CN111602047A - 片剂检查方法以及片剂检查装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 285
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 224
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 85
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 322
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 134
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 63
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 38
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 12
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 11
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 6
- 239000003826 tablet Substances 0.000 description 603
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 62
- 230000006870 function Effects 0.000 description 49
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 40
- 101100444028 Drosophila melanogaster Dso2 gene Proteins 0.000 description 30
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 14
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 8
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 239000008298 dragée Substances 0.000 description 3
- 239000007940 sugar coated tablet Substances 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8841—Illumination and detection on two sides of object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
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- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
本发明提供片剂检查方法以及片剂检查装置。片剂检查方法具备工序(a)~工序(c)。在工序(a)中,拍摄片剂,生成映现有片剂的第1主面以及侧面这两者的拍摄图像。在工序(b)中,在拍摄图像中确定出第1主面以及侧面分别占据的主面区域以及侧面区域。在工序(c)中,对主面区域以及侧面区域分别进行检查处理。工序(b)具备:工序(b1),在拍摄图像中确定出与第1主面的轮廓对应的主面边缘;以及工序(b2),基于预先决定为拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,求出主面边缘的近似线作为主面区域的轮廓。
Description
技术领域
本发明涉及片剂检查方法以及片剂检查装置,尤其涉及使用拍摄片剂的照相机的检查技术。
背景技术
一直以来,提出有检查片剂的外观的片剂检查装置(例如专利文献1、2)。在专利文献1中,***具备搬运片剂的搬运单元、和用于拍摄搬运中的片剂的4个拍摄装置(照相机)。2个照相机分别拍摄片剂的上表面以及下表面,剩余2个照相机从相互相反的一侧拍摄片剂的侧面。***通过对由照相机拍摄到的拍摄图像各个进行图像处理来进行外观检查。
在该专利文献1中,使用多个照相机,所以成本较高。与此相对,在专利文献2中,检查装置具备搬运片剂的输送机、和用于拍摄搬运中的片剂的一个拍摄装置。拍摄装置以将从上侧观察到的片剂的上表面以及从四方观察到的片剂的侧面放在一个拍摄图像内的方式进行拍摄。
具体而言,该拍摄装置具备一个照相机和4个棱镜。照相机配置于片剂的上侧,来自片剂的上表面的光在照相机的拍摄面成像。另外,棱镜配置于片剂的四方,使来自片剂的侧面的光向照相机反射。该光也在照相机的拍摄面成像。由此,照相机能够拍摄从5个方向观察到的片剂的外观。检查装置通过对由照相机拍摄到的拍摄图像进行图像处理,来进行片剂的外观检查。
另外,专利文献3作为与本申请相关的技术公开。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2015/041112号
专利文献2:日本特开2012-123009号公报
专利文献3:日本特开2004-45097号公报
在专利文献2中,从上侧观察到的片剂的上表面、以及从四方观察到的片剂的侧面在拍摄图像中相互分离。换句话说,在拍摄图像内的相互分离的第1区域至第5区域中,分别映现有片剂的上表面以及片剂的侧面。
在这样的拍摄图像中,容易区别第1区域至第5区域。因此,也容易进行适合第1区域至第5区域各个区域(换句话说,适合主面以及侧面各个面)的图像处理。
然而,若从斜上方拍摄片剂,则能够通过该一个方向的拍摄拍摄到片剂的上表面以及侧面这两者。对此,考虑有在该拍摄图像中区别上表面以及侧面,对各个面进行图像处理。然而,在该拍摄图像中片剂的上表面以及侧面彼此接触,所以难以高精度地区别片剂的上表面以及侧面。
发明内容
对此,本发明的目的在于,提供在片剂的主面以及侧面相互接触的拍摄图像中,能够以较高的精度区别主面以及侧面的片剂检查方法以及片剂检查装置。
为了解决上述课题,片剂检查方法的第1方式是检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观的片剂检查方法,具备:工序(a),拍摄片剂,生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;工序(b),在上述拍摄图像中确定出上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域以及侧面区域;以及工序(c),对上述主面区域以及上述侧面区域分别进行检查处理,上述工序(b)具备:工序(b1),在上述拍摄图像中,确定出与上述第1主面的轮廓对应的主面边缘;以及工序(b2),基于表示上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,计算上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓。
片剂检查方法的第2方式是第1方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂具有大致圆盘形状,上述函数是表示椭圆的函数,上述近似线是椭圆。
片剂检查方法的第3方式是第1或者第2方式所涉及的片剂检查方法,上述主面区域以及上述侧面区域构成在上述拍摄图像中上述片剂占据的片剂区域,上述工序(b1)具备:工序(b11),对上述拍摄图像进行边缘检测处理并生成边缘图像;工序(b12),从上述边缘图像确定出与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;工序(b13),从上述片剂边缘提取出与上述拍摄图像中的上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述拍摄图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;工序(b14),搜索在上述边缘图像中与上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离预定距离的搜索区域内的像素,确定出与上述主面区域和上述侧面区域之间的边界对应的边界边缘;以及工序(b14),确定出一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘作为上述主面边缘。
片剂检查方法的第4方式是第3方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b14)中,搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且是与该像素对应的上述拍摄图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查方法的第5方式是第3或者第4方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b14)中,在上述搜索区域中从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查方法的第6方式是第1至第5方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的一方的表面粗糙度比另一方小,上述工序(c)具备:工序(c1),当对上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的一方进行边缘强度处理而得到的各像素的值大于第1阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述一方产生缺陷;以及工序(c2),当对上述主面区域以及上述侧面区域的另一方进行边缘强度处理而得到的各像素的像素值大于比上述第1阈值大的第2阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述另一方产生缺陷。
片剂检查方法的第7方式是第1至第6方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,在上述拍摄图像中上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的一方比另一方亮,上述工序(c)具备:工序(c1),当上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的一方的各像素的像素值小于第3阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述一方产生缺陷;以及工序(c2),当上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的另一方的各像素的像素值小于比上述第3阈值小的第4阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述另一方产生缺陷。
片剂检查方法的第8方式是第1至第7方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,在上述片剂的上述第1主面形成有割线,上述工序(b)包括工序(b3),在该工序(b3)中,在上述拍摄图像中确定出上述主面区域中的包括上述割线的割线区域和不包括上述割线的非割线区域,在上述工序(c)中,当对上述拍摄图像的上述割线区域进行边缘强度处理而得到的各像素的像素值大于第5阈值时,判断为在上述割线区域中产生缺陷,当对上述拍摄图像的上述非割线区域进行边缘强度处理而得到的各像素的像素值大于比上述第5阈值小的第6阈值时,判断为在上述非割线区域中产生缺陷。
片剂检查装置的第9方式是检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观的片剂检查装置,具备:拍摄部,从映现有片剂的上述第1主面以及上述侧面这两者的方向拍摄上述片剂生成拍摄图像;以及图像处理部,在上述拍摄图像中确定出上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域以及侧面区域,并对上述主面区域以及上述侧面区域分别进行检查处理,上述图像处理部在上述拍摄图像中确定出与上述第1主面的轮廓对应的主面边缘,基于预先决定为上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,求出上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓。
片剂检查方法的第10方式是检查片剂的外观的片剂检查方法,具备:工序(a),拍摄片剂,生成包括分别映现有从多个拍摄方向观察到的片剂的外观的多个图像的拍摄图像;工序(b),对上述拍摄图像进行检测片剂的缺陷候补的检查处理;以及工序(c),当通过上述检查处理在上述多个图像中拍摄到的上述片剂的第1区域中检测到在上述多个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
片剂检查方法的第11方式是第10方式所涉及的片剂检查方法,还具备工序(d),上述片剂的第2区域仅在上述多个图像中的n(n为2以上的整数)个图像拍摄到,,当通过上述检查处理在上述第2区域中检测到在上述n个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
片剂检查方法的第12方式是第10或者第11方式所涉及的片剂检查方法,还具备工序(f),上述片剂的第3区域仅在上述多个图像中的一个图像拍摄到,当通过上述检查处理在上述一个图像的上述第3区域中检测到缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
片剂检查方法的第13方式是第10至第12方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,按上述多个图像设定不成为上述检查处理的检查对象的掩模区域,上述片剂的第4区域仅在上述多个图像中的m(m为2以上的整数)个图像中在上述掩模区域以外的检查对象区域拍摄到,在上述工序(c)中,当通过上述检查处理在上述第4区域中检测到在上述m个的图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
片剂检查方法的第14方式是第13方式所涉及的片剂检查方法,在上述多个图像中的每个图像中,包括由于针对上述片剂的光的单向反射而像素值比其他的区域高预定值以上的区域的区域设定为上述掩模区域。
片剂检查方法的第15方式是第13或者第14方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂具有作为上述第1区域的第1主面、面对上述第1主面的第2主面、和连结上述第1主面的周缘以及上述第2主面的周缘的侧面,在上述多个图像中的每个图像中位于上述片剂的侧面占据的侧面区域的两侧的端部区域设定为上述掩模区域。
片剂检查方法的第16方式是第10至第15方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂具有作为上述第1区域的第1主面、面对上述第1主面的第2主面、和连结上述第1主面的周缘以及上述第2主面的周缘的侧面,上述工序(b)具有:工序(b1),在上述多个图像中的每个图像中,确定出与上述片剂的上述第1主面所示的主面区域的轮廓对应的主面边缘;工序(b2),在上述多个图像中的每个图像中,基于预先决定为上述主面区域的轮廓的形状的函数,求出上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓;以及工序(b3),在上述多个图像中的每个图像中检测缺陷候补,在上述工序(c)中,基于针对上述主面区域的各像素的位置在上述多个图像的相互间的对应关系,判断在上述工序(b3)中检测到的缺陷候补在上述2个以上的图像中是否共通。
片剂检查方法的第17方式是第16方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂的上述第1主面在俯视时具有大致圆形状,上述函数是表示椭圆的函数,上述近似线是椭圆。
片剂检查方法的第18方式是第16或者第17方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂具有大致圆盘形状,在上述多个图像中的每个图像中,上述片剂的侧面占据的侧面区域和上述主面区域构成片剂区域,若将上述多个图像中的每个图像称为检查图像,则上述工序(b1)具备:工序(b11),对上述检查图像进行边缘检测处理并生成边缘图像;工序(b12),从上述边缘图像确定出在上述检查图像中与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;工序(b13),从上述片剂边缘提取出与在上述检查图像中上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述检查图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;工序(b14),在上述边缘图像中,搜索与上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离预定距离的搜索区域内的像素,确定出与上述主面区域和上述侧面区域之间的边界对应的边界边缘;以及工序(b14),确定出一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘作为上述主面边缘。
片剂检查方法的第19方式是第18方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b14)中,搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且与该像素对应的上述检查图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查方法的第20方式是第18或者第19方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b14)中,在上述搜索区域中,从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查装置的第21方式是检查片剂的外观的片剂检查装置,具备:拍摄部,其拍摄片剂,生成包括分别映现有从多个拍摄方向观察到的片剂的外观的多个图像的拍摄图像;以及图像处理部,上述图像处理部执行如下的工序:对上述拍摄图像进行检测片剂的缺陷候补的检查处理;以及当通过上述检查处理在上述多个图像中拍摄到的上述片剂的第1区域中检测到在上述多个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
片剂检查方法的第22方式是检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观的片剂检查方法,具备:工序(a),拍摄片剂,生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;工序(b),在上述拍摄图像中确定出与上述片剂的上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域与侧面区域之间的边界对应的边界边缘,基于表示上述拍摄图像中的上述边界的形状的函数计算近似于上述边界边缘的第1近似线;以及工序(c),当上述边界边缘上的各像素与上述第1近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口。
片剂检查方法的第23方式是第22方式所涉及的片剂检查方法,上述主面区域以及上述侧面区域构成在上述拍摄图像中上述片剂占据的片剂区域,上述工序(b)具备:工序(b1),对上述拍摄图像进行边缘检测处理并生成边缘图像;工序(b2),从上述边缘图像确定出与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;工序(b3),从上述片剂边缘提取出与上述拍摄图像中的上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述拍摄图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;工序(b4),搜索在上述边缘图像中与上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离预定距离的搜索区域内的像素,确定出上述边界边缘;工序(b5),基于表示上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,计算作为一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘的主面边缘的第2近似线;以及工序(b6),从上述第2近似线提取出上述边界边缘的上述第1近似线。
片剂检查方法的第24方式是第23方式所涉及的片剂检查方法,上述片剂具有大致圆盘形状,上述函数是表示椭圆的函数,上述第2近似线是椭圆。
片剂检查方法的第25方式是第23或者第24方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b4)中,搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且与该像素对应的上述拍摄图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查方法的第26方式是第24或者第25方式所涉及的片剂检查方法,在上述工序(b4)中,在上述搜索区域中,从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
片剂检查方法的第27方式是第23至第26方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,具备:从在上述工序(b5)中计算出的上述主面边缘的上述第2近似线提取出上述主面外侧边缘的第3近似线的工序;以及当上述主面外侧边缘上的各像素与上述第3近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口的工序。
片剂检查方法的第28方式是第23至第27方式的任一方式所涉及的片剂检查方法,具备:从在上述工序(b5)中计算出的上述主面边缘的上述第2近似线提取出上述侧面外侧边缘的第4近似线的工序;以及当上述侧面外侧边缘上的各像素与上述第4近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第2主面的周缘产生缺口的工序。
片剂检查装置的第29方式是检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观的片剂检查装置,具备:拍摄部,拍摄片剂生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;以及图像处理部,上述图像处理部在上述拍摄图像中确定出与上述片剂的上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域与侧面区域之间的边界对应的边界边缘,基于表示上述拍摄图像中的上述边界的形状的函数计算近似于上述边界边缘的第1近似线,当上述边界边缘上的各像素与上述第1近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口。
发明效果
根据片剂检查方法的第1方式以及片剂检查装置的第9方式,基于表示主面区域的轮廓的形状的函数计算近似线,所以能够以较高的精度确定主面区域。进而,能够以较高的精度区别主面区域和侧面区域。
根据片剂检查方法的第2方式,与片剂的形状对应地采用适当的函数,所以能够以较高的精度确定主面。
根据片剂检查方法的第3方式,能够适当地得到主面边缘。
根据片剂检查方法的第4方式,能够以更高精度确定出主面区域。
根据片剂检查方法的第5方式,即使在片剂的主面形成有割线,也能够避免将与该割线对应的边缘误检测为边界边缘。
根据片剂检查方法的第6方式,能够在主面区域以及侧面区域这两者中抑制缺陷遗漏以及缺陷的误检测。
根据片剂检查方法的第7方式,能够在主面区域以及侧面区域这两者中抑制缺陷遗漏以及缺陷的误检测。
根据片剂检查方法的第8方式,能够在割线区域以及非割线区域这两者中抑制缺陷遗漏以及缺陷的误检测。
根据片剂检查方法的第10方式以及片剂检查装置的第21方式,当在2个以上的图像检测到共通的缺陷候补时,判断为在片剂产生缺陷,所以能够抑制缺陷检测时的虚报。
根据片剂检查方法的第11方式,能够进一步抑制极罕见的虚报。
根据片剂检查方法的第12方式,能够检测第3区域内的缺陷。
根据片剂检查方法的第13方式,能够适当地检测第4区域中的缺陷。
根据片剂检查方法的第14方式,能够避免将片剂上的光的强弱误检测为缺陷。
根据片剂检查方法的第15方式,将缺陷的检测困难的侧面区域的端部区域设定为掩模区域,所以能够避免端部区域中的缺陷候补的误检测或者检测遗漏对缺陷检测造成的影响。
根据片剂检查方法的第16方式,基于预先决定为主面区域的轮廓的形状的函数求出主面区域的轮廓,所以主面区域的确定精度较高。由此,能够提高主面区域的各像素在2个以上的图像的相互间的对应关系的精度,能够提高工序(c)的判断精度。
根据片剂检查方法的第17方式,与片剂的形状对应地采用适当的函数,所以能够以较高的精度确定主面。
根据片剂检查方法的第18方式,能够适当地得到主面边缘。
根据片剂检查方法的第19方式,能够在多个图像中的各个图像以更高精度确定出主面区域。
根据片剂检查方法的第20方式,即使在片剂的主面形成有割线,也能够避免将与该割线对应的边缘误检测为边界边缘。
根据片剂检查方法的第22方式以及片剂检查装置的第29方式,在片剂的第1主面以及侧面相互接触的拍摄图像中,能够检测在第1主面以及侧面的边界上产生的片剂的缺口。
根据片剂检查方法的第23方式,能够适当地得到边界边缘的第1近似线。
根据片剂检查方法的第24方式,与片剂的形状对应地采用适当的函数,所以能够计算更接近片剂的主面的第2近似线。
根据片剂检查方法的第25方式,能够计算更接近拍摄图像中的主面与侧面之间的边界的形状的第1近似线。
根据片剂检查方法的第26方式,即使在片剂的主面形成有割线,也能够避免将与该割线对应的边缘误检测为边界边缘。
根据片剂检查方法的第27方式,能够检测在第1主面的周缘产生的片剂的缺口。
根据片剂检查方法的第28方式,能够检测在第2主面的周缘产生的片剂的缺口。
附图说明
图1是示意性地表示片剂检查装置的构成的一个例子的图。
图2是示意性地表示片剂的一个例子的立体图。
图3是示意性地表示摄像头的内部构成的一个例子的图。
图4是示意性地表示摄像头的内部构成的一个例子的图。
图5是示意性地表示拍摄图像的一个例子的图。
图6是示意性地表示拍摄图像的一个例子的图。
图7是示意性地表示片剂检查装置的动作的一个例子的流程图。
图8是示意性地表示在拍摄图像中与片剂的外周对应的片剂边缘的一个例子的图。
图9是用于对在拍摄图像中与片剂的主面与侧面之间的边界对应的边界边缘的确定方法的一个例子的图。
图10是表示边界边缘的确定方法的一个例子的流程图。
图11是用于对边界边缘的确定方法的另一个例子进行说明的图。
图12是表示边界边缘的确定方法的另一个例子的流程图。
图13是用于对边界边缘的确定方法的另一个例子进行说明的图。
图14是表示片剂的一个例子的立体图。
图15是示意性地表示拍摄图像的一个例子的图。
图16是表示片剂检查装置的动作的另一个例子的流程图。
图17是示意性地表示拍摄图像的一个例子的图。
图18是表示片剂检查装置的动作的一个例子的流程图。
图19是表示检查处理的一个例子的流程图。
图20是示意性地表示图像的一个例子的图。
图21是示意性地表示与片剂的外周对应的片剂边缘的一个例子的图。
图22是用于对在图像中与片剂的主面与侧面之间的边界对应的边界边缘的确定方法的一个例子进行说明的图。
图23是表示针对主面区域的缺陷真伪处理的一个例子的流程图。
图24是表示图像间的各像素的对应关系的一个例子的图。
图25是表示检查处理的另一个例子的流程图。
图26是表示针对侧面区域的缺陷真伪处理的一个例子的流程图。
图27是示意性地表示拍摄图像的另一个例子的图。
图28是表示检查处理的另一个例子的流程图。
图29是示意性地表示拍摄图像的一个例子的图。
图30是表示片剂检查装置的动作的一个例子的流程图。
图31是示意性地表示在拍摄图像中与片剂的外周对应的片剂边缘的一个例子的图。
图32是用于对在拍摄图像中与片剂的主面与侧面之间的边界对应的边界边缘的确定方法的一个例子进行说明的图。
图33是示意性地表示各种边缘以及其近似线的一个例子的图。
图34是表示检查处理的一个例子的流程图。
图35是表示检查处理的更具体的一个例子的流程图。
图36是表示检查处理的更具体的另一个例子的流程图。
图37是示意性地表示各种边缘以及其近似线的另一个例子的图。
图38是示意性地表示各种边缘以及其近似线的另一个例子的图。
具体实施方式
以下,参照附图对实施方式进行详细说明。在附图中,为了容易理解,根据需要将各部的尺寸、数目夸张或者简化地描绘。此外,对在附图中具有相同的构成以及功能的部分标注相同的附图标记,在下述说明中省略重复说明。另外,在各图中,为了明确构成要素的方向关系,适当地标注将Z轴方向作为垂直方向,将XY平面作为水平面的XYZ正交坐标系。
第1实施方式.
图1是示意性地表示片剂打印装置10的构成的一个例子的图。片剂打印装置10具备片剂检查装置1和打印头6。
片剂检查装置1是检查片剂9的外观的装置。图2是示意性地表示片剂9的一个例子的立体图。在图2的例子中,片剂9具有大致圆盘形状。具体而言,片剂9具备一对主面9a、9b和侧面9c。例如作为该圆盘形状,能够采用所谓的扁平片剂或者带圆角片剂。主面9a、9b相互面对面,在俯视时,具有大致相同的圆形状。该主面9a、9b的一方以及另一方分别称为表面以及里面,另外,也称为上表面以及下表面。
片剂9的主面9a以及侧面9c形成角部并且相互连结,主面9b以及侧面9c也形成角部并且相互连结。片剂9的直径例如设定为5[mm]左右~十几[mm]左右,其厚度例如可能设定为5[mm]左右以下。
参照图1,片剂检查装置1具备料斗2、搬运鼓3、搬运部4、摄像头5、分选部7、以及控制部8。
料斗2是用于将片剂9投入片剂打印装置10内的投入部。该料斗2设置于片剂打印装置10的框体(省略图示)的顶棚部上侧。从料斗2投入的片剂9被引导到搬运鼓3。此外,除了料斗2以外的其他的要素设置于片剂打印装置10的框体的内部。
搬运鼓3具有大致圆柱状的形状,其中心轴以沿着Y轴方向的姿势配置。搬运鼓3通过省略图示的旋转驱动马达将该中心轴作为旋转中心在图1的纸面上逆时针旋转。该旋转驱动马达例如被控制部8控制。
在搬运鼓3的外周面沿着周向排列形成有多个吸附孔(未图示)。多个吸附孔的各个吸附孔与设置于搬运鼓3的内部的吸引机构(省略图示)连通。该吸引机构例如被控制部8控制。通过使该吸引机构工作,能够使比大气压低的负压作用于多个吸附孔的各个吸附孔。由此,搬运鼓3的各吸附孔能够吸附保持一个片剂9。
搬运部4配置于搬运鼓3的下方。被搬运鼓3的外周面吸附保持的片剂9随着搬运鼓3的旋转而沿周向进行移动。当片剂9移动到搬运鼓3的下方侧时吸引机构解除针对片剂9的吸附,从而片剂9落下而交接到搬运部4。
搬运部4搬运片剂9。在图1的例子中,搬运部4是传送带,具备搬运带41和一对带轮42。一对带轮42例如在X轴方向上隔着间隔配置,自身的中心轴以沿着Y轴方向的姿势配置。一对带轮42分别将自身的中心轴作为旋转中心旋转。
搬运带41架设于一对带轮42。一对带轮42的至少任意一方被省略图示的驱动马达旋转驱动,从而搬运带41沿图1的箭头所示的方向旋转。该驱动马达例如被控制部8控制。
在搬运带41的外周面,也沿着其周向排列地形成有省略图示的多个吸附孔。多个吸附孔的各个吸附孔与设置于搬运带41的内部的吸引机构(省略图示)连通。该吸引机构例如被控制部8控制。通过使该吸引机构工作,能够使比大气压低的负压作用于多个吸附孔的各个吸附孔。由此,搬运带41的各吸附孔能够吸附保持一个片剂9。
通过搬运带41一边吸附保持着片剂9一边进行旋转,从而片剂9被沿着X轴方向向远离搬运鼓3的方向搬运。
摄像头5在搬运部4对片剂9的搬运路径的中途,在搬运鼓3的下游侧,配置于与搬运部4对置的位置。该摄像头5的拍摄区域包括搬运带41的一部分。摄像头5在片剂9在该拍摄区域内移动时拍摄片剂9,生成拍摄图像。摄像头5将该拍摄图像输出到控制部8。以后详细描述摄像头5的具体的内部构成的一个例子。
控制部8通过对所输入的拍摄图像实施图像处理,来检查片剂9的外观。控制部8在片剂9的外观产生缺陷的情况下将该片剂9判断为不合格,在片剂9的外观没有产生缺陷的情况下将该片剂9判断为合格。作为该缺陷,能够例示附着于片剂9的杂质或者片剂9的形状上的不备(例如缺口)等缺陷。以后详细描述控制部8所进行的具体的图像处理的一个例子。
打印头6在片剂9的搬运中途,在摄像头5的下游侧配置于搬运带41的上方。打印头6例如被控制部8控制,对片剂9进行打印处理。打印头6具备多个排出喷嘴(省略图示),从各排出喷嘴通过喷墨方式排出墨水的液滴。喷墨的方式可以使对压电元件(Piezo元件)施加电压使其变形以排出墨水的液滴的压电方式,也可以是通过对加热器通电来加热墨水而排出墨水的液滴的热方式。在本实施方式中,为了对片剂9进行打印处理,而使用由食品卫生法中认可的原料制出的可食用墨水作为墨水。
在图1的例子中,打印头6位于比摄像头5靠搬运路径的下游侧的位置,所以控制部8也可以根据片剂9的检查结果决定是否进行打印处理。更具体而言,在外观检查中判断为片剂9合格的情况下,控制部8控制打印头6以对该片剂9进行打印处理,在判断为片剂9不合格的情况下,也可以控制打印头6以不对该片剂9进行打印处理。由此,能够避免不必要的打印处理。
分选部7根据外观检查的结果来分选片剂9。例如分选部7具有合格箱以及不合格箱。这些箱具有在上方开口的箱状的形状。合格箱收容判断为合格的片剂9,不合格箱收容判断为不合格的片剂9。例如这些箱在搬运带41的下方侧沿着X轴方向排列配置。控制部8在判断为合格的片剂9位于合格箱的开口部的正上方时,控制搬运带41内的吸引机构解除针对该片剂9的吸附。由此,片剂9向合格箱的内部落下,并收容于此。判断为不合格的片剂9也相同地收容于不合格箱的内部。
控制部8如上述那样控制各种的构成要素,另外,通过对从摄像头5输入的拍摄图像进行图像处理,由此来进行片剂9的外观检查。
该控制部8也可以是电子电路设备,例如具有数据处理装置以及存储介质。数据处理装置例如也可以是CPU(Central Processor Unit:中央处理单元)等运算处理装置。存储部也可以具有非暂时的存储介质(例如ROM(Read Only Memory:只读存储器)或者硬盘)以及暂时的存储介质(例如RAM(Random Access Memory:随机存取存储器))。在非暂时的存储介质也可以存储有例如预定控制部8执行的处理的程序。通过处理装置执行该程序,控制部8能够执行被程序预定的处理。当然,控制部8执行的处理的一部分或者全部也可以被硬件执行。
<摄像头>
摄像头5从映现有片剂9的至少2个面的方向拍摄搬运中途的片剂9。此外,片剂9既有以其主面9b朝向搬运带41侧的姿势被搬运带41吸附保持的情况,也有以其主面9a朝向搬运带41侧的姿势被搬运带41吸附保持的情况。以下,为了方便说明,片剂9以其主面9b朝向搬运带41侧的姿势被搬运带41保持。另外,在片剂9被搬运带41吸附保持的状态下,侧面9c中的至少主面9a侧的一部分从搬运带41露出。
摄像头5从映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的方向拍摄片剂9。由此,生成映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的拍摄图像。图3以及图4是示意性地表示摄像头5的内部构成的一个例子的图。例如摄像头5具备检查照相机51、透镜组52、镜53、以及角锥型镜54。检查照相机51例如是CCD(Charge Coupled Device:电荷耦合器件)图像传感器或者CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor:互补金属氧化物半导体)图像传感器等图像传感器。该检查照相机51在Z轴方向上与片剂9的搬运路径的一部分对置的位置上,以其拍摄面朝向搬运带41侧的姿势配置。
镜53为了将来自片剂9的主面9a以及侧面9c的光引导向后述的角锥型镜54而设置。在对该镜53的位置进行说明时,为了方便,假设片剂9停止在Z轴方向上与检查照相机51面对的位置。参照图3,镜53位于Z轴方向上检查照相机51与片剂9之间,在俯视时(换句话说,沿Z轴方向观察)配置于比片剂9靠外侧的位置。另外,镜53配置为与角锥型镜54的各面对置。
角锥型镜54将由镜53反射的来自片剂9的主面9a以及侧面9c的光经由透镜组52引导向检查照相机51的拍摄面。角锥型镜54由4个镜构成,以与各镜53对置的方式配置有角锥型镜54。
被片剂9的主面9a以及侧面9c反射或者散射的光的一部分朝向一个镜53斜上方地进入,并由该镜53反射,在由镜53反射的光由角锥型镜54反射后,经由透镜组52在检查照相机51的拍摄面成像。换言之,以能够将从片剂9的主面9a以及侧面9c斜上方地进入的光朝向检查照相机51的拍摄面反射的方式,调整镜53以及角锥型镜54的反射面相对于地面的角度。
由此,检查照相机51能够拍摄从该镜53看到的片剂9的外观。换句话说,检查照相机51实际能够从倾斜方向拍摄片剂9,在该拍摄图像包含有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者。此外,在图3中,由虚线示出光的路径的一个例子。
在图4的例子中,配置有多个(图中为4个)镜53。例如2个镜53在X轴方向上隔着间隔配置,剩余2个镜53在Y轴方向上隔着间隔配置。由此,片剂9在俯视时由镜53围起四方。并且,在4个镜53的中央配置有角锥型镜54。被各镜53反射的光进一步被角锥型镜54反射,经由透镜组52在检查照相机51的拍摄面成像。具体而言,被4个镜53反射的光在检查照相机51的拍摄面中的相互不同的区域成像。由此,摄像头5从4个方向拍摄片剂9,生成包括从4个方向看到的片剂9的外观的拍摄图像。
图5是示意性地表示拍摄图像IM1的一个例子的图。在拍摄图像IM1包含有从4个方向看到的片剂9的外观,在这些外观的任一个中,均映现有片剂9的主面9a以及侧面9c。这里,从4个方向拍摄片剂9,所以能够遍及整周拍摄片剂9的侧面9c。以下,为了将在拍摄图像IM1中拍摄到的片剂9的主面9a以及侧面9c与实际的片剂9的主面9a以及侧面9c区别,分别称为主面9aa以及侧面9ca。
摄像头5也可以具有省略图示的照明用光源。该照明用光源向片剂9照射光。由此,能够提高拍摄图像IM1中的片剂9的亮度。
另外,在图3以及图4的例子中,通过镜53以及角锥型镜54将光的路径弯曲,但不必限于此。作为弯曲光的路径的元件,也可以采用棱镜等其他的光学元件。
<检查>
控制部8对从摄像头5输入的拍摄图像IM1进行图像处理,进行拍摄到的片剂9的外观检查。因此,控制部8作为图像处理部发挥作用。
以下,为了简化说明,对从一个方向看到的片剂9的外观进行说明。图6是示意性地表示从一个方向拍摄产生缺陷的片剂9的拍摄图像IM11的一个例子的图。在图6的例子中,在片剂9的主面9aa以及侧面9ca分别存在缺陷d1、d2。
控制部8在拍摄图像IM11中确定出片剂9的主面9aa占据的主面区域Ra和片剂9的侧面9ca占据的侧面区域Rc,对主面区域Ra以及侧面区域Rc分别进行检查处理。以下,更具体地进行说明。
图7是表示片剂检查装置1中的动作的一个例子的流程图。首先,在步骤S1中,摄像头5从映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的方向拍摄搬运中途的片剂9,生成映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的拍摄图像IM11。摄像头5将该拍摄图像IM11输出到控制部8。
接下来,控制部8确定出拍摄图像IM11中的主面区域Ra以及侧面区域Rc。该确定例如通过图7的步骤S2~S6的一系列的处理执行。
首先,在步骤S2中,控制部8对拍摄图像IM11进行边缘检测处理并生成边缘图像。其中,这里,控制部8对删除了背景区域BR的拍摄图像IM11进行边缘检测处理。背景区域BR是指在拍摄图像IM11中片剂9占据的片剂区域TR以外的区域。该片剂区域TR由主面区域Ra以及侧面区域Rc构成。
为了删除背景区域BR,首先,控制部8区别拍摄图像IM11的片剂区域TR和背景区域BR。例如控制部8使用针对拍摄图像IM11的二进制化处理,区别片剂区域TR和背景区域BR。在背景区域BR包含有搬运带41,所以为了高精度地区别片剂区域TR和背景区域BR,而可以增大实际的搬运带41的颜色与片剂9的颜色的对比度。例如在片剂9是白色系的情况下,将搬运带41作为黑色。若控制部8确定出背景区域BR,则在拍摄图像IM11中删除背景区域BR。例如控制部8通过将背景区域BR内的全部的像素的像素值设为零,来删除背景区域BR。
接下来,控制部8对删除了背景区域BR的拍摄图像IM11进行边缘检测处理,生成边缘图像。边缘检测处理的具体的处理方法不需要特别地限制,对其一个例子进行简单说明。例如,控制部8对除去后的拍摄图像IM11进行边缘强度处理,生成边缘强度图像。边缘强度处理例如包括各像素间的像素值之差的计算处理,由此,在拍摄图像IM11中像素间的像素值之差较大的区域在边缘强度图像中被强调。控制部8按像素在该边缘强度图像中判断像素值是否大于预定的边缘阈值。边缘阈值也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。控制部8检测具有大于边缘阈值的像素值的像素,生成边缘图像。
该边缘图像基于除去了背景区域BR的拍摄图像IM11而生成,所以背景区域BR内的边缘(例如搬运带41的凹凸)在边缘图像中不被检测。换句话说,与片剂区域TR的轮廓对应的边缘(以下,称为片剂边缘)位于边缘图像内的边缘组中的最外周。
对此,在步骤S3中,控制部8如以下那样确定出片剂边缘。即,控制部8确定出边缘图像中的边缘组中位于最外周的边缘作为片剂边缘P0(参照图8)。
图8是示意性地表示片剂边缘P0的一个例子的图。在图8的例子中,示意性地将片剂边缘P0分割成多个边缘来示出。该片剂边缘P0由侧面外侧边缘P1、主面外侧边缘P2、以及一对侧面棱线边缘P4构成。侧面外侧边缘P1是与片剂9的主面9b的周缘中拍摄图像IM11中拍摄到的部分对应的边缘。主面9b具有圆形状,所以侧面外侧边缘P1理想地具有半椭圆形状。这里所说的半椭圆形状是指在其长轴将椭圆分割成2个而得到的形状。
主面外侧边缘P2是拍摄图像IM11中的与片剂9的主面9aa的周缘中不与侧面9ca接触的部分对应的边缘。该主面外侧边缘P2也可以说是与片剂9的主面9aa的周缘中片剂区域TR的轮廓的一部分对应的边缘。主面9a具有圆形状,所以主面外侧边缘P2理想地具有半椭圆形状。更具体而言,侧面外侧边缘P1以及主面外侧边缘P2具有相互向相反的一侧凸起的半椭圆形状。
一对侧面棱线边缘P4理想地呈直线状延伸,将主面外侧边缘P2的两端分别与侧面外侧边缘P1的两端连结。一对侧面棱线边缘P4是拍摄图像IM11中的与片剂9的侧面9ca的轮廓的一部分对应的边缘。一对侧面棱线边缘P4几乎平行地延伸,其延伸方向根据摄像头5的内部构成的配置预先决定。这里,侧面棱线边缘P4向与拍摄图像IM11内的横方向以大致45度交叉的方向延伸。
此外,一对侧面棱线边缘P4实际上不是完全平行。一对侧面棱线边缘P4以随着朝向侧面外侧边缘P1侧而相互接近的方式稍微倾斜。以下,为了简单,假设一对侧面棱线边缘P4平行。若更严格地考虑,则将以下描述的侧面棱线边缘P4的延伸方向理解为一对侧面棱线边缘P4的延伸方向的二等分线所表示的方向即可。
在图8的例子中,由虚线示出拍摄图像IM11中的与片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界对应的边界边缘P3。换言之,边界边缘P3是与主面区域Ra和侧面区域Rc之间的边界对应的边缘。边界边缘P3理想地具有向与主面外侧边缘P2相反的一侧凸起的半椭圆形状。一组主面外侧边缘P2以及边界边缘P3对应于片剂9的主面9aa的周缘,理想地呈椭圆形状。以下,也将一组主面外侧边缘P2以及边界边缘P3称为主面边缘P23。
再次参照图7,在步骤S4中,控制部8从在步骤S3中确定出的片剂边缘P0提取侧面外侧边缘P1以及主面外侧边缘P2。例如控制部8将片剂边缘P0中沿着预定方向D1(=侧面棱线边缘P4的延伸方向)延伸的边缘确定为侧面棱线边缘P4。而且,控制部8将从片剂边缘P0除去了侧面棱线边缘P4后的2个边缘中位于预定侧(图中为右上侧)的一方确定为侧面外侧边缘P1,将另一方确定为主面外侧边缘P2。
接下来,在步骤S5中,控制部8从边缘图像确定出边界边缘P3。例如,考虑边界边缘P3的形状与侧面外侧边缘P1的形状的类似性,如以下说明那样确定出边界边缘P3。
首先,对边界边缘P3与侧面外侧边缘P1的几何学关系进行描述。边界边缘P3以及侧面外侧边缘P1具有向相同侧凸起的半椭圆形状。另外,这里,片剂9不那么厚,所以能够认为边界边缘P3以及侧面外侧边缘P1具有几乎相同形状。换句话说,边界边缘P3存在于使侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧平行移动侧面棱线边缘P4的长度后的区域。侧面棱线边缘P4的长度根据片剂9的厚度以及摄像头5的内部构成的配置预先决定,所以若确定出侧面外侧边缘P1,则能够推断存在边界边缘P3的区域。
对此,控制部8搜索与侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧分离预定距离的搜索区域R1(也参照图9)内的像素确定出边界边缘P3。图9是示意性地表示搜索区域R1的一个例子的图。在对该搜索区域R1的一个例子进行说明时,导入该搜索区域R1的中心线L0和形成搜索区域R1的轮廓的线L1~L4。
中心线L0是使侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧移动侧面棱线边缘P4的长度的线。此外,在图9的例子中,由一个曲线示出中心线L0和边界边缘P3,实际上这些可能不同。
线L1、L2是使中心线L0沿着预定方向D1相互向相反的一侧移动预定宽度的线。在图9中,线L1比线L2更接近侧面外侧边缘P1。线L3、L4沿着预定方向D1延伸,分别连结线L1、L2的两端。搜索区域R1是由一组这些线L1~L4围起的区域。
以下,为了方便说明,将在搜索区域R1中沿着预定方向D1排列的像素组称为“行”。
图10是表示控制部8的搜索处理的一个例子的流程图。首先,在步骤S51中,控制部8将值N、M分别初始化为1。值N表示搜索区域R1内的行的编号,值M表示属于该行的像素的编号。第1个像素是线L1上的像素,第M个像素是在各行中第(M-1)个像素的相邻的像素。
接下来,在步骤S52中,控制部8判断边缘图像的搜索区域R1内的第N行第M个像素是否表示边缘。在做出否定判断时,在步骤S53中,控制部8对值M加1并更新值M,使用更新后的值M再次执行步骤S52。换句话说,若不能检测表示边缘的像素(以下,也称为边缘像素),则对下个像素进行相同的判断。
在步骤S52中做出肯定判断时,在步骤S54中,控制部8将该像素视为边界边缘P3的构成要素。接下来,在步骤S55中,控制部8对值N加1并更新值N,将值M初始化为1。接下来,在步骤S56中,控制部8判断值N是否大于基准值Nref。基准值Nref是搜索区域R1所包含的行的总数。换句话说,控制部8判断是否搜索了全部的行。在判断为未搜索全部的行时,控制部8再次执行步骤S52。当判断为搜索了全部的行时,控制部8结束搜索处理。
如以上所述,控制部8在搜索区域R1内的各行从线L1依次选择像素,将最初检测到的边缘像素确定为边界边缘P3的构成要素。此外,在图9的例示中,由搜索区域R1内的实线箭头示意性地示出像素的搜索方向,箭头的终点表示边界边缘P3的构成要素。
控制部8将一组在步骤S4中确定出的主面外侧边缘P2以及在步骤S5中确定出的边界边缘P3确定为主面边缘P23。
如以上所述,根据本实施方式,能够适当并且容易地得到主面边缘P23。
然而,该主面边缘P23与拍摄图像IM11中的片剂9的主面9aa的周缘对应,但实际检测到的主面边缘P23不一定呈理想的椭圆形状。例如存在照射到片剂9的主面9a的周缘附近的光产生不均,或者,从该周缘附近的一部分单向反射的光在检查照相机51成像,一部分的像素值与其他的像素值相比具有非常大的值的情况。或者,也有在该周缘附近产生缺陷的情况。在这样的情况下,主面边缘P23可能与理想的椭圆形状不同。
对此,在步骤S6中,控制部8基于椭圆的函数,计算近似于主面边缘P23的近似线(椭圆)作为主面区域Ra的轮廓。若更一般地说明,则控制部8基于预先决定为拍摄图像IM11中的主面区域Ra的轮廓的形状的基准函数,计算主面边缘P23的近似线作为主面区域Ra的轮廓。这里所说的基准函数是指表示主面区域Ra的轮廓的形状的函数且其位置以及大小为变量的函数。若是椭圆的函数,则例如能够采用其长轴的长度、短轴的长度、长轴的延伸方向、以及中心等作为变量。控制部8例如通过最小平方法计算近似于主面边缘P23的椭圆E1(更具体而言,其长轴的长度、短轴的长度、长轴的延伸方向以及中心)。
如以上所述,基于表示主面区域Ra的轮廓的函数计算主面边缘P23的近似线作为主面区域Ra的轮廓,所以能够以更高精度确定出主面区域Ra的轮廓。另外,在上述的具体例中,片剂9具有大致圆盘形状。换句话说,片剂9的主面9a具有大致圆形状。因此,在拍摄图像IM11中,主面9aa的周缘理想地具有椭圆形状。与此对应,椭圆的函数被用作表示主面区域Ra的轮廓的函数。因此,能够适当地确定出主面区域Ra的轮廓。
以下,也将在其长轴上分割椭圆E1而得到的2个半椭圆中侧面9ca侧的半椭圆称为半椭圆E11。该半椭圆E11相当于边界边缘P3的近似线。
接下来,在步骤S7中,控制部8基于椭圆E1计算近似于侧面外侧边缘P1的近似线(半椭圆)。例如控制部8使椭圆E1沿着预定方向D1移动并且使用莱文贝格-马夸特(LM)法计算沿着侧面外侧边缘P1的椭圆E2。该椭圆E2相当于片剂9的主面9b的周缘。因此,控制部8将该椭圆E2在其长轴上分割,求出所得到的2个半椭圆中位于比边界边缘P3较远的一方的半椭圆E21作为侧面外侧边缘P1的近似线。
控制部8也可以在该椭圆E2的计算时使椭圆E1以预定比例缩小。是因为在如拍摄图像IM11那样的立体图中,片剂9的主面9b的周缘与片剂9的主面9a的周缘相比以预定比例变小。该预定比例根据片剂9的厚度预先设定。
此外,控制部8不必需要基于椭圆E1计算椭圆E2,从椭圆E2计算半椭圆E21。例如控制部8也可以从椭圆E1求出半椭圆E11,使该半椭圆E11沿着预定方向D1移动并且使用LM法计算半椭圆E21。另外,在半椭圆E21的计算中可以以固定比例缩小半椭圆E11。
控制部8计算分别连结半椭圆E11、E21的两端的一对直线,并将半椭圆E11、E21以及该一对直线视为片剂9的侧面9ca占据的侧面区域Rc的轮廓。
采用这样近似于边界边缘P3以及侧面外侧边缘P1的近似线(半椭圆E11,E21)作为侧面区域Rc的轮廓的一部分,所以能够以更高精度确定出侧面区域Rc。
接下来,在步骤S8中,控制部8对拍摄图像IM11中的主面区域Ra以及侧面区域Rc进行检查处理(图像处理)。以下,对检查处理的具体例进行描述。
<第1检查处理(边缘强度处理)>
那么,在拍摄图像IM11中缺陷d1(参照图6)占据的区域与该缺陷d1的周围的区域的边界部中,像素间的像素值之差变大。相同地,在拍摄图像IM11中缺陷d2占据的区域与该缺陷d2的周围的区域的边界部中,像素间的像素值之差变大。
对此,控制部8也可以如以下那样检测缺陷。即,控制部8对拍摄图像IM11的主面区域Ra以及侧面区域Rc进行边缘强度处理并生成边缘强度图像。此外,如上述那样,在边缘图像的生成的中途已经生成边缘强度图像的情况下,使用该边缘强度图像即可。
控制部8按像素判断边缘强度图像的主面区域Ra中的像素值是否大于阈值(以下,称为缺陷阈值)Th1,在做出肯定判断时,判断为该像素表示缺陷的轮廓。该像素位于主面区域Ra内,所以控制部8也可以判断为在片剂9的主面9a产生缺陷。对于侧面区域Rc也相同。由此,能够检测缺陷d1、d2。
优选该缺陷阈值Th1在拍摄图像IM11的主面区域Ra以及侧面区域Rc中相互独立地设定。以下,描述其理由。
例如存在片剂9的表面状态(例如表面粗糙度)在主面9a以及侧面9c中不同的情况。例如在片剂9的主面9a的表面粗糙度比侧面9c的表面粗糙度小的情况下,拍摄图像IM11的主面区域Ra内的亮度成分的像素间的差别比侧面区域Rc内的亮度成分的差别小。该像素间的差别在边缘强度图像中被定量化为各像素的像素值。因此,若片剂9合格,则边缘强度图像的主面区域Ra内的像素的值的最大值Ma比边缘强度图像的侧面区域Rc内的像素的值的最大值Mc小。
这里,考虑对主面区域Ra以及侧面区域Rc设定共通的缺陷阈值Th1。若例如根据侧面区域Rc将缺陷阈值Th1设定为比最大值Mc大的值,则对主面区域Ra不必要地设定较大的值。由此,可能在针对片剂9的主面9a的缺陷检测产生遗漏。相反,若根据主面区域Ra将缺陷阈值Th1设定为较小的值,则可能将片剂9的侧面9c的表面粗糙度误检测为缺陷。
对此,对主面区域Ra以及侧面区域Rc相互独立地设定缺陷阈值Th1。在上述的例子中,将针对映现有表面粗糙度较小的主面9a的主面区域Ra的缺陷阈值Th1(以下,称为缺陷阈值Th11)设定为比针对映现有表面粗糙度较大的侧面9c的侧面区域Rc的缺陷阈值Th1(以下,称为缺陷阈值Th12)小。换句话说,控制部8对主面区域Ra以及侧面区域Rc分别执行使用相互不同的缺陷阈值Th1的检查处理。
更具体而言,控制部8判断边缘强度图像的主面区域Ra的各像素的值是否大于缺陷阈值Th11。换言之,控制部8判断对主面区域Ra进行边缘强度处理得到的各像素的值是否大于缺陷阈值Th11。控制部8在判断为某像素的值大于缺陷阈值Th11时,判断为该像素表示缺陷的轮廓,判断为在片剂的主面9a产生缺陷。
此外,控制部8也可以对主面区域Ra内的全部像素进行上述判断检测全部的缺陷。或者,若仅判断片剂9的缺陷的有无,则在检测到一个缺陷时,可以省略剩余的像素的上述判断。该点在以下描述的检查处理中也相同。
另外,控制部8判断边缘强度图像的侧面区域Rc的各像素的值是否大于比缺陷阈值Th11大的缺陷阈值Th12。换言之,控制部8判断对侧面区域Rc进行边缘强度处理而得到的各像素的值是否大于缺陷阈值Th12。控制部8在判断为某像素的值大于缺陷阈值Th12时,判断为该像素表示缺陷的轮廓,判断为在片剂的侧面9c产生缺陷。
由此,能够抑制主面区域Ra以及侧面区域Rc中的缺陷遗漏以及缺陷的误检测,以较高的精度检测缺陷。
缺陷阈值Th1也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。或者,控制部8也可以根据判断为合格的片剂9的主面区域Ra以及侧面区域Rc的像素值,自动地设定缺陷阈值Th1。具体而言,例如控制部8也可以采用比判断为合格的片剂9的侧面区域Rc中的最大值Mc大预定值的值作为针对侧面区域Rc的缺陷阈值Th11。相同地,控制部8也可以采用比判断为合格的片剂9的主面区域Ra中的最大值Ma大预定值的值作为针对主面区域Ra的缺陷阈值Th12。
此外,在片剂9的主面9a的表面粗糙度比侧面9c的表面粗糙度大的情况下,将针对主面区域Ra的缺陷阈值Th11设定为比针对侧面区域Rc的缺陷阈值Th12大即可。
<第2检查处理>
控制部8也可以代替上述的第1检查处理、或者与第1检查处理一起,进行以下描述的第2检查处理。
那么,在缺陷d1、d2例如是黑色系的附着物的情况下,与该缺陷d1、d2对应的区域的像素值比其他的区域的像素值小。因此,控制部8也可以如以下那样检测缺陷。即,控制部8按像素判断拍摄图像IM11的主面区域Ra中的像素值是否小于缺陷阈值Th2,当做出肯定判断时,判断为该像素表示缺陷。该像素位于主面区域Ra内,所以控制部8也可以判断为在片剂9的主面9a产生缺陷。对侧面区域Rc也相同。由此,能够检测缺陷d1、d2。
优选该缺陷阈值Th2也对主面区域Ra以及侧面区域Rc相互独立地设定。以下,描述其理由。
存在拍摄图像IM11的主面区域Ra内的亮度(亮度的平均)与侧面区域Rc内的亮度不同的情况。这是因为,针对片剂9的主面9a以及侧面9c的光的照射方式可能不同。以下,以主面区域Ra比侧面区域Rc亮的情况为代表进行说明。
首先,考虑对拍摄图像IM11中的主面区域Ra以及侧面区域Rc设定共通的缺陷阈值Th2。该情况下,若为了抑制在侧面区域Rc中仅将较暗的部分误检测为缺陷而减小缺陷阈值Th2,则可能在较亮的主面区域Ra中产生检测遗漏。相反,若为了抑制主面区域Ra中的检测遗漏,而增大缺陷阈值Th2,则可能在侧面区域Rc中仅将较暗的部分误检测为缺陷。
对此,对拍摄图像IM11中的主面区域Ra以及侧面区域Rc相互独立地设定缺陷阈值Th2。在上述的例子中,将针对映现有较亮的主面9a的主面区域Ra的缺陷阈值Th2(以下,称为缺陷阈值Th21)设定为比针对映现有较暗的侧面9c的侧面区域Rc的缺陷阈值Th2(以下,称为缺陷阈值Th22)大。换句话说,控制部8对拍摄图像IM11中的主面区域Ra以及侧面区域Rc分别执行使用相互不同的缺陷阈值Th2的检查处理。
更具体而言,控制部8判断拍摄图像IM11的主面区域Ra的各像素的值是否小于缺陷阈值Th21。控制部8在判断为某像素的值小于缺陷阈值Th21时,判断为该像素表示缺陷,判断为在片剂的主面9a产生缺陷。
另外,控制部8判断为拍摄图像IM11的侧面区域Rc的各像素的值是否小于比缺陷阈值Th21小的缺陷阈值Th22。控制部8在判断为某像素的值小于缺陷阈值Th22时,判断为该像素表示缺陷,判断为在片剂的侧面9c产生缺陷。
由此,能够抑制主面区域Ra以及侧面区域Rc中的缺陷遗漏以及缺陷的误检测,以较高的精度检测缺陷。
缺陷阈值Th2例如也可以预先设定,或者,也可以根据判断为合格的片剂9的主面区域Ra以及侧面区域Rc的亮度设定。在后者的情况下,例如控制部8也可以采用比判断为合格的片剂9的拍摄图像IM11的侧面区域Rc中的像素值的最小值小预定值的值作为针对侧面区域Rc的缺陷阈值Th21,采用比主面区域Ra中的像素值的最小值小预定值的值作为针对主面区域Ra的缺陷阈值Th22。
此外,在主面区域Ra比侧面区域Rc暗的情况下,将针对主面区域Ra的缺陷阈值Th21设定为比针对侧面区域Rc的缺陷阈值Th22小即可。
另外,在上述的例子中,对主面区域Ra以及侧面区域Rc以不同的阈值进行相同种类的检查处理,但也可以对主面区域Ra以及侧面区域Rc进行不同种类的检查处理。
另外,在上述的例子中,对整个侧面区域Rc进行检查处理,但也可以将侧面区域Rc中的分别接近一对侧面棱线边缘P4的两端区域从检查处理的对象排除。是因为两端区域中的侧面9c的表面状态难以在拍摄图像IM11中视觉确认。
另外,在上述的例子中,说明了搜索区域R1的中心线L0是使侧面外侧边缘P1移动而得到的线,但也可以在该移动时以预定倍率放大侧面外侧边缘P1。严格来说,是因为边界边缘P3比侧面外侧边缘P1大预定倍率。
另外,在上述的例子中,对从一个方向观察的片剂9的拍摄图像进行了说明,但也可以对从多个方向观察到的片剂9的拍摄图像进行相同的处理。
第2实施方式.
在第1实施方式中,将在搜索区域R1的各行中的搜索中最初检测到的边缘像素视为边界边缘P3的构成要素。该情况下,若在拍摄图像IM11中在片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界产生缺陷,椭圆E1的计算精度可能降低。以下,进行具体说明。
图11是示意性地表示在片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界产生缺口时的边缘图像中的边缘的一个例子的图。如图11所例示那样,沿着在片剂9产生的缺口的轮廓检测到边缘P’。在图11的例示中,由粗线示意性地示出边缘P’。根据第1实施方式中描述的搜索处理,边缘P’中的线L1侧的边缘上的像素被视为边界边缘P3的构成要素。在图11的例子中,示意性地用黑圈示出视为边界边缘P3的构成要素的几个像素。换句话说,边界边缘P3的构成要素在边缘P’中偏向线L1侧的边缘Pc’。因此,近似于边界边缘P3的半椭圆E11容易从片剂9的主面9aa的周缘偏离。换句话说,主面区域Ra的确定精度可能降低。
在第2实施方式中,目的在于进一步提高主面区域Ra的确定精度。具体而言,目的在于着眼于拍摄图像IM11中的缺陷区域的像素值的分布,以边界边缘P3的构成要素分散于边缘P’中的边缘Pc’和线L2侧的边缘Pa’的方式确定出边界边缘P3。
第2实施方式所涉及的片剂检查装置1的构成与第1实施方式相同。但是,控制部8对边界边缘P3的确定方法与第1实施方式不同。
那么,片剂9的缺口的表面与主面9a以及侧面9c的表面粗糙度相比较粗,拍摄图像IM11中的缺陷区域内的亮度成分产生偏差。因此,在缺陷区域的轮廓(边缘P’)中亮度成分也产生偏差。因此,拍摄图像IM11中的边缘Pa’上的像素值也在一定范围内产生偏差,边缘Pc’上的像素值也在相同的范围内产生偏差。
对此,控制部8搜索边缘图像的搜索区域R1内的像素且对应的拍摄图像IM11中的像素值大于预定阈值(以下,称为亮度阈值)的像素。该亮度阈值根据片剂9的主面9aa的亮度预先设定。例如亮度阈值预先设定为上述范围内的值。这样的亮度阈值例如能够通过模拟或者实验等设定。亮度阈值例如也可以存储于控制部8的存储介质。以下,对具体的动作的一个例子进行说明。
图12是表示控制部8所进行的搜索处理的一个例子的流程图。与图10比较,控制部8还执行步骤S57。该步骤S57在步骤S52中做出肯定判断时被执行。在步骤S57中,控制部8判断拍摄图像IM11的搜索区域R1中的第N行第M个像素的像素值是否大于亮度阈值。
当在步骤S57中做出否定判断时,控制部8执行步骤S53,当做出肯定判断时,控制部8执行步骤S54。
由此,即使是搜索区域R1内的边缘像素,在与该边缘像素对应的拍摄图像IM11的像素的像素值小于亮度阈值的情况下,该边缘像素不被视为边界边缘P3的构成要素,在拍摄图像IM11的该像素的像素值大于亮度阈值的情况下,该边缘图像被视为边界边缘P3的构成要素。
其结果是,被视为边界边缘P3的构成要素的像素在边缘P’上分散。图13是示意性地表示在片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界产生缺口时的边缘图像中的边缘的一个例子的图。在图13的例子中,示意性地用黑圈表示被视为边界边缘P3的几个像素。如图13中例示那样,该像素被分散于边缘P’的边缘Pa’、Pc’。换言之,以被视为边界边缘P3的像素在边缘P’中不偏向一方侧的方式设定亮度阈值。作为更具体的一个例子,在片剂9的主面9aa的亮度(例如像素值(或者亮度值)的平均值、中央值、最大值或者最小值等,以下,相同)比片剂9的侧面9ca的亮度高的情况下,采用主面9aa的亮度作为该亮度阈值,在片剂9的主面9aa的亮度比片剂9的侧面9ca的亮度低的情况下,采用侧面9ca的亮度作为该亮度阈值。
近似于这样的边界边缘P3的半椭圆E11为更接近片剂9的主面9aa的周缘的半椭圆。进而,能够以更高精度确定出主面区域Ra。
第3实施方式.
第3实施方式所涉及的片剂检查装置1的构成与第1实施方式相同。但是,控制部8将拍摄图像IM11中的主面区域Ra分割成多个区域。
图14是示意性地表示作为片剂9的另一个例子的片剂9A的一个例子的图。在片剂9A的主面9a形成有割线91。割线91是通过主面9a的中心从主面9a的端部到端部呈直线状延伸的槽。
在拍摄这样的片剂9A的拍摄图像IM11’(参照图15)中,在相当于割线91的区域中与其他的区域相比像素值之差较大。因此,能够将割线91误检测为缺陷。
对此,在第3实施方式中,目的在于,将主面区域Ra分割成割线区域和非割线区域,对各区域独立地设定缺陷阈值Th1(或者缺陷阈值Th2)。
此外,在图14的例子中,片剂9的主面9a具有周缘部9a1以及中央部9a2。主面9a的中央部9a2除了割线91以外均是平坦的,周缘部9a1以中央部9a2相对于周缘部9a1凸起的方式倾斜。
在拍摄这样的片剂9A的拍摄图像IM11’中,在周缘部9a1与中央部9a2之间的边界附近的区域中与其他的区域相比像素间的像素值之差较大,能够将该边界误检测为缺陷。
对此,这里,目的在于,控制部8将主面区域Ra分割成割线区域、周缘区域以及中央区域,对各区域独立地设定缺陷阈值Th1(或者缺陷阈值Th2)。
图15是示意性地表示主面区域Ra的分割例的图。如图15所例示那样,控制部8将主面区域Ra分割成割线区域Ra1、一对周缘区域Ra2、以及一对中央区域Ra3。在图15的例子中,由虚线示出割线区域Ra1、周缘区域Ra2以及中央区域Ra3的相互的边界。割线区域Ra1是包括割线91的区域,周缘区域Ra2是割线区域Ra1以外的区域,是包括片剂9的周缘部9a1与中央部9a2的边界的区域。中央区域Ra3是既不是割线区域Ra1也不是周缘区域Ra2的区域。周缘区域Ra2以及中央区域Ra3是不包括割线区域Ra1的区域,所以一组周缘区域Ra2以及中央区域Ra3构成非割线区域。
图16是表示第3实施方式所涉及的片剂检查装置1的动作的一个例子的流程图。步骤S11~S17分别与步骤S1~S7相同,所以省略详细说明。
在步骤S17的下个步骤S18中,控制部8将主面区域Ra分割成割线区域Ra1、周缘区域Ra2以及中央区域Ra3。以下,进行具体说明。
首先,控制部8将椭圆E1的中心作为缩小中心以预定的第1比例缩小椭圆E1来计算椭圆E3。第1比例可以预先设定并存储于控制部8的存储介质。第1比例例如为1/2以下,作为更具体的一个例子是3分之1。而且,控制部8对边缘图像中一组椭圆E3内的边缘求出图像力矩,并求出该一组边缘的延伸方向。该一组边缘主要由与割线91对应的边缘构成,所以能够理解为椭圆E3内的一组边缘的延伸方向是割线91的延伸方向。简单来说,将该一组边缘视为椭圆,将该椭圆的长轴的倾斜理解为割线91的延伸方向即可。以下的式子示出椭圆的长轴相对x轴的角度θ。这里所说的x轴是拍摄图像IM11’的横向,y轴是拍摄图像IM11’的纵向。
[数1]
(x,y)表示边缘图像的椭圆E3内的各边缘像素的坐标,θ表示椭圆的长轴与x轴之间的角度。式(1)~式(3)分别表示x轴方向的分散、y轴方向的分散、xy轴的协方差。
控制部8将从与计算出的割线91的延伸方向平行的直线且通过椭圆E1的中心的直线分别向两侧扩大了预定宽度的区域确定为割线区域Ra1。预定宽度也可以被预先设定,存储于控制部8的存储介质。割线区域Ra1是从主面区域Ra的端部延伸到端部的区域。
接下来,控制部8将椭圆E1的中心作为缩小中心以预定的第2比例缩小椭圆E1来计算椭圆E4。第2比例大于第1比例,以椭圆E4比主面9aa的周缘部9a1与中央部9a2的边界靠内侧的方式设定。该第2比例也可以存储于控制部8的存储介质。控制部8将椭圆E4内的区域中割线区域Ra1以外的区域确定为一对中央区域Ra3。
接下来,控制部8将从主面区域Ra除去割线区域Ra1以及一对中央区域Ra3整体后的区域确定为一对周缘区域Ra2。
接下来,在步骤S19中,控制部8对主面区域Ra以及侧面区域Rc分别进行图像处理以进行检查处理。关于侧面区域Rc与第1实施方式相同。
关于主面区域Ra,对割线区域Ra1、周缘区域Ra2以及中央区域Ra3分别采用不同的缺陷阈值Th1。此外,这里,在片剂9的主面9a中周缘部9a1与中央部9a2之间的边界所成的角部比割线91的角部平缓。该情况下,例如将针对割线区域Ra1的缺陷阈值Th1设定为比针对非割线区域(周缘区域Ra2以及中央区域Ra3)的缺陷阈值Th1高。另外,在非割线区域中,将针对周缘区域Ra2的缺陷阈值Th1设定为比针对中央区域Ra3的缺陷阈值Th1高。
如以上所述,将针对割线区域Ra1的缺陷阈值Th1设定为最高,将针对周缘区域Ra2的缺陷阈值Th1设定为第二高,将针对中央区域Ra3的缺陷阈值Th1设定为最低。
控制部8在边缘强度图像的割线区域Ra1中的各像素的像素值大于割线区域Ra1的缺陷阈值Th1时,判断为在割线区域Ra1中产生缺陷。对非割线区域(一组周缘区域Ra2以及中央区域Ra3)也相同。具体而言,控制部8在边缘强度图像的周缘区域Ra2中的各像素的像素值大于周缘区域Ra2的缺陷阈值Th1时,判断为在周缘区域Ra2中产生缺陷。另外,控制部8在边缘强度图像的中央区域Ra3中的各像素的像素值大于中央区域Ra3的缺陷阈值Th1时,判断为在中央区域Ra3中产生缺陷。
由此,能够与第1实施方式相同地,抑制各区域中缺陷遗漏以及缺陷的误检测,并以较高的精度检测缺陷。
<搜索>
在图14的例子中,在片剂9A的主面9a形成有割线91,另外,周缘部9a1和中央部9a2形成钝角的角。因此,即使片剂9A合格,在边缘图像的主面区域Ra内也包含有边缘。另一方面,若片剂9A合格,则在片剂9A的侧面9c未形成有角部,所以在边缘图像的侧面区域Rc内未形成边缘。因此,在边界边缘P3的确定中,如第1实施方式中描述那样,控制部8可以在搜索区域R1从侧面外侧边缘P1朝向主面外侧边缘P2的方向上搜索像素。由此,能够避免将与周缘部9a1和中央部9a2的边界对应的边缘、以及与割线91对应的边缘误检测为边界边缘P3。
第4实施方式.
存在垃圾等异物进入拍摄装置(例如摄像头5)的内部,例如附着于透镜等的情况。该情况下,即使实际在片剂9没有产生缺陷,也有在拍摄图像IM1中该异物与片剂重叠拍摄的情况。该情况下,该异物被误检测为缺陷。
另外,也存在构成照相机的拍摄面的多个受光元件中的几个受光元件发生故障的情况。与发生故障的受光元件对应的像素的像素值未表示正常值而例如为零。该像素在拍摄图像中位于片剂的内部的情况下,即使实际上在片剂9没有产生缺陷,该像素也被误检测为缺陷。
对此,在第4实施方式中,目的在于提供能够抑制缺陷的误检测的片剂检查方法以及片剂检查装置。
第4实施方式所涉及的片剂检查装置1的构成的一个例子与第1实施方式相同。此外,在第1实施方式中,摄像头5不必需要从多个拍摄方向拍摄片剂9,但在第4实施方式中,摄像头5必须从多个拍摄方向拍摄片剂9。另外,第4实施方式所涉及的控制部8的功能以及动作如以后详述那样与第1实施方式不同。
图17是示意性地表示拍摄图像IM1的一个例子的图。在拍摄图像IM1包含有分别拍摄从4个拍摄方向观察到的片剂9的外观的4个图像IM11~IM14,这些图像的任一个中,均映现有片剂9的主面9a以及侧面9c。这里,从4个方向拍摄片剂9,所以能够遍及整周拍摄片剂9的侧面9c。
在图17的例示中,片剂9的主面9a的整个区域在4个图像IM11~IM14(相当于检查图像)的任一个图像中均拍摄到。因此,主面9a是在图像IM11~IM14中共通拍摄到的共通面。另一方面,在片剂9的侧面9c中,与拍摄方向对应的区域分别在图像IM11~IM14中拍摄到。另外,在图17的例子中,在拍摄图像IM1映现有缺陷候补dA1、dA2。这里所说的缺陷候补是指有可能是片剂9的缺陷的候补。
在图17的例子中,该缺陷候补dA1在图像IM11~IM14的任一个中均共同拍摄到,所以可以说是在片剂9产生的缺陷。另一方面,缺陷候补dA2仅在一个图像IM12中拍摄到,其他的图像IM11、IM13、IM14中未拍摄到。可以说该缺陷候补dA2不是在片剂9产生的缺陷,而是由于摄像头5而产生的。例如,认为缺陷候补dA2示出透镜组52、镜53或者角锥型镜54的异常(例如附着物)、或者检查照相机51的拍摄面的异常。因此,不优选将缺陷候补dA2作为片剂9的缺陷检测。
<检查>
图18是表示片剂检查装置1中的动作的一个例子的流程图。首先,在步骤SA1中,摄像头5从多个拍摄方向拍摄搬运中途的片剂9,生成拍摄图像IM1。摄像头5将该拍摄图像IM1向控制部8输出。
接下来,在步骤SA2中,控制部8对拍摄图像IM1进行检查处理(图像处理)。换句话说,控制部8对图像IM11~IM14进行检查处理。
该检查处理的具体的例子以后描述,这里,首先对其概要进行简单说明。例如,作为检查处理,控制部8进行确定处理以及候补检测处理。确定处理是在各图像IM11~IM14在确定出片剂9占据的片剂区域的处理。由此,在图像IM11~IM14各个图像中确定出片剂区域的位置以及形状。
候补检测处理是在各图像IM11~IM14中检测缺陷候补的处理。候补检测处理例如包括基于各图像IM11~IM14的各像素的像素值辨别该像素是否是表示缺陷候补的像素的处理,检测缺陷候补作为其辨别结果。
通过上述确定处理,确定出各图像IM11~IM14中的片剂9的片剂区域,通过上述候补检测处理,确定出各图像IM11~IM14中的缺陷候补的位置,所以在各图像IM11~IM14中确定出针对片剂区域的缺陷候补的位置。换句话说,该片剂9上的缺陷候补的位置按图像IM11~IM14确定。因此,该检查处理可以说是检测针对片剂区域的缺陷候补的位置的处理。
接下来,在步骤SA3中,控制部8基于图像IM11~IM14的检查处理的结果来进行缺陷真伪处理。缺陷真伪处理是判断通过检查处理检测到的缺陷候补是否表示片剂9的缺陷,换句话说,判断缺陷候补的真伪的处理。具体而言,控制部8在通过检查处理,在图像IM11~IM14的任一个中拍摄到的片剂9的区域(例如主面9a)中,在图像IM11~IM14的图像中检测到共通的缺陷候补(例如缺陷候补dA1)时,判断为在片剂9产生缺陷。另一方面,控制部8在通过检查处理,仅在图像IM11~IM14的该区域中的一个检测到缺陷候补(例如缺陷候补dA2)时,判断为该缺陷候补不是在片剂9产生的缺陷。
该缺陷真伪处理的具体的例子也以后描述,这里,首先对其概要进行简单说明。例如,控制部8求出图像IM11~IM14中的片剂区域内的各像素的几何学对应关系。换句话说,控制部8求出拍摄到片剂9上的相同的点的像素的对应关系。接下来,控制部8基于该对应关系判断在图像IM11~IM14中缺陷候补是否共通。具体而言,基于该对应关系对比缺陷候补的位置。控制部8在该位置在图像IM11~IM14中相互对应时,判断为在片剂9产生缺陷,在不相互对应时,判断为该缺陷候补不是在片剂9产生的缺陷。
此外,即使在4个图像IM11~IM14中全部未检测到共通的缺陷候补,在2个以上的图像检测到共通的缺陷候补时,也不能排除该缺陷候补是片剂9的缺陷的可能性。因此,控制部8也可以在图像IM11~IM14中的至少两个检测到共通的缺陷候补时,判断为在片剂9产生缺陷。由此,能够避免将有可能存在缺陷的片剂9判断为合格。
如以上所述,根据片剂检查装置1,只要在图像IM11~IM14的至少两个中未检测到共通的缺陷候补,就不将该缺陷候补视为缺陷。因此,能够抑制缺陷检测时的虚报。
<检查处理的具体例>
图19是表示检查处理的具体的一个例子的流程图。这里,以针对一个图像IM12的检查处理的一个例子作为代表进行说明。其他的图像IM11、IM13、IM14的检查处理也相同。
在对针对该图像IM12的检查处理进行说明时,首先定义图像IM12内的各区域。图20是示意性地表示图像IM12的一个例子的图。这里,导入片剂区域TR、背景区域BR、主面区域Ra以及侧面区域Rc。片剂区域TR是在图像IM12中片剂9占据的区域。背景区域BR是图像IM12中片剂区域TR以外的区域。主面区域Ra是在图像IM12中片剂9的主面9a占据的区域,侧面区域Rc是在图像IM12中片剂9的侧面9c占据的区域。主面区域Ra以及侧面区域Rc构成片剂区域TR。图像IM11、IM13、IM14也相同地定义各区域。以下,为了将在图像IM12拍摄到的片剂9的主面9a以及侧面9c与实际的片剂9的主面9a以及侧面9c区别,而分别称为主面9aa以及侧面9ca。
作为上述确定处理,控制部8执行步骤SA21~SA26。这里,控制部8确定出构成片剂区域TR的主面区域Ra以及侧面区域Rc。首先,在步骤SA21中,控制部8与图7的步骤S2相同地,对图像IM12进行边缘检测处理,并生成边缘图像。
接下来,在步骤SA22中,控制部8与图7的步骤S3相同地,确定出与片剂区域TR的轮廓对应的片剂边缘P0(参照图21)。图21是示意性地表示片剂边缘P0的一个例子的图。在图21的例子中,也与图8相同地,片剂边缘P0被分割成多个边缘来示出。此外,在图21的例子中,与图8不同,由虚线示出与割线91对应的割线边缘P5。
再次参照图19,在步骤SA23中,控制部8与图7的步骤S4相同地,从在步骤SA22中确定出的片剂边缘P0提取侧面外侧边缘P1以及主面外侧边缘P2。
接下来,在步骤SA24中,控制部8与图7的步骤S5相同地,在边缘图像中确定出边界边缘P3。例如与第1实施方式相同地,控制部8搜索从侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧分离预定距离的搜索区域R1(也参照图22)内的像素确定出边界边缘P3。图22是示意性地表示搜索区域R1的一个例子的图。此外,在图22中,也示出割线边缘P5的一部分。控制部8所进行的搜索处理的一个例子与图10的流程图相同,所以这里不再反复说明。
根据该搜索处理,割线边缘P5上的像素不被确定为边界边缘P3的构成要素。这是因为,割线边缘P5相对于边界边缘P3位于主面外侧边缘P2侧时,控制部8在搜索区域R1从线L1侧向线L2侧(换句话说,从侧面外侧边缘P1向主面外侧边缘P2侧)搜索。换句话说,根据该搜索处理,控制部8能够在搜索割线边缘P5的像素之前确定出边界边缘P3的构成要素。换句话说,能够避免将割线边缘P5误检测为边界边缘P3。
控制部8将在步骤SA23中确定出的主面外侧边缘P2以及在步骤SA24中确定出的边界边缘P3的一组确定为主面边缘P23。
接下来,在步骤SA25中,控制部8与图7的步骤S6相同地,基于椭圆的函数,计算近似于主面边缘P23的近似线(椭圆)作为主面区域Ra的轮廓。控制部8例如通过最小平方法计算近似于主面边缘P23的椭圆E1(更具体而言,其长轴的长度、短轴的长度、长轴的延伸方向以及中心)。该椭圆E1例如也可以是由拍摄图像IM1(或者图像IM12)的坐标系表示的式
如以上所述,基于表示主面区域Ra的轮廓的函数计算主面边缘P23的近似线作为主面区域Ra的轮廓,所以能够更高精度地确定出主面区域Ra的轮廓。进而,能够高精度地确定相对于主面区域Ra的缺陷候补的位置。
接下来,在步骤SA26中,控制部8确定出侧面区域Rc的轮廓。该处理是与图7的步骤S7相同的处理。
接下来,在步骤SA27中,控制部8对图像IM12进行候补检测处理。候补检测处理能够利用在第1实施方式中描述的第1检查处理以及第2检查处理。以下,对候补检测处理的具体例进行描述。
<第1候补检测处理(边缘强度处理)>
在图像IM12中缺陷候补dA1、dA2(参照图20)占据的区域与该缺陷候补dA1、dA2的周围的区域的边界部中,像素间的像素值之差变大。因此,控制部8也可以如以下那样检测缺陷候补。即,控制部8对删除了背景区域BR的图像IM12进行边缘强度处理生成边缘强度图像。此外,在边缘图像的生成的中途已经生成边缘强度图像的情况下,使用该边缘强度图像即可。
控制部8按像素判断边缘强度图像的像素值是否大于阈值Th1,在做出肯定判断时,判断为该像素表示缺陷候补的轮廓。由此,能够检测缺陷候补dA1、dA2。阈值Th1也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。
<第2候补检测处理>
控制部8也可以代替上述的第1候补检测处理、或者与第1候补检测处理一起,进行以下描述的第2候补检测处理。
那么,在缺陷候补dA1、dA2是例如黑色系的附着物的情况下,与该缺陷候补dA1、dA2对应的区域的像素值比其他的区域的像素值小。因此,控制部8也可以如以下那样检测缺陷。即,控制部8按像素判断图像IM12的片剂区域TR内的像素值是否小于阈值Th2,在做出肯定判断时,判断为该像素表示缺陷候补。阈值Th2也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。
以下,也将表示缺陷候补(或者其轮廓)的像素称为候补像素。
<缺陷真伪处理的具体例>
图23是表示缺陷真伪处理的一个例子的流程图。这里,对判断主面区域Ra内的缺陷候补是否表示片剂9的缺陷的例子进行说明。在步骤SA31中,控制部8判断至少一个缺陷候补是否在图像IM11~IM14中的2个以上的图像共通。具体而言,控制部8基于相对于主面区域Ra的各像素的位置在图像IM11~IM14的相互间的对应关系,判断缺陷候补是否共通。因此,首先,控制部8求出该对应关系。换句话说,控制部8求出在图像IM11~IM14中表示片剂9的主面9a上的相同的点的像素的对应关系。
这样的对应关系能够例如以下那样求出。例如,控制部8基于图像IM11~IM14分别生成俯视图像IM41~IM44。这里所说的俯视图像是指沿Z轴方向观察片剂9的图像。例如控制部8基于图像IM11中的椭圆E1的长轴A与短轴B之比计算图像IM11的拍摄方向。该拍摄方向能够由该拍摄方向与水平面所成的角度θ(sinθ=B/A)表示。此外,角度θ不必需要计算,也可以根据摄像头5的内部构成的配置预先设定。
控制部8基于角度θ对图像IM11进行图像变换,生成俯视图像IM41。该俯视图像IM41中的主面9a的轮廓的形状为将椭圆E1的长轴作为直径的圆。控制部8相同地基于图像IM12~IM14生成俯视图像IM42~IM44。由此,俯视图像IM41~IM44中拍摄到从Z轴方向观察的片剂9的外观。图24是示意性地表示俯视图像IM41~IM44的一个例子的图。以下,为了将俯视图像IM41~IM44中的片剂9的主面9a与实际的片剂9的主面9a区别,而称为主面9ab。
在俯视图像IM41~IM44中表示片剂9的主面9ab的周缘的圆F1的大小相互较大不同的情况下,控制部8也可以放大或者缩小俯视图像IM41~IM44,以使这些圆F1的大小之差比预定值小。在这样的俯视图像IM41~IM44中在圆F1内位于相同的位置的像素表示片剂9的主面9a上的相同的点。换句话说,图24示出实际上图像IM11~IM14的主面区域Ra的相互间的各像素的对应关系。
控制部8判断针对主面区域Ra的缺陷候补是否在俯视图像IM41~IM44中的2个以上的俯视图像一致。此外,本申请所说的“一致”不需要指完全一致,包括差比预定程度小的状态。若在2个以上的俯视图像中缺陷候补相互一致,控制部8判断为在2个以上的图像中缺陷候补(例如缺陷候补dA1)共通,在步骤SA32中判断为在片剂9(更具体而言主面9a)产生缺陷。
缺陷候补的一致判断也可以如下那样进行。例如,控制部8判断构成缺陷候补的多个候补像素的各个位置(相对于周缘区域Ra的位置)是否在2个以上的图像中相互一致。例如在图像IM11~IM14的各个中缺陷候补dA1由候补像素Q1[0]~Q1[10]构成。控制部8判断相对于主面区域Ra的候补图像Q1[n](n:0~10)的位置在图像IM11~IM14中的2个以上的图像是否相互一致。控制部8也可以在这些位置一致时,判断为缺陷候补一致。由此,能够基于缺陷候补的位置以及形状进行缺陷候补的一致判断。当然,不需要构成缺陷候补的全部的候补像素在2个以上的图像间相互一致,也可以在某些候补像素不一致。允许不一致的候补像素的数目越多,与形状有关的条件越宽松。
为了这样的一致判断,控制部8需要在各图像IM11~IM14中确定出构成各缺陷候补的候补像素。这能够例如以下那样进行。即,例如,控制部8在各图像IM11~IM14中计算候补像素的相互间的距离,提取相互间的距离小的候补像素组作为相同的缺陷候补。由此,例如在图像IM11~IM14的各个中确定出属于缺陷候补dA1的候补像素Q1[0]~Q1[10],在图像IM12中确定出属于缺陷候补dA2的候补像素Q2[0]~Q2[10]。
这里,针对主面区域Ra的候补像素Q1[n]的位置在多个图像IM11~IM14中相互一致。因此,控制部8判断为内缺陷候补dA1是片剂9的缺陷,判断为在片剂9产生缺陷。另一方面,针对主面区域Ra的候补像素Q2[n]的位置在多个图像IM11~IM14间不一致,所以控制部8判断为缺陷候补dA2不是片剂9的缺陷。
若在步骤SA31中做出否定判断,则在步骤SA33中,控制部8判断为在片剂9(更具体而言主面9a)未产生缺陷。
此外,在不需要检测缺陷的个数,仅检测片剂9的缺陷的有无即可的情况下,也可以不必进行全部的缺陷候补判断。在判断为一个缺陷候补在2个以上的像素共享的情况下,也可以省略其他的缺陷候补的判断。另一方面,在检测在片剂9产生的缺陷的个数的情况下,进行全部的缺陷候补判断即可。
在上述的例子中,基于预先决定为主面区域Ra的轮廓的形状的函数求出主面区域Ra的轮廓,所以如上述那样主面区域Ra的确定精度较高。由此,能够提高主面区域Ra内的各像素的位置在图像间的对应关系的精度,能够提高缺陷真伪的判断精度。
<侧面区域>
在上述的例子中,描述了针对片剂9的主面9a的外观检查。这里,描述针对片剂9的侧面9c的外观检查。在该片剂9的侧面9c中,与该拍摄方向对应的区域分别拍摄到图像IM11~IM14。例如参照图17,片剂9的侧面9c中的区域9c1拍摄到图像IM11~IM13,未拍摄到图像IM14。该区域9c1具有沿周向将片剂9的侧面9c例如6等分而得到的区域相同程度的宽度。在图17的例子中,区域9c1在图像IM11中位于侧面9c的几乎中央,在图像IM12、IM13中位于侧面9c的端部。因此,区域9c1在图像IM11中拍摄地较宽,在图像IM12、IM13中拍摄地非常窄。因此,片剂9的区域9c1内的缺陷与图像IM11相比在图像IM12、IM13中难以视觉确认,难以检测为缺陷候补。
对此,在图像IM12、IM13中侧面9c的端部的区域9c1也可以从候补检测处理的对象除去。换言之,控制部8也可以在图像IM12、IM13中将侧面区域Rc的端部侧的区域设定为作为非检查对象的掩模区域。由此,能够避免在端部区域中误检测缺陷候补或者产生缺陷的检测遗漏。
图25是表示检查处理的一个例子的流程图。在图25的例子中,与图19比较,还执行步骤SA28。该步骤SA28在步骤SA26、SA27之间执行。在步骤SA28中,控制部8设定掩模区域。例如控制部8将位于在步骤SA26中确定出的侧面区域Rc的两端的端部区域设定为掩模区域。端部区域的宽度(沿着半椭圆E11的宽度)也可以预先决定,或者,控制部8也可以计算侧面区域Rc的宽度的预定比例作为端部区域的宽度。
控制部8在步骤SA27的候补检测处理中不将掩模区域内的像素检测为缺陷候补。由此,片剂9的区域9c1仅在图像IM11中进行实际的候补检测处理。这是因为,区域9c1未在图像IM14拍摄到,在图像IM12、IM13中拍摄到掩模区域内。
控制部8对区域9c1如以下那样进行缺陷真伪处理。即,控制部8在通过针对图像IM11的候补检测处理在区域9c1内检测到缺陷候补时,不管其他的图像IM12~IM14的候补检测处理的结果,判断为在片剂9(更具体而言侧面9c的区域9c1)产生缺陷。换句话说,对仅在图像IM11进行候补检测处理的区域9c1,在其他的图像IM12~IM14不进行候补检测处理,所以若在图像IM11中检测到缺陷候补,则将该缺陷候补视为片剂9的缺陷。由此,能够检测侧面9c的区域9c1中的缺陷。
参照图17,与片剂9的侧面9c的区域9c1在周向上相邻的区域9c2在图像IM11、IM12中拍摄到,在图像IM13、IM14中未拍摄到。该区域9c2例如具有与将片剂9的侧面9c沿周向12等分而得到的区域相同程度的宽度。该区域9c2在图像IM11、IM12中比侧面9c的中央位于端侧,但与其侧面9c的端部分离。在图像IM11、IM12中,区域9c2不被设定为掩模区域,相当于检查对象区域。
控制部8对区域9c2如以下那样进行缺陷真伪处理。即,控制部8在通过针对图像IM11、IM12的候补检测处理在区域9c1检测到共通的候补检测时,不管针对图像IM13、IM14的候补检测处理的结果,判断为在片剂9(更具体而言侧面9c的区域9c2)产生缺陷。换句话说,对仅在图像IM11、IM12拍摄到的区域9c2,在其他的图像IM13、IM14中未进行候补检测处理,所以在图像IM11、IM12的区域9c2中检测到共通的缺陷候补时,将该缺陷候补视为片剂9的缺陷。由此,能够以较高的精度检测侧面9c的区域9c2中的缺陷。
此外,在上述的例子中,描述了区域9c1、9c2,其他的区域也相同。总之,控制部8对仅在一个图像中进行候补检测处理的片剂9的第1区域、以及在多个图像中进行候补检测处理的片剂9的第2区域,分别如以下那样进行缺陷真伪处理即可。即,控制部8在针对第1区域,在该一个图像的第1区域检测到缺陷候补时判断为在片剂9产生缺陷,针对第2区域,检测到在多个图像中的2个以上的图像的第2区域共通的缺陷候补时判断为在片剂9产生缺陷。
图26是表示针对侧面区域的缺陷真伪处理的一个例子的流程图。与图23相比较,还执行步骤SA34,另外,用于执行步骤SA32的条件不同。步骤SA34在步骤SA31中进行否定判断时执行。在步骤SA34中,控制部8判断侧面区域Rc内的与至少一个缺陷候补对应的区域在其他的全部图像中是否是缺陷检测的对象外(换句话说候补检测处理的对象外)。
此外,针对侧面区域Rc的各像素的位置的图像IM11~IM14间的对应关系能够与主面区域Ra相同地求出。例如分别基于图像IM11~IM14生成从正侧面观察片剂9得到的4个图像。在该4个图像中,分别映现有从4个方向观察到的片剂9的侧面9c。侧面区域Rc内的各像素的该4个图像间的对应关系预先设定即可。
对例如在图像IM11的区域9c1中检测到缺陷候补的情况进行说明。该区域9c1是其他的全部图像IM12~IM14中是缺陷检测的对象外。例如区域9c1在图像IM12、IM13中是掩模区域,在图像IM14原本不存在。因此,在该情况下,在步骤SA34中进行肯定判断。此时,在步骤SA32中,控制部8判断为在片剂9(更具体而言侧面9c)产生缺陷。换句话说,即使缺陷候补不在2个以上的图像共通,该缺陷候补原本在其他的图像中也是缺陷检测的对象外的情况下,该缺陷候补当然在其他的图像中不能检测到。因此,该情况下,将在一个图像中检测到的缺陷候补视为片剂9的缺陷。
当在步骤SA34中做出否定判断时,在步骤SA33中,控制部8判断为在片剂9的侧面9c没有产生缺陷。
此外,不需要检测缺陷的个数,仅检测片剂9的缺陷的有无即可的情况下,在各步骤SA31、SA32中也可以不必对全部的缺陷候补进行判断。另外,若在针对主面区域的缺陷真伪处理(图23)以及针对侧面区域的缺陷真伪处理(图26)的一方中判断为在片剂9产生缺陷,则也可以省略另一方。
检测在片剂9产生的缺陷的个数的情况下,对全部的缺陷候补进行判断即可。换句话说,不管步骤SA31的判断结果,必须进行步骤SA34,另外在步骤SA31、SA32的各个步骤中对全部的缺陷候补进行判断即可。另外,该情况下,进行针对主面区域的缺陷真伪处理以及针对侧面区域的缺陷真伪处理这两者。
<搜索区域的中心线>
在上述的例子中,说明了搜索区域R1的中心线L0是使侧面外侧边缘P1移动而得到的线,但也可以在该移动时将侧面外侧边缘P1以预定倍率放大。严格来说,是因为边界边缘P3比侧面外侧边缘P1大预定倍率。
<掩模区域>
在上述的例子中,控制部8在各图像IM11~IM14中将侧面区域Rc的端部区域设定为掩模区域。然而,也可以将其他的区域设定为掩模区域。这里,为了适当说明,采用糖衣片剂作为片剂9的形状进行说明。该片剂9具有使球体沿一轴向缩小的扁平形状,若垂直地观察最宽的面则片剂9具有圆形状。此外,片剂9的形状并不局限于此。
图27是示意性地表示拍摄图像IM1’的一个例子的图。拍摄图像IM1’是通过摄像头5拍摄糖衣片剂的片剂9而得到的图像。在拍摄图像IM1’的图像IM11’~IM14’分别示出从不同的拍摄方向观察到的片剂9的外观。在各图像IM11’~IM14’中,片剂9的轮廓理想地具有椭圆形状。
在图27的例示中,在图像IM11’~IM14’中由双点划线示出片剂9的表面上的各点的对应关系。这样的对应关系也可以例如预先与表示片剂9的轮廓的函数建立对应关系地设定,存储于控制部8的存储介质。
在图27的例示中,在图像IM11’~IM14’设定有掩模区域MR1~MR4。该掩模区域MR1~MR4是像素值可比其他的区域中的像素值大幅度地升高的区域。这样的区域通过从照明用光源照射的光被片剂9单向反射而产生。换句话说,若该单向反射光经由镜53、角锥型镜54以及透镜组52在检查照相机51的成像面的一部分成像,则与该成像面的一部分对应的区域(单向反射区域)内的像素的像素值比其他的像素值大幅度地升高。因此,以包括该单向反射区域的方式设定掩模区域。由此,能够避免将片剂9上的光的强弱误检测为缺陷。
这里,假定环状的光源作为照明用光源,所以在图27的例子中,掩模区域MR1~MR4以椭圆状的环形区域表示。掩模区域MR1也可以例如预先与表示片剂9的轮廓的函数建立对应关系地设定。或者,控制部8也可以例如确定出图像IM11’内的像素的像素值比掩模阈值大的区域,将该区域设定为掩模区域MR1。掩模区域MR2~MR4也相同。掩模阈值也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。
因为从多个拍摄方向拍摄片剂9,所以与各拍摄方向对应的单向反射区域在片剂9的表面上相互不同。当然,有与2个拍摄方向对应的单向反射区域的一部分彼此在片剂9的表面上重叠的情况。但是,3个以上的单向反射区域在片剂9的表面上的相同的区域相互重合的情况较少。换句话说,在将掩模区域MR1~MR4投影到片剂9的表面的情况下,掩模区域MR1~MR4的2个区域在片剂9的表面上重合,但3个区域在相同的区域重合很少。4个区域在相同的区域重合的可能性更低。若掩模区域MR1~MR4在相同的区域重合,则该区域在图像IM11’~IM14’中包含于掩模区域MR1~MR4内,所以在图像IM11’~IM14’的任一个中均不为检查对象。但是,这样的可能性非常低。
这里,掩模区域MR1~MR4的4个区域不重合在相同的区域。该情况下,片剂9中的图像IM11’~IM14’的任一个中均拍摄到的共通面分割为如下的4种区域。即,第1区域是在全部图像IM11’~IM14’中位于检查对象区域内的区域,第2区域是仅在图像IM11’~IM14’中的3个图像中位于检查对象区域内的区域,第3区域是仅在图像IM11’~IM14’中的2个图像中位于检查对象区域内的区域,第4区域是仅在图像IM11’~IM14’的一图像中位于检查对象区域内的区域。
<检查处理>
接下来,对作为糖衣片剂的片剂9的检查处理进行说明。该片剂9与图2的片剂9不同,不具有主面与侧面的明确边界。因此,控制部8难确定出主面区域和侧面区域,所以在针对片剂区域的位置把握到缺陷候补的位置。因此,控制部8在确定处理中确定出片剂区域的轮廓。
图28是表示检查处理的一个例子的流程图。在步骤SA211中,控制部8与步骤SA21相同地生成边缘图像。接下来,在步骤SA212中,控制部8与步骤SA22相同地确定出片剂边缘。接下来,在步骤SA213中,基于椭圆的函数确定出近似于该片剂边缘的近似线(椭圆)作为片剂区域的轮廓。若更一般地进行说明,则基于表示IM11~IM14中的片剂9的轮廓的基准函数确定出近似于片剂边缘的近似线。接下来,在步骤SA214中,控制部8例如图27所示设定掩模区域。
接下来,控制部8对各图像IM11’~IM14’进行候补检测处理。候补检测处理按照上述。由此,在各图像IM11’~IM14’中,检测到缺陷候补,确定出针对片剂区域的缺陷候补的位置。
控制部8在缺陷真伪处理中如下那样动作。即,控制部8在对第1区域至第3区域,在图像IM11’~IM14’中2个以上的图像检测到共通的缺陷候补时,判断为在片剂9产生缺陷。控制部8在对第4区域,在图像IM11’~IM14’中的一个图像中检测到缺陷候补时,判断为在片剂9产生缺陷。
具体的缺陷真伪处理的一个例子与参照图26说明的针对侧面区域的缺陷真伪处理相同。具体而言,将“侧面区域”以及“片剂的侧面”分别替换为“片剂区域”以及“片剂”。
此外,也可以将第1至第3实施方式应用于第4实施方式。例如第2实施方式中说明那样,控制部8也可以通过图12的流程图确定出边界边缘P3。
第5实施方式.
若例如专利文献1~3那样垂直地拍摄片剂的上表面,则在片剂的上表面的周缘产生的缺口位于片剂的外周。此外,这里所说的片剂的外周是指拍摄图像中片剂占据的片剂区域的轮廓。这样,位于片剂的外周的缺口容易从拍摄图像检测。是因为该缺口在拍摄图像中在片剂区域与背景区域的边界产生。
与此相对,若例如从斜上方拍摄片剂,则通过该一个方向的拍摄,拍摄到片剂的上表面以及侧面这两者。该情况下,在拍摄图像中片剂的上表面以及侧面相互接触。换句话说,在该拍摄图像中,片剂的上表面的周缘中与侧面接触的部分不位于片剂的外周(片剂区域的轮廓),而位于片剂区域的内部。片剂的缺口在该部分产生的情况下,难以从拍摄图像检测该缺口。
因此,在第5实施方式中,目的在于提供在片剂的主面以及侧面相互接触的拍摄图像中,能够检测在主面以及侧面的边界上产生的片剂的缺口的片剂检查方法以及片剂检查装置。
第5实施方式所涉及的片剂检查装置1的构成的一个例子与第1实施方式相同。此外,第4实施方式所涉及的控制部8的功能以及动作如以后详述那样与第1实施方式不同。
以下,为了简化说明,进行从一个方向观察到的片剂9的外观说明。图29是示意性地表示从一个方向拍摄产生缺陷的片剂9的拍摄图像IM11的一个例子的图。在图29的例子中,在片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界存在缺口B1。
控制部8对拍摄图像IM11进行图像处理,检测片剂9的缺口B1。以下,更具体地进行说明。
图30是表示片剂检查装置1中的动作的一个例子的流程图。首先,在步骤SB1中,与图7的步骤S1相同地,摄像头5从映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的方向拍摄搬运中途的片剂9,生成映现有片剂9的主面9a以及侧面9c这两者的拍摄图像IM11。摄像头5将该拍摄图像IM11向控制部8输出。
接下来,控制部8在拍摄图像IM11中检测与片剂9的主面9aa占据的主面区域Ra的轮廓对应的主面边缘。此外,如图29所示,缺口B1在主面区域Ra与侧面区域Rc之间的边界产生的情况下,理解为主面边缘是与包括缺口B1的主面9aa的轮廓对应的边缘。主面边缘的检测例如通过图30的步骤SB2~SB5的一系列的处理执行。
首先,在步骤SB2中,与图7的步骤S2相同地,控制部8对拍摄图像IM11进行边缘检测处理并生成边缘图像。
接下来,在步骤SB3中,与图7的步骤S3相同地,控制部8确定出与片剂区域TR的轮廓对应的片剂边缘P0(也参照图31)。图31是示意性地表示片剂边缘P0的一个例子的图。在图31的例子中,也与图8相同地,片剂边缘P0被分隔为多个边缘来表示。
再次参照图30,在步骤SB4中,与图7的步骤S4相同地,控制部8从在步骤SB3中确定出的片剂边缘P0提取侧面外侧边缘P1以及主面外侧边缘P2。
接下来,在步骤SB5中,与图7的步骤S5相同地,控制部8从边缘图像确定出边界边缘P3。边界边缘P3是指在拍摄图像IM11中与片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界对应的边缘。换言之,边界边缘P3是与主面区域Ra与侧面区域Rc之间的边界对应的边缘。此外,如图29所示,存在缺口B1的情况下,边界边缘P3包括与缺口B1的轮廓对应的边缘的一部分。边界边缘P3的具体例将在后面描述。
在片剂9未产生缺口B1的情况下,边界边缘P3如上述那样,理想地具有向与主面外侧边缘P2相反的一侧凸出的半椭圆形状(也参照图8)。换句话说,边界边缘P3具有与侧面外侧边缘P1相同的形状。另外,这里,因为片剂9不那么厚,所以能够认为若在片剂9没有产生缺口B1,则边界边缘P3以及侧面外侧边缘P1具有几乎相同的形状。换句话说,边界边缘P3存在于使侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧平行移动了侧面棱线边缘P4的长度的区域。侧面棱线边缘P4的长度根据片剂9的厚度以及摄像头5的内部构成的配置预先决定,所以若侧面外侧边缘P1被确定出,则能够推断边界边缘P3存在的区域。
对此,控制部8搜索与侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧分离预定距离的搜索区域R1(也参照图32)内的像素确定出边界边缘P3。图32是示意性地示出搜索区域R1的一个例子的图。
中心线L0是使侧面外侧边缘P1沿着预定方向D1向主面外侧边缘P2侧移动了侧面棱线边缘P4的长度的线。另外,在图32的例子中,使边界边缘P3的一部分和中心线L0的一部分相互一致来表示,但实际上这些相互不同。
线L1、L2是使中心线L0沿着预定方向D1向相互相反的一侧移动了预定宽度的线。该预定宽度根据假定的缺口B1的大小预先设定。在图32中,线L1比线L2靠近侧面外侧边缘P1。线L3、L4沿着预定方向D1延伸,分别连结线L1、L2的两端。搜索区域R1是被一组这些线L1~L4围起的区域。
此外,在图32中,也示出与缺口B1的轮廓对应的缺口边缘P’、以及与割线91对应的割线边缘P5的一部分。
控制部8所进行的搜索处理的一个例子与图10的流程图相同,所以这里不再反复说明。
根据该搜索处理,缺口边缘P’上的像素如以下那样被确定为边界边缘P3的构成要素。即,缺口边缘P’中线L1侧(换句话说侧面外侧边缘P1侧)的边缘Pc’上的像素被确定为边界边缘P3的构成要素。在图32中,示意性地用黑圆表示几个被确定为边界边缘P3的构成要素的像素。
控制部8将一组在步骤SB4中确定出的主面外侧边缘P2以及在步骤SB5中确定出的边界边缘P3确定为主面边缘P23。在产生缺口B1的情况下,主面边缘P23不具有理想的椭圆形状,在与该缺口B1对应的部分中偏离理想的椭圆形状(也参照以后说明的图33)。因此,若计算接近该理想的椭圆的近似线,则能够基于该近似线和主面边缘P23偏离的部分,检测缺口B1。
对此,接下来在步骤SB6中,与图7的步骤6相同地,控制部8基于椭圆的函数计算近似于主面边缘P23的近似线(椭圆)。
如以上所述,基于表示主面区域Ra的轮廓的基准函数计算主面边缘P23的近似线,所以该近似线为接近主面区域Ra的轮廓的线。另外,在上述的具体例中,片剂9具有大致圆盘形状。换句话说,片剂9的主面9a具有大致圆形状。因此,在拍摄图像IM11中,主面9aa的周缘理想地具有椭圆形状。在本实施方式中,与此对应,使用椭圆的函数作为基准函数。因此,能够适当地计算接近主面区域Ra的轮廓的近似线。
在其长轴分割椭圆E1得到的2个半椭圆E11、E12分别相当于主面外侧边缘P2以及边界边缘P3的近似线。
接下来,在步骤SB7中,与图7的步骤S7相同地,控制部8基于椭圆E1计算近似于侧面外侧边缘P1的近似线(半椭圆)。
图33是示意性地表示产生缺口B1的片剂9的各种边缘以及其近似线的一个例子的图。主面边缘P23沿着缺口B1的轮廓中侧面9ca侧的部分和主面9aa的周缘延伸。在图33的例子中,侧面外侧边缘P1和作为其近似线的半椭圆E21相互一致地表示,所以实际上这些可以相互不同。
接下来,在步骤SB8中,控制部8执行检查处理。该检查处理是用于检测在片剂9的主面9a、9b的周缘产生的缺口的处理。图34是表示该检查处理的具体的一个例子的流程图。首先,在步骤SB81中,控制部8从作为主面边缘P23的近似线的椭圆E1分别提取作为主面外侧边缘P2以及边界边缘P3的近似线的半椭圆E11、E12。具体而言,控制部8计算在其长轴分割椭圆E1得到的半椭圆分别作为半椭圆E11、E12。
接下来,在步骤SB82中,控制部8判断边界边缘P3上的各像素与半椭圆E12之间的距离d(也参照图33)是否比预定阈值(以下,称为距离阈值)dth。距离阈值dth例如也可以预先设定并存储于控制部8的存储介质。在图33的例子中,示出边界边缘P3上的某像素与半椭圆E12之间的距离d。在步骤SB82中做出肯定判断时,在步骤SB83中,控制部8判断为在片剂9的主面9a的周缘(更具体而言拍摄图像IM11中的主面9aa与侧面9ca之间的边界)产生缺口。在做出否定判断时,控制部8不执行步骤SB83。
图35是表示步骤SB82、SB83的处理的更具体的一个例子的流程图。首先,在步骤SB801中,控制部8将值n初始化为1。值n是表示边界边缘P3上的像素的编号。对边界边缘P3上的各像素,赋予从其一端朝向另一端按顺序连续的编号。
接下来,在步骤SB802中,控制部8计算边界边缘P3上的第n个像素(以下,称为关注像素)与半椭圆E12之间的距离d。例如控制部8计算关注像素与半椭圆E12上的像素各自的距离,选择其中最小的值作为距离d。
接下来,在步骤SB803中,控制部8判断距离d是否比距离阈值dth长。在做出肯定判断时,在步骤SB804中,控制部8判断为该关注像素是表示缺口的轮廓的像素,判断为在片剂9的主面9a的周缘产生缺陷。接下来,控制部8执行后述的步骤SB805。另一方面,在做出否定判断时,控制部8不执行步骤SB804而执行步骤SB805。
在步骤SB805中,控制部8对值n加1并更新值n。接下来,在步骤SB806中,控制部8判断值n是否大于基准值nref。基准值nref是构成边界边缘P3的像素的总数。换句话说,判断针对边界边缘P3上的全部像素的判断是否结束。在步骤SB806中做出否定判断时,还未对全部像素结束判断,所以控制部8再次执行步骤SB802。另一方面,在步骤SB806中做出肯定判断时,控制部8结束处理。
在上述的例子中,对边界边缘P3上的全部像素进行上述判断。然而,在不需要检测缺口的个数以及其位置等的情况下,当检测到表示缺口的轮廓的一个像素时,也可以省略剩余的像素的上述判断。该点在以下描述的全部检查处理中相同。
再次参照图34,在步骤SB84中,控制部8判断主面外侧边缘P2上的各像素与作为其近似线的半椭圆E11之间的距离是否比距离阈值dth长。在做出肯定判断时,在步骤SB85中,控制部8判断为在片剂9的主面9a的周缘(更具体而言在拍摄图像IM11中不与侧面9ca接触的部分)产生缺口。在做出否定判断时,控制部8不执行步骤SB85。
接下来,在步骤SB86中,控制部8判断侧面外侧边缘P1上的各像素与作为其近似线的半椭圆E21之间的距离是否比距离阈值dth长。在做出肯定判断时,在步骤SB87中,控制部8判断为在片剂9的主面9b的周缘(更具体而言拍摄图像IM11中拍摄到的部分)产生缺口。在做出否定判断时,控制部8不执行步骤SB87。
步骤SB84、SB85的具体方法的一个例子以及步骤SB86、SB87的具体方法的一个例子与步骤SB82、SB83的具体方法相同。
如以上所述,根据该片剂检查装置1,能够检测在片剂9的主面9a、9b的周缘产生的缺口。
此外,一组步骤SB82、SB83、一组步骤SB84、SB85以及一组步骤SB86、SB87的执行顺序也可以适当地变更。另外,在不需要检测缺口的个数以及位置等的情况下,控制部8不必需要执行步骤SB82、SB84、SB86的全部判断。控制部8在任一个步骤做出肯定判断时,也可以省略其余步骤的判断。
另外,在上述的例子中,控制部8计算近似于主面边缘P23的近似线(椭圆E1),从该椭圆E1提取出半椭圆E11、E12。然而,控制部8也可以基于预先决定为拍摄图像IM11中的片剂9的主面9aa与侧面9ca之间的边界的形状的基准函数,计算边界边缘P3的近似线(半椭圆E12)。相同地,控制部8也可以基于预先决定为拍摄图像IM11中的片剂9的主面9aa的周缘中未与侧面9ca接触的部分的形状的基准函数,计算主面外侧边缘P2的近似线(半椭圆E11)。
<检查处理>
在上述的例子中,例如边界边缘P3上的一个像素与半椭圆E12之间的距离d比距离阈值dth长时,控制部8判断为其像素表示缺口的轮廓(步骤SB802~SB804)。换句话说,该一个像素以比距离阈值dth长的距离与半椭圆E12分离时,判断为该像素表示缺口的轮廓。然而,在产生缺口B1时,也参照图33,边界边缘P3上连续的多个像素以比距离阈值dth长的距离分离半椭圆E12。换句话说,若仅一个像素以比距离阈值dth长的距离与半椭圆E12分离的情况下,该像素不表示缺口B1,有可能是噪声。因此,这里,抑制将这样的噪声误检测为缺口。
具体而言,控制部8判断以比距离阈值dth长的距离d与半椭圆E12分离的多个像素是否在边界边缘P3上连续,在做出肯定判断时,判断为该一组连续的像素表示缺口B1的轮廓,判断为在片剂9的主面9a的周缘(更具体而言拍摄图像IM11的主面9aa与侧面9ca之间的边界)产生缺口B1。
图36是表示这样的检查处理的具体方法的一个例子的流程图。首先,在步骤SB811中,控制部8将值n、m分别初始化为1、0。根据以后说明清楚的是,值m表示以比距离阈值dth长的距离分离半椭圆E12的像素且在边界边缘P3上连续的像素的数目。
接下来,控制部8按该顺序执行步骤SB812、SB813。步骤SB812、SB813分别与步骤SB802、SB803相同。若在步骤SB813中做出肯定判断,则在步骤SB814中,控制部8对值m加1并更新值m。
接下来,在步骤SB815中,控制部8对值n加1并更新值n。接下来,在步骤SB816中,控制部8判断值n是否大于基准值nref。换句话说,控制部8判断是否对边界边缘P3上的全部像素进行处理。若做出否定判断,则控制部8再次执行步骤SB812,以进行下个像素的判断。另一方面,若做出肯定判断,则控制部8结束处理。
若在步骤SB813中做出否定判断,则在步骤SB817中,控制部8判断值m是否大于阈值(以下,称为连续阈值)mth。连续阈值mth也可以例如预先设定并存储于控制部8的存储介质。
若在步骤SB817中做出肯定判断,则在步骤SB818中,控制部8判断为第(n-m+1)个像素至第(n-1)个像素的一组表示缺口的轮廓,判断为在主面9a的周缘(更具体而言拍摄图像IM11中的主面9aa与侧面9ca之间的边界)产生缺口B1。接下来,在步骤SB819中,控制部8将值m初始化为0,执行步骤SB815。若在步骤SB817中做出否定判断,则控制部8不执行步骤SB818而执行步骤SB819。
根据该检查处理,值m在检测到距离d比距离阈值dth短的像素时初始化为零(步骤SB819),每次距离d比距离阈值dth长的像素被连续检测则自加1(步骤SB815)。因此,值m表示距离d比距离阈值dth长的像素连续的数目。而且,在该值m比连续阈值mth大时,控制部8判断为产生缺口(步骤SB817、SB818)。由此,能够抑制缺口的误检测,更高精度地检测缺口。
该检查处理也能够应用于侧面外侧边缘P1以及主面外侧边缘P2。
<边界边缘>
在上述的例子中,在搜索区域R1的各行的线L1朝向线L2的搜索中,将最初检测到的边缘像素作为边界边缘P3的构成要素(参照图32)。因此,采用缺口边缘P’中线L1侧的边缘Pc’上的像素作为边界边缘P3的构成要素。因此,边界边缘P3的构成要素偏向缺口边缘P’中边缘Pc’。由此,近似于主面边缘P23的椭圆E1(一组半椭圆E11、E12)容易偏离主面区域Ra的轮廓。
这里,通过采用第2实施方式,目的在于计算更接近主面区域Ra的轮廓的椭圆E1。具体而言,着眼于拍摄图像IM11中的缺陷区域的像素值的分布,以边界边缘P3的构成要素分散于边缘P’中线L1侧的边缘Pc’和线L2侧的边缘Pa’的方式确定出边界边缘P3。作为具体的一个例子,控制部8通过执行图12的流程图来确定出边界边缘P3。
由此,近似于边界边缘P3的半椭圆E11为更接近片剂9的主面9aa的周缘的半椭圆,另外,近似于主面边缘P23的椭圆E1为更接近片剂9的主面9aa的周缘的椭圆。
图37是示意性地表示产生缺口B1的片剂9的各种边缘以及其近似线的一个例子的图。边界边缘P3的构成要素在缺口边缘P’中分散至边缘Pa’、Pc’,所以在图37的例子中,由虚线表示缺口边缘P’,以表示缺口边缘P’部分地确定为边界边缘P3的构成要素。另外,在图37的例子中,主面外侧边缘P2和半椭圆E11相互一致地示出,侧面外侧边缘P1和半椭圆E21相互一致地示出。边界边缘P3在缺口边缘P’以外的部分中与半椭圆E12一致地示出。实际上,这些可以相互不同。
根据图33以及图37的比较能够理解的是,边界边缘P3上的各像素与半椭圆E12之间的距离d在缺口边缘P’中被较大地计算。因此,更容易检测缺口B1。换言之,能够更高精度地检测缺口B1。
并且,边界边缘P3的构成要素分散在缺口边缘P’,所以能够使用边缘Pa’上的像素以及边缘Pc’上的像素这两者检测缺口B1。由此,即使是缺口B1偏向主面9aa侧形成的情况,换句话说,即使是边缘Pc’不太向侧面9ca侧伸出,而向主面9aa侧伸出的情况,也能够检测缺口B1。以下,具体地进行说明。
图38是示意性地表示缺口B1不向侧面9ca侧伸出时的各种边缘以及其近似线的一个例子的图。在缺口B1不太向侧面9ca侧伸出的情况下,边缘Pc’上的各像素与半椭圆E12之间的距离d变短。而且,根据缺口B1的形状,边缘Pc’上的全部像素的距离d比距离阈值dth短。此时,若采用图32的搜索处理,边界边缘P3的构成要素偏向边缘Pc’,则在其后的检查处理中,不能检测该缺口B1。
与此相对,若缺口B1向主面9aa侧伸出,则如图38所示,边缘Pa’上的像素与半椭圆E12之间的距离d比距离阈值dth长。因此,若使用边界边缘P3的构成要素分散于边缘Pa’、Pc’这两者的图12的搜索处理,则在其后的检查处理中,能够检测该缺口B1。这是因为在该检查处理中,进行边界边缘P3中的边缘Pa’上的像素与半椭圆E12的距离d和距离阈值dth的大小判断(步骤SB82、SB83)。
此外,也可以将第1~第4实施方式应用于第5实施方式。
变形例.
<片剂的主面>
在上述的例子中,将以主面9b朝向搬运带41侧的姿势搬运的片剂9作为检查对象进行了说明。在以片剂9的主面9a朝向搬运带41的姿势搬运片剂9的情况下,片剂检查装置1进行针对片剂9的主面9b以及侧面9c的外观检查。
另外,也可以在例如针对片剂9的外观检查后,使片剂9的搬运姿势反转,在该状态下进行针对片剂9的外观检查。由此,能够进行针对片剂9的整个面(主面9a、9b以及侧面9c)的外观检查。
<片剂的形状>
在上述的例子中,片剂9具有大致圆盘形状。例如作为该圆盘形状,能够采用所谓的扁平片剂或者带圆角片剂。但是,片剂9不必限于圆盘形状。换句话说,主面9a、9b不必需要具有圆形状。因为主面9a、9b的形状已知,所以能够预先由基准函数决定拍摄图像IM11(或者IM11’,以下,同样)中映现的主面9a(或者主面9b)的周缘的形状。该基准函数是表示该形状但其大小以及位置为变量的函数。基准函数例如也可以预先存储于控制部8的存储介质。控制部8从拍摄图像IM11生成边缘图像,基于该基准函数求出边缘图像所包含的主面边缘的近似线即可,能够以更高精度计算拍摄图像IM11中的主面区域Ra。
如以上所述,详细地对片剂检查方法以及片剂检查装置进行了说明,但上述的说明在所有方面均是例示,该公开并不限定于此。另外,上述的各种实施方式以及各种变形例只要不相互矛盾就能够组合应用。而且,可以理解的是,在不脱离本公开的范围的情况下,可以想到许多未例示的变形例。
附图标记说明
1 片剂检查装置;
5 拍摄部(摄像头);
8 图像处理部(控制部);
9 片剂;
9a 第1主面(主面);
9b 第2主面(主面);
9c 侧面;
d1、d2 缺陷;
dA1、dA2 缺陷候补;
E1 第2近似线(椭圆);
E11 第3近似线(半椭圆);
E12 第1近似线(半椭圆);
E21 第4近似线(半椭圆);
IM1、IM1’ 拍摄图像;
MR1~MR4 掩模区域;
P0 片剂边缘;
P1 侧面外侧边缘;
P2 主面外侧边缘;
P3 边界边缘;
P23 主面边缘;
R1 搜索区域;
Ra 主面区域;
Rc 侧面区域;
TR 片剂区域。
Claims (29)
1.一种片剂检查方法,该片剂检查方法检查具有一对的第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查方法包括如下工序:
工序(a),在该工序(a)中,拍摄片剂,并生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;
工序(b),在该工序(b)中,确定出在上述拍摄图像中上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域以及侧面区域;以及
工序(c),在该工序(c)中,对上述主面区域以及上述侧面区域分别进行检查处理,
上述工序(b)包括如下工序:
工序(b1),在该工序(b1)中,确定出在上述拍摄图像中与上述第1主面的轮廓对应的主面边缘;以及
工序(b2),在该工序(b2)中,基于表示上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,计算上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓。
2.根据权利要求1所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂具有大致圆盘形状,
上述函数是表示椭圆的函数,上述近似线是椭圆。
3.根据权利要求1或者2所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述主面区域以及上述侧面区域构成在上述拍摄图像中上述片剂占据的片剂区域,
上述工序(b1)包括如下工序:
工序(b11),在该工序(b11)中,对上述拍摄图像进行边缘检测处理并生成边缘图像;
工序(b12),在该工序(b12)中,从上述边缘图像确定出与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;
工序(b13),在该工序(b13)中,从上述片剂边缘提取出与上述拍摄图像中的上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述拍摄图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;
工序(b14),在该工序(b14)中,搜索在上述边缘图像中从上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离有预定距离的搜索区域内的像素,确定出与上述主面区域和上述侧面区域之间的边界对应的边界边缘;以及
工序(b14),在该工序(b14)中,将一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘确定为上述主面边缘。
4.根据权利要求3所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b14)中,
搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且是与该像素对应的上述拍摄图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
5.根据权利要求3或者4所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b14)中,
在上述搜索区域中,从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
6.根据权利要求1~5的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的一方的表面粗糙度比另一方小,
上述工序(c)包括如下工序:
工序(c1),在该工序(c1)中,当对上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的一方进行边缘强度处理得到的各像素的值大于第1阈值时,判断为上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述一方产生缺陷;以及
工序(c2),在该工序(c2)中,当对上述主面区域以及上述侧面区域的另一方进行边缘强度处理得到的各像素的像素值大于比上述第1阈值大的第2阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述另一方产生缺陷。
7.根据权利要求1~6的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述拍摄图像中上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的一方比另一方亮,
上述工序(c)包括如下工序:
工序(c1),在该工序(c1)中,当上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的一方的各像素的像素值小于第3阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述一方产生缺陷;以及
工序(c2),在该工序(c2)中,当上述拍摄图像的上述主面区域以及上述侧面区域的另一方的各像素的像素值小于比上述第3阈值小的第4阈值时,判断为在上述片剂的上述第1主面以及上述侧面的上述另一方产生缺陷。
8.根据权利要求1~7的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述片剂的上述第1主面形成有割线,
上述工序(b)包括工序(b3),在该工序(b3)中,确定出在上述拍摄图像中上述主面区域中的包括上述割线的割线区域和不包括上述割线的非割线区域,
在上述工序(c)中,
当对上述拍摄图像的上述割线区域进行边缘强度处理得到的各像素的像素值大于第5阈值时,判断为在上述割线区域中产生缺陷,
当对上述拍摄图像的上述非割线区域进行边缘强度处理得到的各像素的像素值大于比上述第5阈值小的第6阈值时,判断为在上述非割线区域中产生缺陷。
9.一种片剂检查装置,该片剂检查装置检查具有一对的第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查装置具备:
拍摄部,其从映现有片剂的上述第1主面以及上述侧面这两者的方向拍摄上述片剂并生成拍摄图像;以及
图像处理部,其确定出在上述拍摄图像中上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域以及侧面区域,并对上述主面区域以及上述侧面区域分别进行检查处理,
上述图像处理部确定出在上述拍摄图像中与上述第1主面的轮廓对应的主面边缘,基于预先决定为上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,求出上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓。
10.一种片剂检查方法,该片剂检查方法检查片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查方法包括如下工序:
工序(a),在该工序(a)中,拍摄片剂,并生成包括分别映现有从多个拍摄方向观察到的片剂的外观的多个图像的拍摄图像;
工序(b),在该工序(b)中,对上述拍摄图像进行检测片剂的缺陷候补的检查处理;以及
工序(c),在该工序(c)中,当通过上述检查处理在上述多个图像中映现的上述片剂的第1区域中检测到在上述多个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
11.根据权利要求10所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂的第2区域仅映现在上述多个图像中的n个图像,其中,n为2以上的整数,
上述片剂检查方法还具备工序(d),在该工序(d)中,当通过上述检查处理在上述第2区域中检测到在上述n个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
12.根据权利要求10或者11所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂的第3区域仅映现在上述多个图像中的一个图像,
上述片剂检查方法还具备工序(f),在该工序(f)中,当通过上述检查处理在上述一个图像的上述第3区域中检测到缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
13.根据权利要求10~12的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述多个图像中的每个图像设定有不成为上述检查处理的检查对象的掩模区域,
上述片剂的第4区域仅映现在上述多个图像中的m个图像中上述掩模区域以外的检查对象区域,其中,m为2以上的整数,
在上述工序(c)中,
当通过上述检查处理在上述第4区域中检测到在上述m个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
14.根据权利要求13所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述多个图像中的每个图像中,包括由于光相对于上述片剂的单向反射而像素值比其他的区域高预定值以上的区域在内的区域被设定为上述掩模区域。
15.根据权利要求13或者14所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂具有作为上述第1区域的第1主面、与上述第1主面相对的第2主面、以及连结上述第1主面的周缘以及上述第2主面的周缘的侧面,
在上述多个图像中的每个图像中,位于上述片剂的侧面占据的侧面区域的两侧的端部区域被设定为上述掩模区域。
16.根据权利要求10~15的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂具有作为上述第1区域的第1主面、与上述第1主面相对的第2主面、以及连结上述第1主面的周缘以及上述第2主面的周缘的侧面,
上述工序(b)包括如下工序:
工序(b1),在上述多个图像中的每个图像中,确定出与上述片剂的上述第1主面所示的主面区域的轮廓对应的主面边缘;
工序(b2),在上述多个图像中的每个图像中,基于预先决定为上述主面区域的轮廓的形状的函数,求出上述主面边缘的近似线作为上述主面区域的轮廓;以及
工序(b3),在上述多个图像的每个图像中检测缺陷候补;
在上述工序(c)中,基于各像素相对于上述主面区域的位置在上述多个图像相互之间的对应关系,判断在上述工序(b3)中检测到的缺陷候补是否在上述2以上图像中共通。
17.根据权利要求16所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂的上述第1主面在俯视时具有大致圆形状,
上述函数是表示椭圆的函数,上述近似线是椭圆。
18.根据权利要求16或者17所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂具有大致圆盘形状,
在上述多个图像的每个图像中,上述片剂的侧面占据的侧面区域和上述主面区域构成片剂区域,
当将上述多个图像中的每个图像称为检查图像时,
上述工序(b1)包括如下工序:
工序(b11),在该工序(b11)中,对上述检查图像进行边缘检测处理并生成边缘图像;
工序(b12),在该工序(b12)中,在上述检查图像中从上述边缘图像确定出与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;
工序(b13),在该工序(b13)中,从上述片剂边缘提取出与在上述检查图像中上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述检查图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;
工序(b14),在该工序(b14)中,搜索在上述边缘图像中从上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离有预定距离的搜索区域内的像素,并确定出与上述主面区域和上述侧面区域之间的边界对应的边界边缘;
工序(b14),在该工序(b14)中,确定出一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘作为上述主面边缘。
19.根据权利要求18所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b14)中,
搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且是与该像素对应的上述检查图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
20.根据权利要求18或者19所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b14)中,
在上述搜索区域中,从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
21.一种片剂检查装置,该片剂检查装置检查片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查装置具备:
拍摄部,其拍摄片剂,并生成包括分别映现有从多个拍摄方向观察到的片剂的外观的多个图像在内的拍摄图像;以及
图像处理部,
上述图像处理部执行如下工序:
对上述拍摄图像进行检测片剂的缺陷候补的检查处理;以及
当通过上述检查处理在上述多个图像映现的上述片剂的第1区域中检测到在上述多个图像中的2个以上的图像共通的缺陷候补时,判断为在上述片剂产生缺陷。
22.一种片剂检查方法,该片剂检查方法检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查方法包括如下工序:
工序(a),在该工序(a)中,拍摄片剂,并生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;
工序(b),在该工序(b)中,确定出在上述拍摄图像中与上述片剂的上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域与侧面区域之间的边界对应的边界边缘,基于表示上述拍摄图像中的上述边界的形状的函数计算近似于上述边界边缘的第1近似线;以及
工序(c),在该工序(c)中,在上述边界边缘上的各像素与上述第1近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口。
23.根据权利要求22所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述主面区域以及上述侧面区域构成在上述拍摄图像中上述片剂占据的片剂区域,
上述工序(b)包括如下工序:
工序(b1),在该工序(b1)中,对上述拍摄图像进行边缘检测处理生成边缘图像;
工序(b2),在该工序(b2)中,从上述边缘图像确定出与上述片剂区域的轮廓对应的片剂边缘;
工序(b3),在该工序(b3)中,从上述片剂边缘提取出与上述拍摄图像中的上述第1主面的周缘中成为上述片剂区域的轮廓的一部分的部分、以及上述拍摄图像中的上述第2主面的周缘分别对应的主面外侧边缘以及侧面外侧边缘;
工序(b4),在该工序(b4)中,搜索在上述边缘图像中与上述侧面外侧边缘沿着预定方向分离预定距离的搜索区域内的像素,确定出上述边界边缘;
工序(b5),在该工序(b5)中,基于表示上述拍摄图像中的上述主面区域的轮廓的形状的函数,计算作为一组上述主面外侧边缘以及上述边界边缘的主面边缘的第2近似线;以及
工序(b6),在该工序(b6)中,从上述第2近似线提取上述边界边缘的上述第1近似线。
24.根据权利要求23所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂具有大致圆盘形状,
上述函数是表示椭圆的函数,上述第2近似线是椭圆。
25.根据权利要求23或者24所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b4)中,
搜索上述边缘图像的上述搜索区域内的像素且是与该像素对应的上述拍摄图像的像素的像素值大于预定阈值的像素,确定出上述边界边缘。
26.根据权利要求24或者25所述的片剂检查方法,其特征在于,
在上述工序(b4)中,
在上述搜索区域中,从上述侧面外侧边缘朝向上述主面外侧边缘搜索像素,确定出上述边界边缘。
27.根据权利要求23~26的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂检查方法包括如下工序:
从在上述工序(b5)中计算出的上述主面边缘的上述第2近似线提取出上述主面外侧边缘的第3近似线;以及
在上述主面外侧边缘上的各像素与上述第3近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口。
28.根据权利要求23~27的任一项所述的片剂检查方法,其特征在于,
上述片剂检查方法包括如下工序:
从在上述工序(b5)中计算出的上述主面边缘的上述第2近似线提取出上述侧面外侧边缘的第4近似线;以及
在上述侧面外侧边缘上的各像素与上述第4近似线之间的距离比预定阈值长时,判断为在上述片剂的上述第2主面的周缘产生缺口。
29.一种片剂检查装置,该片剂检查装置检查具有一对第1主面以及第2主面和侧面的片剂的外观,
其特征在于,
上述片剂检查装置具备:
拍摄部,其拍摄片剂,并生成映现有上述第1主面以及上述侧面这两者的拍摄图像;以及
图像处理部,
上述图像处理部确定出在上述拍摄图像中与上述片剂的上述第1主面以及上述侧面分别占据的主面区域与侧面区域之间的边界对应的边界边缘,
上述图像处理部基于表示上述拍摄图像中的上述边界的形状的函数计算近似于上述边界边缘的第1近似线,
在上述边界边缘上的各像素与上述第1近似线之间的距离比预定阈值长时,上述图像处理部判断为在上述片剂的上述第1主面的周缘产生缺口。
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---|---|---|---|
CN202310949454.2A CN116973369A (zh) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 片剂检查方法以及片剂检查装置 |
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018-004211 | 2018-01-15 | ||
JP2018-004210 | 2018-01-15 | ||
JP2018004210A JP7075218B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 錠剤検査方法および錠剤検査装置 |
JP2018-004206 | 2018-01-15 | ||
JP2018004211A JP6980538B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 錠剤検査方法および錠剤検査装置 |
JP2018004206A JP7083646B2 (ja) | 2018-01-15 | 2018-01-15 | 錠剤検査方法および錠剤検査装置 |
PCT/JP2018/048426 WO2019138930A1 (ja) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 錠剤検査方法および錠剤検査装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310949454.2A Division CN116973369A (zh) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 片剂检查方法以及片剂检查装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111602047A true CN111602047A (zh) | 2020-08-28 |
CN111602047B CN111602047B (zh) | 2023-08-18 |
Family
ID=67218667
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310949454.2A Pending CN116973369A (zh) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 片剂检查方法以及片剂检查装置 |
CN201880086537.0A Active CN111602047B (zh) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 片剂检查方法以及片剂检查装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310949454.2A Pending CN116973369A (zh) | 2018-01-15 | 2018-12-28 | 片剂检查方法以及片剂检查装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (2) | CN116973369A (zh) |
WO (1) | WO2019138930A1 (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112781452A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-05-11 | 湘潭大学 | 一种子弹底火顶部外观缺陷检测方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2017217784A (ja) * | 2016-06-06 | 2017-12-14 | フロイント産業株式会社 | 固形製剤印刷機及び固形製剤印刷方法 |
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JP6298033B2 (ja) * | 2015-11-26 | 2018-03-20 | Ckd株式会社 | 外観検査装置 |
-
2018
- 2018-12-28 CN CN202310949454.2A patent/CN116973369A/zh active Pending
- 2018-12-28 WO PCT/JP2018/048426 patent/WO2019138930A1/ja active Application Filing
- 2018-12-28 CN CN201880086537.0A patent/CN111602047B/zh active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019138930A1 (ja) | 2019-07-18 |
CN111602047B (zh) | 2023-08-18 |
CN116973369A (zh) | 2023-10-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |