CN111273201B - 一种小型熔断器耐久性试验的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，其特征在于，所述测试电路部包括电流发生器、第一支路、第二支路，所述第一支路与电流发生器串联，所述第二支路与电流发生器串联，且第一支路与第二支路之间为并联设置；所述第一支路上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接；本发明所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1，以及现有技术中采用大电压、大负载所造成的电气安全隐患，同时也节省了能源。

Description

一种小型熔断器耐久性试验的测试方法

技术领域

本发明涉及电气设备检测领域，特别涉及一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法。

背景技术

根据不同规格熔断器的技术参数和标准规定的测试要求，需要对熔断器进行耐久性的检测；具体的，在进行小型熔断器耐久性试验的过程中往往参考 GB/T 9364.1-2015《小型熔断器第1部分小型熔断器定义和小型熔断体通用要求》这一国家标准，其中要求小型熔断器耐久性试验需要通相关标准规定的电流1h，然后切断电流15min，循环100次，电流稳定在设定值的±1％范围内。

在对小型熔断器耐久性进行检测时，往往需要将小型熔断器、电源、负载与时间继电器串联起来，再开启电源给小型熔断器通电，通过时间继电器控制通电流时间；例如，申请号为201710146636.0的专利申请公开了一种熔断器技术参数检测装置及其检测方法，能够对熔断器的耐久性进行检测；但在现有技术的操作过程中，在切断电流后重新导通时会产生高冲击电流，往往不符合电流误差在设定值±1％内的要求，这种冲击电流如果过大将会烧毁小型熔断器。

在现有技术中，为避免这种冲击电流烧毁熔断器，往往将电压与负载按照比例一起增大，电压与负载越大，电流稳定性越高，来提高电流的稳定性；但这种设置会因为使用了大电压、大负载所存在的电气安全隐患，同时浪费能源。因此，为解决上述相关问题，需要一种小型熔断器耐久性试验测试装置。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，以解决现有技术中使用大电压、大负载造成的安全隐患与能源浪费问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种小型熔断器耐久性试验测试装置，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，所述测试电路部包括电流发生器、第一支路、第二支路，所述第一支路与电流发生器串联，所述第二支路与电流发生器串联，且第一支路与第二支路之间为并联设置；所述第一支路上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接。

进一步的，所述第一继电器R1包括第一线圈C1、第一触点K1，所述第一触点K1与待测小型熔断器F1以串联的方式设置在第一支路中，所述第一线圈 C1与控制部连接。

进一步的，所述第二继电器R2包括第二线圈C2、第二触点K2，所述第二触点K2设置在第二支路中，所述第二线圈C2与控制部连接。

进一步的，第一触点K1耐电流能力大于电流发生器的设定电流值，第二触点K2的耐电流能力大于电流发生器的设定电流值。

进一步的，所述控制部包括控制模块、存储器，所述控制模块与存储器连接，所述控制模块分别与第一线圈C1、第二线圈C2连接。

进一步的，所述控制模块为单片机***，所述存储器为可擦写式存储介质。

一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，所述测试方法使用所述小型熔断器耐久性试验测试装置，所述方法包括：

步骤一、存储器的存储数值调零，并进行第一电流稳定过程；

步骤二、在第一电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器的存储数值加1；

步骤三、在第二电流稳定过程结束后，进行第三电流稳定过程；

步骤四、在第三电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器的存储数值加1；

步骤五、在第二电流稳定过程结束后，控制模块判断存储器的存储数值是否达到预设值；是，则进行步骤六；否，则返回步骤三；

步骤六、将第一支路、第二支路全部断开，试验结束。

进一步的，所述第一电流稳定过程包括：

控制模块控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合；

打开电流发生器，设置预设电流；

经过第一预设时长t1后，控制模块控制第一线圈C1通电，第一触点K1 吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块控制第二线圈C2断电，第二触点K2 断开；

测试装置维持第三预设时长t3。

进一步的，所述第二电流稳定过程包括：

控制模块控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块控制第一线圈C1断电，第一触点K1 断开；

测试装置维持第四预设时长t4。

进一步的，所述第三电流稳定过程包括：

控制模块控制第一线圈C1通电，第一触点K1吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块控制第二线圈C2断电，第二触点K2 断开；

