CN110888045B - 抖动确定方法及装置、存储介质和电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种抖动确定方法及装置、存储介质和电子设备,涉及集成电路测试技术领域。该抖动确定方法包括:确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间。本公开可以在不需要额外设备的情况下确定出集成电路芯片输出电压的抖动情况。
Description
技术领域
本公开涉及集成电路测试技术领域,具体而言,涉及一种抖动确定方法、抖动确定装置、存储介质和电子设备。
背景技术
随着电子及通信技术的发展,抖动(jitter)不仅在模拟设计中是一个重要的考虑因素,在数据设计领域,也日益得到人们的重视。抖动可以被理解为对信号时域变化的测量结果,抖动描述了信号周期距离其理想值的偏离程度。
目前,通常采用示波器对信号的波形进行测量,以确定出抖动情况。然而,一方面,这种测量手段需要在测试机上配置示波器,或外接示波器;另一方面,示波器对单波形进行测量,也就是说,示波器一般难以对多个波形进行测量,效率较低;再一方面,示波器往往需要测试人员手动调节,操作复杂。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种抖动确定方法、抖动确定装置、存储介质和电子设备,进而至少在一定程度上克服现有技术中采用示波器测量抖动而造成过程复杂的问题。
根据本公开的一个方面,提供一种抖动确定方法,包括:确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间。
可选地,将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果包括:如果测量点的电压值大于等于第一阈值,则将测量点与第一标识对应;如果测量点的电压值小于第一阈值,则将测量点与第二标识对应;以及将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果包括:如果测量点的电压值大于等于第二阈值,则将测量点与第二标识对应;如果测量点的电压值小于第二阈值,则将测量点与第一标识对应。
可选地,根据第一测量结果与第二测量结果确定输出电压的抖动时间包括:基于第一标识和第二标识分别将第一测量结果和第二测量结果转换为第一shmoo图和第二shmoo图;根据第一shmoo图和第二shmoo图确定输出电压的抖动时间。
可选地,根据第一shmoo图和第二shmoo图确定输出电压的抖动时间包括:将第一shmoo图和第二shmoo图整合为第三shmoo图;根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间。
可选地,根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定为输出电压的抖动时间包括:确定第三shmoo图中各连续的第二标识的长度;计算各连续的第二标识的长度的平均值作为输出电压的抖动时间。
可选地,确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点包括:确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点。
可选地,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点包括:确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压;在输出电压的上升沿或下降沿上确定多个测量点。
根据本公开的一个方面,提供一种抖动确定装置,可以包括测量点确定模块、第一比较模块、第二比较模块和抖动时间确定模块。
具体的,测量点确定模块可以用于确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;第一比较模块可以用于将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;第二比较模块可以用于将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;抖动时间确定模块可以用于根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间。
可选地,第一比较模块可以用于如果测量点的电压值大于等于第一阈值,则将测量点与第一标识对应;如果测量点的电压值小于第一阈值,则将测量点与第二标识对应;以及第二比较模块可以用于如果测量点的电压值大于等于第二阈值,则将测量点与第二标识对应;如果测量点的电压值小于第二阈值,则将测量点与第一标识对应。
可选地,抖动时间确定模块可以包括shmoo图转换单元和抖动确定单元。
具体的,shmoo图转换单元可以用于基于第一标识和第二标识分别将第一测量结果和第二测量结果转换为第一shmoo图和第二shmoo图;抖动确定单元可以根据第一shmoo图和第二shmoo图确定输出电压的抖动时间。
可选地,抖动确定单元可以包括shmoo图整合子单元和抖动确定子单元。
具体的,shmoo图整合子单元可以用于将第一shmoo图和第二shmoo图整合为第三shmoo图;抖动确定子单元可以用于根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间。
可选地,抖动确定子单元可以用于根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间包括:抖动确定子单元可以确定第三shmoo图中各连续的第二标识的长度,并计算各连续的第二标识的长度的平均值作为输出电压的抖动时间。
可选地,测量点确定模块可以包括测量点确定单元。
具体的,测量点确定单元可以用于确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点。
可选地,测量点确定单元可以用于确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点包括:测量点确定单元可以确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压,并在输出电压的上升沿或下降沿上确定多个测量点。
根据本公开的一个方面,提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项的抖动确定方法。
根据本公开的一个方面,提供一种电子设备,包括:处理器;以及存储器,用于存储处理器的可执行指令;其中,处理器配置为经由执行可执行指令来执行上述任意一项的抖动确定方法。
在本公开的一些实施例所提供的技术方案中,测试机可以确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点,将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果,将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果,并根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间,一方面,本公开的抖动确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本;再一方面,本公开可以对多个波形进行测量,不受示波器单波形展示的限制。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1示出了信号抖动的示意图;
图2示出了DRAM中DQS引脚和DQ引脚输出抖动的示意图;
图3示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的抖动确定方法的流程图;
图4示出了根据本公开的示例性实施方式的测量点电压与第一阈值进行比较的示意图;
图5示出了根据本公开的示例性实施方式的测量点电压与第二阈值进行比较的示意图;
图6示出了根据本公开的示例性实施方式的第一shmoo图的示意图;
图7示出了根据本公开的示例性实施方式的第二shmoo图的示意图;
图8示出了根据本公开的示例性实施方式的第三shmoo图的示意图;
图9以波形图的方式示出了根据本公开的示例性实施例的抖动确定方法的示意图;
图10示出了根据本公开的示例性实施方式的对DRAM芯片的DQS引脚、DQ引脚的输出电压应用本公开的抖动确定方法的示意图;
图11示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的抖动确定装置的方框图;
图12示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的抖动时间确定模块的方框图;
图13示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的抖动确定单元的方框图;
图14示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的测量点确定模块的方框图;
图15示出了根据本公开的示例性实施方式的存储介质的示意图;以及
图16示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的电子设备的方框图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知技术方案以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。
此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体,不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
附图中所示的流程图仅是示例性说明,不是必须包括所有的步骤。例如,有的步骤还可以分解,而有的步骤可以合并或部分合并,因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
图1示出了信号出现抖动情况的示意图。参考图1,正常信号如信号10所示。然而,由于芯片中噪声(例如,热噪声、散粒噪声、闪烁噪声、爆裂噪声等)的影响,信号会产生抖动,可能例如变为图中所示的信号11或信号12,这将不利于后续处理单元对该信号进行处理。
本公开所述的集成电路芯片的输出电压可以对应DRAM(Dynamic Random AccessMemory,动态随机存取存储器)集成电路芯片数据选通信号引脚(即,DQS引脚)和/或数据输入输出引脚(即,DQ引脚)输出的电压信号。然而,应当理解的是,本公开的抖动确定方法还可以应用到除这两种信号之外的其他信号的场景中。
图2示出了集成电路芯片的DQS引脚和DQ引脚的输出电压出现抖动的示意图。在图2中,tDQSCK可以表征DQS引脚输出电压出现抖动的情况,tAC可以表征DQ引脚输出电压出现抖动的情况。在情况一中,可以认为tDQSCK或tAC是最小值,对应的抖动情况如图中上部分所示;在情况二中,可以认为tDQSCK或tAC是最大值,对应的抖动情况如图中下部分所示。
目前,通常采用示波器测量抖动,也就是说,需要将集成电路芯片输出的信号发送至示波器,以测量抖动。这就需要额外配置示波器,并且测试的过程较复杂。
鉴于此,本公开提供了一种抖动确定方法。需要说明的是,本公开的抖动确定方法可以由测试机(tester)的处理单元来实现,由此,可以在不使用示波器的情况下实现对抖动的测量。然而,容易理解的是,采用测试机外部的其他处理单元也可以实现下面描述的方法,本公开对此不做特殊限定。
图3示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的抖动确定方法的流程图。参考图3,该抖动确定方法可以包括以下步骤:
S32.确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点。
在本公开的示例性实施方式中,测试机可以向集成电路芯片施加一工作电压(例如,1V),在这种情况下,集成电路芯片可以基于所测试的场景产生一输出电压。也就是说,输出电压与工作电压构成一一对应的关系。
接下来,测试机可以获取集成电路芯片的输出电压,并基于测试人员预先的配置确定输出电压上的多个测量点。例如,在1s内,均匀配置50个测量点,在这种情况下,每两个相邻的测量点之间的时间间隔为20ms。应当理解的是,测试人员预先的配置可以存储在测试机中,当需要确定抖动情况时,测试机自行调用该配置以确定测量点。另外,测试人员可以基于不同的输出信号、不同的测试场景、不同的精度要求等对配置进行修改,本公开对此不做特殊限制。
此外,在集成电路芯片为DRAM芯片的情况下,首先,测试机可以确定DRAM芯片的DQS引脚或DQ引脚的输出电压;随后,测试机可以在该输出电压上确定多个测量点。具体的,因为抖动主要体现在信号的跳变沿上,因此,可以在输出电压的上升沿或下降沿上确定多个测量点。
S34.将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果。
第一阈值可以是与集成电路芯片相关的电压值,也就是说,不同的集成电路芯片,此处所述的第一阈值可能存在差异。例如,针对输出电压为0至1.2V的集成电路芯片,第一阈值可以是0.9V。可以将第一阈值理解为:大于该第一阈值,则输出电压较高。
另外,针对步骤S32中确定的每个测量点均对应有该测量点的电压值和时间。
测试机可以将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较,如果测量点的电压值大于等于该第一阈值,则可以将该测量点与第一标识对应;如果测量点的电压值小于第一阈值,则可以将该测量点与第二标识对应。
参考图4,描绘了一输出电压上升沿的波形,可以例如在此段波形上选取9个测量点,当测量点的电压值大于第一阈值时,则可以将该测量点对应“PASS”,当测量点的电压值小于第一阈值时,则可以将该测量点对应“FAIL”。其中,可以将“PASS”和“FAIL”分别作为第一标识和第二标识的一种表示方式,而不应该将这种表示方式作为本公开的限制。
可以将测量点的电压值与第一阈值的比较结果确定为第一测量结果。
S36.将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果。
第二阈值与上述第一阈值类似,可以是与集成电路芯片相关的电压值,也就是说,不同的集成电路芯片,此处所述的第二阈值可能存在差异。例如,针对输出电压为0至1.2V的集成电路芯片,第二阈值可以是0.3V。可以将第二阈值理解为:小于该第二阈值,则输出电压较低。
另外,针对步骤S32中确定的每个测量点均对应有该测量点的电压值和时间。
测试机可以将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较,如果测量点的电压值大于等于该第二阈值,则可以将该测量点与第二标识对应;如果测量点的电压值小于第二阈值,则可以将该测量点与第一标识对应。
参考图5,描绘了一输出电压上升沿的波形,同样,可以例如在此段波形上选取9个测量点,当测量点的电压值大于第二阈值时,则可以将该测量点对应“FAIL”,当测量点的电压值小于第二阈值时,则可以将该测量点对应“PASS”。
可以将测量点的电压值与第二阈值的比较结果确定为第二测量结果。
S38.根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间。
本公开的示例性实施方式中所采用的测试机与目前市面上大多数测试机一样,具有shmoo测试功能。可以将shmoo测试理解为:在参数值对应的坐标上进行一种使用该参数值的测试,并通过例如上述“PASS”或“FAIL”进行表示,生成的图为shmoo图。在这种情况下,首先,测试机可以基于第一标识和第二标识将步骤S34中确定出的第一测量结果转换为第一shmoo图。
图6示出了第一shmoo图的一个实例,第一shmoo图的横坐标表示各个测量点对应的时间,第一shmoo图的纵坐标标识测试机向集成电路芯片施加的工作电压。从图6中可以看出,每一小方格表征:在对应工作电压下,芯片的输出电压在对应测量点时间下的第一测量结果。应当理解的是,图6仅是示例性示出了shmoo图的样式,并不应当作为本公开的限制。另外,图中除第一标识和第二标识外的部分可以表示测量点之间的间隔,在该间隔内,测试机未对输出电压进行测量。
类似地,测试机可以基于第一标识和第二标识将第二测量结果转换为第二shmoo图。图7示例性示出了第二shmoo图。
接下来,测试机可以将第一shmoo图和第二shmoo图进行整合以生成第三shmoo图。图8示出了将图6所示第一shmoo图与图7所示第二shmoo图进行整合后的第三shmoo图。
参考图8,可以基于连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间。例如,工作电压为1.128时,参考图6和图7中的位置,可以将输出电压的抖动时间确定为0.1ns(-0.02至0.08ns)。
另外,在一个实施例中,可以在测量点位于跳变沿的情况下,确定第三shmoo图中各连续的第二标识的长度,并计算这些长度的平均值作为输出电压的抖动时间;在另一个实施例中,可以将长度最长的第二标识对应的时间作为输出电压的抖动时间。
综上所述,集成电路芯片响应一工作电压而产生的输出电压,以测量点位于上升沿为例,一方面,在经历与第一阈值进行比较后,可以确定第一标识与第二标识的分界点,记为第一时间点;另一方面,在经历与第二阈值进行比较后,亦可以确定第一标识与第二标识的分界点,记为第二时间点。接下来,可以计算第一时间点与第二时间点的时间间隔,该时间间隔即可以理解为:在该工作电压下,集成电路芯片产生的输出电压的抖动时间。
参考图9,首先,分别将原始波形(可以是集成电路芯片的输出电压)的上升沿与第一阈值和第二阈值进行比较;接下来,如图9和上面的描述中说明的,针对不同的工作电压,可以基于比较的结果分别确定出两个shmoo图,其中,图示shmoo图中的曲线为比较后判断出“PASS”和“FAIL”的分界线;随后,可以将确定的两个shmoo图整合为一个shmoo图,在这种情况下,基于两条曲线之间的间隔即可确定出与一工作电压对应的抖动时间,例如,图9中所示的抖动时间为工作电压为V0时对应的抖动时间。
上述抖动确定方法可以应用至测量DRAM的DQS引脚和/或DQ引脚的输出电压的抖动情况。图10示例性示出了这种情况的示意图。应当理解的是,相比于图4和图5所示的在跳变沿取9个测量点的情况,图10仅描绘了一个测量点。然而,图10仅是示意的描绘,应当理解的是,在DQS引脚和/或DQ引脚的输出电压的跳变沿上,存在多个测量点。
在本公开的示例性实施方式所提供的抖动确定方法中,测试机可以确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点,将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果,将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果,并根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间,一方面,本公开的抖动确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本;再一方面,本公开可以对多个波形进行测量,不受示波器单波形展示的限制;又一方面,本公开采用shmoo图的方式,可以直观地反映出输出电压的抖动情况,以便后续对抖动进行分析和处理。
应当注意,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
进一步的,本示例实施方式中还提供了一种抖动确定装置。
图11示意性示出了本公开的示例性实施方式的抖动确定装置的方框图。参考图11,根据本公开的示例性实施方式的抖动确定装置11可以包括测量点确定模块111、第一比较模块113、第二比较模块115和抖动时间确定模块117。
具体的,测量点确定模块111可以用于确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;第一比较模块113可以用于将多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;第二比较模块115可以用于将多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;抖动时间确定模块117可以用于根据第一测量结果和第二测量结果确定输出电压的抖动时间。
采用本公开示例性实施方式的抖动确定装置,一方面,本公开的抖动确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本;再一方面,本公开可以对多个波形进行测量,不受示波器单波形展示的限制。
根据本公开的示例性实施例,第一比较模块113可以用于如果测量点的电压值大于等于第一阈值,则将测量点与第一标识对应;如果测量点的电压值小于第一阈值,则将测量点与第二标识对应;以及第二比较模块115可以用于如果测量点的电压值大于等于第二阈值,则将测量点与第二标识对应;如果测量点的电压值小于第二阈值,则将测量点与第一标识对应。
根据本公开的示例性实施例,参考图12,抖动时间确定模块117可以包括shmoo图转换单元121和抖动确定单元123。
具体的,shmoo图转换单元121可以用于基于第一标识和第二标识分别将第一测量结果和第二测量结果转换为第一shmoo图和第二shmoo图;抖动确定单元123可以根据第一shmoo图和第二shmoo图确定输出电压的抖动时间。
根据本公开的示例性实施例,参考图13,抖动确定单元123可以包括shmoo图整合子单元131和抖动确定子单元133。
具体的,shmoo图整合子单元131可以用于将第一shmoo图和第二shmoo图整合为第三shmoo图;抖动确定子单元133可以用于根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间。
可选地,抖动确定子单元133可以用于根据第三shmoo图中连续的第二标识的长度确定输出电压的抖动时间包括:抖动确定子单元133可以确定第三shmoo图中各连续的第二标识的长度,并计算各连续的第二标识的长度的平均值作为输出电压的抖动时间。
根据本公开的示例性实施例,参考图14,测量点确定模块111可以包括测量点确定单元141。
具体的,测量点确定单元141可以用于确定DRAM芯片的DQS引脚或DQ引脚的输出电压上的多个测量点。
可选地,测量点确定单元141可以用于确定DRAM芯片的DQS引脚或DQ引脚的输出电压上的多个测量点包括:测量点确定单元141可以确定DRAM芯片的DQS引脚或DQ引脚的输出电压,并在输出电压的上升沿或下降沿上确定多个测量点。
由于本发明实施方式的程序运行性能分析装置的各个功能模块与上述方法发明实施方式中相同,因此在此不再赘述。
在本公开的示例性实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施方式中,本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当所述程序产品在终端设备上运行时,所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。
参考图15所示,描述了根据本发明的实施方式的用于实现上述方法的程序产品1500,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上运行。然而,本发明的程序产品不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用。
所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
在本公开的示例性实施例中,还提供了一种能够实现上述方法的电子设备。
所属技术领域的技术人员能够理解,本发明的各个方面可以实现为***、方法或程序产品。因此,本发明的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施方式,这里可以统称为“电路”、“模块”或“***”。
下面参照图16来描述根据本发明的这种实施方式的电子设备1600。图16显示的电子设备1600仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图16所示,电子设备1600以通用计算设备的形式表现。电子设备1600的组件可以包括但不限于:上述至少一个处理单元1610、上述至少一个存储单元1620、连接不同***组件(包括存储单元1620和处理单元1610)的总线1630、显示单元1640。
其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元1610执行,使得所述处理单元1610执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元1610可以执行如图3中所示的步骤S32至步骤S38。
存储单元1620可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(RAM)16201和/或高速缓存存储单元16202,还可以进一步包括只读存储单元(ROM)16203。
存储单元1620还可以包括具有一组(至少一个)程序模块16205的程序/实用工具16204,这样的程序模块16205包括但不限于:操作***、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线1630可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、***总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备1600也可以与一个或多个外部设备1700(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备1600交互的设备通信,和/或与使得该电子设备1600能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口1650进行。并且,电子设备1600还可以通过网络适配器1660与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器1660通过总线1630与电子设备1600的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备1600使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID***、磁带驱动器以及数据备份存储***等。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施方式可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。
此外,上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明,而不是限制目的。易于理解,上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外,也易于理解,这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
应当注意,尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元,但是这种划分并非强制性的。实际上,根据本公开的实施方式,上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之,上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。
Claims (8)
1.一种抖动确定方法,其特征在于,包括:
确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;
将所述多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;其中,如果测量点的电压值大于等于第一阈值,则将所述测量点与第一标识对应,如果测量点的电压值小于第一阈值,则将所述测量点与第二标识对应;
将所述多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;其中,如果测量点的电压值大于等于第二阈值,则将所述测量点与所述第二标识对应,如果测量点的电压值小于第二阈值,则将所述测量点与所述第一标识对应;
基于所述第一标识和所述第二标识分别将所述第一测量结果和所述第二测量结果转换为第一shmoo图和第二shmoo图,将所述第一shmoo图和所述第二shmoo图整合为第三shmoo图,根据所述第三shmoo图中连续的所述第二标识的长度确定所述输出电压的抖动时间。
2.根据权利要求1所述的抖动确定方法,其特征在于,根据所述第三shmoo图中连续的所述第二标识的长度确定为所述输出电压的抖动时间包括:
确定所述第三shmoo图中各连续的第二标识的长度;
计算各连续的第二标识的长度的平均值作为所述输出电压的抖动时间。
3.根据权利要求1或2所述的抖动确定方法,其特征在于,确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点包括:
确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点。
4.根据权利要求3所述的抖动确定方法,其特征在于,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压上的多个测量点包括:
确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压;
在所述输出电压的上升沿或下降沿上确定所述多个测量点。
5.一种抖动确定装置,其特征在于,包括:
测量点确定模块,用于确定集成电路芯片的输出电压上的多个测量点;
第一比较模块,用于将所述多个测量点的电压值分别与第一阈值进行比较以确定第一测量结果;其中,如果测量点的电压值大于等于第一阈值,则将所述测量点与第一标识对应,如果测量点的电压值小于第一阈值,则将所述测量点与第二标识对应;
第二比较模块,用于将所述多个测量点的电压值分别与第二阈值进行比较以确定第二测量结果;其中,如果测量点的电压值大于等于第二阈值,则将所述测量点与所述第二标识对应,如果测量点的电压值小于第二阈值,则将所述测量点与所述第一标识对应;
抖动时间确定模块,用于根据所述第一测量结果和所述第二测量结果确定所述输出电压的抖动时间;
其中,所述抖动时间确定模块包括:
shmoo图转换单元,用于基于所述第一标识和所述第二标识分别将所述第一测量结果和所述第二测量结果转换为第一shmoo图和第二shmoo图;
抖动确定单元,用于根据所述第一shmoo图和所述第二shmoo图确定所述输出电压的抖动时间;
所述抖动确定单元包括:shmoo图整合子单元,用于将所述第一shmoo图和所述第二shmoo图整合为第三shmoo图;抖动确定子单元,用于根据所述第三shmoo图中连续的所述第二标识的长度确定所述输出电压的抖动时间。
6.根据权利要求5所述的抖动确定装置,其特征在于,所述抖动确定子单元用于确定所述第三shmoo图中各连续的第二标识的长度,并计算各连续的第二标识的长度的平均值作为所述输出电压的抖动时间。
7.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的抖动确定方法。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1至4中任一项所述的抖动确定方法。
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