CN111561868A - 一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法 - Google Patents
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Abstract
一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法,光学跟踪***与结构光扫描器结合使用,结构光扫描器外部增加带有靶球结构,使光学跟踪***可实时跟踪结构光扫描器的位置与姿态,并实时将结构光扫描器所测点云数据统一至光学跟踪***坐标系下,包括以下步骤:(1)结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿关系标定;(2)利用光学跟踪***,跟踪结构光扫描器的单站或多站非接触测量,本发明从测量开始至测量结束不对被测物体表面造成接触,不会对被测物造成损伤,测量精度高,测量速度快,测量点密度高,测量尺寸巨大,工作效率高,有巨大的社会和经济效益。
Description
技术领域
本发明涉及非接触测量技术领域,尤其涉及一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法。
背景技术
现代工业生产制造过程中,对工件的快速三维测量是较为重要的环节,目前高精度的工业测量技术有较多种,包括在被测物体表面粘贴人工靶标,利用相机采集图像并计算靶标点三维坐标的工业摄影测量、利用球坐标系利用激光实时对反射器坐标进行跟踪的激光跟踪技术、基于前方交会原理,利用两台或多台经纬仪实现空间点定位的双(多)经纬仪测量技术、三轴向装有导向与测长机构,利用探针接触物体表面读取点三维坐标的三坐标测量方法。以上的各种技术都能达到较高的测量精度,但是这些测量方式有一种共性,就是需要接触被测物体表面才能完成测量,对与物体表面不能接触的被测物(如镀膜反射面等)无法精确测量。还有将高亮光学靶标点代替反光靶标,投射至物体表面的基于光学靶标的工业摄影测量技术,虽然避免了与被测物表面的接触,但所投射出的点密度远远小于结构光扫描出的点密度,无法表示被测物的细部结构。
结构光扫描由结构光投射器与双相机构成,利用结构光投射器对物体表面投射多条激光线交叉排列的面状结构光,双相机实时采集图像并实时对图像进行解算处理,得出面状结构光包含的所有激光线上的点的像片二维坐标(x,y),并利用双目视觉原理解算出点三维坐标(X,Y,Z),移动结构光扫描器,便测量得出覆盖被测物表面的点云坐标。
光学跟踪即双相机摄影测量,在被测物表面粘贴摄影测量靶标以及编码标志点,利用两台相机以合适的轴距同时对被测物采集图像,再对图像进行像点扫描、识别、匹配,并基于双目视觉原理计算出靶标点的三维坐标。
上述两种测量方式均独立进行,且结构光扫描测量范围较小,无法满足大尺寸的三维测量,双相机摄影测量技术的实现则需要在被测物表面粘贴靶标点,在被测物表面不能接触的情况无法应用,且点密度较小无法表现被测物表面细部特征,大尺寸非接触高精度高点密度的测量方法至今未见公开报导。
发明内容
针对上述情况,为克服现有技术之缺陷,本发明之目的就是提供一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法,可有效解决在不接触被测物表面的情况下,结合结构光扫描和光学跟踪对被测物进行测量的方法。
为实现上述目的,本发明解决的技术方案是,一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法,光学跟踪***与结构光扫描器结合使用,结构光扫描器外部增加带有靶球结构,使光学跟踪***可实时跟踪结构光扫描器的位置与姿态,并实时将结构光扫描器所测点云数据统一至光学跟踪***坐标系下,包括以下步骤:
(1)结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿关系标定:a、将结构光扫描器和标定板在光学跟踪***测量范围内,定义光学***坐标系为C1,结构光扫描器坐标系为C2,结构光扫描器外部靶球结构坐标系为C3;
所述标定板为表面均匀粘贴摄影测量靶标点的平面状板,光学******为相机轴距固定不变的双相机测量***;b、手持结构光扫描器对标定板进行测量,获得标定板靶点在结构光扫描器坐标系C2下的坐标,记为A;同时光学跟踪***测量得出标定板靶点与结构光扫描器外部靶球结构在光学跟踪***坐标系C1中的坐标,分别记为B和C,结构光扫描器外部靶球结构在C3坐标系下坐标为D;c、由A和B得结构光扫描器坐标系C2与光学跟踪***坐标系C1的位姿转换矩阵R1,由C和D得结构光扫描器外部靶球结构坐标系C3与光学跟踪***坐标系C1转换矩阵R2,得结构光扫描器外部结构靶球坐标系C3与结构光扫描器坐标系C2位姿转换矩阵为R1R2,即结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿转换矩阵为R1R2;
(2)利用光学跟踪***,跟踪结构光扫描器的单站或多站非接触测量:当为单站非接触测量时,按照上对结构光扫描器进行标定,并对光学跟踪***两相机相对位置进行标定,光学跟踪***通过对结构光扫描器外部靶球结构进行测量,获得结构光扫描器的位姿参数,同时结构光扫描器对物体表面进行非接触扫描测量,将扫描所得点云坐标,通过转换矩阵R1、R2将点云三维坐标转换至光学跟踪***坐标系下,实时进行上述操作,实现单测站下光学跟踪***视场范围内的非接触扫描测量;当为多站非接触测量时,在被测物四周布设摄影测量靶标点作为公共点,利用单相机摄影测量***对公共点进行测量,得出公共点三维坐标,并以公共点所在坐标系为全局坐标系,在每个单站测量时,光学跟踪***同时对公共点进行测量,得公共点在该单站光学跟踪***坐标系下的点集;由公共点在单站光学跟踪***坐标系下的点集和在全局坐标系中的点集得出两坐标系位姿转换矩阵;由两坐标系位姿转换矩阵将单站测量点云数据由单站光学跟踪***坐标系转换至全局坐标系下;依次测量出所有单站数据,并将所有测量数据转换至全局坐标系下,实现多站非接触测量。
本发明从测量开始至测量结束不对被测物体表面造成接触,不会对被测物造成损伤,测量精度高,测量速度快,测量点密度高,测量尺寸巨大,工作效率高,有巨大的社会和经济效益。
附图说明
图1为本发明实施工艺流程图;
图2为本发明结构光扫描器坐标系示意图;
图3为结构光扫描器扫描模块与外部靶球结构位姿关系标定示意图;
图4为本发明光学跟踪***配合结构光扫描器单站测量示意图;
图5为本发明公共靶标点图;
图6为本发明光学跟踪***基于公共点转换多站位测量示意图;。
具体实施方式
以下结合附图和具体情况对本发明具体实施方式作详细说明。
本发明在具体实施中,经实地应用和反复试验,取得了非常好的有益技术效果,包括以下步骤:
(1)结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿关系标定:a、将结构光扫描器和标定板在光学跟踪***测量范围内,定义光学***坐标系为C1,结构光扫描器坐标系为C2,结构光扫描器外部靶球结构坐标系为C3;
所述标定板为表面均匀粘贴摄影测量靶标点的平面状板,光学******为相机轴距固定不变的双相机测量***;
b、手持结构光扫描器对标定板进行测量,获得标定板靶点在结构光扫描器坐标系C2下的坐标,记为A;同时光学跟踪***测量得出标定板靶点与结构光扫描器外部靶球结构在光学跟踪***坐标系C1中的坐标,分别记为B和C,结构光扫描器外部靶球结构在C3坐标系下坐标为D;c、以标定板上的靶标点作为公共点,由A和B得结构光扫描器坐标系C2与光学跟踪***坐标系C1的位姿转换矩阵R1,以靶球作为公共点,由C和D得结构光扫描器外部靶球结构坐标系C3与光学跟踪***坐标系C1转换矩阵R2,得结构光扫描器外部结构靶球坐标系C3与结构光扫描器坐标系C2位姿转换矩阵为R1R2,即结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿转换矩阵为R1R2,标定完毕;
(2)利用光学跟踪***跟踪结构光扫描器的单个测站下对被测物非接触测量:
A1、将光学跟踪***架设在三脚架上,并且连接计算机,将结构光扫描器连接至计算机,手持结构光扫描器,确保在光学跟踪***的跟踪范围之内,并确保结构光扫描器可以扫描被测物体表面
A2、手持结构光扫描器对被测物进行测量,被测物体为直径2m平面反射面,将反射面放置在结构光扫描器测量范围内,与被测物表面距离20-30cm,使得结构光扫描器上的结构光投射器可以将结构光清晰的投射至物体表面,结构光扫描器对反射面持续进行扫描,直至点云完全覆盖反射面为止,结构光扫描器扫描模块的双相机实时采集图像数据,获取一时刻的点云坐标数据,上传至计算机,实时处理得出该位姿状态下的C2坐标下的点云数据;同时,光学跟踪***对结构光扫描器外部靶球实时采集图像,上传至计算机,实时处理结构光扫描器(靶球)在C1坐标系下的位置姿态,由于结构光扫描器外部结构为碳纤维结构,结构稳定,靶球相对位置关系不变,在跟踪结构光扫描器过程中,测量出靶球坐标即可反算出结构光扫描器的位置姿态,计算得出转换矩阵R1R2;
A3、通过位姿转换矩阵R1R2将上述同一时刻结构光扫描器扫描点云数据实时转换至C1坐标系下;
A4、设以被测物为中心建立的坐标系为全局坐标系C0系,以光学***为中心建立的坐标系为C1系,以结构光扫描器为中心建立的坐标系为C2系,设结构光扫描器上不在同一条直线的i≥4个外部靶球被光学***识别,则外部靶球在C1中坐标矩阵为(Xb,Yb,Zb),这些靶点在C2坐标系中的坐标为(Xc,Yc,Zc),并设C1系与C2系的旋转矩阵为R12,平移矩阵为T12:
A5、单个测站测量时,C0系与C1系重合,设结构光扫描仪所扫描出的三维点云坐标为(xc,yc,zc),转换到C1系之后的坐标为(xb,yb,zb),同样为C0系中的坐标(x,y,z),完成单个测站下对被测物非接触测量:
(3)若被测物尺寸过大,需要移动光学***,利用光学跟踪***跟踪结构光扫描器的多个测站下对被测物非接触测量:
B1、被测物为直径为3.1m,高为0.7m的抛物面反射面,在被测物四周布设摄影测量靶标点作为公共点,利用单相机摄影测量***对公共点进行测量,得出公共点三维坐标,公共点点集坐标系为C0系,即全局坐标系;
B2、在每个测站测量时,与上述单个测站步骤相同,不同的是,在测量过程中,应尽可能地将公共点放置光学跟踪***视场之内,将单站所测公共点与全局坐标系公共点集联合得出该测站转换矩R01,利用所求转换矩阵R01将单站测得的点云转换至全局坐标系C0下,设公共点在C0系坐标为(Xa,Ya,Za),其中一个测站C1系的坐标为(Xb,Yb,Zb),并设C0系与C1系的旋转矩阵为R01,平移矩阵为T01,则:
B3、由已知量得最终点云三维坐标(x,y,z)为:
B4、测完所有测站,即完成多个测站下对被测物非接触测量;
其中矩阵R01、R02为旋转矩阵:
本发明在实施测量过程中仪器不接触被测物及其平面即可测量,同时不在被测表面粘贴任何靶标工装类辅助工具,通过光学跟踪***对结构光扫描器的实时跟踪,结构光扫描器对被测表面实时扫描,通过上述所求转换矩阵实时将点云数据实时转换至统一坐标系内,即可完成整个非接触测量。
上述实施例只用于对本发明加以解释,并非用于限定本发明的范围,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出更动或者修饰为等同变化的等效实施例,均落在本发明的保护范围内,除了上述被测物,本发明并经反复多次对其他产品也进行了测试,均取得了相同和相近似的结果,这里不再一一重述,本发明方法具有以下有益技术效果:
(1)测量速度快:对于2m直径反射面,20分钟即可完成型面测量;
(2)测量精度高:标称测量精度RMS优于0.030mm;
(3)测量点密度高:点间距最密为0.020mm,点密度最高可达2500点/cm2,对被测物的细部节理表现良好;
(4)非接触测量:从测量开始至测量结束不对被测物体表面造成接触,相对于常规结构光扫描测量省去在被测物表面粘贴靶标点等步骤,且不会对被测物体造成损伤;
(5)测量尺寸巨大:单站光学跟踪***测量纵深为1.5m至4.2m,高度方向上的测量范围由宽1.4m至3.7m,宽度方向上的测量范围由宽0.9m至3.6m,总体有效测量体积为17.6m3,若结合公共点进行多站测量,则会成倍放大有效测量范围;
(6)抗干扰能力强:光学跟踪***双相机由碳纤维轴管集成,相对姿态稳定有助于提高测量稳定性,结构光扫描器外部靶球结构,同样由碳纤维作为框架,在测量过程中不受现场震动等影响,保证测量准确性,稳定性,工作效率高,经济和社会效益巨大。
Claims (2)
1.一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法,其特征在于,光学跟踪***与结构光扫描器结合使用,结构光扫描器外部增加带有靶球结构,使光学跟踪***可实时跟踪结构光扫描器的位置与姿态,并实时将结构光扫描器所测点云数据统一至光学跟踪***坐标系下,包括以下步骤:
(1)结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿关系标定:a、将结构光扫描器和标定板在光学跟踪***测量范围内,定义光学***坐标系为C1,结构光扫描器坐标系为C2,结构光扫描器外部靶球结构坐标系为C3;
所述标定板为表面均匀粘贴摄影测量靶标点的平面状板,光学******为相机轴距固定不变的双相机测量***;b、手持结构光扫描器对标定板进行测量,获得标定板靶点在结构光扫描器坐标系C2下的坐标,记为A;同时光学跟踪***测量得出标定板靶点与结构光扫描器外部靶球结构在光学跟踪***坐标系C1中的坐标,分别记为B和C,结构光扫描器外部靶球结构在C3坐标系下坐标为D;c、由A和B得结构光扫描器坐标系C2与光学跟踪***坐标系C1的位姿转换矩阵R1,由C和D得结构光扫描器外部靶球结构坐标系C3与光学跟踪***坐标系C1转换矩阵R2,得结构光扫描器外部结构靶球坐标系C3与结构光扫描器坐标系C2位姿转换矩阵为R1R2,即结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿转换矩阵为R1R2;
(2)利用光学跟踪***,跟踪结构光扫描器的单站或多站非接触测量:当为单站非接触测量时,按照上述对结构光扫描器进行标定,并对光学跟踪***两相机相对位置进行标定,光学跟踪***通过对结构光扫描器外部靶球结构进行测量,获得结构光扫描器的位姿参数,同时结构光扫描器对物体表面进行非接触扫描测量,将扫描所得点云坐标,通过转换矩阵R1、R2将点云三维坐标转换至光学跟踪***坐标系下,实时进行上述操作,实现单测站下光学跟踪***视场范围内的非接触扫描测量;当为多站非接触测量时,在被测物四周布设摄影测量靶标点作为公共点,利用单相机摄影测量***对公共点进行测量,得出公共点三维坐标,并以公共点所在坐标系为全局坐标系,在每个单站测量时,光学跟踪***同时对公共点进行测量,得到公共点在该单站光学跟踪***坐标系下的点集;由公共点在单站光学跟踪***坐标系下的点集和在全局坐标系中的点集得出两坐标系位姿转换矩阵;由两坐标系位姿转换矩阵,将单站测量点云数据,由单站光学跟踪***坐标系转换至全局坐标系下;依次测量出所有单站数据,并将所有测量数据转换至全局坐标系下,实现多站非接触测量。
2.根据权利要求1所述的利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法,其特征在于,所述的利用光学跟踪***,跟踪结构光扫描器的单站或多站非接触测量:当为单站非接触测量时,①、将光学跟踪***放置在确保可以跟踪结构光扫描器的位置,手持结构光扫描器置于光学跟踪***的测量视场范围内,扫描被测物体表面;
②、手持结构光扫描器对被测物进行测量,与被测物表面距离20-30cm,结构光扫描器上的结构光投射器将结构光清晰的投射至物体表面,结构光扫描器扫描模块的双相机实时采集图像数据,上传至计算机,实时处理得出该位姿状态下的C2坐标下的点云数据;同时,光学跟踪***对结构光扫描器外部靶球实时采集图像,上传至计算机,实时处理计算出靶球在C1坐标系下坐标;
③、以被测物为中心,建立坐标系为全局坐标C0系,以光学***为中心,建立坐标C1系,以结构光扫描器为中心,建立坐标C2系,设结构光扫描器上不在同一条直线的i≥4个外部靶球被光学***识别,则外部靶球在C1系中坐标矩阵为(Xb,Yb,Zb),这些靶点在C2系中的坐标为(Xc,Yc,Zc),并设C1系与C2系的旋转矩阵为R12,平移矩阵为T12:
④、单个测站测量时,C0系与C1系重合,设结构光扫描仪所扫描出的三维点云坐标为(xc,yc,zc),转换到C1系之后的坐标为(xb,yb,zb),同样为C0系中的坐标(x,y,z):
完成单站非接触测量;
⑤、当为多站非接触测量时,在被测物四周布设摄影测量靶标点作为公共点,利用单相机摄影测量***对公共点进行测量,得出公共点三维坐标,公共点点集坐标为C0系,即全局坐标系C0,设公共点在C0系坐标为(Xa,Ya,Za),其中一个测站C1系的坐标为(Xb,Yb,Zb),并设C0系与C1系的旋转矩阵为R01,平移矩阵为T01:
得最终点云三维坐标(x,y,z)为:
测完所有测站,即完成整个测量。
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