CN111245306B - 信号处理装置以及信号处理方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供信号处理装置以及信号处理方法。该信号处理装置具有：预处理电路，生成N个校正检测信号；信号处理电路，其根据N个校正检测信号，生成并输出直线化了的线段连接信号；记录介质，信号处理电路按照计算机程序的指令执行如下处理：逐次检测N个校正检测信号中的任意2个信号彼此交叉的交叉点；将从交叉点联结到与该交叉点相邻的其他交叉点的校正检测信号分割成1个或多个段，检测各段作为分割信号；从存储装置读出测定数据；参照测定数据，根据由线段连接信号规定的N个校正检测信号的关系和分割信号，确定对应的段；以及根据确定出的段，根据分割信号的电平决定可动子的位置估计值，输出表示位置估计值的信号。

Description

信号处理装置以及信号处理方法
本申请是申请号为201580070202.6(PCT/JP2015/085559)、申请日为2015年12月18日、发明名称为“位置估计方法和位置控制装置”的中国发明专利申请的分案申请。
技术领域
本申请涉及信号处理装置以及信号处理方法。
背景技术
以往，提出了利用磁传感器检测马达的转子的旋转位置的位置检测装置。例如，在专利文献1中记载了如下技术：使用来自安装在马达上的光传感器和编码器盘的检测信号，对马达的旋转位置进行控制。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2012-213308号公报
发明内容
发明要解决的问题
在专利文献1所记载的技术中，编码器读取的检测信号容易受到粉尘等环境的影响。此外，由于搭载编码器而使马达变大。
根据本公开，提供对位置估计方法和位置控制装置的实施方式，检测可动子的位置的检测信号不容易受到环境影响，能够提高位置的检测精度。
用于解决问题的手段
本发明的位置估计方法的一个方式，在信号检测步骤中，N个(N为3以上的整数)传感器分别检测与可动子的位置对应的磁场，输出电信号。各个检测信号的相位分别错开360度除以N得到的角度。接着，在交叉位置检测步骤中，交叉位置检测部逐次检测通过所述信号检测步骤输出的各个所述检测信号彼此交叉的交叉点。接着，在分割检测步骤中，分割检测部检测所述检测信号中的从所述交叉点连接至与该交叉点相邻的其他所述交叉点的部分，作为1个或多个分割信号。接着，在线段连接步骤中，线段连接部逐次连接所述分割信号，根据所述连接的所述多个分割信号估计所述可动子的位置，生成位置估计值信号。
本发明的位置估计装置的一个方式是对具有多个磁极的可动子的位置进行估计的位置估计装置，其具有：N个(N为3以上的整数)传感器，它们检测所述多个磁极所形成的磁场，分别输出具有与所检测到的磁场的强度对应的大小的检测信号，该N个传感器被配置成，所述N个检测信号的相位分别错开360度/N的角度；预处理电路，其根据所述N个检测信号生成N个校正检测信号；信号处理电路，其根据所述N个校正检测信号，生成并输出表示所述可动子的位置估计值的信号；记录介质，其与所述信号处理电路连接，存储有对所述信号处理电路的动作进行控制的计算机程序。所述信号处理电路按照所述计算机程序的指令执行如下步骤：逐次检测所述N个校正检测信号中的任意2个信号彼此交叉的交叉点；将从所述交叉点联结至与该交叉点相邻的其他所述交叉点的校正检测信号分割成1个或多个段(segment)，检测各段作为分割信号；从存储装置读出测定数据，该测定数据是将与各段对应的所述可动子的移动量与全部的段对应起来而得到的；参照所述测定数据，根据所述N个校正检测信号的关系和所述分割信号，确定与所述可动子的当前位置对应的段；以及根据所述确定出的段，基于所述分割信号的电平决定所述可动子的位置估计值，输出表示所述位置估计值的信号。
本发明的位置估计装置的另一个方式是对具有多个磁极的可动子的位置进行估计的位置估计装置，该位置估计装置具有：N个(N为3以上的整数)传感器，它们检测所述多个磁极所形成的磁场，分别输出具有与所检测到的磁场的强度对应的大小的检测信号，该N个传感器被配置成，所述N个检测信号的相位分别错开360度/N的角度；预处理电路，其根据所述N个检测信号生成N个校正检测信号；信号处理电路，其根据所述N个校正检测信号，生成并输出表示所述可动子的位置估计值的信号；记录介质，其与所述信号处理电路连接，存储有对所述信号处理电路的动作进行控制的计算机程序，所述信号处理电路按照所述计算机程序的指令执行如下步骤：逐次检测所述N个校正检测信号中的任意2个信号彼此交叉的交叉点；将从所述交叉点联结至与该交叉点相邻的其他所述交叉点的校正检测信号分割成1个或多个段，检测各段作为分割信号；逐次连接所述分割信号，根据所述连接的多个所述分割信号，基于所述分割信号的电平决定所述可动子的位置估计值，输出表示所述位置估计值的信号。
本发明的位置控制***的一个方式是对所述可动子的位置进行控制的位置控制***，该位置控制***具有：上述任意一种位置估计装置；驱动电路，其驱动所述可动子；以及控制电路，其与所述驱动电路连接，向所述驱动电路提供电压指令值，该控制电路根据从所述位置估计装置取得的表示所述可动子的位置估计值的信号以及从外部装置输入的位置指令值，决定所述电压指令值。
发明的效果
根据本发明的实施方式，检测可动子的位置的检测部的检测信号不容易受到粉尘等环境的影响。
附图说明
图1是示出第1实施方式的位置检测装置的结构的概略图。
图2是示出第1实施方式的马达的概略结构图。
图3是对第1实施方式的放大部输出的检测信号Hu0、Hv0、Hw0的一例进行说明的图。
图4是第1实施方式的位置估计部进行的处理的步骤的流程图。
图5是对第1实施方式的AD转换部输出的检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的一例进行说明的图。
图6A是对第1实施方式的3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系的组合、交叉点、过零点、分割信号进行说明的图。
图6B是对第1实施方式的电角1个周期的分割信号的连接进行说明的图。
图7是对第1实施方式的机械角1个周期的分割信号的连接进行说明的图。
图8是示出第2实施方式的本实施方式的马达控制***的结构的概略图。
图9是第2实施方式的位置运算部进行的处理的步骤的流程图。
图10是第2实施方式的第1校正的处理的步骤的流程图。
图11是第2实施方式的进行第1校正的结果的一例的波形图。
图12是第2实施方式的进行第2校正的结果的一例的波形图。
图13是第2实施方式的偏移校正值、正侧增益校正值、负侧增益校正值的计算处理的流程图。
图14是将第2实施方式的电角1个周期的角度的分割信号结合而成的波形图。
图15是第2实施方式的进行本实施方式的第3校正的结果的一例的波形图。
图16是示出第3实施方式的马达控制***的结构的概略图。
图17是对第3实施方式的分割信号的归一化进行说明的图。
图18是对第3实施方式的归一化系数的计算进行说明的图。
图19是对第3实施方式的机械角度的计算进行说明的图。
图20是第3实施方式的转子R的初始位置的估计处理的步骤的流程图。
图21是霍尔元件100的电路图。
图22是示出一定的磁场所涉及的霍尔元件100的输出电压和施加电压Vin之间的关系的一例的曲线图。
图23是使用3个霍尔元件实现了3个传感器11～传感器13的结构的一例的电路图。
图24是示出霍尔元件100的温度特性的一例的图。
图25是电阻器15、传感器11、传感器12、传感器13和电阻器16的电阻值R1、Rin1、Rin2、Rin3和R2的图。
图26是示出第4实施方式的霍尔元件100的电路结构的例子的电路图。
图27是示出第5实施方式中由于周围温度的变化而使霍尔元件的输出发送了变化的情况下、对该变化进行校正的结构例的电路图。
图28是示出第6实施方式的位置运算部32的结构的概略图。
图29是示出上述的各实施方式中的从线段连接部323输出的信号(表示位置估计值的信号)的波形和Z相信号的波形例的图。
图30是示出本实施方式的马达控制***的结构的概略图。
标号说明
1，1A，1B，1C…马达控制***，10…检测部，11，12，13…传感器，20…放大部，21，22，23…差动放大器，30，30A，30B…位置估计部，31…AD转换部，311，312，313…AD转换电路，321…交叉位置检测部，322…分割检测部，323…线段连接部，324…校正部，3241…第1校正部，3242…第2校正部，3243…第3校正部，325…归一化部，33，33A，33B…存储部，40…减法器，50…控制部，60…驱动部，M…马达
具体实施方式
以下，适当参照附图来详细说明本公开的实施方式。但是，有时省略不必要的详细说明。例如，有时省略已经公知的事项的详细说明、对于实质上相同的结构的重复说明。这是为了避免使以下的说明不必要地冗长，便于本领域技术人员的理解。为了使本领域技术人员充分理解本公开，本发明者们提供附图和以下的说明。并不意图通过这些来限定权利要求书所记载的主题。
[第1实施方式]
图1是示出本实施方式的马达控制***1的结构的一例的概略图。
如图1所示，本实施方式的马达控制***1具有马达M、检测部10、放大部20、位置估计部30、减法器40、控制部(控制电路)50和驱动部(驱动电路)60。从外部装置70向马达控制***1输入位置指令值Θ*。另外，作为上标的＊表示指令值。此外，上标＾表示估计值。在本发明的实施方式中，CW旋转是从输出轴侧观察到的顺时针方向的旋转。
马达控制***1被安装在商品上来使用。商品例如是具有打印机、扫描仪、传真机等的功能的复合机、电动助力转向、天线仰角、风扇等。马达控制***1在用于复合机的情况下，例如，被安装在送纸功能部等的机构部上进行使用。
另外，以下，以马达M具有转子R的情况作为一例来进行说明，但是不限于此。马达M也可以是线性马达。在马达M为线性马达的情况下，马达M也可以代替转子R而具有直线运动的可动子(mover或movable element)。即，本发明的实施方式中，可以对进行旋转运动的可动子(转子)进行控制，也可以对进行直线运动的可动子进行控制。因此，无关于是旋转运动还是直线运动，只要是可动子即可。另外，在本申请中，可动子的用语意味着从外部受到力而进行旋转或移动的驱动子(drived element)。
马达M具有转子R。马达M例如是永久磁铁马达。在马达M上安装有未图示的基板。在基板上安装有检测部10、放大部20、位置估计部30、减法器40、控制部50和驱动部60。
检测部10具有传感器11～传感器13。传感器11～传感器13是分别将在马达M产生的磁场转换为电信号而输出的非接触的磁传感器。传感器11～传感器13例如分别为霍尔元件。检测部10将检测到的差动传感器信号输出到放大部20。本实施方式的马达控制***1的动作具有信号检测步骤。在信号检测步骤中，N个(N为3以上的整数)检测部分别检测与可动子的位置对应的磁场，输出作为电信号的检测信号，各个检测信号的相位分别错开360度除以N而得到的角度。当这样的传感器的个数为N个(N为3以上的整数)时，检测多个磁极所形成的磁场，分别输出具有与检测到的磁场的强度对应的大小的检测信号。N个传感器被配置成，使得N个检测信号的相位分别错开360度/N的角度。检测信号的相位分别错开360度/N的角度的状态包含相位错开了360度×整数±360度/N的电角的状态。检测信号的相位例如分别错开120度(＝360度/3)的角度的状态包含3个检测信号的相位错开240度(＝360度-120度)的电角的状态。
放大部20具有差动放大器21～差动放大器23。放大部20根据从检测部10输入的差动传感器信号，生成检测信号Hu0、检测信号Hv0和检测信号Hw0。放大部20将所生成的检测信号Hu0、检测信号Hv0和检测信号Hw0输出到位置估计部30。另外，检测信号Hu0、检测信号Hv0和检测信号Hw0分别是模拟信号。
位置估计部30根据从放大部20输入的检测信号Hu0、检测信号Hv0和检测信号Hw0，对转子R的旋转位置进行估计。位置估计部30根据所估计出的旋转位置生成机械角度Θ＾，将所生成的机械角度Θ＾输出到减法器40。
从位置估计部30向减法器40输入机械角度Θ＾，从外部装置70向减法器40输入位置指令值Θ*。减法器40计算位置指令值Θ*和机械角度Θ＾之间的偏差，将计算出的偏差输出到控制部50。
控制部50根据从减法器40输入的偏差，生成用于驱动马达M的电压指令，将所生成的电压指令输出到驱动部60。
驱动部60根据从控制部50输入的电压指令生成驱动信号，通过所生成的驱动信号来驱动马达M。驱动部60的一个典型例是逆变器电路。逆变器电路能够具有：接受电压指令而输出脉冲宽度调制(PWM)信号的PWM电路；根据PWM输出栅极驱动信号的前级驱动器电路；以及接受栅极驱动信号而进行开关的逆变器输出电路。
控制部50和驱动部60的一部分(例如PWM电路)可以通过1个集成电路封装而实现。这样的集成电路封装可以作为通用的马达控制用微机而得到。此外，驱动电路60的逆变器输出电路有时被称作电源模块。这样的逆变器输出电路能够将与电压指令对应的大小的电压施加到马达M的各线圈，从而驱动马达M。
如以上那样，马达控制***1从外部装置70接收位置指令值Θ*，通过进行反馈来控制位置指令值Θ*与机械角度Θ＾之间的偏差。这里，马达控制***1逐次检测检测信号Hu0、Hv0和Hw0彼此交叉的交叉点，检测从检测到的交叉点到与该交叉点相邻的其他交叉点的检测信号Hu0、Hv0或Hw0的一部分(被分割的线段)作为分割信号(参照图6A)。
相位分别错开120度的不同的3个检测信号Hu0、Hv0和Hw0中的、从交叉点连接或联结至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分是在检测信号Hu0、Hv0和Hw0中具有中间电平的任意一个信号Hu0、Hv0或Hw0的一部分。如图6A所示，从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分与基准值的电平交叉。换言之，从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分具有大于基准值的部分和小于基准值的部分。如后所述，能够将从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分作为1个“分割信号”而进行处理，也可以作为2个“分割信号”而进行处理。后者的情况下，从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分通过与基准值交叉的过零点而分成二部分。从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分也可以划分为3个以上的“分割信号”。
马达控制***1根据可动子的移动方向，逐次连接所检测到的分割信号，根据所连接的多个分割信号估计可动子的位置，生成位置估计值信号(参照图6B、图7)。另外，能够将位置估计值在电流控制***、速度控制***、位置控制***、组合这些***而得到的控制系中用作反馈值。位置运算部32和控制部50作为“位置控制装置”来发挥功能。
接着，对马达M的概略结构进行说明。
图2是本实施方式的马达M的概略结构图。
在图2所示的例中，马达M是永久磁铁马达。磁极p1～p12是永久磁铁马达的磁极(pole)。极数表示马达M的磁极的数量，图2所示的例中为12。此外，极对数是N极和S极的组数，图2所示的例中为6。此外，槽sl1～sl9是卷绕有线圈的电枢，槽(齿)的数量即槽数为9。例如，磁极p1～p12是转子R(图1参照)的一部分。图2中的马达M表示外转子型的马达。
接着，对传感器11～传感器13的动作进行说明。
传感器11～传感器13分别检测相邻的N极和S极的1组的磁场，输出1个周期的信号。这相当于电角1个周期。传感器11～传感器13分别将检测到的电角1个周期的电信号作为差动传感器信号而输出到放大部20。该1个周期的差动传感器信号相应于电角1个周期。
这里，传感器11～传感器13分别检测相位分别错开电角120度的电信号，输出到对应的差动放大器21～差动放大器23。即，检测部10所包含的传感器是3个，3个检测信号的相位分别错开120度。在某个具体例中，传感器11～传感器13检测相位分别错开机械角40度(电角240度)的电信号。
在本实施方式中，传感器11检测到的电信号为U相。传感器12检测到的电信号为V相。传感器13检测到的电信号为W相。传感器11输出的差动传感器信号是差动传感器信号U0+和U0-，彼此处于反转关系。传感器12输出的差动传感器信号是差动传感器信号V0+和V0-，彼此处于反转关系。传感器13输出的差动传感器信号是检测信号W0+和W0-，彼此处于反转关系。
接着，参照图1对放大部20输出的检测信号进行说明。
差动放大器21对从传感器11输入的U相的检测信号U0-和U0+之间的电压差进行放大，将放大后的检测信号Hu0输出到位置估计部30。
差动放大器22对从传感器12输入的V相的检测信号V0-和V0+之间的电压差进行放大，将放大后的检测信号Hv0输出到位置估计部30。
差动放大器23对从传感器13输入的W相的检测信号W0-和W0+之间的电压差进行放大，将放大后的检测信号Hw0输出到位置估计部30。
接着，对放大部20输出的检测信号Hu0、Hv0、Hw0的一例进行说明。图3是对本实施方式的放大部20输出的检测信号Hu0、Hv0、Hw0的一例进行说明的图。在图3中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示信号的大小。
在图3所示的例中，转子角θ101～转子角θ113的区间E1表示电角1个周期。转子角θ113～转子角θ114的区间E2、转子角θ114～转子角θ115的区间E3、转子角θ115～转子角θ116的区间E4、转子角θ116～转子角θ117的区间E5和转子角θ117～转子角θ118的区间E6分别表示电角1个周期。而且，区间E1～区间E6的区间K1表示机械角1个周期。即，电角1个周期的区间是机械角1个周期的区间除以极对数后的区间。
此外，在图3所示的例中，检测信号Hu0的极大值是A3[V]。检测信号Hw0的极大值是小于A3的电压值的PeakHw[V]。检测信号Hv0的极大值是小于PeakHw的电压值的PeakHv[V]。这样，由于传感器11～13的安装误差、每个传感器的感度的不同，有时检测信号Hu0、Hv0、Hw0各自的振幅存在偏差。此外，信号Hu0、Hv0、Hw0的各信号的中心电压值不同。即，信号Hu0、Hv0、Hw0分别具有偏移成分。
接着，参照图1对位置估计部30的详细结构进行说明。
位置估计部30具有AD转换部31、位置运算部32和存储部33。AD转换部31将从放大部20输入的模拟信号的检测信号转换为数字信号的检测信号，将转换后的数字信号的检测信号输出到位置运算部32。更具体而言，具有AD转换电路311、AD转换电路312和AD转换电路313。AD转换电路311将模拟信号的检测信号Hu0转换为数字信号的检测信号Hu0’，并输出到位置运算部32。AD转换电路312将模拟信号的检测信号Hv0转换为数字信号的检测信号Hv0’，并输出到位置运算部32。AD转换电路313将模拟信号的检测信号Hw0转换为数字信号的检测信号Hw0’，并输出到位置运算部32。存储部33存储在线处理中使用的信息。在线处理是转子R正在旋转时实时进行的处理。另外，后面叙述存储部33中存储的信息。
能够将上述那样把检测信号转换为适于位置运算部32中的处理的信号的处理称作“预处理”。AD转换部31是进行预处理的电路的一例。在位置运算部32中，也可以设有进行其他预处理的电路。
在通过AD转换部31转换后的作为数字信号的检测信号Hu0’·Hv0’·Hw0’中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值的大小。位置运算部32具有交叉位置检测部321、分割检测部322和线段连接部323。交叉位置检测部321检测检测信号之间的交叉点、以及检测信号和基准值之间的过零点。即，交叉位置检测部321在从交叉点到与交叉点相邻的其他交叉点之间，根据交叉点逐次检测检测信号的电位与基准电压交叉的过零点。基准值是数字值示出0的值。交叉位置检测部321将表示检测到的交叉点的坐标的信息和表示过零点的坐标的信息输出到分割检测部322。这里，表示交叉点和过零点的坐标的信息是通过转子角和数字值的大小表示的信息。分割检测部322使用从交叉位置检测部321输入的表示交叉点的坐标的信息和表示过零点的坐标的信息，检测交叉点和过零点之间的检测信号作为分割信号。分割检测部322将表示检测到的分割信号的信息输出到线段连接部323。线段连接部323使用从分割检测部322输入的表示分割信号的信息，逐次连接分割信号。这里，表示分割信号的信息是从作为检测信号的一部分的分割信号的开始位置到结束位置为止，通过转子角和数字值的大小而表示的信息。
如上所述，本实施方式中的马达控制***1的动作具有交叉位置检测步骤、分割检测步骤、线段连接步骤。在交叉位置检测步骤中，交叉位置检测部321逐次检测通过信号检测步骤输出的各个检测信号彼此交叉的交叉点。在分割检测步骤中，分割检测部322检测检测信号中的从交叉点连接至与该交叉点相邻的其他交叉点的部分，作为1个或多个分割信号。在线段连接步骤中，线段连接部323逐次连接分割信号，根据所连接的多个分割信号估计可动子的位置，生成位置估计值信号。
接着，对位置估计部30进行的处理的流程的概要进行说明后，对位置估计部30进行的处理的流程的详细进行说明。
首先，参照图4，对位置估计部30进行的处理的流程的概要进行说明。图4是本实施方式的位置估计部30进行的处理的步骤的流程图。另外，位置估计部30通过在线处理进行以下的处理。
(步骤S101)交叉位置检测部321取得从AD转换部31输入的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’。
(步骤S102)交叉位置检测部321使用步骤S101中取得的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’分别示出的值，逐次检测交叉点和过零点。接着，交叉位置检测部321依次将表示检测到的交叉点和过零点的坐标的信息以及所输入的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’输出到分割检测部322。
(步骤S103)分割检测部322检测从交叉点到与该交叉点相邻的过零点的检测信号的一部分，即检测信号中的从交叉点到与该交叉点相邻的过零点的检测信号的部分，作为第1分割信号。或者，分割检测部322检测从过零点到与该过零点相邻的交叉点的检测信号的一部，即检测信号中的从过零点到与该过零点相邻的交叉点的部分，作为第2分割信号。
(步骤S104)线段连接部323在转子R为CW旋转的情况下，将从分割检测部322输入的分割信号在机械角1个周期内逐次在正方向上连接。
(步骤S105)位置估计部30根据通过线段连接部323连接的分割信号进行机械位置的估计，从而估计机械角度Θ＾。
位置估计部30按照每个控制周期重复步骤S101～步骤S105的处理。控制周期例如是电流(扭矩)、速度或位置控制的各控制周期中的任意1个周期。另外，在以下的说明中，有时将图4中的步骤S102～S105的处理汇总为1个，称为步骤S110的处理。
接着，对位置估计部30进行的处理的流程的详细进行说明。首先，参照图4，对交叉位置检测部321在步骤S101中进行的处理进行说明。
交叉位置检测部321在转子R正在旋转时，取得分别从AD转换电路311～AD转换电路313输入的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’。参照图5说明AD转换部31输出的检测信号Hu0’、检测信号Hv0’和检测信号Hw0’。
图5是对本实施方式的AD转换部31输出的检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的一例进行说明的图。在图5中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值。图5所示的各波形Hu0’、Hv0’、Hw0’是表示通过AD转换电路311～AD转换电路313转换为数字信号后的检测信号的波形图。例如，在AD转换部31的比特数是12比特的情况下，数字信号值的范围是+2047～-2048。此外，在图5中，转子角θ101～转子角θ113的区间E1是电角1个周期。
返回图4，对交叉位置检测部321在步骤S102中进行的交叉点和过零点的检测处理进行详细说明。
交叉位置检测部321取得AD转换部31输出的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’。交叉位置检测部321取样得到2点间的坐标来计算所取得的检测信号之间的交叉点，从而进行逐次检测。此外，交叉位置检测部321逐次检测所取得的检测信号和基准值之间的过零点。横轴为转子角，纵轴为数字值，由此能够表示该交叉点和过零点的坐标。交叉位置检测部321检测交叉点的坐标，将表示检测到的交叉点的坐标的信息输出到分割检测部322。此外，交叉位置检测部321检测过零点的坐标，将表示检测到的过零点的坐标的信息输出到分割检测部322。此外，交叉位置检测部321将所取得的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’输出到分割检测部322。