测试装置维持第三预设时长t3。

进一步的，第一预设时长t1为5分钟，第二预设时长t2为2秒，第三预设时长t3为1小时，第四预设时长t4为15分钟。

进一步的，在步骤五中，所述预设值为100。

相对于现有技术，本发明所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法具有以下优势：

本发明所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，在对小型熔断器耐久性试验的测试过程中，通过控制模块对第一继电器R1、第二继电器 R2进行控制，使得第一继电器R1、第二继电器R2交替连通断开，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1，同时也避免了现有技术中将电压与负载按照比例一起增大这一情况，避免了大电压、大负载所造成的电气安全隐患，同时也节省了能源。

附图说明

构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置的控制结构的示意图；

图3为本发明实施例所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置的测试方法的流程示意图。

附图标记说明：

1-控制模块，2-存储器，3-电流发生器，4-第一支路，5-第二支路。

具体实施方式

下文将使用本领域技术人员向本领域的其它技术人员传达他们工作的实质所通常使用的术语来描述本公开的发明概念。然而，这些发明概念可体现为许多不同的形式，因而不应视为限于本文中所述的实施例。提供这些实施例是为了使本公开内容更详尽和完整，并且向本领域的技术人员完整传达其包括的范围。也应注意这些实施例不相互排斥。来自一个实施例的组件、步骤或元素可假设成在另一实施例中可存在或使用。在不脱离本公开的实施例的范围的情况下，可以用多种多样的备选和/或等同实现方式替代所示出和描述的特定实施例。本申请旨在覆盖本文论述的实施例的任何修改或变型。对于本领域的技术人员而言明显可以仅使用所描述的方面中的一些方面来实践备选实施例。本文出于说明的目的，在实施例中描述了特定的数字、材料和配置，然而，领域的技术人员在没有这些特定细节的情况下，也可以实践备选的实施例。在其它情况下，可能省略或简化了众所周知的特征，以便不使说明性的实施例难于理解。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设有”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通；术语“固定”可以是螺栓固定连接和/或螺钉固定连接和/或卡接和/或焊接，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

另外，需要说明的是，在本发明的实施例中涉及的小型熔断器，均是指GB/T9364.1-2015中的小型熔断器，其具体定义可参考该国家标准。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

实施例1

为了解决现有技术中使用大电压、大负载造成的安全隐患与能源浪费问题，本实施例提出一种小型熔断器耐久性试验测试装置，如附图1-2所示，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，所述测试电路部包括电流发生器3、第一支路4、第二支路5，所述第一支路4与电流发生器3串联，所述第二支路5 与电流发生器3串联，且第一支路4与第二支路5之间为并联设置；所述第一支路4上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路5上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接。

其中，第一继电器R1、第二继电器R2为行业内常见的电磁继电器，属于自动开关元件，通过控制部对第一继电器R1、第二继电器R2进行控制，使得第一支路4、第二支路5处于断开或连通状态；当第一支路4处于断开状态时，待测小型熔断器F1为断电状态，当第一支路4处于连通状态时，待测小型熔断器F1为通电状态。

从而本实施例通过设置第一支路4与第二支路5之间的并联关系，通过控制部控制第一继电器R1、第二继电器R2的启闭状态，并使第一继电器R1、第二继电器R2交替处于闭合状态，即第一支路4与第二支路5之间交替处于连通状态，在对待测小型熔断器F1进行耐久性测试时，能够避免因给电流发生器 3瞬间施加负载导致电流冲击，损坏待测小型熔断器F1的情况发生。

具体的，所述第一继电器R1包括第一线圈C1、第一触点K1，所述第一触点K1与待测小型熔断器F1以串联的方式设置在第一支路4中，所述第一线圈 C1与控制部连接，用于产生电磁吸力，控制第一触点K1的开启或闭合，从而实现第一支路4的断开或连通；第一触点K1耐电流能力大于电流发生器3的设定电流值，确保试验过程中第一触点K1不会因电流过大而被烧毁。

所述第二继电器R2包括第二线圈C2、第二触点K2，所述第二触点K2设置在第二支路5中，所述第二线圈C2与控制部连接，用于产生电磁吸力，控制第二触点K2的开启或闭合，从而实现第二支路5的断开或连通；第二触点K2的耐电流能力大于电流发生器3的设定电流值，确保试验过程中第二触点 K2不会因过电流而被烧毁。

所述电流发生器3是一个恒流源，用于为第一继电器R1、第二继电器R2、小型熔断器F1提供测试需要的电流。

所述控制部包括控制模块1、存储器2，所述控制模块1与存储器2连接，所述控制模块1分别与第一线圈C1、第二线圈C2连接，用于定时控制第一线圈C1、第二线圈C2的通电或断电状态；

具体的，所述控制模块1优选为常规的单片机***，对于第一线圈C1的控制而言，在控制第一线圈C1处于通电状态时，第一线圈C1产生电磁吸力，使得第一触点K1闭合，实现第一支路4的连通；在控制第一线圈C1处于断电状态时，第一线圈C1无电磁吸力，使得第一触点K1开启，实现第一支路4的断开；对于第二线圈C2的控制而言，在控制第二线圈C2处于通电状态时，第二线圈C2产生电磁吸力，使得第二触点K2闭合，实现第二支路5的连通；在控制第二线圈C2处于断电状态时，第二线圈C2无电磁吸力，使得第二触点 K2开启，实现第二支路5的断开。

所述存储器2为可擦写式存储介质，例如移动硬盘、闪存卡、U盘等常规数据存储介质。

对于待测小型熔断器F1而言，是本发明要测试的对象；且待测小型熔断器 F1以能够拆卸的方式设置在第一支路4上，从而在对对不同小型熔断器进行测试时，能够无需对电路结构进行调整或拆卸，仅需将已完成测试的小型熔断器从第一支路4上拆卸下来，然后将待测试的小型熔断器安装在第一支路4上，即可进行后续的测试工作，便于测试人员进行操作，有利于提高检测效率。

实施例2

本实施例在实施例1的基础上，提供一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，如附图1-3所示，所述测试方法包括：

步骤一、存储器2的存储数值调零，并进行第一电流稳定过程；

其中，所述第一电流稳定过程包括：

控制模块1控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合，即第二支路5连通。

打开电流发生器3，设置预设电流；所述预设电流根据国标GB/T 9364.1-2015中的要求进行设置；此时，电流从电流发生器3输出，经过第二支路5上的第二触点K2，回到电流发生器3。

经过第一预设时长t1后，控制模块1控制第一线圈C1通电，第一触点K1 吸合，即第一支路4连通；此时，根据并联电路的特性，电流从电流发生器3 输出，在经过第二支路5上的第二触点K2的同时，也经过第一支路4上的第一触点K1、待测小型熔断器F1，回到电流发生器3。作为优选，所述第一预设时长t1为5分钟。

经过第二预设时长t2后，控制模块1控制第二线圈C2断电，第二触点K2 断开；此时，电流仅经过第一支路4上的第一触点K1、待测小型熔断器F1。作为优选，所述第二预设时长t2为2秒；在此第二预设时长t2的期间，电流发生器3因测试电路中增加第一触点K1、待测小型熔断器F1等负载而造成的电流微量变化逐渐消失，并且电流发生器3输出的电流能够达到稳定状态；该过程中，第一继电器R1、第二继电器R2交替连通断开，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1。

测试装置维持第三预设时长t3，按照国标GB/T 9364.1-2015的要求，所述第三预设时长t3为1小时。

步骤二、在第一电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器2 的存储数值加1；

其中，所述第二电流稳定过程包括：

控制模块1控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合，即第二支路5连通。

经过第二预设时长t2后，控制模块1控制第一线圈C1断电，第一触点K1 断开，即第一支路4断开；作为优选，所述第二预设时长t2为2秒。

测试装置维持第四预设时长t4，按照国标GB/T 9364.1-2015的要求，所述第四预设时长t4为15分钟。

步骤三、在第二电流稳定过程结束后，进行第三电流稳定过程；

其中，所述第三电流稳定过程包括：

控制模块1控制第一线圈C1通电，第一触点K1吸合，即第一支路4连通，电流通过待测小型熔断器F1。

经过第二预设时长t2后，控制模块1控制第二线圈C2断电，第二触点K2 断开；此时，电流仅经过第一支路4上的第一触点K1、待测小型熔断器F1。作为优选，所述第二预设时长t2为2秒；在此第二预设时长t2的期间，电流发生器3因测试电路中增加第一触点K1、待测小型熔断器F1等负载而造成的电流微量变化逐渐消失，并且电流发生器3输出的电流能够达到稳定状态；该过程中，第一继电器R1、第二继电器R2交替连通断开，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1。

测试装置维持第三预设时长t3，按照国标GB/T 9364.1-2015的要求，所述第三预设时长t3为1小时。

步骤四、在第三电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器2 的存储数值加1；

其中，步骤四中的第二电流稳定过程与步骤二中的第二电流稳定过程相同，在此不进行赘述。

步骤五、在第二电流稳定过程结束后，控制模块1判断存储器2的存储数值是否达到预设值；是，则进行步骤六；否，则返回步骤三；

作为优选，所述预设值为100。

步骤六、将第一支路4、第二支路5全部断开，试验结束。

控制模块1分别控制第一线圈C1、第二线圈C2断电，从而第一触点K1、第二触点K2均断开，即第一支路4、第二支路5全部断开。

从而在上述小型熔断器耐久性试验测试装置及其测试方法的基础上，本发明在对小型熔断器耐久性试验的测试过程中，通过控制模块1对第一继电器R1、第二继电器R2进行控制，使得第一继电器R1、第二继电器R2交替连通断开，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1，同时也避免了现有技术中将电压与负载按照比例一起增大这一情况，避免了大电压、大负载所造成的电气安全隐患，同时也节省了能源。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述测试方法使用小型熔断器耐久性试验测试装置，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，所述测试电路部包括电流发生器(3)、第一支路(4)、第二支路(5)，所述第一支路(4)与电流发生器(3)串联，所述第二支路(5)与电流发生器(3)串联，且第一支路(4)与第二支路(5)之间为并联设置；所述第一支路(4)上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路(5)上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接；所述第一继电器R1包括第一线圈C1、第一触点K1，所述第一触点K1与待测小型熔断器F1以串联的方式设置在第一支路(4)中，所述第一线圈C1与控制部连接；所述第二继电器R2包括第二线圈C2、第二触点K2，所述第二触点K2设置在第二支路(5)中，所述第二线圈C2与控制部连接；

所述方法包括：

步骤一、存储器(2)的存储数值调零，并进行第一电流稳定过程；

步骤二、在第一电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器(2)的存储数值加1；

步骤三、在第二电流稳定过程结束后，进行第三电流稳定过程；

步骤四、在第三电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器(2)的存储数值加1；

步骤五、在第二电流稳定过程结束后，控制模块(1)判断存储器(2)的存储数值是否达到预设值；是，则进行步骤六；否，则返回步骤三；

步骤六、将第一支路(4)、第二支路(5)全部断开，试验结束。

2.根据权利要求1所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，第一触点K1耐电流能力大于电流发生器(3)的设定电流值，第二触点K2的耐电流能力大于电流发生器(3)的设定电流值。

3.根据权利要求1所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述控制部包括控制模块(1)、存储器(2)，所述控制模块(1)与存储器(2)连接，所述控制模块(1)分别与第一线圈C1、第二线圈C2连接。

4.根据权利要求3所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述控制模块(1)为单片机***，所述存储器(2)为可擦写式存储介质。

5.根据权利要求1所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述第一电流稳定过程包括：

控制模块(1)控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合；

打开电流发生器(3)，设置预设电流；

经过第一预设时长t1后，控制模块(1)控制第一线圈C1通电，第一触点K1吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块(1)控制第二线圈C2断电，第二触点K2断开；

测试装置维持第三预设时长t3。

6.根据权利要求5所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述第二电流稳定过程包括：

控制模块(1)控制第二线圈C2通电，第二触点K2吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块(1)控制第一线圈C1断电，第一触点K1断开；

测试装置维持第四预设时长t4。

7.根据权利要求6所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，所述第三电流稳定过程包括：

控制模块(1)控制第一线圈C1通电，第一触点K1吸合；

经过第二预设时长t2后，控制模块(1)控制第二线圈C2断电，第二触点K2断开；

测试装置维持第三预设时长t3。

8.根据权利要求7所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，第一预设时长t1为5分钟，第二预设时长t2为2秒，第三预设时长t3为1小时，第四预设时长t4为15分钟。

9.根据权利要求1所述的一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，其特征在于，在步骤五中，所述预设值为100。

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