CN111651309A - 计算机***的可靠性测试方法及其*** - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种计算机***的可靠性测试方法及其***，该方法包括：计算机***接收到测试仪发送的测试指令，其中所述测试指令中包括存储器写访问，在所述存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行所述测试指令，返回第一状态码，以及在所述存储器写访问结束后，返回第二状态码；所述测试仪接收所述第一状态码及所述第二状态码，发送业务检测指令对所述计算机***中的业务数据进行检测，并根据第一状态码重新发送所述测试指令。本发明至少有以下有益效果：不再需要特定的断点测试仪，节省了测试成本，且断电复位能精确覆盖整个存储器访问期间，有效地减少了无效测试，缩短了测试周期，提升了测试效率。

Description

计算机***的可靠性测试方法及其***

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种计算机***的可靠性测试方法及其***。

背景技术

对于类似单片机芯片的计算机***，其内部具有处理器和存储器，在程序运行时，根据业务功能的需要一般会包含对存储器数据访问的动作，例如读取内容或者更新内容。而存储器当前普遍使用的一种就是flash，该存储介质的特点是如果需要对某一个地址的值做修改，则首先需要将改地址所在的页全部擦除，然后再将新值写入。在这个过程中如果发生断电则可能导致数据丢失，所以计算机***内一般需要有相关机制来保证数据完整性防止异常发生。

该保护机制需要进行完善细致的测试，当外界发出一道指令给计算机***，当计算机***开始运行直到完成期间，若发生断电，则该计算机***下次重新上电时其任何数据不能有丢失错乱。目前常用的测试方法，通常需要使用特定的断电测试仪对对计算机***进行有精确控制的断电，从而相对能够比较细致的对计算机***运行期间进行测试。由于断电时间间隔非常短，导致整体测试时间很长且其中大部分测试没有意义。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种计算机***的可靠性测试方法，不需要断电测试仪，能够减少无效测试。

本发明还提出一种具有上述计算机***的可靠性测试方法的可靠性测试***。

根据本发明的第一方面实施例的计算机***的可靠性测试方法，包括：计算机***接收到测试仪发送的测试指令，其中所述测试指令中包括存储器写访问，所述计算机***在所述存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行所述测试指令，返回第一状态码，以及在所述存储器写访问结束后，返回第二状态码；所述测试仪接收所述第一状态码及所述第二状态码，发送业务检测指令对所述计算机***中的业务数据进行检测，并根据所述第一状态码重新发送所述测试指令。

根据本发明实施例的计算机***的可靠性测试方法，至少具有如下有益效果：通过计算机***内部模拟断电复位，不再需要特定的断点测试仪，节省了测试成本，且断电复位能精确覆盖整个存储器访问期间，有效地减少了无效测试，缩短了测试周期，提升了测试效率。

根据本发明的一些实施例，所述模拟断电的方法包括：在执行所述存储器写访问之前，开启所述计算机***内部的计时器；根据所述测试指令的运行次数，在所述存储器写访问的执行期间的若干第一时间的其中之一产生中断，终止执行所述测试指令。通过计算机***内部的计时器定时中断，模拟断电复位，断电点更精确。

根据本发明的一些实施例，所述第一时间与所述测试指令上次运行产生的中断时间相差固定的时间间隔。固定时间间隔步长，便于定时器的操作控制，减少定时器复杂度，防止干扰错误。

根据本发明的一些实施例，所述模拟断电的方法包括：根据所述测试指令的运行次数，选择在擦除页操作执行完成后或者再写入操作完成后的其中之一，退出所述存储器写访问。根据写操作的具体执行步骤来模拟断电，简单方便，且利于后期定位问题。

根据本发明的一些实施例，若所述测试指令中包括多次所述存储器写访问，则所述测试仪接收到所述第二状态码时更新所述存储器写访问的记录标识号。测试仪通过存储访问操作标识编号的记录，区分同一测试指令中的存储访问操作，便于后期定位错误。

根据本发明的一些实施例，若所述测试指令中包括多次所述存储器写访问，则所述计算机***检测到单次所述存储器写访问结束，更新所述存储器写访问的记录标识号。计算机通过存储访问操作标识号的记录，区分同一指令中的存储访问操作，利于同一测试指令中全部存储器写访问的全面覆盖，且便于后期定位错误。

根据本发明的一些实施例，所述计算机***通过提供模拟断电使能接口区分所述测试仪发送的所述测试指令及所述业务检测指令。模拟断电使能接口便于计算机***区分测试指令及业务检测指令，方便对计算机***的正常业务功能进行验证或者测试。

根据本发明的一些实施例，所述测试仪在发送所述测试指令前，发送断电开启指令，调用所述模拟断电使能接口，所述计算机***进入模拟断电模式；所述测试仪接收到状态码，在发送所述业务检测指令前，发送断电停止指令，调用所述模拟断电使能接口，所述计算机***进入正常模式。测试仪接收到状态码，先通过指令关闭模拟断电接口，模拟计算机***的上电恢复，保证有效的业务测试，并在检测完成后重新打开定时中断测试功能，进行下一步测试。

根据本发明的第二方面实施例的可靠性测试***，包括：计算机***，用于接收测试仪发送的测试指令，其中所述测试指令中包括存储器写访问，所述计算机***用于在所述存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行所述测试指令，返回第一状态码，以及在所述存储器写访问结束后，返回第二状态码；测试仪，用于根据所述第一状态码及所述第二状态码，发送业务检测指令对所述计算机***中的业务数据进行检测，并根据所述第一状态码重新发送所述测试指令。

根据本发明实施例的可靠性测试***，至少具有如下有益效果：不再需要特定的断点测试仪，节省了测试成本，且断电复位能精确覆盖整个存储器访问期间，有效地减少了无效测试，缩短了测试周期，提升了测试效率。

根据本发明的一些实施例，模拟断电模块，用于根据所述测试指令的运行次数，在所述存储器写访问的执行期间的若干第一时间的其中之一产生中断，终止所述测试指令的运行，或者，选择在所述存储器写访问中的擦除页操作完成后或者在写入操作完成后的其中之一，退出所述存储器写访问；状态码生成模块，用于在所述模拟断电模块发生模拟断电时，生成所述第一状态码，以及，在所述存储器写访问结束后生成所述第二状态码；断电控制模块，用于所述模拟断电模块的使能。全面覆盖存储器访问执行期间，由计算机***内部模拟断电测试，并保证测试仪根据状态码有序进行模拟断电测试检测。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本发明实施例中方法的主要步骤流程示意图；

图2为本发明实施例的方法中测试指令的执行过程示意图；

图3为本发明实施例的方法中测试指令的断电模拟示意图；

图4为本发明实施例的方法中包括多次存储器访问的测试指令的执行过程示意图；

图5为本发明实施例的***中计算机***与测试仪的交互示意图；

图6为本发明实施例的***的模块示意框图；

图7为本发明月实施例的***对测试指令的处理示意图。

附图标记：

计算机***100、模拟断电模块110、状态码生成模块120、断电控制模块130、测试仪200。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

参照图1，本发明实施例的方法包括：计算机***接收测试仪发送的测试指令，根据测试指令执行相应的操作，该测试指令中包括对存储器的写访问。计算机***模拟该测试指令对存储器的写访问期间的断电，终止执行该测试指令，并返回第一状态码；并且在写访问结束时，返回第二状态码。测试仪接收到第一状态码及第二状态码，发送检测指令对计算机***中的业务数据进行检测，若接收到第一状态码，则重新发送该测试指令。若根据状态码能获知对存储器的访问期间的预设模拟断电过程完成，测试仪结束本次测试，不再发送测试指令。计算机***接收到测试指令，重新进行测试，重复以上过程。

测试指令的执行过程参照图2，从接收到指令到执行指令结束，其中实际上对存储器的写访问期间仅发生在时间点b至时间点c之间，即对应时间段[b,c]。仅对时间段[b,c]进行模拟断电测试，能有效减少大量无效的测试。

在本发明的实施例中，对存储器进行写访问操作的接口M进行改造，通过计算机***内部的定时器开启并行的计时操作，首先使其在访问存储器之前，即参照图3中的时间段[b,b’]内开启计时器。在第一次计时过程中，计算机***中运行测试指令的主流程继续运行，在第一次计时到达，计时器产生中断信号，此时计算机***主动停止主流程的运行(测试指令被终止)，并返回第一状态码，表示“主流程停止执行，但尚未完成接口M的调用”。之后的若干次测试指令运行过程中，在存储器写访问期间的若干第一时间分别产生中断，计时器产生中断信号，此时计算机***主动停止主流程的运行，并返回第一状态码，表示“主流程停止执行，但尚在接口M的调用中”。当计时足够大时，超过接口M本身执行所需的最大时间，参照图3，主流程进入到时间区间[c,c’]。此时计算机***检测到接口M执行完毕，主动返回的第二状态码为“主流程停止执行，且完成接口M的调用”。

在本发明实施例中，定时中断产生的第一时间与上次测试指令被运行产生中断的时间相关固定的时间间隔。在本发明的一个实施例中，计算机***为智能卡***，测试仪为普通读码器，接口M的调用需要花费10毫秒，智能卡***第一次终止运行的时间点是，从接口M的调用处开始使用***内部时钟计时，到达0.1毫秒时。计时到0.1毫秒时，停止执行测试指令，并且向测试仪返回第一状态码，表示“停止执行，且接口M调用尚未完成”。这样读写器就知道刚才发给智能卡***的测试指令尚未完成执行，且智能卡内部已经模拟一次断电过程。读卡器进行业务检测后，重新发送测试指令。智能卡收到该测试指令后，针对该测试指令进行第二次测试，在从接口M的调用处开始使用***内部时钟计时，到达0.2毫秒时产生中断，停止执行测试指令，向测试仪返回第一状态码。第三次测试则在0.3毫秒时产生中断，以此类推，保持与上次中断产生的时间相同的时间间隔步长，当累计的时间到达10毫秒时，接口M完成调用。此时智能卡像读卡器返回第二状态码，表示“存储器调用执行完毕”。这样，读卡器根据第二状态码即可得知智能卡***中完成了对接口M的调用。

在本发明的另一个实施例中，计算机***模拟断电的方法，则是采用上述方式：接口M在访问存储器过程中，根据具体的运行步骤来主动停止测试指令的执行。例如，对于FLASH存储器，每一次写入数据都需要先擦除页，再写入两个步骤。根据这个特点我们可以对接口M改造为，当擦除页完成后，立即停止程序执行并返回第一状态码。在下一次测试时则在擦除并写入后，立即停止程序运行并返回第一状态码。接口M调用完成时则返回第二状态码。

参照图4，假如一个测试指令的流程中有多次存储器访问，区间[b,c]，[d,e]，[f,g]表示存储器的写访问(也就是接口M的调用)。按上述方法对接口M进行改千，使得计算机***在接口M运行期间进行终止模拟数电的发生。在本发明的实施例中，增加了一个全局的记数器，用于记录当前存储器写访问的标识号，该计数器的值可以保存在计算机***中，也可以保存在测试仪中。以图4为例，区间[b,c]，[d,e]，[f,g]分别对应的标识号0，1，2。测试仪首次将该测试指令给计算机***进行处理时，该标识号被置为0，由测试仪发送给计算机***。首先测试标识号0的接口M访问。当区间[b,c]接口M访问结束，计算机***更新存储器写访问的记录标识号为1，并返回第二状态码。测试仪则可以根据第二状态码更新存储器写访问的记录标识号为1。此后，再发送测试指令，计算机将直接从a开始一直运行到d,然后才开始对[d,e]区间的存储写访问断电测试过程。与此类似，存储器写访问的记录标识号为2，则计算机将直接从a开始一直运行到f,跳过对前两次存储器写访问的断电模拟，对[f,g]区间的存储写访问断电测试过程。测试仪当存储器写访问的记录标识号为2且产生第二状态码时或者存储器写访问的记录标识号为3，不再重新发送该测试指令，完成本次测试。该记录标识号可以仅记录在计算机中，当[f,g]区间的存储器写访问断电测试完成，更新记录标识号为3，并将该记录标识号3连同第二状态码一起发送给测试仪。该记录标识号也可以仅记录在测试仪中，每次收到第二状态码即将记录标识号加1，记录标识号加到3或者在记录号为2时收到第二状态码即表示完成本次测试。

在本发明的实施例中，为了方便测试仪对计算机***的正常业务功能验证，在计算机***内部增加了一个状态，用于控制***程序在运行中是否需要进行模拟断电的操作。计算机***增加一个对外的接口指令P，读卡器或者测试仪可以通过指令P控制其打开和关闭，例如在业务功能检查的时候，测试仪可以先发送指令P临时关闭内部模拟断电功能，然后发送业务检测指令，待业务功能验证完成之后再重新打开模拟断电功能，以便进行下一次测试断电测试。在本发明的另一些实施例中，计算机***则通过指令标识来区别没测试指令和业务检测指令。

在本发明实施例的***，参照图5，包括计算机***100及测试仪200。计算机***100，用于接收测试仪发送的测试指令(该测试指令中包括存储器写访问)，在存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行测试指令，返回第一状态码，以及在存储器写访问结束后，返回第二状态码；测试仪200，用于根据第一状态码及第二状态码，发送业务检测指令对计算机***中的业务数据进行检测，并根据第一状态码重新发送测试指令。

参照图6，本发明实施例中，计算机***100包括：模拟断电模块110、状态码生成模块120及断电控制模块130。其中断电控制模块130，用于使能模拟断电模块110，控制计算机***是否进入模拟断电模式，进行模拟断电。模拟断电模块110，用于根据测试指令的运行次数，在存储器写访问的执行期间的若干第一时间的其中之一产生中断，终止测试指令的运行，或者，选择在存储器写访问中的擦除页操作完成后或者再写入操作完成后的其中之一，退出存储器写访问；通过主动中止存储器写访问，终止测试指令的运行，模拟断电。状态码生成模块120，用于在模拟断电模块发生模拟断电时，生成第一状态码，以及，在存储器写访问结束后生成第二状态码。

图7中以包括一次存储器访问的测试指令为示例，显示了计算机使用内部定时中断对测试指令的模拟断电测试过程，其中每一个虚线框为一次模拟断电的完整测试过程。每条测试指令包括若干次存储器写访问执行过程中的模拟断电以及一次存储器写访问结束的模拟断电。存储器写访问结束前的若干模拟断电测试时间点为第一时间A、第二时间B等等。首先，测试仪发送开启指令给计算机***，计算机***打开定时中断模拟断电功能，测试仪紧接着发送测试指令给计算机***，计算机***的的第一时间A终止测试指令的运行，返回第一状态码；测试仪根据第一状态码，发送关闭指令给计算机***，计算机***关闭模拟断电过程，测试仪发送业务检测指令对计算机***进行业务功能检查。测试仪完成业务功能检测后，重新发送开启指令给计算机***，重新发送测试指令，开始新一轮的模拟中断测试。直至计时时间达到存储器写访问的时间，存储器写访问结束，计算机返回第二状态码给测试仪，测试仪发送关闭指令后，对计算机***进行最后一次业务功能检查，完成测试。应理解的是，在本发明的实施例中，测试仪在发送开启指令后不需要等计算机***开启模拟断电功能功能并回应，直接发送测试指令即可，计算机***会按顺序行开启模拟断电功能并执行测试指令；与此类似，测试仪在发送关闭指令后，直接发送业务检测指令。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (10)

1.一种计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，包括：

计算机***接收到测试仪发送的测试指令，其中所述测试指令中包括存储器写访问，所述计算机***在所述存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行所述测试指令，返回第一状态码，以及在所述存储器写访问结束后，返回第二状态码；

所述测试仪接收所述第一状态码及所述第二状态码，发送业务检测指令对所述计算机***中的业务数据进行检测，并根据所述第一状态码重新发送所述测试指令。

2.根据权利要求1所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，所述模拟断电的方法包括：

在执行所述存储器写访问之前，开启所述计算机***内部的计时器；

根据所述测试指令的运行次数，在所述存储器写访问的执行期间的若干第一时间的其中之一产生中断，终止执行所述测试指令。

3.根据权利要求2所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，所述第一时间与所述测试指令上次运行产生的中断时间相差固定的时间间隔。

4.根据权利要求1所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，所述模拟断电的方法包括：

根据所述测试指令的运行次数，选择在擦除页操作执行完成后或者在写入操作完成后的其中之一，退出所述存储器写访问。

5.根据权利要求1所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，若所述测试指令中包括多次所述存储器写访问，则所述测试仪接收到所述第二状态码时更新所述存储器写访问的记录标识号。

6.根据权利要求1所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，若所述测试指令中包括多次所述存储器写访问，则所述计算机***检测到单次所述存储器写访问结束，更新所述存储器写访问的记录标识号。

7.根据权利要求1所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，所述计算机***通过提供模拟断电使能接口区分所述测试仪发送的所述测试指令及所述业务检测指令。

8.根据权利要求7所述的计算机***的可靠性测试方法，其特征在于，

所述测试仪在发送所述测试指令前，发送断电开启指令，调用所述模拟断电使能接口，所述计算机***进入模拟断电模式；

所述测试仪接收到状态码，在发送所述业务检测指令前，发送断电停止指令，调用所述模拟断电使能接口，所述计算机***进入正常模式。

9.一种可靠性测试***，其特征在于，包括：

计算机***，用于接收测试仪发送的测试指令，其中所述测试指令中包括存储器写访问，所述计算机***用于在所述存储器写访问执行期间模拟断电，终止执行所述测试指令，返回第一状态码，以及在所述存储器写访问结束后，返回第二状态码；

测试仪，用于根据所述第一状态码及所述第二状态码，发送业务检测指令对所述计算机***中的业务数据进行检测，并根据所述第一状态码重新发送所述测试指令。

10.根据权利要求9所述的可靠性测试***，其特征在于，所述计算机***包括：

模拟断电模块，用于根据所述测试指令的运行次数，在所述存储器写访问的执行期间的若干第一时间的其中之一产生中断，终止所述测试指令的运行，或者，选择在所述存储器写访问中的擦除页操作完成后或者再写入操作完成后的其中之一，退出所述存储器写访问；

状态码生成模块，用于在所述模拟断电模块发生模拟断电时，生成所述第一状态码，以及，在所述存储器写访问结束后生成所述第二状态码；

断电控制模块，用于所述模拟断电模块的使能。

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