CN111970052A - 基于计算的光模块光功率调试方法 - Google Patents
基于计算的光模块光功率调试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111970052A CN111970052A CN202010787056.1A CN202010787056A CN111970052A CN 111970052 A CN111970052 A CN 111970052A CN 202010787056 A CN202010787056 A CN 202010787056A CN 111970052 A CN111970052 A CN 111970052A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical power
- value
- dac
- optical
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
- H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
- H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
- H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
- H04B10/07955—Monitoring or measuring power
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
本发明提供一种基于计算的光模块光功率调试方法,包括以下步骤:步骤S10,设定开环时两点偏置DAC初值;步骤S20,光功率先采用开环调试,将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中,分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值;步骤S30,将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线;步骤S40,将光功率目标值代入上述直线方程,得出所需的偏置电流值Bias Current;步骤S50,得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC;步骤S60,将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中,读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC;步骤S70,得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC;本发明可提高光功率调测的效率。
Description
技术领域
本发明属于光通信技术领域,尤其是一种基于计算的光模块光功率调试方法。
背景技术
近年来,光通信***在传输速率、传输容量、传输距离和成本等方面发展迅猛,由此对光模块的生产工艺提出了更加严格的要求,在保证质量的前提下,要尽量减少光模块的生产时间,目前调试光模块光功率时,通常采用的方法是二分法,也称为折半法,是一种在有序数组中查找特定元素的搜索算法。因光器件批次差异,光功率调试初始化值设置不合理,造成调试时间长,或超出光模块发射电路电流容忍范围,导致光模块触发关断保护功能,而出现无光的现象,严重影响生产效率。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足,提供一种基于计算的光模块光功率调试方法,以达到减少光模块功率调试步骤并提高光功率的调试精度的技术效果。本发明实施例采用的技术方案是:
一种基于计算的光模块光功率调试方法,包括以下步骤:
步骤S10,设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值,设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值;设定开环时两点偏置DAC初值;
步骤S20,光功率先采用开环调试,将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中,光模块开环工作,分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值;
步骤S30,将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线,算出直线的斜率和截距,得到直线方程;
步骤S40,将光功率目标值代入上述直线方程,得出所需的偏置电流值Bias Current;
步骤S50,根据偏置电流与偏置DAC值的关系,得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC;
步骤S60,将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中,读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC;
步骤S70,根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系,得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC;
步骤S80,光功率采用闭环调试,将APC_DAC值写入光模块的寄存器中,读出光模块的光功率值和偏置电流值,如果光功率最小值<APC_DAC对应的光功率值<光功率最大值,且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值,则光功率计算调试成功,否则失败。
进一步地,步骤S20中,所述两个偏置DAC初值对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值,记作P0、P1、B0、B1;
步骤S30中,直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0),截距b=P0-KB0。
进一步地,步骤S50中,Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA。
进一步地,
步骤S70中,APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32);单位为μA。
与现有技术相比,本发明的有益效果:
本发明的技术方案通过对光模块的光功率进行理论计算,相比背景技术中的技术方案,减少了对光模块的光功率进行调试的步骤,只需数步即可得光功率目标值,准确度高,提高了对光模块的光功率调测的效率。
附图说明
图1为本发明实施例中的调试方法流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本申请实施例中光模块的光功率是指光模块的输出光功率;
本申请实施例提出一种基于计算的光模块光功率调试方法,包括以下步骤:
步骤S10,设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值,设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值;设定开环时两点偏置DAC初值;
步骤S20,光功率先采用开环调试,将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中,光模块开环工作,分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值,记作P0、P1、B0、B1;
步骤S30,将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线,算出直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0)和截距b=P0-KB0,得到直线方程;
步骤S40,将光功率目标值代入上述直线方程,得出所需的偏置电流值Bias Current;
Bias Current=(targetpwr–b)/ K;targetpwr为光功率目标值;
步骤S50,根据偏置电流与偏置DAC值的关系,得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC;本实施例中,
Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA
步骤S60,将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中,读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC;
步骤S70,根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系,得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC;
本实施例中,APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32);单位为μA;
步骤S80,光功率采用闭环调试,将APC_DAC值写入光模块的寄存器中,读出光模块的光功率值和偏置电流值,如果光功率最小值<APC_DAC对应的光功率值<光功率最大值,且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值,则光功率计算调试成功,否则失败。
最后所应说明的是,以上具体实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照实例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (4)
1.一种基于计算的光模块光功率调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S10,设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值,设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值;设定开环时两点偏置DAC初值;
步骤S20,光功率先采用开环调试,将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中,光模块开环工作,分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值;
步骤S30,将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线,算出直线的斜率和截距,得到直线方程;
步骤S40,将光功率目标值代入上述直线方程,得出所需的偏置电流值Bias Current;
步骤S50,根据偏置电流与偏置DAC值的关系,得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC;
步骤S60,将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中,读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC;
步骤S70,根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系,得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC;
步骤S80,光功率采用闭环调试,将APC_DAC值写入光模块的寄存器中,读出光模块的光功率值和偏置电流值,如果光功率最小值<APC_DAC对应的光功率值<光功率最大值,且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值,则光功率计算调试成功,否则失败。
2.如权利要求1所述的基于计算的光模块光功率调试方法,其特征在于,
步骤S20中,所述两个偏置DAC初值对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值,记作P0、P1、B0、B1;
步骤S30中,直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0),截距b=P0-KB0。
3.如权利要求1或2所述的基于计算的光模块光功率调试方法,其特征在于,
步骤S50中,Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA。
4.如权利要求1、2或3所述的基于计算的光模块光功率调试方法,其特征在于,
步骤S70中,APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32);单位为μA。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010787056.1A CN111970052B (zh) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | 基于计算的光模块光功率调试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010787056.1A CN111970052B (zh) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | 基于计算的光模块光功率调试方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111970052A true CN111970052A (zh) | 2020-11-20 |
CN111970052B CN111970052B (zh) | 2021-07-20 |
Family
ID=73365134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010787056.1A Active CN111970052B (zh) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | 基于计算的光模块光功率调试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111970052B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112564787A (zh) * | 2020-12-09 | 2021-03-26 | 中天通信技术有限公司 | 光模块的自动调试方法及其装置 |
CN113708842A (zh) * | 2021-07-19 | 2021-11-26 | 武汉联特科技股份有限公司 | 一种光模块快速调试方法、装置及*** |
CN114216658A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-22 | 无锡市德科立光电子技术股份有限公司 | 基于计算的光模块消光比调试方法 |
WO2023188427A1 (ja) * | 2022-04-01 | 2023-10-05 | 日本電信電話株式会社 | 半導体レーザ評価方法、装置およびプログラム |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040188717A1 (en) * | 2003-01-17 | 2004-09-30 | Kenichi Ono | Semiconductor laser drive apparatus, optical write apparatus, imaging apparatus, and semiconductor laser drive method |
US20070053395A1 (en) * | 2005-09-02 | 2007-03-08 | Tomohiko Kamatani | Semiconductor laser driving unit and image forming apparatus having the same |
CN101013924A (zh) * | 2005-11-21 | 2007-08-08 | 英特尔公司 | 控制半导体激光器的光功率和消光比 |
CN102394696A (zh) * | 2011-11-15 | 2012-03-28 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 光模块突发发射光功率的监控方法及光模块 |
US20140029635A1 (en) * | 2012-07-24 | 2014-01-30 | Calix, Inc. | Laser power control using bias and modulation current feedback |
CN103825651A (zh) * | 2014-03-21 | 2014-05-28 | 索尔思光电(成都)有限公司 | 光模块的光功率调测算法 |
CN103915755A (zh) * | 2014-02-28 | 2014-07-09 | 嘉兴禾润电子科技有限公司 | 一种用于突发模式的激光器自动平均光功率控制*** |
CN105007117A (zh) * | 2015-05-22 | 2015-10-28 | 深圳市磊科实业有限公司 | 一种自动校准bob发送功率的方法 |
-
2020
- 2020-08-07 CN CN202010787056.1A patent/CN111970052B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040188717A1 (en) * | 2003-01-17 | 2004-09-30 | Kenichi Ono | Semiconductor laser drive apparatus, optical write apparatus, imaging apparatus, and semiconductor laser drive method |
US20070053395A1 (en) * | 2005-09-02 | 2007-03-08 | Tomohiko Kamatani | Semiconductor laser driving unit and image forming apparatus having the same |
CN101013924A (zh) * | 2005-11-21 | 2007-08-08 | 英特尔公司 | 控制半导体激光器的光功率和消光比 |
CN102394696A (zh) * | 2011-11-15 | 2012-03-28 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 光模块突发发射光功率的监控方法及光模块 |
US20140029635A1 (en) * | 2012-07-24 | 2014-01-30 | Calix, Inc. | Laser power control using bias and modulation current feedback |
CN103915755A (zh) * | 2014-02-28 | 2014-07-09 | 嘉兴禾润电子科技有限公司 | 一种用于突发模式的激光器自动平均光功率控制*** |
CN103825651A (zh) * | 2014-03-21 | 2014-05-28 | 索尔思光电(成都)有限公司 | 光模块的光功率调测算法 |
CN105007117A (zh) * | 2015-05-22 | 2015-10-28 | 深圳市磊科实业有限公司 | 一种自动校准bob发送功率的方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
郭倩: "半导体激光器功率控制***的研究", 《现代电子技术》 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112564787A (zh) * | 2020-12-09 | 2021-03-26 | 中天通信技术有限公司 | 光模块的自动调试方法及其装置 |
CN112564787B (zh) * | 2020-12-09 | 2022-09-27 | 中天通信技术有限公司 | 光模块的自动调试方法及其装置 |
CN113708842A (zh) * | 2021-07-19 | 2021-11-26 | 武汉联特科技股份有限公司 | 一种光模块快速调试方法、装置及*** |
CN114216658A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-22 | 无锡市德科立光电子技术股份有限公司 | 基于计算的光模块消光比调试方法 |
CN114216658B (zh) * | 2021-12-15 | 2024-02-09 | 无锡市德科立光电子技术股份有限公司 | 基于计算的光模块消光比调试方法 |
WO2023188427A1 (ja) * | 2022-04-01 | 2023-10-05 | 日本電信電話株式会社 | 半導体レーザ評価方法、装置およびプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111970052B (zh) | 2021-07-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111970052B (zh) | 基于计算的光模块光功率调试方法 | |
CN102447219B (zh) | 一种光功率控制电路 | |
US20190138418A1 (en) | Printed circuit board, main board, and system and method for monitoring temperature | |
CN103078249A (zh) | 生成光模块温度查找表的方法及装置 | |
CN103606812B (zh) | 一种基于mcu的激光器光功率自适应控制方法 | |
CN102942061B (zh) | 一种自动搬运设备的校正***及一种校正方法 | |
CN103390857B (zh) | 生成光模块查找表的方法及装置 | |
CN1192520C (zh) | 数字调节光发送模块及其调节方法 | |
CN103401607A (zh) | 获取光模块监测温度的方法及装置 | |
CN104238622A (zh) | 基于局部阴影下光伏阵列电流特性的输出功率获取方法 | |
CN108599857A (zh) | 一种提升光模块消光比稳定性的方法及装置 | |
CN111555802A (zh) | 一种光模块光功率及消光比的调试方法 | |
CN108448593B (zh) | 一种缩短agc响应时间的控制***及控制方法 | |
CN112987893B (zh) | 一种风扇调速方法、装置、存储介质及电子设备 | |
CN112564787B (zh) | 光模块的自动调试方法及其装置 | |
CN204615150U (zh) | 基于双tec的低漂移激光器温控装置 | |
CN116596371A (zh) | 一种基于数据分析的锂电池生产质量追溯管理*** | |
CN1996800A (zh) | 用于光纤放大器的控制装置 | |
CN112104424B (zh) | 一种5g前传工业级光模块高温消光比优化方法 | |
CN113708842B (zh) | 一种光模块快速调试方法、装置及*** | |
CN114007311A (zh) | 一种根据衰减系数实现亮度校正的舞台灯*** | |
CN114216658B (zh) | 基于计算的光模块消光比调试方法 | |
CN107645120A (zh) | 一种眼图自动补偿光模块及其眼图自动补偿方法 | |
CN106204337B (zh) | 一种基于参考值估算的风电场agc动态特性评价方法 | |
CN108376003B (zh) | 一种级联svg的水冷控制方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 214028 plot 93-c, science and Technology Industrial Park, Xinwu District, Wuxi City, Jiangsu Province Applicant after: Wuxi dekeli Optoelectronic Technology Co.,Ltd. Address before: 214028 plot 93-c, science and Technology Industrial Park, Xinwu District, Wuxi City, Jiangsu Province Applicant before: WUXI TACLINK OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |