CN111964616A - 用于识别连续的物体的传感器装置 - Google Patents

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Abstract

一种识别检测区域中输送路径上连续的物体的方法，其中所述检测区域布置在所述输送路径上，该方法包括以下步骤：通过射频传感器产生辐射到检测区域中的电磁射频场；通过射频传感器的射频场来测量检测区域中的介电性的时间曲线；以及从介电性的时间曲线确定连续的物体的轮廓信息。

Description

用于识别连续的物体的传感器装置
技术领域
本发明涉及一种用于识别输送路径上连续的物体的方法、一种用于识别输送路径上连续的物体的传感器装置以及一种具有用于识别输送路径上连续的物体的传感器装置的输送装置。
背景技术
输送装置特别地用于在仓库或分类中心中运输最多样的物体，例如单独的包裹、散装货物集装箱等，并且可以配置为辊式输送机或带式输送机。在这样的输送装置的输送路径上经常发生不受控制的物体流动，其中单独物体彼此相邻或堆叠地设置。这可能是因为，例如，被输送的物体在不同位置且以不受控的方式移动到输送路径上，例如它们被抛投或呈倾斜状态。另外，在输送过程期间，例如当单独物体在缩窄(constriction)处挤入(wedge)时，可能会出现不期望的凹陷或堆积。
然而，为了正确且无损地进一步处理所输送的物体，例如为了正确地对物体进行分类，经常需要将包裹单独地输送并且彼此分隔。将彼此相邻或堆叠布置的物体隔开通常通过布置在输送路径中的所谓的分离器(singulator)进行。为了控制分离器并监视分离器所执行的分隔，使用传感器来识别物体之间是否存在足够的距离，或者两个物体是否不正确地相邻或堆叠放置。
可以检测到输送路径上的不充分的分隔或连续的物体的分隔的传感器通常被配置为光学传感器，例如配置为激光扫描仪或挡光板，或配置为超声波传感器。在这方面，传感器通常布置在输送路径上方并且从上方朝向输送路径，这需要相对较多的安装工作。此外，所输送的物体可能抵靠到用于安装并且围绕输送路径的安装框架，并且因此会造成损坏。除了安装工作之外，光学传感器还具有对外部光的影响、污染物、灰尘等敏感的缺点。
发明内容
本发明的目的是提供一种识别输送路径上连续的物体的方法、传感器装置、以及输送装置，使得能够在不用花费很大安装工作的情况下可靠地检测到连续的物体。
该目的通过根据独立权利要求的方法、传感器装置和输送装置来实现。在从属权利要求中分别提出了进一步的发展。
提供一种识别检测区域中输送路径上连续的物体的方法，检测区域布置在输送路径上，其中，该方法包括以下步骤：
通过射频传感器产生辐射到检测区中的电磁射频场；
通过射频传感器的射频场来测量检测区域中的介电性的时间曲线；以及
从介电性的时间曲线确定连续的物体的轮廓信息。
在本发明的框架内已经认识到，由于测量了介电性(dielectric conductivity)的时间曲线并且从中确定连续的物体的轮廓信息，因此输送路径上连续的物体可以特别地可靠且容易地被识别和彼此区别。检测区域中介电性随时间的变化特别地取决于穿过检测区域的物体的材料，使得也可以通过介电性的测量，基于物体的材料来区分物体。
射频传感器可以特别地布置在输送路径的下方，即布置在输送路径的(例如，运输带的)与被输送的物体相对的一侧，并且射频场可以从输送路径的下侧辐射到检测区域中。由此可以以特别节省空间的方式设计包括射频传感器的传感器装置，而不需要在输送路径旁边或上方布置部件。
沿着输送路径移动物体的输送装置可以例如配置成辊式输送机，如辊道，或者配置成带式输送机，如平面输送带。输送装置可以特别地包括运输辊，其中物体可以直接位于运输辊上，如在辊式输送机的情况下，或者位于在运输辊上方运行的输送元件上，例如在带式输送机的情况下位于输送带上。
射频传感器可以布置在输送装置的运输辊的下方或之间。如果将射频传感器布置在运输辊中，则由于节省空间因而特别有优势。介电层，例如由介电材料制成的运输辊的一部分或介电输送带的一部分，可以特别地位于射频传感器和检测区域之间。介电层的厚度可以小于射频传感器辐射的电磁射频场的一个波长，特别地小于波长的十分之一，更特别地小于波长的百分之一。
产生辐射到检测区域中的电磁射频场的射频传感器可以例如被配置为射频谐振器、射频天线或射频线。射频传感器在这方面可以配置为波导结构或平面导体结构。波导结构可以特别地被配置为中空空间谐振器、喇叭天线或波导。平面导体结构可以例如被配置成微带(microstrip)导体结构或共面波导导体结构(CPW导体结构)，例如配置成微带谐振器或CPW谐振器、贴片天线、或微带线或CPW线。
例如由于射频传感器的谐振频率和/或射频传感器的阻抗根据进入检测区域的物体的材料而不同，因此可以测量检测区域中的介电性的变化。
可以使用去耦信号作为射频传感器的传感器信号，根据该信号确定介电性的时间曲线，在馈送信号的馈入期间或之后，去耦信号与射频传感器的导体结构去耦。去耦信号可以例如是射频传感器的导体结构反射的反射信号，例如在射频传感器配置为射频谐振器或射频天线的情况下，或者可以是射频传感器的导体结构传送的传送信号，例如在射频传感器配置为射频线的情况下。介电性的时间曲线可以例如根据去耦信号的幅度信息和/或相位信息和/或频率信息来确定。
为了测量介电性的时间曲线，该方法可以包括对射频传感器的传感器信号进行检测以及根据表征介电性的传感器信号确定测量变量。测量变量可以是介电性本身，也可以是根据介电性得出的测量变量。这种得出的测量变量例如可以是去耦信号相对于馈送信号的衰减，特别是频率相关衰减，和/或相移，特别是频率相关相移。
可以在数据预处理的框架内例如以分析方式或以数值表示方式根据射频传感器的传感器信号来计算测量变量。随后可以通过目标识别方法根据测量变量确定轮廓信息，例如，通过将测量变量的时间曲线与先前教导的参考变量进行比较。目标识别方法可以例如以神经网络的方式被实现。在目标识别方法中，例如可以将测量变量的时间曲线或介电性的时间曲线作为输入变量，而轮廓信息可以被提供作为输出变量。
在确定轮廓信息时，除了介电性外，还可以考虑另外的测量信号。这种另外的测量信号特别地可以包括与输送路径平行地测量的连续的物体的物体轮廓。物体轮廓可以例如通过照相机、激光扫描仪或距离传感器来测量。然而，除了射频传感器之外，还可以考虑布置在输送路径下方的加速度传感器的加速度信号作为另外的测量信号。掉落在输送路径上的物体可以例如通过加速度传感器进行识别。
通过考虑另外的测量信号，可以特别地确定在输送路径上彼此跟随的物体的精确轮廓信息，并因此改善基于轮廓信息的物体识别。从另外的测量信号获得的另外信息可以例如是对从介电性测量获得的信息的补充，其中补充的另外信息包括不直接包括在从介电性获得的信息中的信息。
根据介电性的时间曲线确定的轮廓信息例如可以包括物体的长度、宽度或支撑面。轮廓信息还可以包括物体在垂直于输送路径的输送方向定向的横向上的位置。
基于轮廓信息，可以特别地将在输送路径上彼此跟随的物体彼此区分开，并且可以识别出物体是否分别分隔。如果两个物体无距离地，尤其是以重叠的方式被输送，则该方法因此可以进一步包括产生警告信号。特别地可以通过警告信号确定是否成功完成了先前的分隔，并且可以基于警告信号将未分隔的物体从输送路径中排出以进行随后的分隔。如果该方法是由布置在分离器上游的传感器装置执行的，则轮廓信息可以因此用于基于输送路径上物体的测量的轮廓信息，尤其是测量的位置来控制分离器，从而实现分离。
该方法的进一步的发展包括确定两个连续的物体的物距作为轮廓信息，该轮廓信息是根据介电性的时间曲线确定的。连续的物体的物距可以特别地由以下时间间隔确定，即由于在前物体从检测区域出来引起的介电性的变化与由于跟随物体进入检测区域引起的介电性的变化之间的时间间隔。
该方法的进一步的发展包括确定多个连续的物体之间的重叠作为轮廓信息，该轮廓信息根据介电性的时间曲线确定。
该方法的进一步的发展包括确定穿过检测区域的物体的支撑角作为为轮廓信息，该轮廓信息根据介电性的时间曲线确定。
通过检测区域中的介电性的连续增加或连续减小，连续的物体的重叠或穿过检测区域的物体的支撑角可以特别地被识别，介电性的减小或增加是由检测区域中被倾斜地放置在输送路径上的物体占据的那部分区域的减小或增加引起的。由于介电性的减小或增加，可以特别地识别出在输送路径上没有被平面地(areally)布置的物体或仅以边缘或拐角布置在输送路径上的物体。
检测区域可以位于射频传感器的导体结构的近场或消逝场(evanescent field)内。检测区域可以特别地完全布置在射频传感器的导体结构的近场或消逝场内。如果检测区域完全布置在射频传感器的射频场的近场区域内，则检测区域与射频传感器的距离可以例如优选小于射频场的一个波长，更大约为小于射频场波长的三分之一。如果检测区域布置在射频场的近场区域内，则位于检测区域中的物体通过射频传感器的消逝场来检测。这使得能够特别地准确和可靠地测量介电性，尤其是与在射频传感器的远场中的检测相比。
作为替代地，检测区域也可以布置在射频传感器的远场中，并且可以通过由射频传感器辐射并且由物体反射的射频信号的一部分来确定介电性。与在近场中布置检测区域的情况相比，在射频传感器的远场中布置检测区域使得射频传感器可以布置在与输送路径更远的距离处。由此，可以以特别地灵活的方式定位射频传感器。
在该方法的进一步发展中，射频传感器被配置为射频谐振器，并且介电性的时间曲线根据射频谐振器的谐振频率的时间变化来确定。谐振频率可以例如根据从射频谐振器解耦的去耦信号的幅度信息和/或相位信息来确定。去耦信号可以特别地是射频谐振器反射的反射信号。
在该方法的进一步发展中，射频传感器被配置为辐射到检测区域中的天线，并且根据天线反射的电反射信号的时间变化来确定介电性的时间曲线。如在射频谐振器中那样，由天线反射的反射信号可以特别地根据从射频天线去耦的去耦信号的幅度信息和/或相位信息来确定。
在该方法的进一步演化中，介电性由馈送到射频传感器的射频信号的反射部分确定。反射的部分可以例如被测量作为去耦信号，并且介电性可以例如根据去耦信号的幅度信息和/或相位信息获得。
在该方法的进一步发展中，射频传感器是微波传感器，射频场是微波场。射频场可以特别地具有500MHz至50GHz范围内的频率，特别是700MHz至10GHz范围内的频率，更大约为1GHz至6GHz。
在该方法的进一步发展中，射频传感器布置在运输辊中，运输辊布置在输送路径处。可以于输送路径下方特别地以节省空间的方式将射频传感器布置在运输辊中。此外，射频传感器在运输辊中受到保护，免受机械影响。
运输辊可以特别地由介电材料制成并且为空心圆柱体。运输辊的径向厚度可以小于10mm，特别地小于5mm，更特别地小于3mm。运输辊的直径可以例如在20mm至80mm之间，特别地等于50mm。
在该方法的进一步发展中，射频传感器形成在支撑板上，支撑板布置在运输辊的旋转轴上。支撑板可以特别地配置为电路板，射频传感器可以配置为平面导体结构。由此，可以特别地以简单并且成本效益高的方式制造射频传感器。
在该方法的进一步发展中，射频传感器包括多个单独传感器，其中单独传感器沿着输送路径的横向彼此相邻布置，输送路径的横向垂直于输送路径的输送方向进行定向。然后，检测区域包括多个单独检测区域，多个单独检测区域在横向上彼此相邻布置，并且每个单独检测区域与单独传感器中的一个相关联。单独传感器可以形成射频传感器的阵列，例如射频谐振器阵列。通过单独传感器可以特别地精确确定物体在横向上的侧向物体宽度和/或侧向位置。可以特别地以简单的方式特别地识别出在横向上的分隔是否必要。
该方法的进一步发展包括从单独传感器的单独信号确定连续的物体的轮廓的沿着横向的宽度。可以将连续的物体的轮廓的宽度确定为轮廓信息。为了确定宽度，单独信号被进一步处理作为传感器信号的单独信号分量。
在该方法的进一步发展中，单独传感器时间偏移地被激励和读取。由此，可以避免彼此相邻布置的单独传感器之间的相互作用或单独传感器之间的馈送射频信号的串扰。作为替代地，仅单独传感器中的各自的一个可以被激励，而所有的传感器都被读取，从而单独传感器的电磁耦合可以被测量并且用于确定检测区域的介电性。在测量介电性的时间曲线时，可以特别地考虑单独传感器的电磁耦合的时间变化。
在该方法的进一步发展中，另外地，根据输送速度和介电性的时间曲线确定输送路径的输送速度和物体轮廓的长度。
物体轮廓的绝对长度可以通过输送速度来确定。这使得即使在变化的输送速度下也可以确定连续的物体的精确轮廓信息。在确定轮廓信息时，可以将输送速度作为输入变量。
在该方法的进一步发展中，通过旋转编码器确定物体沿输送路径的输送速度，旋转编码器用于确定布置在输送路径上的运输辊的转速。旋转编码器允许特别地以简单和成本效益高的方式确定输送路径的输送速度。旋转编码器可以特别地与射频传感器集成在一起而布置在运输辊中。此外，还可以在运输辊中，例如在射频传感器的支撑板上布置评估装置，评估装置用于生成轮廓信息，并与射频传感器和旋转编码器连接。总体而言，旋转编码器和射频传感器因此可以特别地以节省空间的方式布置在一起。
该方法的进一步发展包括通过布置在输送路径下方的距离传感器，特别是通过布置在输送路径下方的光学传感器，确定物体与输送路径之间的距离。通过距离传感器可以特别地识别出没有平面地放置在输送路径上的物体，例如由于它们被部分地放置在另一物体上。在确定轮廓信息时，可以将由距离传感器产生的距离传感器信号用作输入变量。类似于包括多个单独传感器的射频传感器，距离传感器也可以包括沿着横向布置的多个单独距离传感器。
此外，提供一种用于识别输送路径上连续的物体的传感器装置，其中该传感器装置包括布置在输送路径上的射频传感器以及连接到射频传感器评估装置。传感器装置具有布置在输送路径上的检测区域，并且射频传感器被配置为产生辐射到检测区域中的电磁射频场。评估装置被配置为通过射频传感器的射频场来测量检测区域中的介电性的时间曲线。另外，评估装置被配置为从介电性的时间曲线确定连续的物体的轮廓信息。
传感器装置特别地配置为执行根据本发明的用于识别输送路径上连续的物体的方法。在这方面，结合根据本发明的方法说明的所有进一步的发展和优点也涉及传感器装置。
此外，提供一种输送装置，其具有输送路径，并且具有布置在输送路径上的传感器装置，用于识别输送路径上连续的物体。传感器装置可以特别地是根据本发明的传感器设备。
附图说明
下面将参考附图来说明本发明。在每种情况下均以示意图形式显示：
图1是具有射频传感器和三个连续的物体的输送装置的第一实施例；
图2是射频传感器的测量变量信号的时间曲线；
图3是具有预处理模块和轮廓识别模块的评估装置；
图4是具有两个连续的物体的输送装置的第一实施例；
图5是在运输辊上布置有射频传感器的输送装置的第二实施例；
图6是布置有射频传感器的运输辊；及
图7是输送装置的第二实施例的平面图。
具体实施方式
图1示出了具有传感器装置100的输送装置1，传感器装置100包括射频传感器110和评估装置140。输送装置1包括输送路径10，物体20在输送方向12上沿着输送路径10被输送。输送带16沿着输送路径10延伸，并且布置在运输辊30上，运输辊30位于输送带16下方。
传感器装置100的射频传感器110布置在输送带16和输送路径10下方的运输辊30之间。射频传感器110的仅作示意性示出的检测区域130延伸穿过输送带16到输送路径10上。射频传感器110通过馈送信号116由评估装置140激励，该馈送信号由微波信号形成，并且射频传感器110产生去耦信号118，作为传感器信号120被传送到评估装置140。射频传感器110被配置为微波谐振器，并且去耦信号118由微波传感器反射的馈送信号116的一部分形成。
评估装置140被配置为通过射频传感器110测量检测区域130中的介电性的时间曲线，并且从介电性的时间曲线确定在输送路径10上彼此跟随的物体20的轮廓信息。在图1的图示中，第一物体71之后是第二物体72，随后是第三物体73。第一物体71和第二物体72彼此直接前后设置，从而第一物体71和第二物体72之间的距离等于零。相反，第二物体72和第三物体73彼此间具有不为零的物距26。评估装置140特别地被配置为确定第二物体72与第三物体73之间的物距26以及等于零的第一物体71与第二物体72之间的物距，作为轮廓信息。
为了确定在输送路径10上彼此跟随的物体20的轮廓信息，评估装置140被配置为从传感器信号120获取介电性，作为测量变量。在图2中，对于由不同材料构成的物体20，示出了基于时间60的所获取作为测量变量的介电性50的进程。图2所示的测量变量进程是在5.8GHz的射频场的频率下测量的。第一测量变量进程51、第二测量变量进程52、第三测量变量进程53、第四测量变量进程54和第五测量变量进程55被示出，其中，穿过检测区域130的物体20的介电性50在射频信号的频率下从第一测量变量进程51到第五测量变量进程55连续降低。
当由用于避免静电放电的材料(ESD保护材料)组成的运输箱通过检测区130时，测量第一测量变量进程51。当由玻璃、金属板或木材组成的物体20通过检测区域130时，测量第二测量变量进程52、第三测量变量进程53和第四测量变量进程54。最后，当由塑料组成的运输箱通过检测区130时，测量第五测量变量进程55。用于生成各个测量变量进程51、52、53、54、55的物体20在输送路径10上均具有相同的支撑表面。
图3示出了评估装置140的预处理模块144以及连接至预处理模块144的轮廓识别模块146。预处理模块144接收馈送信号116和由射频传感器110发送的去耦信号118。在借助分析模型的数据预处理的框架中，预处理模块144被配置为根据去耦信号118和馈送信号116来计算介电性50的时间曲线，作为测量变量传输到轮廓识别模块146。轮廓识别模块146被配置为通过目标识别方法根据所传输来的介电性50的时间曲线确定通过检测区域130的物体20的轮廓信息142。
图4示出了第一实施例中的输送装置1，其中两个物体20穿过检测区域130。如图所示，在这方面，第二物体72部分地设置于在前的第一物体71上。因此，第二物体72没有被平面地布置在输送路径10上，而是仅后边缘位于输送路径10上。在确定轮廓信息142的框架内，评估装置140特别地确定第一物体71和第二物体72之间的重叠以及第二物体72和输送路径10之间的支撑角28。由于介电性50在第一物体71穿过检测区域130之后从恒定值开始急剧下降，然后随着倾斜放置的第二物体72对检测区域130的填充增加而再次连续上升，因此可以例如根据介电性50的时间曲线来确定第一物体71和第二物体72之间的重叠或支撑角28。
图5示出了输送装置1的第二实施例，输送装置1具有传感器装置100，传感器装置100具有射频传感器110。在输送装置1的第二实施例中，射频传感器110被布置在输送装置1的运输辊30中的一个中。射频传感器110特别地布置在运输辊30的旋转轴32上。在此处未示出的实施方式中，评估装置140也可以布置在运输辊30中。
如图6所示，布置在运输辊30中的射频传感器110具有布置在旋转轴32上的支撑板112以及在支撑板112上在横向上彼此相邻布置的多个单独传感器114。传感器装置100还具有旋转编码器34，旋转编码器34同样布置在运输辊30的旋转轴32处并且至少部分地形成在支撑板112上。旋转编码器34的评估电子器件可以例如形成在支撑板112上。单独传感器114分别被配置为射频谐振器并且被分别连接到评估装置140以时间偏移地激发和读取单独传感器114。
图7示出了第二实施例中的输送装置1的平面图，其中第一物体71、第二物体72和第三物体73分别彼此先后地布置在输送路径10上。在这方面，第一物体71和第二物体72在横向14上彼此偏移并且部分地彼此相邻布置。物体71、72、73沿着输送方向12的长度24和沿着横向14的宽度22特别地被确定为轮廓信息142。此外，物体71、72、73在横向14上的侧向位置被确定。在这方面，特别地可以确定第一物体71和第二物体72在横向14上部分地彼此相邻布置。
参考标记列表
1 输送装置
10 输送路径
12 输送方向
14 横向
16 输送带
20 物体
22 物体宽度
24 物体长度
26 物距
28 支撑角
30 运输辊
32 旋转轴
34 旋转编码器
50 介电性
51 第一测量变量进程
52 第二测量变量进程
53 第三测量变量进程
54 第四测量变量进程
55 第五测量变量进程
60 时间
71 第一物体
72 第二物体
73 第三物体
100 传感器装置
110 射频传感器
112 支撑板
114 单独传感器
116 馈送信号
118 去耦信号
120 传感器信号
130 检测区域
140 评估装置
142 轮廓信息
144 预处理模块
146 轮廓识别模块

Claims (20)

1.一种识别检测区域(130)中输送路径(10)上连续的物体(20)的方法，所述检测区域(130)布置在所述输送路径(10)上，其中，所述方法包括以下步骤：
通过射频传感器(110)产生辐射到所述检测区域(130)中的电磁射频场；
通过所述射频传感器(110)的所述射频场来测量所述检测区域(130)中的介电性(50)的时间曲线；以及
从所述介电性(50)的时间曲线确定所述连续的物体(20)的轮廓信息(142)。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
确定两个连续的物体(20)的物距(26)，作为根据所述介电性(50)的时间曲线确定的轮廓信息(142)。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
确定多个连续的物体(20)的重叠，作为根据所述介电性(50)的时间曲线确定的轮廓信息(142)。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
确定通过所述检测区域(130)的所述物体(20)的支撑角(28)，作为根据所述介电性(50)的时间曲线确定的轮廓信息(142)。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述检测区域(130)完全布置在所述射频传感器(110)的所述射频场的近场区中，
其中所述检测区域(130)与所述射频传感器(110)的距离小于所述射频场的一个波长，或小于所述射频场的波长的三分之一。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述射频传感器(110)被配置为射频谐振器，并且所述介电性(50)的时间曲线根据所述射频谐振器的谐振频率的时间变化来确定。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述射频传感器被配置为辐射到所述检测区域(130)中的天线，并且根据由所述天线反射的电功率的时间变化来确定所述介电性(50)的时间曲线。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述介电性(50)是根据馈送到所述射频传感器(110)的射频信号(116)的反射部分确定的。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述射频传感器(110)是微波传感器，以及所述射频场是微波场。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述射频传感器(110)布置在运输辊(30)中，所述运输辊(30)布置在所述输送路径(10)处。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，
所述射频传感器(110)形成在支撑板(112)上；以及
其中，所述支撑板(112)布置在所述运输辊(30)的旋转轴(32)上。
12.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述射频传感器(110)包括多个单独传感器(114)；以及
其中，所述单独传感器(114)沿所述输送路径(10)的横向(14)彼此相邻布置，所述输送路径(10)的横向(14)垂直于所述输送路径(10)的输送方向(12)进行定向。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述方法还包括：
根据所述单独传感器(114)的单独信号确定所述连续的物体(20)的所述轮廓的沿所述横向(14)定向的宽度(22)。
14.根据权利要求12或13所述的方法，其中，所述方法还包括：
激励和读取所述单独传感器(114)，其中所述单独传感器(114)时间偏移地被激励和读取。
15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
确定所述输送路径(10)的输送速度；以及
根据所述输送速度和所述介电性(50)的时间曲线确定物体(20)的所述轮廓的长度(24)。
16.根据权利要求15所述的方法，其中，
所述物体(20)沿所述输送路径(10)的所述输送速度通过旋转编码器(34)确定，所述旋转编码器(34)用于确定布置在所述输送路径(10)处的运输辊(30)的转速。
17.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
通过布置在所述输送路径(10)下方的距离传感器，确定所述物体(20)与所述输送路径(10)之间的距离。
18.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：
通过布置在所述输送路径(10)下方的光学传感器，确定所述物体(20)与所述输送路径(10)之间的距离。
19.一种传感器装置(100)，用于识别输送路径(10)上连续的物体(20)，
其中，所述传感器装置(100)包括布置在所述输送路径(10)处的射频传感器(110)以及连接到所述射频传感器(110)的评估装置(140)；
其中，所述传感器装置(100)具有布置在所述输送路径(10)上的检测区域(130)；
其中，所述射频传感器(110)被配置为产生辐射到所述检测区域(130)中的电磁射频场；
其中，所述评估装置(140)被配置为通过所述射频传感器(110)的所述射频场来测量所述检测区域(130)中的介电性(50)的时间曲线；以及
其中，所述评估装置(140)被配置为从所述介电性(50)的时间曲线确定所述连续的物体(20)的轮廓信息(142)。
20.一种输送装置(1)，具有输送路径(10)，并且具有根据权利要求19所述的传感器装置(100)，所述传感器装置(100)布置在所述输送路径(10)处，以用于识别所述输送路径(10)上连续的物体(20)。
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