接着，对分割检测部322在图4的步骤S103中进行的分割信号的检测处理进行详细说明。
分割检测部322依次取得从交叉位置检测部321输入的表示交叉点的坐标的信息、表示过零点的坐标的信息以及检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’。分割检测部322检测所取得的检测信号中的从交叉点到与该交叉点相邻的过零点的检测信号作为第1分割信号。分割检测部322检测所取得的检测信号中的从过零点到与该过零点相邻的交叉点的检测信号作为第2分割信号。分割检测部322依次将所检测到的分割信号输出到线段连接部323。这里，分割检测部322检测从交叉点到与该交叉点相邻的过零点的数字值的偏差和转子角的偏差的信息，作为表示第1分割信号的信息。
接着，依次说明交叉点、过零点、分割信号的具体例。
首先，参照图6A来说明交叉位置检测部321检测的交叉点和过零点的具体例。
图6A是对本实施方式的3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系、交叉点、过零点、分割信号进行说明的图。在图6A中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值。此外，图6A是对图5的转子角θ101～转子角θ113的区间E1进行放大的图。
在图6A中，点cp1～点cp7分别表示交叉点。这里，交叉点是2个检测信号交叉的点。例如，转子角θ101中的交叉点cp1是检测信号Hu0’与检测信号Hv0’交叉的点。
此外，点zc1～点zc6分别表示过零点。这里，过零点是检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’中的任意一方与数字值的基准值交叉的点。例如，转子角θ102中的过零点zc1是检测信号Hu0’与基准值交叉的点。
接着，参照图6A对分割检测部322检测的分割信号的具体例进行说明。以下，段是一个一个的分割信号。段的区间相当于每个分割信号的起点到终点。段在电角1个周期中为12个区间。当马达M的极对数是6时，电角6个周期相当于机械角1个周期。因此，段在机械角1个周期中为72个区间。节(section)是电角1个周期中的1～12分割信号的编号。分割信号是在图6A中从交叉点cp(n)到与该交叉点cp(n)相邻的过零点zc(m)的检测信号。或者，是从过零点zc(m)到与该过零点zc(m)相邻的交叉点cp(n+1)的检测信号。另外，n是1～7的整数。此外，m是1～6的整数。具体而言，例如，从交叉点cp1到过零点zc1的检测信号Hu0’的一部分是分割信号sg101。此外，从过零点zc1到交叉点cp2的检测信号Hu0’的一部分是分割信号sg102。在图6A中，θ101～θ102的区间，即分割信号sg101的区间相当于段的编号1的区间。此外，分割信号sg102～sg112各自的区间相当于段的编号2～12的区间。
另外，在图6A所示的例中，检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’是正弦波，因此，分割信号sg101～sg112是正弦波中的比其他部分更接近直线的范围的信号。
这里，参照图6A说明3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系。
例如，在段1和段2的区间即转子角θ101～θ103的区间中，检测信号Hw0’的数字值在3个检测信号中最大。数字值大小仅次于检测信号Hw0’的是检测信号Hu0’。数字值最小的是检测信号Hv0’。此外，检测信号Hu0’的数字值在段1的区间即转子角θ101～θ102的区间中小于基准值。检测信号Hu0’的数字值在段2的区间即转子角θ102～θ103的区间中大于基准值。
关于段3～段12，也按照每个段在存储部33中存储有3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系的组合。
这样，关于电角1个周期，按照每个段在存储部33中存储有3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系的组合和与基准值的大小关系。
接着，详细说明线段连接部323在图4的步骤S104中进行的分割信号的连接处理。
线段连接部323逐次连接分割检测部322的分割信号。这里，线段连接部323根据交叉点或过零点与检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系以及与基准值的大小关系，针对数字值的正负在一定方向上连接分割信号。
具体而言，线段连接部323按照每个段，检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的数字值的大小关系中，提取顺位正中间(图6A的例中，从较大一方(较小一方方)起的第2个)的检测信号(也称作中间信号)。线段连接部323对所提取出的各个中间信号的数字值与紧前的交叉点或过零点的检测信号的数字值(也称作交叉点信号值)的大小关系进行比较。这里，紧前的交叉点或过零点是相对于中间信号在转子角方向上成为紧前的点，例如，在图6A的例中，相对于分割信号sg101是交叉点cp1，相对于分割信号sg102是过零点zc1。
考虑分割信号sg102，在判断为中间信号sg102的数字值为紧前的交叉点信号值zc1以上的情况下，线段连接部323将从中间信号sg102的数字值减去紧前的交叉点信号值zc1得到的值与紧前的交叉点信号值zc1相加。另一方面，在判断为中间信号sg102的数字值小于紧前的交叉点信号值zc1的情况下，线段连接部323对从紧前的交叉点信号值zc1减去中间信号sg102的数字值得到的值进行相加。线段连接部323从转子角较小的一方起依次重复该加法。由此，线段连接部323能够朝向数字值的正方向连接分割信号(参照图6B)。
另外，线段连接部323也可以对中间信号的数字值与紧前的交叉点信号值之间的差分、即绝对值进行相加。
另外，马达M是6个极对，由此，分割信号sg112’的终点相当于机械角的60[degM]。分割信号sg124’的终点相当于机械角的120[degM]。分割信号sg136’的终点相当于机械角的180[degM]。分割信号sg148’的终点相当于机械角的240[degM]。分割信号sg160’的终点相当于机械角的300[degM]。分割信号sg172’的终点相当于机械角的360[degM]。
对基于线段连接部323的电角1个周期的分割信号的连接的具体例进行说明。
图6B是对本实施方式的电角1个周期的分割信号的连接进行说明的图。此外，图6B是对图6A的区间E1的分割信号sg101’～sg112’进行了连接的图。在图6B中，横轴表示转子角[degE]。纵轴表示数字值。此外，图6B所示的例子是转子R正在CW旋转的情况下的例子。此外，在图6B中，分割信号sg101’～sg112’是通过线段连接部323连接了图6A的分割信号sg101～sg112的信号。此外，点p101～p113是置换了图6A的交叉点cp1～cp7和过零点zc1～zc6的点。此外，曲线g132是连接了分割信号sg101’～sg112’的曲线。
以下，正向是数字值随着转子角的增大而增大的方向。线段连接部323例如将交叉点cp1置换为点p101。线段连接部323在正向上连接分割信号sg101’。具体而言，线段连接部323将图6A的分割信号sg101置换为以点p101为开始点、点p102为结束点的分割信号sg101’。此外，线段连接部323将过零点zc1置换为点p102。
此外，线段连接部323在正向上连接分割信号sg102’。具体而言，将图6A的分割信号sg101置换为以点p102为开始点、点p103为结束点的分割信号sg102’。此外，线段连接部323将交叉点cp2置换为点p103。
如图6B的曲线g132所示，线段连接部323在正向上逐次连接图6A所示的分割信号sg101’～sg112’。其结果是，转子角θ101中的交叉点cp1被置换为数字值0。此外，线段连接部323将转子角θ113中的交叉点cp7置换为数字值1200。另外，在图6B中，数字值的12000相当于电角1个周期的360[degE]。
参照图7对由线段连接部323进行的动作的分割信号的机械角1个周期的连接的具体例进行说明。
在第1周期E1中，线段连接部323在电角1个周期内逐次在正向上连接图6A的分割信号sg101～分割信号sg112。其结果是，如图6B的分割信号sg101’～分割信号sg112’所示，对图6A的分割信号sg101～分割信号sg112进行连接。
接着，在第2周期E2中，线段连接部323将第2周期E2的分割信号sg113’的起点连接到分割信号sg112’的终点。接着，线段连接部323在正向上连接电角1个周期的分割信号sg113～分割信号sg124。其结果是，如图7的分割信号sg113’～分割信号sg124’所示，对分割信号sg113～分割信号sg124进行连接。
以下，线段连接部323将第3周期E3的分割信号sg125’的起点连接到第2周期E2的分割信号sg124’的终点。接着，线段连接部323将第4周期E4的分割信号sg137’的起点连接到第3周期E3的分割信号sg136’的终点。接着，线段连接部323将第5周期E5的分割信号sg149’的起点连接到第4周期E4的分割信号sg148’的终点。接着，线段连接部323将第6周期E6的分割信号sg161’的起点连接到第5周期E5的分割信号sg160’的终点。
图7是对本实施方式的机械角1个周期的分割信号的连接结果的一例进行说明的图。如图7所示，电角1个周期分别包含12个分割信号。第1周期E1包含分割信号sg101’～分割信号sg112’。第2周期E2包含分割信号sg113’～分割信号sg124’。第3周期E3包含分割信号sg125’～分割信号sg136’。第4周期E4包含分割信号sg137’～分割信号sg148’。第5周期E5包含分割信号sg149’～分割信号sg160’。第6周期E6包含分割信号sg161’～分割信号sg172’。
因此，在机械角1个周期的周期K1中包含72个分割信号sg101’～分割信号sg172’。
接着，对位置估计部30在图4的步骤S105中进行的机械角度的生成处理进行说明。这里，考虑sg102’中的任意的点的机械角度。sg102’的机械角度位置位于图7中的E1的区间，E1的区间的放大图是图6B。线段连接部323将从中间信号的数字值减去紧前的交叉点信号值zc1得到的值与紧前的交叉点信号值zc1相加。此外，如上所述，线段连接部323将交叉点信号值zc1置换为点p102。然后，线段连接部323针对点p102，加上从中间信号的数字值减去紧前的交叉点信号值zc1得到的值。位置估计部30根据通过线段连接部323连接的分割信号的线段的长度，估计转子的机械角度位置。
对存储部33所存储的信息的具体例进行说明。
存储部33存储极对数、节、段之间的关系。此外，存储部33按照每个节存储3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系。3个检测信号Hu0’、Hv0’、Hw0’的大小关系和与基准值的大小关系用于对节的编号进行判定。
在本实施方式的位置估计方法中，以过零点为界将检测信号划分为2个段。由此，机械角的1周具有72个分割信号。其结果是，在本实施方式的位置估计方法中，1个分割信号的长度变短。其结果是，结合的分割信号更接近与理想角度成比例的直线信号。而且，在本实施方式的位置估计方法中，能够根据接近直线的形状的分割信号，得到转子R的角度信息即位置。由于位置估计部30使用这样连接的线段来估计转子R的位置，因此，在本实施方式中，不需要精度高的光学式编码器就能够进行高精度的位置检测。
马达控制***1能够使用这样估计出的机械角度Θ＾进行位置控制。其结果是，在本实施方式的位置估计方法中，检测转子R的位置的检测部不需要使用容易受到环境影响的编码器。其结果是，能够使马达小型化，位置控制的精度不会受到粉尘等环境的影响。
[变形例]
另外，在本实施方式中，说明了检测交叉点和过零点，并检测交叉点和过零点之间的检测信号作为分割信号的例子，但不限于此。
例如，分割检测部322也可以提取从交叉点到与该交叉点相邻的交叉点的检测信号作为分割信号。而且，也可以是，分割检测部322以位于交叉点和与该交叉点相邻的交叉点之间的过零点为界，将所提取出的分割信号分割为2个分割信号。
另外，在本实施方式中，说明了位置运算部32对被转换为数字信号的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’进行各个处理的例子，但不限于此。例如，位置运算部32也可以对模拟信号的检测信号Hu0、Hv0和Hw0进行各个处理。
此外，在本实施方式中，马达M的驱动方式也可以是例如矢量控制方法、其他驱动方法。其他驱动方法可以是使用例如120度矩形波、正弦波的驱动手法。
此外，在本实施方式中，说明了12极的马达M的例子，但不限于此。马达M的极数例如可以是2极、4极、8极等。例如，在8极马达的情况下，机械角1个周期具有4个电角1个周期的分割信号。此时，在检测部输出3相的检测信号的情况下，1个电角1个周期具有12个分割信号。因此，机械角1个周期包含48(＝12×4)个的分割信号。8极马达的情况下，也可以是，线段连接部323在转子R为CW旋转的情况下，使机械角1个周期的48个分割信号在正向逐次结合。
另外，在转子R为CCW旋转的情况下，在图4的步骤S104中，线段连接部323在反向上连接机械角1个周期的分割信号。这里，CCW是从输出轴侧观察时逆时针方向的旋转。此外，反向是数字值随着转子角的增大而减小的方向。也可以是，线段连接部323根据转子角的增大，在从360[degM]向0[degM]减小的方向上逐次连接所连接的机械角1个周期的分割信号。该情况下，位置估计部30在存储部33所存储的3个检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的大小关系发生了变化时，判别转子R是CW旋转还是CCW旋转。
由此，根据本实施方式，无论转子R是CW旋转还是CCW旋转，都能够高精度地估计转子R的位置。
参照图6A说明旋转方向与检测信号之间的关系。
在当前位置位于转子角θ105和θ107之间的情况下，位置估计部30例如使存储部33存储当前的位置处的纵轴的数字值和之前1个交叉点即转子角θ105的纵轴的数字值。
在转子R为CW旋转情况下，转子R的位置在转子角θ107和θ109之间移动。位置估计部30对从转子角θ105和θ107之间的大小关系变化到转子角θ107和θ109之间的大小关系时、中间信号从检测信号Hv0’向检测信号Hu0’的切换、以及切换后的中间信号相对于基准值的正负进行判别，判别为转子R是CW旋转。接着，位置估计部30在正向上将转子角θ107和θ109之间的分割信号sg107和sg108连接到分割信号sg106。
另一方面，在转子R为CCW旋转的情况下，转子R的位置在转子角θ103和θ105之间移动。位置估计部30对从转子角θ105和θ107之间的大小关系变化到转子角θ103和θ105之间的大小关系时、中间信号从检测信号Hv0’向检测信号Hw0’的切换、以及切换后的中间信号相对于基准值的正负进行判别，判别为转子R是CCW旋转。接着，位置估计部30在反向上将转子角θ103和θ105之间的分割信号sg103和sg104连接到分割信号sg105。
另外，在本实施方式中，作为检测部10的传感器，以霍尔元件为例进行了说明，但不限于此。检测部10所使用的传感器的检测信号也可以是正弦波或在正弦波中包含谐波的输出信号。例如，检测部10的传感器也可以是使用了磁阻效果的传感器。
另外，在本实施方式中，说明了提取从交叉点到与该交叉点相邻的过零点或从过零点到与该过零点相邻的交叉点的检测信号的一部分来作为分割信号的例子，但不限于此。分割检测部322也可以通过生成从交叉点到与该交叉点相邻的过零点或从过零点到与该过零点相邻的交叉点的线段，从而提取分割信号。线段例如可以是直线，也可以是正弦波的一部分。
此外，在本实施方式中，图2示出了外转子的例子，但不限于此。马达M也可以是槽为转子R的一部分的有刷马达。
进而，马达M也可以是线性马达。在马达M是线性马达的情况下，转子R例如也可以是具有磁铁的可动子。
此外，在本实施方式中，说明了检测部10的相位分别错开120度的3个传感器11～传感器13的例子，但不限于此。检测部10所具有的传感器的数量不限于3个。该情况下，各传感器的输出也可以分别错开除以传感器的总数得到的相位。
此外，在本实施方式中，说明了交叉位置检测部321检测交叉点和过零点的例子，但不限于此。交叉位置检测部321也可以仅检测交叉点。该情况下，分割检测部322也可以将从交叉点到与该交叉点相邻的交叉点的检测信号的一部分作为分割信号而进行逐次检测。该情况下，电角1个周期的分割信号的个数为6个。此外，马达M的极对数为6的情况下，机械角1个周期的分割信号的个数为36个。
[第2实施方式]
在本实施方式中，对第1实施方式的位置估计部30还具有校正部的例子进行说明。
图8是示出本实施方式的马达控制***1A的结构的概略图。
如图8所示，马达控制***1A代替位置估计部30而具有位置估计部30A。
位置估计部30A代替位置运算部32而具有位置运算部32A，代替存储部33而具有存储部33A。
位置运算部32A还具有校正部324。
校正部324具有第1校正部3241、第2校正部3242和第3校正部3243。除了AD转换部31以外，校正部324也作为预处理电路的一部分而发挥功能。
第1校正部3241在转子R正在旋转时，对各相的检测信号具有的同相噪声进行校正，将校正后的检测信号输出到第2校正部3242。另外，同相噪声是各相的检测信号具有的噪声成分。
如使用图3说明的那样，检测信号Hu0、Hv0和Hw0具有偏移成分。此外，如使用图3进行说明的那样，检测信号Hu0、Hv0和Hw0的峰值存在偏差。另外，峰值是检测信号的极大值和极小值。位置运算部32A对数字信号的检测信号进行各个处理。第2校正部3242的校正是为了有效使用位置运算部32A的动态范围而进行的。在转子R正在旋转时，对检测信号的振幅的偏差和偏移成分进行校正，将校正后的检测信号输出到第3校正部3243。
第3校正部3243的校正是为了将分割信号的大致S字的形状校正为直线而进行的。由于分割信号是检测信号的一部分，因此呈大致S字的形状。因此，通过进行第3校正部3243的校正，将校正后的检测信号输出到交叉位置检测部321。
存储部33A还存储校正部324在校正中使用的校正式、用于校正的校正值和系数。另外，后面叙述校正式和系数。
接着，对位置运算部32A进行的校正处理的步骤进行说明。
本实施方式的马达控制***1的动作包含第1校正步骤、第2校正步骤、第3校正步骤。
图9是本实施方式的位置运算部32A进行的处理的步骤的流程图。此外，在图9所示的例中，对校正部324进行全部的第1校正～第3校正的例子进行说明。此外，关于与图7中说明的处理相同的处理，使用相同的标号并省略说明。另外，位置估计部30A进行以下的处理。
(步骤S201)第1校正部3241进行第1校正。另外，后面叙述第1校正。
(步骤S202)第2校正部3242在第1校正后进行第2校正。另外，后面叙述第2校正。
(步骤S203)第3校正部3243在第2校正后进行第3校正。另外，后面叙述第3校正。
步骤S203的处理后，校正部324进行步骤S110的处理。
以上，结束位置运算部32A进行的处理。
＜第1校正的说明＞
接着，对第1校正部3241在图9的步骤S201中进行的第1校正的处理的步骤进行说明。
图10是本实施方式的第1校正的处理的步骤的流程图。
(步骤S2011)第1校正部3241逐次选择U相、V相和W相的检测信号中的1个相。
(步骤S2012)第1校正部3241使用与所选择的检测信号对应的校正式来进行第1校正。校正式是后述的式(1)～式(3)。例如，在步骤S2011中选择了U相的检测信号的情况下，第1校正部3241使用式(1)进行第1校正。
(步骤S2013)第1校正部3241针对全部相的检测信号，判别步骤S2012的处理是否已结束。第1校正部3241在针对全部相的检测信号，判别为步骤S2012的处理已结束的情况下(步骤S2013；是)，结束处理。第1校正部3241在针对全部相的检测信号，判别为步骤S2012的处理未结束的情况下(步骤S2013；否)，进入步骤S2014的处理。
(步骤S2014)第1校正部3241选择还未选择的相的检测信号，返回步骤S2012的处理。
接着，对第1校正部3241进行的第1校正进行详细说明。
第1校正部3241使用下式(1)～下式(3)对3个检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’进行第1校正。
Hiu0’＝Hu0’-(Hv0’+Hw0’)/2…(1)
Hiv0’＝Hv0’-(Hu0’+Hw0’)/2…(2)
Hiw0’＝Hw0’-(Hu0’+Hv0’)/2…(3)
在式(1)中，Hiu0’是对检测信号Hu0’进行了第1校正后的校正值。在式(2)中，Hiv0’是对检测信号Hv0’进行了第1校正后的校正值。在式(3)中，Hiw0’是对检测信号Hw0’进行了第1校正后的校正值。如上所述，在第1校正步骤中，校正部324依次选择检测信号中的1个，从所选择的检测信号中减去未选择的其他的检测信号的平均值，从而针对各个检测信号生成对所选择的检测信号进行了校正后的检测信号。
接着，对第1校正的效果进行说明。
图11是本实施方式的进行第1校正的结果的一例的波形图。图11所示的波形图是在将图3所示的波形转换为数字信号后，使用式(1)～式(3)通过第1校正部3241进行校正后的波形。在图11中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值。此外，在AD转换部31的比特数为12比特的情况下，B2是2047。此外，-B2是-2048。如图11所示，第1校正部3241能够通过第1校正降低检测信号的数字值方向的变动。由此，第1校正部3241能够通过第1校正来降低同相噪声。
这里，对能够降低同相噪声的理由进行说明。
当设同相噪声信号为Hn0’时，分别在3个检测信号中产生同相噪声信号Hn0’。考虑了同相噪声信号Hn0’的式(1)的校正后的检测值Hiu0’由下式(4)表示。
Hiu0’＝(Hu0’+Hn0’)-{(Hv0’+Hn0’)+(Hw0’+Hn0’)}/2
＝(Hu0’+Hn0’)-{Hn0’+(Hv0’+Hw0’)/2}
＝Hu0’-(Hv0’+Hw0’)/2…(4)
如式(4)所示，各相的检测信号具有的同相噪声Hn0’通过式(1)的校正而抵消。由此，在第1校正中能够降低同相噪声。
同样，通过式(2)能够降低检测信号Hv0’的同相噪声。此外，通过式(3)能够降低检测信号Hw0’的同相噪声。
另外，在马达M例如为4相的情况下，第1校正部3241从4个相的检测信号中选择1个相。这里，4相的检测信号是U相、V相、W相和Z相。接着，第1校正部3241使用与所选择的检测信号对应的校正式进行第1校正。即，第1校正部3241在4相的马达M的情况下，使用每个相的4个校正式来进行第1校正。例如，对U相的检测信号的校正式是下式(5)。
Hiu0’＝Hu0’-(Hv0’+Hw0’+Hz0’)/3…(5)
即使从检测部输出的检测信号为4相的马达，第1校正部3241也使用每个相的4个校正式来进行第1校正，从而能够降低同相噪声。即，根据本实施方式，通过使用与相的数量对应的校正式进行第1校正，能够降低同相噪声。
＜第2校正的说明＞
接着，对第2校正部3242在图9的步骤S202中进行的第2校正的处理的步骤进行说明。
第2校正部3242在电角1周期中逐次选择U相、V相和W相的检测信号中的1个相。接着，第2校正部3242针对所选择的相的检测信号，使用存储部33A中存储的校正值和与所选择的相的检测信号对应的校正式来进行第2校正。另外，校正式是后述的式(6)～式(11)。例如，在选择了U相的检测信号的情况下，第2校正部3242使用式(6)和式(7)来进行第2校正。
接着，参照图11对各检测信号的极大值和极小值进行说明。
以下，点Hiu_max是U相的极大值的例子。点Hiv_max是V相的极大值的例子。点Hiw_max是W相的极大值的例子。点Hiu_min是U相的极小值的例子。点Hiv_min是V相的极小值的例子。点Hiw_min是W相的极小值的例子。bu、bv和bw分别是存储部33A中存储的各相的偏移校正值。
接着，对第2校正部3242进行的第2校正进行详细说明。
第2校正部3242针对各相的检测信号，判别数字值是正侧还是负侧。这里，在图11中，正侧的数字值是数字值大于0的值。此外，在图11中，负侧的数字值是数字值小于0的值。第2校正部3242进行在规定的最大值B2和规定的最小值-B2的范围内使振幅的范围均一化的校正。
第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(6)对校正后的检测信号Hiu0’的正侧的数字值进行第2校正。此外，第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(7)对校正后的检测信号Hiu0’的负侧的数字值进行第2校正。
第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(8)对校正后的检测信号Hiv0’的正侧的数字值进行第2校正。此外，第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(9)对校正后的检测信号Hiv0’的负侧的数字值进行第2校正。
第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(10)对校正后的检测信号Hiw0’的正侧的数字值进行第2校正。此外，第2校正部3242使用存储部33A中存储的信息，通过下式(11)对校正后的检测信号Hiw0’的负侧的数字值进行第2校正。
Hiu1(ppn)’＝au_max(ppn)×(Hiu0’(ppn)+bu)…(6)
Hiu1(ppn)’＝au_min(ppn)×(Hiu0’(ppn)+bu)…(7)
Hiv1(ppn)’＝av_max(ppn)×(Hiv0’(ppn)+bv)…(8)
Hiv1(ppn)’＝av_min(ppn)×(Hiv0’(ppn)+bv)…(9)
Hiw1(ppn)’＝aw_max(ppn)×(Hiw0’(ppn)+bw)…(10)
Hiw1(ppn)’＝aw_min(ppn)×(Hiw0’(ppn)+bw)…(11)
在式(6)和式(7)中，Hiu1’是对U相的检测信号进行了第2校正后的校正值。在式(8)和式(9)中，Hiv1’是对V相的检测信号进行了第2校正后的校正值。在式(10)和式(11)中，Hiw1’是对W相的检测信号进行了第2校正后的校正值。
此外，在式(6)～式(11)中，ppn是1～6的整数，是表示磁极对的值。在式(6)、式(8)和式(10)中，au_max(ppn)、av_max(ppn)和aw_max(ppn)分别是存储部33A中存储的针对与各磁极对对应的电角1个周期的正侧的数字值的正侧增益校正值。在式(7)、式(9)和式(11)中，au_min(ppn)、av_min(ppn)和aw_min(ppn)分别是存储部33A中存储的针对与各磁极对对应的电角1个周期的负侧的数字值的负侧增益校正值。在式(6)～式(11)中，bu、bv和bw分别是存储部33A中存储的各相的偏移校正值。
另外，au_max(ppn)、av_max(ppn)、aw_max(ppn)、au_min(ppn)、av_min(ppn)和aw_min(ppn)分别是每个极对的校正值。因此，正侧增益校正值的个数是18个(＝3相×6极对数)。同样，负侧增益校正值的个数是18个。
接着，对第2校正的效果进行说明。
图12是进行了本实施方式的第2校正的结果的一例的波形图。图12所示的波形图是在第2校正后通过第2校正部3242进行了校正后的波形。在图12中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值。
如图12所示，通过第2校正进行了检测信号的偏移成分的校正。此外，通过第2校正，振幅的范围在+B2～-B2的范围内大致被均一化。通过该校正，位置估计部30B能够有效利用各部可使用的数字信号值的范围。
如以上那样，通过第2校正，能够降低检测信号Hiu0’、Hiv0’和Hiw0’的各相的偏移成分，使各相的各极的振幅一致。
＜在线处理的校正的说明＞
另外，在本实施方式中，说明了正侧增益校正值、负侧增益校正值和偏移校正值存储在存储部33A中的例子，但不限于此。第2校正部3242也可以通过在线处理来计算正侧增益校正值、负侧增益校正值和偏移校正值。例如，第2校正部3242也可以使用前一个机械角1个周期的检测信号，来计算正侧增益校正值、负侧增益校正值和偏移校正值。
接着，对第2校正部3242进行的偏移校正值、正侧增益校正值、负侧增益校正值的计算步骤进行说明。
图13是本实施方式的偏移校正值、正侧增益校正值、负侧增益校正值的计算处理的流程图。
(步骤S2021)第2校正部3242检测电角6个周期的各相的极大值和极小值。
(步骤S2022)第2校正部3242在电角6个周期的区间中，计算各相的偏移校正值。具体而言，第2校正部3242计算电角6个周期的各相的振幅最大值和振幅最小值的平均。计算根据各相中求出的振幅最大值的平均值和振幅最小值的平均值而计算出的最大最小平均值。所计算出的最大最小平均值为每个相的偏移校正值bu、bv、bw。这里，电角6个周期是逐次得到的最新的电角6个周期的平均值。另外，也可以不是电角6个周期的平均值，只用根据至少2个周期以上的电角每1周期的振幅最大值和振幅最小值来计算即可。接着，第2校正部3242将计算出的各相的偏移校正值存储在存储部33A中。
(步骤S2023)第2校正部3242在电角1个周期的区间中，按照每个相和每个极对，计算正侧增益校正值和负侧增益校正值。接着，第2校正部3242按照每个相和每个极对，将计算出的正侧增益校正值和负侧增益校正值存储在存储部33A中。
第2校正部3242通过步骤S2021～步骤S2023的处理，利用存储部33A中存储的校正值和对应的式(6)～式(11)，例如对接下来的电角1个周期的检测信号进行第2校正。
另外，在马达M例如是4相的情况下，第2校正部3242也可以按照每个相来计算偏移校正值、正侧增益校正值、负侧增益校正值。在马达M是4相的情况下，偏移校正值的个数是4个。此外，正侧增益校正值和负侧增益校正值的个数分别是24个(＝4相×6极对)。如上所述，本实施方式中的马达控制***1的动作包含极大极小检测步骤、平均计算步骤、偏移计算步骤、第1增益计算步骤、第2增益计算步骤。
＜第3校正的说明＞
接着，对第3校正部3243在图9的步骤S203中进行的第3校正进行说明。
首先，对进行第3校正的理由进行说明。
图14是将本实施方式的电角1个周期的角度的分割信号结合的波形图。横轴表示估计角度[度]。纵轴表示角度真值[度]。
在图14中，曲线g211是连接电角6个周期的角度的分割信号的波形。此外，直线g212是理想的直线。此外，直线g221和直线g222表示曲线g211的偏差的范围。
另外，图14所示的曲线g211是在校正部324的第1校正～第3校正后，通过线段连接部323将第1实施方式中说明的分割检测部322的分割信号连接后的波形。通过进行这些校正和处理，位置检测的精度如直线g221和直线g222所示，成为大约±α[度]。
如前所述，分割信号呈大致S字的形状。在不进行第3校正的情况下，曲线g211的偏差的范围比图14所示的例子大。即，位置检测的精度成为比±α[度]大的值。因此，第3校正部3243通过将分割信号的大致S字的形状校正为直线来进行第3校正。其结果是，通过第3校正，能够进一步提高位置检测的精度。
另外，关于图14中的标号g311、g312、x1和x2，在第3实施方式中进行说明。
接着，对第3校正进行详细说明。
第3校正部3243针对各相的检测信号，使用存储部33A中存储的值作为系数，由此进行对检测信号的比例(scale)进行变更的第3校正。
通过进行第3校正，能够将各分割信号的大致S字状的形状直线化。这里，存储部33A中存储的值是预先设计的值。
该第3校正使用预先设计的值，通过二次函数、三次函数、三角函数等的校正式来进行计算处理。
另外，在以下的说明中，说明对第2校正后的检测信号Hiu1’、Hiv2’和Hiw1’进行第3校正的例子。
Hiu2’是对第2校正后的U相的检测信号进行了第3校正后的校正值。Hiv2’是对第2校正后的V相的检测信号进行了第3校正后的校正值。Hiw2’是对第2校正后的W相的检测信号进行了第2校正后的校正值。
接着，对第3校正的效果进行说明。
图15是进行了本实施方式的第3校正的结果的一例的波形图。图15所示的波形图是在第2校正后进行了第3校正后的波形。在图15中，横轴表示转子角[度]。纵轴表示数字值。
图15的标号g201所示的区域的波形是对标号g200所示的区域的波形进行放大后的波形。在标号g201所示的区域的波形中，曲线Hiu1(1)’是在第1校正后进行了第2校正后的检测信号Hiu1(1)’的波形的一部分。此外，曲线Hiu2’是在第1校正后进行了第2校正后，又进行了第3校正后的检测信号Hiu2’的波形的一部分。
与交叉点cp101’～cp102’的区间的曲线Hiu1(1)’相比，交叉点cp101～cp102的区间的曲线Hiu2’的交叉点间的检测信号的直线性提高。
这样，根据第3校正，检测信号Hiu2’、Hiv2’和Hiw2’相比于图12所示的检测信号Hiu1(ppn)’、Hiv1(ppn)’和Hiw1(ppn)’，直线性提高，能够得到与角度成比例的信号。
另外，第3校正部3243通过与检测信号的波形的形状对应的校正式，针对第3校正处理进行计算处理。
此外，第3校正部3243也可以代替预先设计的值而与第2校正同样地，根据前一个1机械角1个周期的检测信号，使用逐次计算出的值。而且，第3校正部3243也可以将计算出的值作为系数而存储到存储部33A中。
另外，在上述例中，说明了校正部324进行全部的第1校正～第3校正的例子，但不限于此。例如，校正部324也可以对检测信号进行第1校正～第3校正中的至少1个校正。
如以上那样，在本实施方式的位置估计方法中，通过第1校正，能够降低检测信号的同相噪声。此外，在本实施方式中，通过第2校正，能够对多个检测信号的相互偏差进行校正。这里，多个信号的相互偏差例如是检测信号的振幅和偏移成分的偏差。进而，在本实施方式中，通过第3校正，能够将波形的曲线部分直线化。特别地，通过进行第2校正而使分割信号的长度均一化，因此，在第3校正中，容易对全部的分割信号应用同样的计算处理。因此，通过在第3校正的前工序中进行第2校正，能够进一步将波形的曲线部分直线化。
其结果是，在本实施方式中，能够将位置信息所需要的信号部分进一步直线化，能够缩小位置估计值与真值之间的差，因此能够进行高精度的位置检测。
另外，在本实施方式中，说明了校正部324对被转换为数字信号的检测信号进行校正的例子，但不限于此。校正部324也可以设于放大部20和AD转换部31之间。该情况下，校正部324也可以对作为模拟信号的检测信号Hu0、Hv0和Hw0进行校正。此外，在本实施方式中，检测部10所具有的传感器的数量不限于3个。该情况下，各传感器的输出分别错开除以传感器的总数后得到的相位即可。
如上所述，马达控制***1通过使用校正后的检测信号，能够进行更高精度的位置控制。例如，在如现有技术那样使用光学式的编码器来进行转子R的旋转位置的检测的情况下，检测精度依赖于编码器的分辨率。这里，光学式的编码器例如具有光斩波器和编码器盘。编码器盘的圆周上具有以等间隔形成的狭缝。例如，分辨率为400脉冲的编码器的检测精度大约是±0.9度。另一方面，在使用了本实施方式的位置估计方法的位置估计部30中，能够实现与光学式编码器的检测精度相同的精度。
[第3实施方式]
说明第1实施方式的位置估计部30还具有归一化部的例子。
图16是示出本实施方式的马达控制***1B的结构的概略图。
如图16所示，马达控制***1A代替位置估计部30而具有位置估计部30B。
位置估计部30B代替位置运算部32而具有位置运算部32B，代替存储部33而具有存储部33B。
位置运算部32B还具有归一化部325。归一化部325进行对分割检测部322检测到的分割信号的线段的斜率进行均一化的校正，将校正后的检测信号输出到线段连接部323。
存储部33B还存储每个段的归一化系数。另外，后面叙述归一化系数。
＜归一化的说明＞
首先，参照图14来说明进行归一化的理由。
根据传感器11～传感器13各自的检测感度和安装位置的误差等，传感器11～传感器13的检测信号的形状不会成为理想的同一形状。此外，检测信号的相位不会成为理想的相位的偏移。其结果是，检测信号的形状的不同等会影响到检测信号的交叉位置和过零点。于是，各个分割信号的线段的斜率不固定。这里，归一化是使分割信号的线段的斜率均一的校正。
以图14为例，角度真值为60[度]，与此相对，估计角度为x1，大约是40[度]。此外，角度真值为120[度]，与此相对，估计角度为x2，大约是100[度]。在图14所示的例中，角度真值为0[度]～60[度]之间的线段g311的斜率与角度真值为60[度]～120[度]之间的线段g312的斜率不同。
在检测信号的线段的斜率不同的情况下，如果连接分割信号sg311和分割信号sg312，根据连接的线段的斜率求出机械角的角度，则由于线段的斜率的差异，有时位置估计的结果会产生误差。
因此，在本实施方式中，通过对分割信号进行归一化，降低位置估计的结果的误差。
图17是对本实施方式的分割信号的归一化进行说明的图。在图17中，横轴表示机械角度[度]。纵轴表示数字值。在图17中，为了简化说明，仅示出2个分割信号。
图17的标号g321所示的波形是连接了分割信号sg341’和分割信号sg342’的波形。分割信号sg341’的机械角度是Θ[1]’。分割信号sg341’的数字值是ΔX[1]。此外，分割信号sg342’的机械角度是Θ[2]’。此外，分割信号sg342’的数字值是ΔX[2]。
归一化部325使用存储部33B中存储的每个段的归一化系数k[i]和每个分割信号的数字值ΔX[i]，通过下式(12)计算机械角Θ[i]’。另外，i是段的编号，是1～72的整数。
Θ[i]’＝ΔX[i]×k[i]…(12)
此外，归一化部325使用下式(13)来计算图17所示的从前次存储的交叉位置或过零点到当前时刻的机械角度的偏差ΔΘ[n]。
ΔΘ[n]＝X[n]×k[i]…(13)
在式(13)中，n表示当前时点的非常数。
归一化部325将分割信号的纵轴的X[n]与归一化系数k[i]相乘，将相乘的结果输出到线段连接部323。
在本实施方式中，通过对分割信号进行归一化并进行连接，由此能够将每个分割信号的线段的斜率大致均一化。其结果是，根据本实施方式，即使在产生了检测部的安装精度的偏差、检测部的信号的偏差的情况下，也能够进一步提高位置的检测精度。
＜归一化系数k[i]的利用离线处理的计算＞
这里，对上式(13)中的归一化系数k[i]的利用离线处理的计算方法进行说明。离线处理例如是在出厂前预先进行的处理、或者是在实际使用马达控制***1B之前进行的处理。在通过在线处理计算归一化系数的情况下，位置运算部32B的运算负荷增加。因此，归一化部325也可以利用离线处理计算归一化系数，并将其存储在存储部33B中。此外，根据来自外部装置70的位置指令值Θ*，马达控制***1B以恒定旋转速度使转子R旋转，从而进行以下的处理。图18是对本实施方式的归一化系数的计算进行说明的图。图18所示的信号表示通过离线处理求出的分割信号的值。在图18中，横轴表示机械角度的真值[度]。纵轴表示数字值。在图18中，为了简化说明，仅示出2个分割信号。
归一化部325在马达M以规定的转速旋转时，测定机械角1个周期的从每个分割信号的交叉点到过零点的经过时间t[i]、以及机械角1个周期的从每个分割信号的交叉点到过零点的数字值的偏差ΔXnorm[i]。
接着，归一化部325根据所测定出的每个分割信号的各经过时间，使用下式(14)来计算机械角的真值Θnorm[i]。
Θnorm[i]＝{t[i]/(t[1]+…+t[72])}×360[度]…(14)
在式(14)中，i是段的编号，是1～72的整数。
图18的标号g331所示的波形是连接分割信号sg341和分割信号sg342的波形。分割信号sg341的机械角度的真值是Θnorm[1]。此外，分割信号sg341的数字值是ΔXnorm[1]。
归一化部325按照每个分割信号、即每个段，使用通过式(14)求出的机械角度的真值Θnorm[i]，根据下式(15)来计算归一化系数k[i]。将计算出的归一化系数k[i]存储在存储部33B中。
k[i]＝Θnorm[i]/ΔXnorm[i]…(15)
如以上那样，通过进行离线处理，能够计算根据式(15)求出的归一化系数k[i]。如上所述，将该归一化系数k[i]用于在线时的机械角度Θ[i]’式(12)或ΔΘ[n]式(13)的导出。其结果是，能够进行对每个分割信号的线段的斜率的偏差进行校正后的机械位置的估计。即，本发明的位置估计方法的一个方式包含：计测步骤，归一化部在可动子以规定的转速旋转时，对每个分割信号的时间、可动子旋转1周所需要的时间、每个分割信号的时间内增加的信号值或分割信号的线段的长度进行计测；机械角度计算步骤，归一化部根据通过计测步骤计测出的每个分割信号的时间和可动子旋转一周所需要的时间，计算每个分割信号的机械角度；归一化系数计算步骤，归一化部用通过机械角度计算步骤计算出的机械角度除以通过计测步骤计测出的信号值或线段的长度，从而计算每个分割信号的归一化系数；归一化步骤，归一化部按照每个分割信号，将通过归一化系数计算步骤计算出的归一化系数乘以新检测出的分割信号的信号值或线段的长度来进行归一化，由此对机械角度进行校正。
＜Θoffset[i]的利用离线处理的计算＞
图19是对本实施方式的机械角度位置的计算进行说明的图。在图19所示的例中，是对极对编号为1进行说明的图。
在图19中，希望求出的机械位置是从节sc2起的ΔΘ[n]的位置。ΔΘ[n]是从前1个交叉点和过零位置到当前时刻n的转子R的角度。
这里，将机械位置的角度为0[degM]的位置设为Θoffset[1]。将Θnorm[1]后的位置设为Θoffset[2]。将机械位置的角度为0[degM]的位置起Θnorm[2]后的位置设为Θoffset[3]。因此，将机械位置的角度为0[degM]的位置起Θnorm[i]后的位置设为Θoffset[i]。
Θoffset[i]如下式(16)那样表示。
Θoffset[i]＝Σ(Θnorm[i-1])…(16)
其中，i＝1～72，Θnorm[0]＝0。
此时，将利用离线处理计算出的Θoffset[i]保持在存储部33B中。
＜机械角度Θ[n]的计算＞
因此，当前的位置、即当前时刻的转子R的机械角度Θ[n]如下式(17)那样表示。
Θ[n]＝Θoffset[i]+X[n]×k[i]
＝Θoffset[i]+ΔΘ[n]…(17)
如式(17)所示，在计算当前时刻的转子R的机械角度Θ[n]的情况下，从存储部33B调出Θoffset[i]。
这里，考虑在线处理中计算当前时刻的转子R的机械角度Θ[n]。有时利用在线处理计算的Θoffset[i]所表示的机械角度的位置与利用离线处理计算的Θoffset[i]的机械角度的位置不同。该误差成为当前时刻的转子R的机械角度Θ[n]的计算误差。其结果是，由于该误差，转子R在旋转了机械角一个周期后，有时无法返回到相同的机械角度的位置。
因此，使用利用离线处理计算的Θoffset[i]。如式(17)所示，以到ΔΘ[n]的前一个交叉位置或过零点的机械角度的位置为基准，计算ΔΘ[n]。通过该方法，能够不累积在Θoffset[i]之前的区间产生的误差地计算ΔΘ[n]。即，在机械角度计算步骤中，归一化部将在可动子旋转一周所需要的区间内通过归一化步骤校正后的机械角度与新检测到的分割信号的前1个所述机械角度相加，来计算当前的所述机械角度。
在本说明书中，将通过上述的离线处理取得的数据称作“测定数据”。测定数据是将与各段对应的可动子的移动量与全部的段对应起来的数据。在段的个数是72个的情况下，能够针对段1至段72分别分配通过测定而取得的机械角度(段的起点至终点的机械角度的真值)。这样的测定数据例如作为信息表而存储并保存在存储部33、33A、33B中。如果从存储部33、33A、33B中读出测定数据并进行参照，则能够根据段的编号来读出由该编号指定的段的机械角度或者付随于该机械角度的其他的信息。
例如，假设通过离线处理得到了如下情况：段1、段2，······、段72分别具有4.1度、4.9度、······、5.3度的机械角度。这样得到的测定数据作为表而存储在记录装置中。该情况下，如果根据所检测到的段的编号来参照测定数据，则能够得到与该段对应的机械角度(真值)。这样的机械角度的数值的序列是各个马达所固有的，能够作为马达的所谓“指纹”而发挥功能。
测定数据典型地在出厂前被保持在存储部中，但是，也可以在之后被更新。利用离线处理进行了学习的归一化系数k[i]的值可以经时地变化。因此，也可以定期地或不定期地进行离线处理，执行测定数据的再取得。
另外，测定数据也可以经由因特网或其他的通信回线而汇集，存储在云上的存储装置中。如上所述更新了测定数据的情况下，云上的存储装置中的测定数据也被更新。还能够根据所更新的测定数据的内容对马达M进行诊断。
＜机械位置的确定＞
接着，对机械位置的初始位置的确定方法进行说明。
本实施方式中的马达控制***1的动作包含存储步骤、节判别步骤、误差计算步骤、评价步骤、位置确定步骤、判别步骤。在再次投入电源后，段i的信息被初始化。因此，无法正确地应用利用离线处理进行了学习的归一化系数k[i]。因此，在再次投入电源后，需要确定机械位置(段或极对编号)。这里，段或极对编号利用段的编号＝12×极对编号+节的编号这样的式子表示。因此，通过确定极对编号，能够确定段的编号(机械位置)。
图20是本实施方式的转子R的初始位置的确定处理的步骤的流程图。
(步骤S701)归一化部325在马达M或安装了马达M的商品出厂时，将使转子R以恒定速度旋转时的各分割信号中的机械角度的真值Θnorm[i]逐次存储在存储部33B中。在再次投入电源后，从闪存ROM向RAM调用存储部33B中存储的保存信息。这样，归一化部325通过将使转子R以恒定速度旋转时的各分割信号中的机械角度的真值Θnorm[i]逐次存储在存储部33B中，来进行学习。
(步骤S702)位置估计部30B根据存储部33B中存储的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的大小关系的组合，来判别转子R的节的编号。
(步骤S703)位置估计部30B按照每个节来计算机械角度的真值Θnorm[i]和机械角度Θ[i]之间的误差。
(步骤S704)位置估计部30B进行步骤S703中计算出的误差的累积评价。
(步骤S705)位置估计部30B依次抛弃误差达到上限的极对编号(段)的候选。
(步骤S706)位置估计部30B判别在规定时间内是否全部的候选达到了误差上限。在位置估计部30B判别为并非在规定时间内全部的候选达到误差上限的情况下(步骤S706；否)，进入步骤S707的处理。在位置估计部30B判别为在规定时间内全部的候选达到了误差上限的情况下(步骤S706；是)，进入步骤S708的处理。
(步骤S707)从最后剩下的极对编号(段)的候选确定段，从而确定转子R的初始位置。然后，结束段的编号的确定处理。
(步骤S708)位置估计部30B将所取得的检测信号一起判别为与进行了归一化的马达M不同。
以上，结束转子R的初始位置的确定处理。另外，在(步骤S701)中，存储部33B中存储的保存信息不限于机械角度的真值Θnorm[i]。例如，也可以按照每个分割信号将数字值或每个分割信号的线段的长度等存储在存储部33B中。此外，在存储部33B所存储的保存信息中，也可以包含归一化系数k[i]、校正式(1)～(3)、(6)～(11)、第3校正所使用的校正式、正侧增益校正值、负侧增益校正值、各相的偏移校正值、预先设计的值。即，在(步骤S701)的存储步骤中，将通过计测步骤或机械角度计算步骤而计算出的保存信息预先存储在存储部33B中。在(步骤S703)的误差计算步骤中，不限于计算机械角度的真值Θnorm[i]与机械角度Θ[i]之间的误差的情况。例如，也可以是保存信息的每个分割信号的数字值或每个分割信号的线段的长度、和在线处理中的每个分割信号的数字值或每个分割信号的线段的长度。如以上那样，在本实施方式的位置估计方法中，通过将各分割信号的机械角和归一化系数存储在存储部33B中，在再次投入电源后也能够确定当前机械位置。此外，在本实施方式的位置估计方法中，在规定时间内全部的候选达到误差上限的情况下，能够判别为检测信号与进行了归一化的马达M不同。
另外，在本实施方式中，位置运算部32B也可以还具有第2实施方式中说明的校正部324。由此，能够进一步提高位置检测精度。
此外，还具有校正部324的位置运算部32B或位置运算部32A也可以在离线处理时取得存储部33B存储的信息而进行学习，并将其存储在存储部33B或存储部33A中。这里，存储部33B或存储部33A存储的保存信息是校正式(1)～(3)、(6)～(11)、第3校正所使用的校正式、正侧增益校正值、负侧增益校正值、各相的偏移校正值、预先设计的值。
例如，在利用在线处理计算第2校正中使用的校正值的情况下，位置运算部32的运算负荷增加。因此，第2校正部3242也可以利用离线处理来计算第2校正中使用的校正值，并将其存储在存储部33A。在存储部33例如由闪存ROM和RAM构成的情况下，第2校正部3242也可以在位置运算部32的电源接通的状态下，将闪存ROM中存储的校正值移动到RAM而进行使用。第3校正部3243也可以利用离线处理将第3校正的校正值存储到存储部33中。
本发明的各实施方式中，将数字值示出0的值作为基准值而进行了说明，但不限于此。例如，在不对检测信号进行AD转换而利用模拟信号进行本发明的情况下，基准值也可以不必须是示出0的值。此外，在采用数字信号的情况下，基准值也可以不是0。
在本发明的各实施方式中，“检测”交叉位置和过零点以及分割信号是指，位置估计部通过计算交叉位置和过零点以及分割信号而求出的结果为，能够检测交叉位置和过零点即可。
另外，也可以是，将用于实现本发明的各实施方式中的位置估计部(30、30A、30B)的功能的程序记录在未图示的计算机可读取的记录介质中，使计算机***读入该记录介质中记录的程序并执行该程序，从而进行各处理的步骤。另外，这里所说的“计算机***”包含OS和周边设备等硬件。此外，“计算机***”还包含具有主页提供环境(或显示环境)的WWW***。此外，“计算机可读取的记录介质”是指，软盘、光磁盘、ROM、CD-ROM等可移动介质、计算机***中内置的硬盘等存储装置。进而“计算机可读取的记录介质”还包含如经由因特网等网络和电话回线等通信回线发送程序的情况下的作为服务器或客户端的计算机***内部的易失性存储器(RAM)那样，在一定时间内保持程序的记录介质。
此外，也可以从在存储装置等中存储了该程序的计算机***中，经由传送介质或通过传送介质中的传送波将上述程序传送到其他计算机***。这里，对程序进行传送的“传送介质”是指因特网等网络(通信网)和电话回线等通信回线(通信线)那样具有传送信息的功能的介质。此外，上述程序也可以是用于实现前述的功能的一部分的程序。进而，也可以是通过与计算机***中已经记录的程序的组合而实现前述功能的所谓差分文件(差分程序)。
[第4实施方式]
如上所述，上述的实施方式中的传感器11～传感器13的典型例是霍尔元件。霍尔元件是利用霍尔效果(Hall effect)来检测磁场的传感器(磁传感器)。霍尔效果是如下现象：当对在半导体等的物质中流动的电流施加具有垂直的成分的磁场时，在与电流和磁场双方垂直的方向上产生电动势。一般的霍尔元件具有2组端子对。当第1端子对中流过电流时，测定由于霍尔效果而在第2端子对中产生的电压。利用霍尔效果的传感器包含霍尔元件、霍尔IC和线性霍尔IC。这里，对霍尔元件进行说明。
图21是霍尔元件100的电路图。在该例中，通过电压源80对霍尔元件100的第1端子对Vi+、Vi-施加恒定的电压Vin，在图中的纵方向流过电流。当从外部对霍尔元件100的内部流动的电流施加磁场时，在霍尔元件100的第2端子对VH+、VH-产生电压。在施加电压Vin恒定时，即在恒压动作时，该电压(输出电压)与磁场的强度成比例。因此，能够根据霍尔元件100的输出电压检测磁场的强度。
图22是示出受恒定磁场影响的霍尔元件100的输出电压与施加电压Vin之间的关系的一例的曲线图。由图22明确可知，即使磁场的大小恒定，霍尔元件100的输出电压也与施加电压Vin成比例地变化。当霍尔元件100在恒压下动作时，基本不存在输出电压对周围温度的依赖性。
图23是示出用3个霍尔元件实现了前述的实施方式中的3个传感器11～传感器13的结构的一例的电路图。分别是霍尔元件的传感器11～传感器13经由电阻器15、16，在电压源80和接地之间串联连接。这些电阻器15、16发挥防止电压钳位的功能。
本发明者通过研究得知，根据图23的电路，本来不容易受到周围温度影响的恒压动作中的霍尔元件的输出电压能够根据周围温度而变动。该变动的原因是，电阻器15和16所具有的电阻值的温度依赖性与霍尔元件100所具有的电阻值的温度依赖性不同。更详细地讲，伴随周围温度的上升，电阻器15和16的电阻值上升，电阻器15具有正的温度系数。与此相对，霍尔元件100的电阻值如图24所示，伴随周围温度的上升而减低，霍尔元件100具有负的温度系数。
如图25所示，电阻器15、传感器11、传感器12、传感器13和电阻器16分别具有电阻值R1、Rin1、Rin2、Rin3和R2。此外，分别对电阻器15、传感器11、传感器12、传感器13和电阻器16施加了电压V1、V2、V3、V4和V5。如上所述，当周围温度上升时，电阻值R1、R2上升，但是，电阻值Rin1、Rin2和Rin3降低。各元件的施加电压根据电阻比而被分割。因此，当周围温度上升时，即使电压源80的电压恒定，电压V1、V5也会变高，电压V2、V3和V4也会变低。电压V2、V3和V4分别是3个霍尔元件100的施加电压。如参照图22说明的那样，即使施加磁场相同，霍尔元件100的施加电压降低也会导致输出电压降低。
根据以上的说明可知，根据图23的电路结构，当周围温度上升时，霍尔元件100的施加电压降低，其结果是，图3所示的信号Hu0、Hv0、Hw0的振幅变小。相反，当周围温度降低时，霍尔元件100的施加电压变高，图3中的信号Hu0、Hv0、Hw0的振幅变大。
在动作时的周围温度与进行了离线的学习时的周围温度相比发生了变化的情况下，如果直接使用测定数据，则可动子的位置估计值可能会产生误差。
在本实施方式中，具有对由于周围温度的变化而产生的信号Hu0、Hv0、Hw0的振幅变化进行校正的结构，以抑制或消除上述的误差。以下对该结构的例子进行说明。
图26是示出本实施方式中的霍尔元件100的电路结构的例子的电路图。在本实施方式中，分别是霍尔元件100的传感器11～传感器13经由热敏电阻17、18，在电压源80的端子Ta和与接地相同的电位的端子Tb之间串联连接。端子Ta和Tb向串联连接的热敏电阻17、传感器11～传感器13和热敏电阻18提供电压。这些热敏电阻17、18发挥防止电压钳位的功能，这一点实现与前述的电阻器15、16同样的作用。不同之处在于，热敏电阻17、18的电阻伴随周围温度的上升而下降，热敏电阻17、18具有与霍尔元件100相同的极性(负)的温度系数。因此，抑制了伴随周围温度的变化的施加电压的变化。
一般而言，通过下式近似地表示霍尔元件的电阻值R(参照图24)。
R＝R0×exp{B(1/T-1/T0)}
这里，exp是指数函数，R0和B是常数，T是当前的温度，T0是基准温度。温度的单位是绝对温度。1/T的系数即“B”的大小被称作“B常数”。热敏电阻17、18优选具有与上述的近似式所表示的温度特性同样的温度特性。
也可以代替热敏电阻17、18，而使用霍尔元件100作为用于防止电压钳位的电阻元件。该情况下，用作电阻元件的霍尔元件具有与用作传感器11～13的霍尔元件相同大小的“B常数”，因此，能够抑制周围温度的变化引起的施加电压的变化。
[第5实施方式]
本实施方式具有即使霍尔元件的输出由于周围温度的变化而变化，也对霍尔元件的输出的变化进行补偿的结构。图27是示出本实施方式的结构中的主要部分的电路图。本实施方式具有对下级的热敏电阻18的电压进行测定的电压测定电路19。电压测定电路19的输出被实时地输入到位置估计部30内的AD转换电路(ADC)314。从该AD转换电路314输出的信号(数字值)表示热敏电阻18的电压。位置估计部30根据热敏电阻18的电压，计算霍尔元件100的施加电压。由于霍尔元件100的施加电压和输出电压之间的关系(参照图24)是已知的，因此，第4校正部3244能够根据霍尔元件100的施加电压对检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的振幅进行校正。具体而言，假设当前的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的未校正的状态的振幅由于周围温度的上升而降低到了通过离线进行了学习时的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的振幅的例如50％的大小。该情况下，所检测到的热敏电阻18的电压相比于进行了离线的学习时的电压应该增加了。根据当前的热敏电阻18所测定的电压，第4校正部3244转换为使当前的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’的未校正的状态的振幅成为2倍后的校正值，并输入到位置运算部32。例如如果是图8所示的实施方式，则将通过第4校正部3244校正后的检测信号Hu0’、Hv0’和Hw0’提供到校正部324。
也可以代替对热敏电阻18的电压进行测定，而对上级的热敏电阻17的电压进行测定。此外，也可以对热敏电阻17、18双方的电压进行测定。在不使用热敏电阻15、16而使用电阻器15、16的情况下(参照图23)，电压测定电路19也可以测定电阻器15、16中的至少一方的电压。
在本实施方式中，将通过离线进行了学习时、即取得了测定数据时由电压测定电路19测定的电压值作为基准电压值而预先存储在存储部338中。作为预处理电路的一部分而发挥功能的第4校正部3244从存储部338读出基准电压值，根据从电压测定电路19取得的当前的电压值和基准电压值对检测信号进行校正。
这样，本实施方式中的位置估计装置具有电压检测测定电路，该电压检测测定电路检测电阻元件或检测部的电压值，并将其输入到作为预处理电路而发挥功能的校正部。该校正部根据所检测到的电压值，对N个检测信号进行校正。本实施方式中进行的位置估计方法包含如下的温度补偿步骤：检测N个检测部中的任意一方或电阻元件的电压值，根据所检测到的电压值，对检测信号进行校正。因此，即使霍尔元件等传感器的输出由于周围温度的变化而变化，也能够对该变化进行补偿。
[第6实施方式]
在本实施方式中，在线段连接步骤中，与从所连接的多个分割信号中选择出的特定的1个或多个分割信号的检测同步地，由位置运算部32生成并输出表示可动子的基准位置的Z相信号。图28是示出本实施方式的位置运算部32的结构例的概略图。在本实施方式中，未图示的其他的结构也可以是前述的实施方式中的任意一方的结构。
本实施方式的位置运算部32具有Z相信号电路326，该Z相信号电路326根据从线段连接部323输出的信号的相位，生成并输出所谓的Z相信号。在Z相信号电路326上连接有相移电路327。相移电路327对Z相信号电路326输出Z相信号的时机进行调整。
图29是示出从上述的各实施方式中的线段连接部323输出的信号(表示位置估计值的信号)的波形和Z相信号的波形例的图。如上所述，从线段连接部323输出的信号具有表示转子的机械位置的估计值即机械角度Θ＾的信息(绝对机械角度信息)。图29的最上段的曲线图的纵轴是所估计的机械角度Θ＾，横轴是时间。该曲线图中示出转子以机械角旋转了4周和120度的期间。根据图29明确可知，根据该信号的大小决定机械角度Θ＾，因此，转子的绝对的机械位置(朝向)被确定为1个。
图29中示出Z相信号电路326输出的Z相信号的多种波形例。在图示的例子中，Z1信号是以机械角度Θ＾相对于基准位置为0度的相位成为逻辑高电平(High)的脉冲信号。Z2信号是以机械角度Θ＾相对于基准位置延迟了图28的相移电路327指定的任意的角度的相位成为逻辑高电平(High)的脉冲信号。
在上述的例中，在转子以机械角度每旋转1周时输出脉冲信号，但是，Z相信号的输出频度不限于该例。Z3信号是以机械角度Θ＾相对于基准位置延迟了相移电路327指定的多个角度(机械角度未满360度)的相位成为逻辑高电平(High)的脉冲信号。Z4信号是以机械角度Θ＾相对于基准位置大于360度的周期输出的脉冲信号。在相移电路327指定的相移角度大于机械角度360度的情况下，不输出逻辑高电平(High)的脉冲信号，直到机械角度Θ＾从基准位置增加相移角度为止。
这样，根据本实施方式，能够不特别地具有编码器，而根据表示机械角度Θ＾的信号的大小，以任意的相位和任意的频度输出脉冲信号。这样的脉冲信号能够用作现有的Z相信号，也能够用于其他各种用途。
[第7实施方式]
能够使用信号处理电路和存储了对该信号处理电路的动作进行控制的计算机程序的记录介质，来实现上述的各实施方式的位置估计部30、30A、30B。以下，对这样的实施方式进行说明。
图30是示出本实施方式的马达控制***1C的结构例的概略图。如图30所示，本实施方式的马达控制***1C具有马达M、检测部10、放大部20、位置估计装置300、栅极驱动器450、逆变器460和控制器500。
检测部10具有N个(N为3以上的整数)传感器，该N个传感器检测转子R具有的多个磁极所形成的磁场，输出具有与各自检测到的磁场的强度对应的大小的检测信号。N个传感器被配置成N个检测信号的相位分别错开360度/N的角度。在图示的例中，N为3，检测部10具有传感器11、12、13。本实施方式中的马达M、检测部10和放大部20的结构和动作与其他实施方式中说明的相同，因此，这里不重复详细的说明。
本实施方式中的位置估计装置300具有：预处理电路350，其根据N个检测信号生成N个校正检测信号；信号处理电路400，其根据N个校正检测信号生成表示可动子的位置估计值的信号，并对该信号进行输出。
本实施方式中的信号处理电路400可以是例如中央运算处理装置(CPU)、数字信号处理处理器等集成电路(IC)芯片。位置估计装置300具有记录介质，该记录介质存储了对信号处理电路400的动作进行控制的计算机程序。该记录介质例如是闪存ROM等非易失性存储器420，与信号处理电路400连接。
在本实施方式中，从预处理电路350输出的N个校正检测信号作为变量而随时存储在RAM 410中。
预处理电路350具有前述的AD转换部31，根据需要也可以具有校正部3244(图27)。通过预处理电路350将检测信号转换为数字信号，能够接受各种校正处理。这里，将接受了这样的预处理的检测信号称作“校正检测信号”。
信号处理电路400根据计算机程序的指令执行以下的步骤。
首先，信号处理电路400从RAM 410读出校正检测信号。接着，逐次检测N个校正检测信号中的任意2个信号彼此交叉的交叉点。
信号处理电路400将从交叉点联结到与交叉点相邻的其他交叉点的校正检测信号分割成1个或多个段，检测各段作为分割信号。
信号处理电路400从存储装置读出将与各段对应的可动子的移动量与全部的段对应起来的测定数据。该存储装置可以是存储了上述的计算机程序的记录介质，也可以是存储卡等其他存储装置。在本实施方式中，在非易失性存储器420中保存有测定数据，从非易失性存储器420读出测定数据。如上所述，通过出厂前的离线处理取得该测定数据，并将该测定数据保存在存储介质中。在出厂后，可以更新测定数据。
信号处理电路400参照该测定数据，根据N个校正检测信号的关系和分割信号，确定与转子R的当前位置对应的段。
如上所述，在某个方式中，当设i为1以上的整数、n为规定当前时刻的整数、所确定的段的编号为i、所确定的段的起点处的转子R的位置为Θoffset[i]、段的起点处的分割信号的值与该分割信号的当前值之间的差分为X[n]、转子R的位置估计值为Θ[n]、比例系数为k[i]时，Θ[n]＝Θoffset[i]+k[i]×X[n]的关系成立。根据该关系来决定转子R的位置估计值。
表示转子R的位置估计值的信号具有与从基准位置起的转子R的移动量成比例地直线增加的值。在优选的方式中，表示转子R的位置估计值的信号具有与Θ成比例的数字值或模拟值。
这样，信号处理电路400根据所确定出的段，基于分割信号的电平来决定可动子的位置估计值，输出表示位置估计值的信号。位置估计信号可以以数字值的状态输入到控制器500的反馈(F/B)端子。位置估计信号可以作为串行数据而输出到外部，或者通过DA转换电路(DAC)440转换为模拟值后输出。例如在进行维护时，通过示波器观测被转换为模拟值的信号，从而能够对位置指令值和位置估计值进行比较。
位置估计装置300也可以具有如下的电路(图28)，该电路响应于来自信号处理电路400的指示，输出前述的脉冲状的Z相信号。还能够通过信号处理电路400实现图28所示的各功能块。
信号处理电路400内的预处理电路350也可以构成为程序，使得执行从前述的第1校正步骤、第2校正步骤和第3校正步骤中选择出的任意一个校正步骤，生成校正检测信号。当信号处理电路400根据这样的程序进行动作时，在第1校正步骤中，从检测信号中依次选择1个，从所选择的检测信号中减去未选择的其他的检测信号的平均值，从而对所选择的检测信号进行校正，生成校正检测信号。在第2校正步骤中包括以下步骤：针对各相的检测信号，检测每个极对的极大值和极小值、以及至少2个周期的电角每1周期的振幅最大值和振幅最小值；校正部针对各相的检测信号，计算振幅最大值的平均和振幅最小值的平均；将根据振幅最大值的平均和振幅最小值的平均而计算出的最大最小平均值作为偏移校正值；针对各个检测信号，计算将极大值作为规定的最大值的每个磁极对的正侧增益校正值；针对各相的检测信号，计算将极小值作为规定的最小值的每个磁极对的负侧增益校正值；针对各相的检测信号，加上偏移校正值，并将每个磁极对的正侧的信号值与正侧增益校正值相乘，将每个磁极对的负侧的信号值与负侧增益校正值相乘。第3校正步骤中包含以下步骤：针对各个检测信号，根据检测信号的波形的状态，乘以预先决定的系数。
另外，作为信号处理电路400执行的动作，以下动作并非本发明必不可少的动作：从存储装置读出将与各段对应的可动子的移动量与全部的段对应起来的测定数据；参照测定数据，根据N个校正检测信号的关系和分割信号，确定与可动子的当前位置对应的段。也可以代替执行这些动作，而由信号处理电路400逐次连接分割信号，并根据所连接的多个分割信号，基于分割信号的电平来决定可动子的位置估计值，输出表示位置估计值的信号。
信号处理电路400除了执行上述的位置估计处理以外，也可以被编程，使得执行马达驱动所需要的运算。在信号处理电路400执行的各种处理中，不需要通过1个IC芯片来执行。第1至第6实施方式的位置估计部30、30A和30B、以及控制部50执行的功能的一部分或全部可以通过数字信号的处理而实现。因此，也可以由多个运算处理单元或数字信号处理器(DSP)分担由位置估计部30、30A和30B的各功能块执行的不同的处理。此外，还能够使用FPGA(Field-Programmable Gate Array：现场可编程门阵列)的这样的可编程逻辑器件来实现本实施方式的信号处理电路400。
在本实施方式中，信号处理电路400根据转子R的位置估计值来计算马达控制所需要的电压指令值，并将其提供到脉冲宽度调制(PWM)电路430。脉冲宽度调制电路430根据该电压指令值，向栅极驱动器450提供PWM信号。栅极驱动器450根据PWM信号对逆变器460内的开关晶体管进行开闭，将所需要的电压和电流提供给马达M。
当在离线的情况下取得或更新测定数据时，信号处理电路400根据计算机程序的指令，以恒定速度使转子R移动(旋转)。然后，测定每个段的转子R的移动(旋转)时间，生成将与各段对应的转子R的移动量(机械角度)与全部的段对应起来的数据。信号处理电路400将该数据作为测定数据而存储在非易失性存储器420中。
在***具有温度检测元件的情况下，能够将取得测定数据时的温度作为基准温度而存储在存储装置中。也可以是，如第6实施方式中说明的那样，在由于周围温度而使检测信号的振幅发生变化时，从存储装置读出基准温度，根据从温度检测元件取得的当前的温度和基准温度来校正检测信号。

Claims (10)

1.一种信号处理装置，其具有：
预处理电路，该预处理电路根据从传感器接收的N个检测信号来生成N个校正检测信号，所述传感器是输出作为电信号的检测信号的传感器，并且所述传感器被配置成：所述N个检测信号的相位分别错开360度/N的角度；
信号处理电路，其根据所述N个校正检测信号，生成并输出直线化了的线段连接信号；
记录介质，其与所述信号处理电路连接，存储对所述信号处理电路的动作进行控制的计算机程序，
所述信号处理电路按照所述计算机程序的指令执行如下处理：
逐次检测所述N个校正检测信号中的任意2个信号彼此交叉的交叉点；
将从所述交叉点联结到与该交叉点相邻的其他所述交叉点的校正检测信号分割成1个或多个段，检测各段作为分割信号；
从存储装置读出测定数据，该测定数据是将与各段对应的值与全部的段对应起来而得到的；
参照所述测定数据，根据所述N个校正检测信号的关系和所述分割信号，确定与可动子的当前位置对应的段。
2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其中，
所述信号处理电路根据所述计算机程序的指令执行如下处理：
当可动子以恒定速度移动时，对每个段的所述可动子的移动时间进行测定，生成将与各段对应的所述可动子的移动量与全部的段对应起来的数据，作为所述测定数据而存储在所述存储装置中。
3.根据权利要求1或2所述的信号处理装置，其中，
表示可动子的位置估计值的信号具有与从基准位置起的所述可动子的移动量成比例地线性增大的值。
4.根据权利要求1或2所述的信号处理装置，其中，
所述预处理电路执行从第1校正步骤、第2校正步骤和第3校正步骤中选择的任意校正步骤，生成所述校正检测信号，
所述第1校正步骤包含如下步骤：
从所述检测信号中依次选择1个检测信号，从所选择的所述检测信号中减去未选择的其他所述检测信号的平均值，从而对所选择的所述检测信号进行校正，生成所述校正检测信号，
所述第2校正步骤包含如下步骤：
针对各相的所述检测信号，检测每个极对的极大值和极小值以及至少2个周期的电角每1周期的振幅最大值和振幅最小值；
校正部针对各相的所述检测信号，计算所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均；
将根据所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均计算出的最大最小平均值作为偏移校正值；
针对各个所述检测信号，计算将所述极大值作为规定的最大值的每个磁极对的正侧增益校正值；
针对各相的所述检测信号，计算将所述极小值作为规定的最小值的每个磁极对的负侧增益校正值；以及
针对各相的所述检测信号，加上所述偏移校正值，将每个磁极对的正侧的信号值与所述正侧增益校正值相乘，将每个磁极对的负侧的信号值与所述负侧增益校正值相乘，
所述第3校正步骤包含如下的步骤：
针对各个所述检测信号，根据所述检测信号的波形的状态，乘以预先决定的系数。
5.一种信号处理方法，该信号处理方法包含：
信号检测步骤，N个传感器分别检测与可动子的位置对应的磁场，输出作为电信号的检测信号，各个该检测信号的相位分别错开360度除以N而得到的角度，其中，N为3以上的整数；
第1校正步骤，校正部按照每个检测与所述可动子的位置对应的磁场的控制周期，依次选择所述检测信号中的1个检测信号，从所选择的所述检测信号中减去未选择的其他所述检测信号的平均值，由此，针对各个所述检测信号分别生成对所选择的所述检测信号进行校正后的检测信号。
6.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中，
在所述信号检测步骤中，
所述传感器的个数N是3个，
3个所述检测信号的相位分别错开120度。
7.根据权利要求6所述的信号处理方法，其中，
在所述第1校正步骤中，在所述检测信号为3个检测信号Hu0’、Hv0’以及Hw0’时，使用如下的式(1)～式(3)，生成校正后的检测信号Hiu0’、Hiv0’以及Hiw0’，其中，式(1)～式(3)如下：
Hiu0’＝Hu0’-(Hv0’+Hw0’)/2…(1)
Hiv0’＝Hv0’-(Hu0’+Hw0’)/2…(2)
Hiw0’＝Hw0’-(Hu0’+Hv0’)/2…(3)。
8.一种信号处理方法，该信号处理方法包含：
信号检测步骤，N个传感器分别检测与可动子的位置对应的磁场，输出作为电信号的检测信号，各个该检测信号的相位分别错开360度除以N而得到的角度，其中，N为3以上的整数；
极大极小检测步骤，校正部针对各相的所述检测信号，检测每个极对的极大值和极小值以及至少2个周期的电角每1周期的振幅最大值和振幅最小值；
平均计算步骤，所述校正部针对各相的所述检测信号，计算所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均；
偏移计算步骤，所述校正部将根据所述振幅最大值的平均和所述振幅最小值的平均而计算出的最大最小平均值作为偏移校正值；
第1增益计算步骤，所述校正部针对各个所述检测信号，计算将所述极大值作为规定的最大值的每个磁极对的正侧增益校正值；
第2增益计算步骤，所述校正部针对各相的所述检测信号，计算将所述极小值作为规定的最小值的每个磁极对的负侧增益校正值；以及
校正步骤，所述校正部针对各相的所述检测信号，加上所述偏移校正值，将每个磁极对的正侧的信号值乘以对应的所述正侧增益校正值，将每个磁极对的负侧的信号值乘以对应的所述负侧增益校正值。
9.根据权利要求8所述的信号处理方法，其中，该信号处理方法还包含：
交叉位置检测步骤，逐次检测通过所述校正步骤校正的所述检测信号彼此交叉的交叉点；
分割检测步骤，检测所述检测信号中的从所述交叉点连接到与该交叉点相邻的其他所述交叉点的部分，作为1个或多个分割信号；以及
线段连接步骤，逐次连接所述分割信号，根据连接的多个所述分割信号估计所述可动子的位置，生成位置估计值信号。
10.根据权利要求9所述的信号处理方法，其中，
在所述交叉位置检测步骤中，
交叉位置检测部在从所述交叉点到与所述交叉点相邻的其他所述交叉点之间，根据所述交叉点逐次检测所述检测信号的电位与基准电压交叉的过零点，
在所述分割检测步骤中，
分割检测部检测从所述交叉点到与所述交叉点相邻的所述过零点的所述检测信号的至少一部分来作为第1分割信号，检测从所述过零点到其他所述交叉点的所述检测信号的一部分来作为第2分割信号。
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