空调转矩补偿参数的测试方法及装置
CN105738738A (zh) 一种射频测试装置和***
CN114640403B (zh) eSIM终端的测试方法、装置、终端及存储介质
CN105740114A (zh) 移动终端的容错测试方法及装置
CN116684913B (zh) 4g通信模组的测试方法、***、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination