CN111929695A - 一种光学信息检测*** - Google Patents

一种光学信息检测*** Download PDF

Info

Publication number
CN111929695A
CN111929695A CN202010697767.XA CN202010697767A CN111929695A CN 111929695 A CN111929695 A CN 111929695A CN 202010697767 A CN202010697767 A CN 202010697767A CN 111929695 A CN111929695 A CN 111929695A
Authority
CN
China
Prior art keywords
projection
pattern
imaging module
calibration pattern
optical information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010697767.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN111929695B (zh
Inventor
杨鹏
李文建
王兆民
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Orbbec Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Orbbec Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Orbbec Co Ltd filed Critical Shenzhen Orbbec Co Ltd
Priority to CN202010697767.XA priority Critical patent/CN111929695B/zh
Publication of CN111929695A publication Critical patent/CN111929695A/zh
Priority to PCT/CN2020/138125 priority patent/WO2022016798A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111929695B publication Critical patent/CN111929695B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Projection Apparatus (AREA)
  • Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)

Abstract

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测***，包括投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；投影组件用于将投影图案投射至投影屏；第一成像模组用于采集投射至投影屏的第一图像，光学信息检测装置，用于对第一图像进行特征提取得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系；将第一图形信息映射至目标全场投影图案，得到目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据第二图形信息，计算目标光学信息。采用上述***对光学信息进行检测，在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

Description

一种光学信息检测***
技术领域
本申请属于光学技术领域，尤其涉及一种光学信息检测***。
背景技术
基于结构光或飞行时间(Time of flight,，TOF)技术的深度测量***都包括发射端与接收端，在***使用前需要对发射端与接收端的光学信息进行检测，例如，发射端中光学衍射元件与光源之间的相对旋转角度信息、发射端与接收端的光轴偏转角度信息等等。
现有的光学信息的检测装置在进行光学信息检测时，利用灰度相似性进行图像特征计算，从而计算光学参数信息。在利用灰度相似性进行图像特征计算时，需要零级的投影图案具有全局唯一的特性。但是，当投影图案规则排列时，形成的零级的投影图案不具有唯一性，无法准确的在这种情况下计算光学信息。
发明内容
本申请实施例提供了一种光学信息检测***，可以解决当投影图案规则排列时，无法准确计算光学信息的问题。
第一方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测***，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；
所述投影组件用于将投影图案投射至所述投影屏；
所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述光学信息检测装置，用于接受第一成像模组采集的所述第一图像；并对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。
进一步地，所述投影组件与所述第一成像模组分别设置于所述投影屏的两侧，或者所述投影组件与所述第一成像模组设置于所述投影屏的同侧。
进一步地，所述第一成像模组的摄像头为广角摄像头。
进一步地，所述第一成像模组为红外相机。
进一步地，所述投影组件包括光源和衍射光学元件，所述衍射光学元件设于所述光源的出光路径上，所述衍射光学元件用于将所述光源产生的光投射至所述投影屏，以形成投影图案。
进一步地，所述光源包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器VCSEL、VCSEL阵列或发光二极管。
进一步地，所述光学信息检测***，还包括：标定图案投影仪，第二成像模组；
所述标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
进一步地，所述光学信息检测装置中包括的处理器的数量为一个或者多个。
进一步地，所述投影屏为可显示标定图案器件；所述光学信息检测装置，还包括：第二成像模组；
所述投影组件，用于将投影图案投射至所述可显示标定图案器件；
所述第一成像模组，用于采集投射至所述可显示标定图案器件的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述可显示标定图案器件，用于显示标定图案；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
进一步地，所述可显示标定图案器件包括液晶标定板或者背光标定板，所述液晶标定板或者所述背光标定板上设置有标定图案，所述标定图案包括棋盘格或者圆点。
本申请实施例提供的光学信息检测***，包括投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；所述投影组件用于将投影图案投射至所述投影屏；所述第一成像模组用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；所述光学信息检测装置，用于获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。采用上述***对光学信息进行检测，可兼容投影组件投影的投影图案为规则或非规则两种情况，即在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请第一实施例提供的一种光学信息检测***的示意图；
图2本申请第二实施例提供的一种光学信息检测***中目标全场投影图案的示意图；
图3本申请第二实施例提供的一种光学信息检测***中目标全场投影图案的示意图；
图4是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测***的示意图；
图5是本申请第三实施例提供的一种光学信息检测***的示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
请参见图1，图1是本申请第一实施例提供的一种光学信息检测***的示意图。光学信息检测***包括投影组件、投影屏、第一成像模组，以及分别与投影组件、第一成像模组进行通信连接的光学信息检测装置。所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案。所述光学信息检测装置，用于接受第一成像模组采集的第一图像；并对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。
光学信息检测装置获取由第一成像模组采集的第一图像，第一图像包括目标全场投影图案。其中，投影组件将投影图案投射至投影屏，第一成像模组采集投影屏上的投影图案。第一成像模组采集到的图像即为第一图像，第一图像中包括的投影图案即为目标全场投影图案。
在一个实施例中，投影组件与第一成像模组可以分别设置于投影屏的两侧，也可以置于投影屏的同侧。投影屏包括沿投影组件发射的光束方向依次设置的玻璃板、纸张和PC压板，为了使第一成像模组能采集到清晰的投影图案，上述玻璃板、纸张和PC压板的的透射率应该保证不小于90％。需要说明的是，为了能采集到全场第一图像，第一成像模组的摄像头可以采用广角摄像头，或者可适当拉长第一成像模组与投影屏的距离，避免第一成像模组的视场过大，影响采集的第一图像的质量。
在一个实施例中，投影组件包括光源和衍射光学元件DOE，DOE设于光源的出光路径上，衍射光学元件用于将所述光源产生的光投射至所述投影屏，以形成投影图案。可以理解的是，光源发出的光束经由DOE元件扩散后投射至投影屏形成结构光图案。
在一个实施例中，光源可以包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器(VCSEL)、VCSEL阵列或LED。其中，VCSEL阵列可以为规则排列或不规则排列。光源产生的光可以为可见光、红外、紫外、不可见光等，光源也支持不同图像组成的编码投射方案，如散斑状、块状、十字状、条纹状、特定符号等图案。可以理解是，第一成像模组能采集的光的波长应该与投影组件投影的光的波长相同。
在一个实施例中，当投影组件投影的投影图案为红外散斑图案时，第一成像模组对应为红外相机。
光学信息检测装置对采集到的第一图像进行特征提取，提取第一图像中的目标全场投影图案的特征信息，得到第一特征信息。当目标全场投影图案为散斑状图案时，第一特征信息可以包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。如图2和图3所示，图2和图3为目标全场投影图案的示意图，以及全场散斑点的内部特征、全场散斑的角点特征、全场散斑的边缘曲线特征的示意图。可以理解是，图2和图3中的示意图只是目标全场投影图案的两种形式。
光学信息检测装置中存储预设参考全场投影图案的第二特征信息，其中，预设参考全场投影图案为预先采集的投影组件投射至投影屏的投影图案。第二特征信息可以包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。
光学信息检测装置获取第一图形信息，图形信息包括零级信息和/或次级信息。其中，零级信息可以包括零级点、零级散斑图案等等；次级信息可以包括散斑点的坐标、灰度信息等等。
光学信息检测装置根据第一特征信息和第二特征信息，计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系。第一映射关系实质上也表示了预设参考全场投影图案和目标全场投影图案之间的关系。
进一步地，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点，计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系可以包括计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系。根据预设散斑局部对应关系和初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。
本实施例中，第一特征信息为目标全场投影图案中的目标全场散斑点，第二特征信息为参考全场投影图案中的参考全场散斑点。设备根据目标全场散斑点和参考全场散斑点计算目标全场散斑点和参考全场散斑点之间的初始映射关系。举例来说，计算初始映射关系为利用参考全场散斑点与目标全场散斑点的单应性进行计算；根据全场散斑的边缘曲线特征计算初始映射关系可以利用参考全场投影图案中的边缘曲线和目标全场投影图案中的边缘曲线的单应性进行计算。设备中存储预设散斑局部对应关系，预设散斑局部对应关系可以包括散斑块相似性信息，散斑点局部最近邻信息等等。设备根据预设散斑局部对应关系和初始映射关系，确定目标全场散斑点和参考全场散斑点之间的映射关系。
光学信息检测装置根据第一映射关系将第一图形信息映射至目标全场投影图案中，得到第一图形信息在目标全场投影图案中的图形信息，即为第二图形信息。举例来说，光学信息检测装置根据第一映射关系将零级信息映射至目标全场投影图案中，得到零级信息在目标全场投影图案中的零级信息，即为第二图形信息。
光学信息检测装置可以根据目标全场投影图案中对应的第二图形信息来计算目标光学信息。计算规则可以在光学信息检测装置中预先设置，根据目标光学信息的种类来确定计算规则。根据计算规则来计算目标光学信息。
其中，目标光学信息可以包括目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。
在一种实施方式中，投影目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，光源为多个垂直腔面发射激光器VCSEL组成的阵列；目标光学信息可以包括衍射光学元件与光源的相对偏转信息和/或阵列的VCSEL缺失情况信息。其中，VCSEL阵列在处理器的控制下经由DOE可投射出不同的组合光点点阵图案，其中DOE对VCSEL阵列形成的原始图案进行复制、重叠和/或旋转等操作即可在投影屏上形成最终的散斑图案，因此，该散斑图案与VCSEL阵列的VCSEL光源在空间位置上形成一一对应关系，进而可通过散斑图案来检测VCSEL阵列光源中单个VCSEL光源是否缺失。
在一种实施方式中，光学信息检测装置中包括的处理器的数量为一个或者多个。例如，由不同功能的处理器单元组成。在一些实施例中，处理器也可以是集成片上***(SOC)，包含中央处理单元、片上存储器、控制器、通信接口等，此处不做限制。
请参见图4，图4是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测***的示意图。光学信息检测***包括投影组件、投影屏、第一成像模组，以及分别与投影组件、第一成像模组进行通信连接的具有光学信息检测功能的设备。其中，具有光学信息检测功能的设备可以为服务器、处理器等。在本实施例中，光学信息检测***还包括：标定图案投影仪，第二成像模组。
所述标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
在本实施例中，光学信息的检测装置包括第二成像模组，最后需要计算的目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角。
在本实施例中，光学信息检测***还包括第二成像模组和标定图案投影仪。其中，标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上。其中，标定图案不限定于棋盘格，圆点等，目的是够提供足够多的特征。第二成像模组，用于采集上述标定图案。需要说明的是，当开启上述标定图案投影仪时，需要关闭投影组件。为了便于区分，将第一成像模组采集的标定图案记为第一标定图案，第二成像模组采集的标定图案记为第二标定图案。
光学信息检测装置计算第一标定图案和第二标定图案之间的第二映射关系。第二映射关系标识了第一成像模组和第二成像模组之间的关系。光学信息检测装置根据第二映射关系将第二图形信息映射至第二标定图案中，得到第二图形信息在第二标定图案中的图形信息，即为第三图形信息。举例来说，设备根据第二映射关系将零级信息映射至第二标定图案中，得到零级信息在第二标定图案中的零级信息，即为第三图形信息。
光学信息检测装置根据第三图形信息确定第二标定图案中映射后的点的坐标，根据第二标定图案中映射后的点的坐标计算投影组件与第二成像模组之间的光轴夹角。
可以理解的是，投影组件中光源何时开启以及采用何种打开方式，标定图案投影仪何时开启，以及第一成像模组何时采集投影图案都是由光学信息检测装置来控制的。
请参见图5，图5是本申请第三实施例提供的一种光学信息检测***的示意图。光学信息检测***包括投影组件、投影屏、第一成像模组，以及分别与投影组件、第一成像模组进行通信连接的具有光学信息检测功能的设备。其中，具有光学信息检测功能的设备可以为服务器、处理器等。在本实施例中，所述投影屏为可显示标定图案器件；光学信息检测装置还包括：第二成像模组。
所述投影组件，用于将投影图案投射至所述可显示标定图案器件；
所述第一成像模组，用于采集投射至所述可显示标定图案器件的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述可显示标定图案器件，用于显示标定图案；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
投影组件用于将投影图案投射至可显示标定图案器件，当可显示标定图案器件关闭时相当于普通的投影屏，第一成像模组用于采集投射至可显示标定图案器件的目标全场投影图案，光学信息检测装置用于获取第一成像模组采集的第一图像，第一图像包括目标全场投影图案；对第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系；根据第一映射关系将第一图形信息映射至目标全场投影图案，得到目标全场投影图案对应的第二图形信息。
当可显示标定图案器件开启时，投影组件关闭，标定图案可显示于显示标定图案器件上，将第一成像模组采集的标定图案记为第一标定图案，第二成像模组采集的标定图案记为第二标定图案。
在一个实施例中，显示标定图案器件可为液晶或者背光标定板，背光板上设置有标定图案，图案不限定于棋盘格，圆点等，目的是够提供足够多的特征。需要理解的，背光标定板的功能为在不开启背光灯时，效果如同普通投影屏，在开启了背光灯后，会显示标定板的图案。
在一个实施例中，投影器件和成像模组可为基于结构光或飞行时间(Time offlight，TOF)***中的发射端与接收端，投影器件和成像模组位于显示标定图案器件同一侧，投影器件与相机可位于显示标定图案器件的同侧或异侧。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光学信息检测***，其特征在于，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；
所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；
所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述光学信息检测装置，用于接收第一成像模组采集的所述第一图像并对所述第一图像进行特征提取以得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。
2.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述投影组件与所述第一成像模组分别设置于所述投影屏的两侧，或者所述投影组件与所述第一成像模组设置于所述投影屏的同侧。
3.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述第一成像模组的摄像头包括广角摄像头。
4.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述第一成像模组包括红外相机。
5.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述投影组件包括光源和衍射光学元件，所述衍射光学元件设于所述光源的出光路径上，所述衍射光学元件用于将所述光源产生的光投射至所述投影屏，以形成投影图案。
6.如权利要求5所述的光学信息检测***，其特征在于，所述光源包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器VCSEL、VCSEL阵列或发光二极管。
7.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述光学信息检测***，还包括：标定图案投影仪，第二成像模组；
所述标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第
一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
8.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述光学信息检测装置中包括的处理器的数量为一个或者多个。
9.如权利要求1所述的光学信息检测***，其特征在于，所述投影屏为可显示标定图案器件；所述光学信息检测装置，还包括：第二成像模组；
所述投影组件，用于将投影图案投射至所述可显示标定图案器件；
所述第一成像模组，用于采集投射至所述可显示标定图案器件的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述可显示标定图案器件，用于显示标定图案；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标定图案；
所述光学信息检测装置，在根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息之后，还用于获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。
10.如权利要求9所述的光学信息检测***，其特征在于，所述可显示标定图案器件包括液晶标定板或者背光标定板，所述液晶标定板或者所述背光标定板上设置有标定图案，所述标定图案包括棋盘格或者圆点。
CN202010697767.XA 2020-07-20 2020-07-20 一种光学信息检测*** Active CN111929695B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010697767.XA CN111929695B (zh) 2020-07-20 2020-07-20 一种光学信息检测***
PCT/CN2020/138125 WO2022016798A1 (zh) 2020-07-20 2020-12-21 一种光学信息检测***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010697767.XA CN111929695B (zh) 2020-07-20 2020-07-20 一种光学信息检测***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111929695A true CN111929695A (zh) 2020-11-13
CN111929695B CN111929695B (zh) 2023-12-12

Family

ID=73312911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010697767.XA Active CN111929695B (zh) 2020-07-20 2020-07-20 一种光学信息检测***

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN111929695B (zh)
WO (1) WO2022016798A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112556994A (zh) * 2020-11-27 2021-03-26 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测方法、装置及设备
CN112629828A (zh) * 2020-11-27 2021-04-09 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测方法、装置及设备
CN113124763A (zh) * 2021-04-22 2021-07-16 奥比中光科技集团股份有限公司 光轴检测***的光轴标定方法、装置、终端、***和介质
WO2022016798A1 (zh) * 2020-07-20 2022-01-27 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测***

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100195114A1 (en) * 2007-07-27 2010-08-05 Omron Corporation Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, three-dimensional shape measuring program, and recording medium
US20130215235A1 (en) * 2011-04-29 2013-08-22 Austin Russell Three-dimensional imager and projection device
US20190056217A1 (en) * 2017-08-18 2019-02-21 Industrial Technology Research Institute Three dimensional image measurement system
CN110264558A (zh) * 2019-05-30 2019-09-20 盎锐（上海）信息科技有限公司 基于激光投影仪的模型获取方法及装置
CN110276838A (zh) * 2019-05-30 2019-09-24 盎锐（上海）信息科技有限公司 基于激光投影仪的模型获取方法及装置
CN110348455A (zh) * 2018-04-05 2019-10-18 畅想科技有限公司 用于特征检测的采样

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111929695B (zh) * 2020-07-20 2023-12-12 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测***

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100195114A1 (en) * 2007-07-27 2010-08-05 Omron Corporation Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, three-dimensional shape measuring program, and recording medium
US20130215235A1 (en) * 2011-04-29 2013-08-22 Austin Russell Three-dimensional imager and projection device
US20190056217A1 (en) * 2017-08-18 2019-02-21 Industrial Technology Research Institute Three dimensional image measurement system
CN110348455A (zh) * 2018-04-05 2019-10-18 畅想科技有限公司 用于特征检测的采样
CN110264558A (zh) * 2019-05-30 2019-09-20 盎锐（上海）信息科技有限公司 基于激光投影仪的模型获取方法及装置
CN110276838A (zh) * 2019-05-30 2019-09-24 盎锐（上海）信息科技有限公司 基于激光投影仪的模型获取方法及装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022016798A1 (zh) * 2020-07-20 2022-01-27 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测***
CN112556994A (zh) * 2020-11-27 2021-03-26 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测方法、装置及设备
CN112629828A (zh) * 2020-11-27 2021-04-09 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测方法、装置及设备
CN112556994B (zh) * 2020-11-27 2023-07-07 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学信息检测方法、装置及设备
CN113124763A (zh) * 2021-04-22 2021-07-16 奥比中光科技集团股份有限公司 光轴检测***的光轴标定方法、装置、终端、***和介质
CN113124763B (zh) * 2021-04-22 2022-05-24 奥比中光科技集团股份有限公司 光轴检测***的光轴标定方法、装置、终端、***和介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN111929695B (zh) 2023-12-12
WO2022016798A1 (zh) 2022-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111929695B (zh) 一种光学信息检测***
US11920916B1 (en) Depth sensing using a time of flight system including a scanning beam in combination with a single photon avalanche diode array
US10670808B1 (en) Systems and methods for altering an alignment of light from a light projector with a waveguide
US10984544B1 (en) Polarized illumination and detection for depth sensing
US20190230341A1 (en) Non-uniform spatial resource allocation for depth mapping
US20200151892A1 (en) Shifting diffractive optical element for adjustable depth sensing resolution
US11586036B2 (en) Camera assembly with programmable diffractive optical element for depth sensing
US11989896B2 (en) Depth measurement through display
US20200396362A1 (en) Imaging device based on lens assembly with embedded filter
US20040004727A1 (en) Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus
CN111986154A (zh) 一种光学信息检测方法、装置及设备
US20190304116A1 (en) External ir illuminator enabling improved head tracking and surface reconstruction for virtual reality
US10948283B1 (en) Tileable structured light projection system
US10495450B2 (en) Imaging system, imaging device, method of imaging, and storage medium for imaging an object using at least one detector
US20180240241A1 (en) Three-dimensional imager
WO2018223838A1 (zh) 投影屏幕、图像合成装置、投影***及相关方法
JP3450801B2 (ja) 瞳孔位置検出装置及び方法、視点位置検出装置及び方法、並びに立体画像表示システム
CN112888913A (zh) 具有对列通道的三维传感器
EP3282285B1 (en) Multiple emitter illumination source for depth information determination
CN112880600A (zh) 一种成像装置及检测玻璃的设备
EP3445049B1 (en) Camera assembly with programmable diffractive optical element for depth sensing
WO2020012707A1 (ja) ３次元測定装置及び方法
EP4244659A1 (en) Depth measurement through display
KR102616646B1 (ko) 스크린 기반 무안경 vr을 위한 실시간 영상정합 시스템 및 그 영상정합 검증방법
CN115389173B (zh) 激光分叉自检方法、装置、桌面投影机及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 11-13 / F, joint headquarters building, high tech Zone, 63 Xuefu Road, Yuehai street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000

Applicant after: Obi Zhongguang Technology Group Co.,Ltd.

Address before: 12 / F, joint headquarters building, high tech Zone, 63 Xuefu Road, Yuehai street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000

Applicant before: SHENZHEN ORBBEC Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant