CN112114245B - Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及*** - Google Patents

Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及*** Download PDF

Info

Publication number
CN112114245B
CN112114245B CN202010984795.XA CN202010984795A CN112114245B CN 112114245 B CN112114245 B CN 112114245B CN 202010984795 A CN202010984795 A CN 202010984795A CN 112114245 B CN112114245 B CN 112114245B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
pcba
different
control box
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010984795.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN112114245A (zh
Inventor
刘小雄
罗斌
邓子明
周海君
黄功昭
向宏奇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Toptec Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Toptec Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Toptec Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Toptec Technology Co ltd
Priority to CN202010984795.XA priority Critical patent/CN112114245B/zh
Publication of CN112114245A publication Critical patent/CN112114245A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112114245B publication Critical patent/CN112114245B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0425—Test clips, e.g. for IC's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种PCBA拼板测试方法，包括以下步骤：将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件。本发明还公开了一种PCBA测试装置及***。通过一套测试配件，就可以完成对PCBA拼板的测试，无需为PCBA拼板中的每一块PCBA板都连接一套测试配件，能够避免因测试工序繁琐导致的测试出错，提高了测试效果。

Description

PCBA拼板测试方法、PCBA测试装置及***
技术领域
本发明涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种PCBA拼板测试方法、PCBA测试装置及***。
背景技术
在对PCBA板进行功能测试时，通常有单板测试与拼板测试两种方式，而在具体的应用过程中，为了提高生产效率，一般采取拼板测试。
目前，可以通过为PCBA拼板中每块被测的PCBA板都接一个电源、负载和测试仪器等测试配件来完成对PCBA拼板的测试。然而，由于通过此种方式测试配件众多，生产测试时容易因接错配件而出现测错或漏测等情况。因此，现有的PCBA拼板测试存在容易测错或漏测等问题，导致测试效果不佳。
发明内容
本发明主要目的在于提供一种PCBA拼板测试方法、PCBA测试装置及***，旨在解决现有技术中PCBA拼板测试容易出现测错或漏测等情况导致测试效果不佳的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种PCBA拼板测试方法，应用于PCBA测试***，所述PCBA测试***包括针板测试夹具和测试控制盒，所述方法包括以下步骤：
将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；
通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件。
可选地，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
确定所述PCBA拼板对应的测试模式，所述测试模式包括手动测试和自动测试中的至少一种；
以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
若所确定的测试模式为手动测试，则通过针板测试夹具上的切换键将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至PCBA拼板中不同的PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
若所确定的测试模式为自动测试，则根据所述PCBA拼板中PCBA板的数量确定测试配件的转接次数，并设定测试配件的转接时间；
以所确定的转接时间为时间间隔，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板；
当所述测试配件与PCBA拼板的连接次数达到所述转接次数时，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
确定所述PCBA拼板中不同PCBA板的测试顺序；
按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述测试控制盒上设置有指示灯，所述按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板的步骤之后，包括：
获取所述指示灯的指示信息，所述指示信息为当前与所述测试配件连接的PCBA板的测试信息；
在所述PCBA拼板中存在不合格的PCBA板时，根据所述测试信息和所述测试顺序确定所述PCBA拼板中不合格的PCBA板。
可选地，所述测试控制盒包括计数器和多个继电器，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，的步骤包括：
采用所述计数器控制不同的继电器将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针的步骤之后，包括：
将针板测试夹具上的测试探针输出接口与测试控制盒的输出接口对应连接；
通过测试探针的输出接口将所述PCBA拼板与测试控制盒上测试配件的输出接口建立连接，以将所述测试配件通过不同的测试探针输出接口连接至所述PCBA拼板。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种PCBA测试装置，所述PCBA测试装置包括：
针板测试夹具，所述针板测试夹具包括测试探针、载物平台和升降组件；其中，所述载物平台位于测试探针的上方，用于放置待检测的PCBA拼板，所述PCBA拼板包括测试接点；所述升降组件包括升降机构和安装于所述升降机构中能够移动的结构底部的压盖，所述升降机构用于带动所述压盖上下移动，以使PCBA拼板的测试接点与所述测试探针对应连接；
测试控制盒，所述测试控制盒包括测试配件及所述测试配件对应的输出接口，将测试配件对应的输出接口与所述测试探针的输出接口连接，以通过不同的测试探针将所述测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种PCBA测试***，所述PCBA测试***PCBA测试装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的PCBA拼板测试程序，所述PCBA拼板测试程序被处理器执行时实现如上所述的PCBA拼板测试方法的步骤；以及
如上所述的PCBA测试装置，所述PCBA测试装置与处理器连接，以在处理器执行所述PCBA拼板测试程序时，控制所述PCBA测试装置执行如上所述的PCBA拼板测试方法的步骤。
本发明实施例通过将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，然后通过不同的测试探针将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。也即，针板测试夹具为PCBA拼板对应的针板测试夹具，测试控制盒中的测试配件也是与PCBA拼板对应的测试配件，对于同类型的PCBA拼板，可以共用一套测试配件。如此，测试时，只需要通过不同的测试探针将同一测试配件连接至PCBA拼板即可实现对PCBA拼板的测试，无需为每块PCBA板接都配置一套测试配件，能够避免因工序繁琐出现测错或侧漏等情况，提高了PCBA拼板测试的测试效果。
附图说明
图1是本发明PCBA拼板测试方法第一实施例的流程示意图；
图2为本发明PCBA拼板测试方法第二实施例的流程示意图；
图3为本发明PCBA测试装置一实施例的结构示意图；
图4为本发明一实施例中测试控制盒的组成结构示意图；
图5为本发明另一实施例中测试控制盒的组成结构示意图；
图6为本发明一实施例中针板测试夹具的组成结构示意图；
图7为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的PCBA测试***结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明的主要解决方案是：将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件。
目前，可通过为PCBA拼板中每一块PCBA板连接一套测试配件完成对PCBA拼板的测试。然而，测试时容易因测试配件过多而出现测错或侧漏等情况导致测试效果不佳。因而，本发明提出一种PCBA拼板测试方法、PCBA测试装置及***，通过将多块PCBA板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，然后通过不同的测试探针将测试控制盒中的与PCBA拼板对应的测试配件连接至所述PCBA拼板，即可完成对所述PCBA拼板的测试，无需为每块PCBA板都连接一套测试配件，不会出现因测试配件连接错PCBA板导致测试出错的情况，能够提高PCBA拼板测试的测试效果。
参照图1，图1为本发明PCBA拼板测试方法的第一实施例流程图，本实施例中，所述PCBA拼板测试方法包括以下步骤：
步骤S10：将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；
PCBA(Printed Circuit Board+Assembly)指的是将印刷电路板(PrintedCircuitBoard,PCB)空板经过表面贴装技术(Surface Mount Technology,SMT)上件，再经过双列直插式封装(dual inline-pin package，DIP)的整个制程。也即，PCBA板是由PCB电路板经过表面贴装技术上件，并经过双列直插式封装所得的电路板。
PCBA拼板指的是由多块PCBA板拼接而成的电路板，通常由相同类型的PCBA板拼接而成。
本实施例中的PCBA拼板测试方法可应用于PCBA测试***，该PCBA测试***可包括针板测试夹具和测试控制盒。其中，针板测试夹具可以是同类产品对应的专用测试夹具，包括测试探针，该测试探针可用于与PCBA拼板上的测试接点对应连接，具体的连接过程取决于针板测试夹具的组成结构，如，所述针板测试夹具还可包括升降组件和载物平台，所述载物平台用于搁置PCBA拼板，所述升降组件包括升降机构和位于所述升降机构上能够移动的结构底部的压盖，在将PCBA拼板置于针板测试夹具的载物平台后，可通过升降机构带动压盖上下移动，对PCBA拼板施加压力以使PCBA拼板的测试接点(如，引脚)与针板测试夹具上的测试探针对应连接。具体可以是匀速移动以保证压盖施加到PCBA拼板上的作用力是均匀的，以确保每一个测试接点都能与相应的测试探针有效连接。另外，测试控制盒尤指用于为PCBA拼板中各PCBA板提供测试配件的装置，对于不同机型的同类型产品可以共用。本实施例中的测试控制盒包括与待检测的PCBA拼板对应的测试配件以及该测试配件对应的输出接口，其中，测试配件可适配于同类型的PCBA拼板，可以对同类型的不同PCBA拼板进行测试；测试控制盒上的输出接口可用于与针板测试夹具上的输出接口连接，针板测试夹具上的输出接口为测试探针对应的输出接口，以将测试配件连接到针板测试夹具上的不同输出接口，通过针板测试夹具上的不同输出接口将测试配件连接至PCBA拼板中不同的PCBA板。此外该测试控制盒可提供的测试配件可包括电源、负载、电压表和电流表等测试元件。测试控制盒上的输出接口与针板测试夹具上的输出接口具体可通过排线连接，便于用户操作。
于是，在将针板测试夹具上测试探针对应的输出接口与测试控制盒上测试配件对应的输出接口一一对应的连接起来之后，可以将待检测的PCBA拼板放置于与所述PCBA拼板对应的针板测试夹具的载物平台上。为了节省成本，可以是人为将PCBA拼板放置于针板测试夹具的载物平台上，该载物平台可设置凹槽，以便用户能够准确定位PCBA拼板的放置位置。该凹槽具体可以是空心槽，以便在用户将PCBA拼板置于凹槽后，可以直接通过升降机构带动压盖上下移动，以将PCBA拼板从所述凹槽按压至其测试接点均能与针板测试夹具底座上方的测试探针对应连接。在PCBA拼板测试接点与测试探针对应连接后，由于测试控制盒的输出接口与的测试探针输出接口一一对应，从而可以将测试控制盒中的测试配件通过不同测试探针对应的输出接口与PCBA拼板建立连接。此时，无需提供多套测试配件来与PCBA拼板中的每一个PCBA板对应连接，能够避免因测试配件连接出错导致测试出错。
在其他的实施例中，为了提升测试效率，也可以通过自动化工具将PCBA拼板放置于针板测试夹具的载物平台上，如，在进行批量测试时，可以通过机器人手臂依次将待检测的PCBA拼板放置于针板测试夹具的载物平台上。
步骤S20：通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件。
一方面，对于同类型的PCBA拼板，该PCBA拼板中的各PCBA板可通过同一套测试配件进行测试。于是，在PCBA拼板中的各PCBA板为同类型的PCBA板时，可以将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板，以完成对PCBA拼板的测试。也即可以将测试配件与不同测试探针对应的输出接口连接，由于该输出接口对应的测试探针与PCBA拼板中的PCBA板连接，即可将测试配件通过不同的测试探针连接到PCBA拼板中的PCBA板，对不同的PCBA板进行测试，从而完成对PCBA拼板的测试。其中，将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件通过不同的探针连接至PCBA拼板的方式可以是手动为PCBA拼板中的各PCBA板切换测试配件，即，可通过人为方式将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至各PCBA板，如测试不同的PCBA板时，可手动将测试配件对应的输出接口通过排线连接到不同测试探针对应的输出接口，从而测试配件分别连接至不同的测试探针；当然，也可以是通过切换开关将测试配件通过不同的测试探针连接至不同的PCBA板，所述切换开关可以是一个，也可以是多个；还可以是通过单片机控制测试控制盒自动将测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板中不同的PCBA板。
然而，若通过人为方式切换，在PCBA拼板中的PCBA板数量过多时，将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件连接至不同的PCBA板的连接过程复杂，容易因连接出错，导致测试结果出错；若通过单片机等方式控制测试控制盒自动将测试配件切换至与不同的PCBA板连接，由于需要编程，使得测试过程极大程度的受到编程人员的编程水平的限制，如此，容易因编程人员的编程水平的影响，导致测试出错。因而，本实施例提出一种较优的测试配件切换方式，通过计数器对所述多个继电器进行控制，以控制不同的继电器将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至不同的PCBA板。也即，测试控制盒中包括计数器和多个继电器，每一个继电器都可对应控制测试配件连接至PCBA拼板中的一块PCBA板。也即，通过计数器控制不同的继电器，即可实现将测试配件切换连接至不同的PCBA板。于是，通过切换开关控制计数器，在通过计数器控制继电器，即可通过不同的继电器将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至各PCBA板。此时，转换开关可以是一个，也可以是多个，本实施例优选为一个，可避免因切换开关众多，出现拨错或拨漏等情况导致测试结果出错。并且，此时无需编程即可实现测试配件的切换，能够避免因受到编程人员水平的限制，导致测试出错，影响测试效果，且简化了冶具的制作难度，降低制作成本。
值得注意的是，上述关于测试配件的切换尤指将测试配件从PCBA拼板中的一块PCBA板切换至与另一块PCBA板连接。
另一方面，对于不同类型的PCBA拼板，只需配置与该类型的PCBA拼板相应的针板测试夹具即可，如可以根据该类型的PCBA拼板更换针板测试夹具上与该形状相应的固定部件，且可以根据该类型的PCBA拼板的测试点排布更换针板测试夹具上的测试探针排布。由于测试控制盒是通用的，只需提前设置好与该类型的PCBA拼板对应的电压、电流、电源和负载等测试配件，然后与固定有该类型的PCBA拼板的针板测试夹具连接，即可将测试配件连接至该类型的PCBA拼板中的不同PCBA板，实现测试配件的切换。
当然，该PCBA拼板测试方法可适用于对PCBA拼板进行测试，也可适用于对单个的PCBA板进行测试，只是单个PCBA板测试时，无需为不同的PCBA板切换电源、负载及电压表等测试配件。
本实施例通过将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，然后通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。测试过程无需为每一块PCBA拼板都接一套测试配件，只需将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板，即可完成对所述PCBA拼板的测试，能够避免因测试配件连接错PCBA板而导致测试出错，提高了PCBA拼板测试的测试效果。
基于上述实施例，提出本发明PCBA拼板测试方法的第二实施例流程图。参照图2，本实施例中，所述PCBA拼板测试方法包括以下步骤：
步骤S11：将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；
步骤S12：确定所述PCBA拼板对应的测试模式，所述测试模式包括手动测试和自动测试中的至少一种；
步骤S13：以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
本实施例中，对PCBA拼板的测试包括手动测试和自动测试两种模式，通用性更强。于是，在将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针之后，可以先确定与该PCBA拼板对应的测试模式，然后以所确定的测试模式，将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板中的不同PCBA板，即可完成对所述PCBA拼板的测试。其中，PCBA拼板对应的测试模式可由用户自行选择，如用户可以在测试控制盒上按下自动测试和手动测试模式选择开关，来选择测试模式。在测试控制盒上设置有触控显示屏时，用户可以在触控显示屏上触发自动测试和手动测试模式选择选项来选择测试模式。在用户未作出选择时，默认通过自动测试模式进行测试，在将测试配件连接至每一块PCBA板之后，若预设时间内未接收到用户触发的测试模式选择操作，则可认为用户未作出选择，否则，用户作出选择，根据用户的选择以相应的测试模式进行测试即可。当然，对于一些特殊的PCBA拼板，也可以是通过半自动模式进行测试，所述半自动模式尤指既包括手动测试，又包括自动测试的测试模式。如该PCBA拼板上集成有不同类型的PCBA板时，对于同类型的PCBA板可以通过自动测试模式进行测试，对于不同类型的PCBA板之间的测试配件切换可以通过手动测试模式进行切换。
在一实施例中，可通过针板测试夹具上的切换键，实现将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。即，通过手动测试模式进行测试时，可以在每块PCBA板测试结束后，按下针板测试夹具上的切换键，通过所述切换键将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件连接至相应的测试探针，然后通过不同的测试探针可以将所述测试配件连接至相应的PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。具体地，可以是在完成第一块PCBA板的测试之后，按一次切换键，以将测试配件通过第二块PCBA板对应的测试探针连接到第二块PCBA板上进行测试；在完成第二块PCBA板的测试之后，再按一次切换键，可以将测试配件连接到第三块PCBA板对应的测试探针，以通过该测试探针对第三块PCBA板进行测试；在完成第三块PCBA板的测试之后，再按一次切换键，依次类推，若PCBA拼板中的PCBA板的数量为n，则在按下(n-1)次按键后，即可完成对PCBA拼板中所有PCBA板的测试。如此，通过手动测试，可以避免不同PCBA板存在个体差异(如不同PCBA板的测试时间可能存在差异)导致测试结果不准确，提高测试的准确性。并且，通过切换键实现一个按键转接测试配件，而无需设置多个转换开关，可以避免因转换开关过多导致拨错或拨漏对测试结果产生影响，提高了测试效果，从而保证产品质量，提高生产效率。
在另一实施例中，通过自动测试模式进行测试时，只需设置好测试配件的转接次数以及转接时间，即可以所设置的转接时间为时间间隔，自动将测试控制盒中与PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。具体地，可先根据PCBA拼板中PCBA板的数量确定测试配件的转接次数，并根据历史测试数据设定测试配件的转接时间，如可根据该类型的PCBA板的历史转接时间，计算平均转接时间，考虑到存在一定的误差范围，可以以平均转接时间作为参考来设定测试配件的转接时间，也可以是根据历史测试时间确定时间最长的历史转接时间，以时间最长的历史转接时间作为参考来设定测试配件的转接时间。然后，以所确定的转接时间为时间间隔，将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接至PCBA拼板中的不同PCBA板，如，所设置的转接时间为5min时，可在第一块PCBA板开始测试达到5min时，执行一次转接，自动接将测试配件连接至与下一块PCBA板连接的测试探针；直至测试配件与PCBA板的连接次数达到所设定的转接次数时，说明PCBA拼板中的所有PCBA板均已被测试，也即完成了对PCBA拼板中所有PCBA板的测试。如此，通过自动测试的方式，可以进一步提高测试效率，且转接时间可调，能够适应不同类型的PCBA板的测试需求，通用性更强。
在又一实施例中，可按照预先设定的测试顺序进行测试，避免PCBA拼板中有PCBA板存在问题或不合格时，无法准确定位是哪一块PCBA板不合格。也即，可以先确定PCBA拼板中不同PCBA板的测试顺序，然后按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件依次连接至PCBA拼板中的每一块PCBA板。其中，PCBA板的测试顺序可依据PCBA拼板中不同PCBA板的排布顺序以及排布方式等确定。如，可以根据PCBA拼板中各PCBA板的行排布顺序逐行进行测试，或是按照PCBA拼板中各PCBA板的列排布顺序逐列进行测试。并且，一实施例中，测试控制盒上还设置有指示灯，用于指示当前正在测试的是第几块PCBA板，也即可以先获取指示灯的指示信息，该指示信息会对当前与测试配件连接的PCBA板的测试信息，本实施例中，所述测试信息尤指当前正在测试的PCBA板的测试序号；在其他的一些实施例中，所述测试信息还可包括测试是否合格的测试结果信息，如在第一块PCBA板测试合格时，可使第一个指示灯亮绿灯，在第二块PCBA板测试不合格时，可使第二个指示灯亮红灯，在第二块PCBA板测试在测试中时，可使第三个指示灯亮黄灯。然后，根据指示灯的指示信息可以快速确定当前测试的是第几块PCBA板，根据预先确定的测试顺序可以确定当前正在测试的PCBA板是PCBA拼板上的哪一块PCBA板。于是，在所述PCBA拼板中存在不合格的PCBA板时，根据指示灯的指示信息以及预先确定的测试顺序，便可以准确确定PCBA拼板中不合格的PCBA板是哪一块PCBA板，避免待检测的PCBA板数量过多时，无法有效记录各PCBA板的测试结果。
当然，在其他的一些实施例中，也可以将测试控制盒和针板测试夹具集成到一起，形成PCBA测试***。于是，在将PCBA拼板固定于与所述PCBA拼板对应的针板测试夹具之后，可以由PCBA的控制装置(如处理器，或集成由主控芯片的控制模块等)，控制测试控制盒和针板测试夹之间交互，以完成对PCBA拼板中不同PCBA板的测试。
本实施例通过将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，然后以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，能够避免只能通过手动触发切换按键或手动切换测试配件，或只能通过单片机控制以自动测试模式进行测试，导致无法适应不同的拼板测试需求。通过多种测试模式对PCBA拼板进行测试，测试方式灵活且通用性强，能够避免因个体差异对测试效果产生的影响，以适应不同的PCBA测试需求。
参照图3，图3为本发明一实施例中的PCBA测试装置结构示意图。本实施例中，所述PCBA测试装置包括：测试控制盒13和针板测试夹具14。其中：
针板测试夹具14，如图6所示，所述针板测试夹具包括测试探针10、载物平台和升降组件；其中，所述载物平台位于测试探针10的上方，用于放置待检测的PCBA拼板，所述PCBA拼板包括测试接点；所述升降组件包括升降机构和安装于所述升降机构中能够移动的结构底部的压盖12，所述升降机构用于带动所述压盖12上下移动，以使PCBA拼板的测试接点与所述测试探针10对应连接；
可选地，该针板测试夹具14还包括转换键11。该转换键11用于将测试控制盒中的测试配件转换至与不同的PCBA板连接，以对不同的PCBA板进行测试。
测试控制盒13，所述测试控制盒通过排线15与所述测试探针连接，以通过所述测试探针将所述PCBA拼板对应的测试配件连接至所述PCBA拼板中的PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。并且，本实施例中所述测试控制独立于所述针板测试夹具设置。当然，在其他的一些实施例中，所述测试控制盒也可以是直接集成于所述针板测试夹具。
可选地，测试控制盒13，如图4所示，该测试控制盒包括电源开关1、控制盒输出接口2、电压表3、电流表4、指示灯5、拼板测试数量设置开关6，自动测试与手动测试模式选择开关7，时间调节电位器8和复位开关9。其中，拼板测试数量设置开关6用于设置待检测的PCBA板数量，所设置的数量与PCBA拼板中包含的PCBA板数量一致；自动测试与手动测试模式选择开关7用于实现自动测试模式与手动测试模式之间的切换，自动测试模式尤指测试控制盒自动将PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接到PCBA拼板中的不同PCBA板，对不同的PCBA板进行测试，手动测试模式尤指测试控制盒可由用户手动拨动转换键11的方式将PCBA拼板对应的测试配件通过不同的测试探针连接到PCBA拼板中不同的PCBA板，以对不同的PCBA板进行测试；时间调节电位器8用于在自动测试模式下设置测试配件的转接间隔时间，所述转接间隔时间与每块PCBA板的测试时间相对应，具体可以是PCBA板的平均测试时间；复位开关9用于对前一次测试PCBA拼板时的数据清零，以在清零后，对当前PCBA拼板进行测试。
在一具体的实施例中，如图5所示，测试控制盒13可包括电源电路、计数器，可调节时间的定时电路、转换测试配件的继电器、LED指示灯、数量设置开关、电压表、复位开关及控制盒输出接口等。所述计数器可根据实际的应用需求进行选择，本实施例中优选为十进位计数器，如CD4017十进位计数器，该十进位计数器的每一路脉冲输出口控制1个LED指示灯和1组继电器，1组继电器由5个继电器组成，共10组。其中，LED指示灯用于指示正在测试的是PCBA拼板中的第几块PCBA板，继电器用于转换被测PCBA板的供电、负载及电压表等；使用数量设置开关控制计数器清除端与计数器脉冲输出端口位数，从而实现连扳数量的设置。
需要说明的是，所述PCBA测试装置的各个实施例与上述PCBA拼板测试方法的各实施例基本相同，在此不再详细赘述。
本实施例通过针板测试夹具14将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针10，以通过测试探针10将所述PCBA拼板与测试控制盒13建立连接，并通过测试控制盒13将测试控制盒13中的测试配件通过不同的测试探针10连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，使得测试过程无需为每一块PCBA拼板都接一套测试配件，只需将测试控制盒中与所述PCBA拼板对应的测试配件依次连接至每一块PCBA板，即可完成对所述PCBA拼板的测试，能够避免因检错观检错仪器而导致测试出错，提高了PCBA拼板测试的测试效果。
参照图7，图7为本发明一实施例运行涉及的硬件运行环境的PCBA测试***的结构示意图。
如图7所示，该PCBA测试***可以包括：通信总线1002，处理器1001，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
并且，该PCBA测试***包括上述PCBA测试装置，所述PCBA测试装置包括测试控制盒13和针板测试夹具14，所述测试控制盒13和针板测试夹具14以及所述存储器1005均可通过通信总线1002与处理器1001连接。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的PCBA测试***结构并不构成对PCBA测试***的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或组合某些部件，或者不同的部件布置。
在图7所示的PCBA测试***中，处理器1001可调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，控制针板测试夹具14和测试控制盒13，执行以下操作：
将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；
通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件。
可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
确定所述PCBA拼板对应的测试模式，所述测试模式包括手动测试和自动测试中的至少一种；
以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
若所确定的测试模式为手动测试，则通过针板测试夹具上的切换键将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至PCBA拼板中不同的PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，处理器1001调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，并执行以下操作：
若所确定的测试模式为自动测试，则根据所述PCBA拼板中PCBA板的数量确定测试配件的转接次数，并设定测试配件的转接时间；
以所确定的转接时间为时间间隔，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板；
当所述测试配件与PCBA拼板的连接次数达到所述转接次数时，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
确定所述PCBA拼板中不同PCBA板的测试顺序；
按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述测试控制盒上设置有指示灯，所述按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板的步骤之后，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
获取所述指示灯的指示信息，所述指示信息为当前与所述测试配件连接的PCBA板的测试信息；
在所述PCBA拼板中存在不合格的PCBA板时，根据所述测试信息和所述测试顺序确定所述PCBA拼板中不合格的PCBA板。
可选地，所述测试控制盒包括计数器和多个继电器，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
采用所述计数器控制不同的继电器将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
可选地，所述将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针的步骤之后，处理器1001可以调用存储器1005中存储的PCBA拼板测试程序，还执行以下操作：
将针板测试夹具上的测试探针输出接口与测试控制盒的输出接口对应连接；
通过测试探针的输出接口将所述PCBA拼板与测试控制盒上测试配件的输出接口建立连接，以将所述测试配件通过不同的测试探针输出接口连接至所述PCBA拼板。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者***不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者***所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者***中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，电视，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种PCBA拼板测试方法，其特征在于，应用于PCBA测试***，所述PCBA测试***包括针板测试夹具和测试控制盒，所述PCBA拼板测试方法包括以下步骤：
将PCBA拼板上的测试接点对应连接于针板测试夹具上的测试探针，所述PCBA拼板为多块PCBA板拼接而成；
将针板测试夹具上的测试探针输出接口与测试控制盒的输出接口对应连接；
通过测试探针的输出接口将所述PCBA拼板与测试控制盒上测试配件的输出接口建立连接；
通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，所述测试配件为所述PCBA拼板对应的测试元件，其中，所述测试控制盒内的测试配件适配于对同类型产品的不同PCBA拼板进行测试，基于所述测试控制盒中的测试配件连接至不同PCBA拼板进行测试时，实现测试配件的切换；
其中，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
确定所述PCBA拼板对应的测试模式，所述测试模式包括手动测试和自动测试中的至少一种，其中，在所述PCBA拼板上集成有不同类型的PCBA板时，同类型的PCBA板通过自动测试模式进行测试，不同类型的PCBA板之间的测试配件切换通过手动测试模式进行切换；
若所确定的测试模式为自动测试，则根据所述PCBA拼板中PCBA板的数量确定测试配件的转接次数，并根据历史测试时间确定时间最长的历史转接时间，以时间最长的历史转接时间作为参考设定测试配件的转接时间；
以所确定的转接时间为时间间隔，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
2.如权利要求1所述的PCBA拼板测试方法，其特征在于，所述以所确定的测试模式，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤包括：
若所确定的测试模式为手动测试，则通过针板测试夹具上的切换键将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至PCBA拼板中不同的PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
3.如权利要求1所述的PCBA拼板测试方法，其特征在于，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试的步骤还包括：
确定所述PCBA拼板中不同PCBA板的测试顺序；
按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板，完成对所述PCBA拼板的测试。
4.如权利要求3所述的PCBA拼板测试方法，其特征在于，所述测试控制盒上设置有指示灯，所述按照所确定的测试顺序，将测试控制盒中的测试配件通过不同的测试探针依次连接至所述PCBA拼板中的不同PCBA板的步骤之后，包括：
获取所述指示灯的指示信息，所述指示信息为当前与所述测试配件连接的PCBA板的测试信息；
在所述PCBA拼板中存在不合格的PCBA板时，根据所述测试信息和所述测试顺序确定所述PCBA拼板中不合格的PCBA板。
5.如权利要求1所述的PCBA拼板测试方法，其特征在于，所述测试控制盒包括计数器和多个继电器，所述通过不同的测试探针将测试控制盒中的测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试，的步骤包括：
采用所述计数器控制不同的继电器将测试控制盒中的测试配件连接至不同的测试探针；
通过不同的测试探针将所述测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
6.一种PCBA测试装置，其特征在于，所述PCBA测试装置包括：
针板测试夹具，所述针板测试夹具包括测试探针、载物平台和升降组件；其中，所述载物平台位于测试探针的上方，用于放置待检测的PCBA拼板，所述PCBA拼板包括测试接点；所述升降组件包括升降机构和安装于所述升降机构中能够移动的结构底部的压盖，所述升降机构用于带动所述压盖上下移动，以使PCBA拼板的测试接点与所述测试探针对应连接；
测试控制盒，所述测试控制盒包括测试配件及所述测试配件对应的输出接口，将测试配件对应的输出接口与所述测试探针的输出接口连接，以通过不同的测试探针将所述测试配件连接至所述PCBA拼板，完成对所述PCBA拼板的测试。
7.一种PCBA测试***，其特征在于，所述PCBA测试***包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的PCBA拼板测试程序，所述PCBA拼板测试程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的PCBA拼板测试方法的步骤；以及
如权利要求6所述的PCBA测试装置，所述PCBA测试装置与处理器连接，以在处理器执行所述PCBA拼板测试程序时，控制所述PCBA测试装置执行如权利要求1-5中任一项所述的PCBA拼板测试方法的步骤。
CN202010984795.XA 2020-09-17 2020-09-17 Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及*** Active CN112114245B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010984795.XA CN112114245B (zh) 2020-09-17 2020-09-17 Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010984795.XA CN112114245B (zh) 2020-09-17 2020-09-17 Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112114245A CN112114245A (zh) 2020-12-22
CN112114245B true CN112114245B (zh) 2022-12-13

Family

ID=73800292

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010984795.XA Active CN112114245B (zh) 2020-09-17 2020-09-17 Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112114245B (zh)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202600077U (zh) * 2012-05-30 2012-12-12 青岛海信电器股份有限公司 遥控器多板联合测试板及测试***
CN202710715U (zh) * 2012-04-27 2013-01-30 深圳市奋达电器有限公司 Pcba拼板测试装置
CN203084159U (zh) * 2013-02-19 2013-07-24 瑞华高科技电子工业园(厦门)有限公司 柔性电路板的测试装置
CN203786275U (zh) * 2014-03-28 2014-08-20 山东明华光电科技有限公司 Led驱动电源自动检测装置
CN203798974U (zh) * 2014-03-06 2014-08-27 深圳市沃特沃德科技有限公司 一种pcba拼板的校准设备
CN204009018U (zh) * 2014-06-24 2014-12-10 四川九州电子科技股份有限公司 电源自动测试设备
CN104714168A (zh) * 2015-02-06 2015-06-17 宁波科瑞特光电技术有限公司 一种柔性线路板的针测方法
CN106940401A (zh) * 2017-03-13 2017-07-11 郑州云海信息技术有限公司 一种阻抗测试方法及***
CN107104827A (zh) * 2017-04-12 2017-08-29 上海斐讯数据通信技术有限公司 基于Socket的DMZ功能自动化测试方法及***
CN206930954U (zh) * 2017-07-04 2018-01-26 厦门亿加凌电子有限公司 Pcba功能自动化检测设备
CN206946465U (zh) * 2017-05-16 2018-01-30 青岛天盈华智科技有限公司 一种烧录设备
CN209231469U (zh) * 2018-11-09 2019-08-09 青岛地铁集团有限公司运营分公司 地铁车辆空调控制器自动化检测试验台
CN110261807A (zh) * 2019-06-06 2019-09-20 广州供电局有限公司 互感器检测***、互感器检测方法及装置
CN111175638A (zh) * 2020-01-13 2020-05-19 易路泰科技(江西)有限公司 一种通用性pcba板自动双面测试设备

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4125763A (en) * 1977-07-15 1978-11-14 Fluke Trendar Corporation Automatic tester for microprocessor board
CN204595158U (zh) * 2015-02-12 2015-08-26 深圳市福瑞康电子有限公司 一种开关电源联板自动测试仪

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202710715U (zh) * 2012-04-27 2013-01-30 深圳市奋达电器有限公司 Pcba拼板测试装置
CN202600077U (zh) * 2012-05-30 2012-12-12 青岛海信电器股份有限公司 遥控器多板联合测试板及测试***
CN203084159U (zh) * 2013-02-19 2013-07-24 瑞华高科技电子工业园(厦门)有限公司 柔性电路板的测试装置
CN203798974U (zh) * 2014-03-06 2014-08-27 深圳市沃特沃德科技有限公司 一种pcba拼板的校准设备
CN203786275U (zh) * 2014-03-28 2014-08-20 山东明华光电科技有限公司 Led驱动电源自动检测装置
CN204009018U (zh) * 2014-06-24 2014-12-10 四川九州电子科技股份有限公司 电源自动测试设备
CN104714168A (zh) * 2015-02-06 2015-06-17 宁波科瑞特光电技术有限公司 一种柔性线路板的针测方法
CN106940401A (zh) * 2017-03-13 2017-07-11 郑州云海信息技术有限公司 一种阻抗测试方法及***
CN107104827A (zh) * 2017-04-12 2017-08-29 上海斐讯数据通信技术有限公司 基于Socket的DMZ功能自动化测试方法及***
CN206946465U (zh) * 2017-05-16 2018-01-30 青岛天盈华智科技有限公司 一种烧录设备
CN206930954U (zh) * 2017-07-04 2018-01-26 厦门亿加凌电子有限公司 Pcba功能自动化检测设备
CN209231469U (zh) * 2018-11-09 2019-08-09 青岛地铁集团有限公司运营分公司 地铁车辆空调控制器自动化检测试验台
CN110261807A (zh) * 2019-06-06 2019-09-20 广州供电局有限公司 互感器检测***、互感器检测方法及装置
CN111175638A (zh) * 2020-01-13 2020-05-19 易路泰科技(江西)有限公司 一种通用性pcba板自动双面测试设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN112114245A (zh) 2020-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101145859B (zh) 手机单板的测试***及方法
KR0163688B1 (ko) 내부회로 측정장치
US20120119773A1 (en) Testing Auxiliary Apparatus
US20030126735A1 (en) Probe for a wire inserting detection jig
CN210038056U (zh) 多功能电路板自动测试设备、测试***
CN112114245B (zh) Pcba拼板测试方法、pcba测试装置及***
CN114217209B (zh) 多工位pcba板检测方法
EP0856740A1 (en) PCB testing system
CN116149228A (zh) 一种微波***的控制装置以及控制方法
KR20180099528A (ko) 자동전원 공급장치 및 방법
CN114487924A (zh) 一种线束自动化测试设备及其测试方法
CN213813677U (zh) 电池包主板自动测试***
CN216351056U (zh) 一种智能手表pcba的测试装置
CN210575574U (zh) 拨码开关拨动装置
CN105301476A (zh) 用于印刷电路板的信号测试装置
CN220064302U (zh) 一种水下面罩按钮寿命测试装置
CN111366811B (zh) 一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法
CN210514380U (zh) 线路板功能测试治具
CN215677542U (zh) 按钮检测设备
CN210742443U (zh) 信号测试辅助装置
CN213633696U (zh) 一种电路板测试装置
CN216646745U (zh) 测试装置和测试***
CN114397550A (zh) 自动测试装置及自动测试方法
CN212586498U (zh) 调节式pcba测试装置
CN216083673U (zh) 拼板pcba的自动化测试装置及自动化测试***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: Room 403a, Skyworth Digital Building, Songbai Road, Shiyan street, Bao'an District, Shenzhen, Guangdong Province

Applicant after: Shenzhen toptec Technology Co.,Ltd.

Address before: 518000 2nd-6th floor, No.3, liaokeng third industrial zone, Langxin community, Shiyan street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: SHENZHEN TOP-TEK ELECTRONICS Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant