CN111063308B - 显示设备 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及显示设备。该显示设备包括显示面板、电压发生器、扫描控制器和扫描驱动器，其中，显示面板包括扫描线、数据线和联接至扫描线和数据线的多个像素，电压发生器配置成生成导通电压和截止电压，扫描控制器配置成基于导通电压、截止电压和垂直启动信号生成扫描启动信号，扫描驱动器配置成基于扫描启动信号生成扫描信号并将扫描信号提供给扫描线中的一条扫描线。扫描控制器配置成在过电流检测时段期间检测扫描启动信号的电压电平，并且基于扫描启动信号的电压电平输出关闭信号。

Description

显示设备
技术领域
本发明的实施方式涉及扫描驱动设备和具有该扫描驱动设备的显示设备。
背景技术
由于与阴极射线管(CRT)显示设备相比，平板显示(FPD)设备可为相对质量轻且纤薄的，因此FPD设备被广泛用作电子设备的显示设备。FPD设备的示例是液晶显示(LCD)设备、场发射显示(FED)设备、等离子显示面板(PDP)设备和有机发光显示(OLED)设备。由于OLED设备可具有诸如视角宽、响应速度快、厚度薄、功耗低等多种优势，因此OLED设备作为下一代显示设备受到关注。
显示设备可包括显示图像的显示面板和用于驱动显示面板的驱动器。例如，OLED设备可以包括有机发光显示面板，在有机发光显示面板中形成有扫描线、数据线和像素。OLED设备还可以包括将扫描信号输出至扫描线的扫描驱动电路和将数据信号输出至数据线的数据驱动电路。当显示设备的尺寸(例如，显示设备的像素的尺寸)减小并且显示设备的分辨率增加时，可能在提供驱动信号的线之间出现短路。
发明内容
一些示例性实施方式的方面涉及能够改善显示质量的扫描驱动设备。
一些示例性实施方式的方面涉及能够改善显示质量的显示设备。
根据示例性实施方式，显示设备可以包括显示面板、电压发生器、扫描控制器和扫描驱动器，其中，显示面板包括扫描线、数据线和联接至扫描线和数据线的多个像素，电压发生器配置成生成导通电压和截止电压，扫描控制器配置成基于导通电压、截止电压和垂直启动信号生成扫描启动信号，扫描驱动器配置成基于扫描启动信号生成扫描信号并将扫描信号提供给扫描线中的一条扫描线。扫描控制器配置成在过电流检测时段期间检测扫描启动信号的电压电平，并且基于扫描启动信号的电压电平输出关闭信号。
在示例性实施方式中，扫描控制器可以包括导通晶体管、截止晶体管、检测晶体管、开关电路、比较器以及保护电路，其中，导通晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，截止晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、配置成接收截止电压的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，检测晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，开关电路配置成将导通电压提供线选择性地联接至导通晶体管或检测晶体管，导通电压提供线配置成提供导通电压，比较器包括接收第一节点的电压的第一输入端子、配置成接收设定的参考电压的第二输入端子以及配置成通过将第一节点的电压与参考电压进行比较来输出比较信号的输出端子，保护电路配置成基于比较信号输出关闭信号。
在示例性实施方式中，检测晶体管的漏-源电阻器可以具有比导通晶体管的漏-源电阻器大的电阻。
在示例性实施方式中，开关电路可以配置成在过电流检测时段期间将导通电压提供线联接至检测晶体管，并且配置成在驱动显示面板时将导通电压提供线联接至导通晶体管。
在示例性实施方式中，扫描控制器还可包括参考电压控制器，该参考电压控制器配置成控制参考电压的电压电平。
在示例性实施方式中，导通晶体管和检测晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管，并且截止晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管。
在示例性实施方式中，扫描控制器还可以包括联接至导通晶体管的栅电极、截止晶体管的栅电极和检测晶体管的栅电极的非门，并且该非门可以配置成使垂直启动信号反相。
在示例性实施方式中，导通晶体管和检测晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管，并且截止晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管。
在示例性实施方式中，保护电路可以配置成在垂直启动信号下降时检测比较信号。
在示例性实施方式中，过电流检测时段可以是显示设备的通电时段。
在示例性实施方式中，过电流检测时段可以是帧中的垂直消隐时段。
在示例性实施方式中，扫描控制器可以配置成基于时钟控制信号生成时钟信号和时钟条信号，并将时钟信号和时钟条信号提供给扫描驱动器。
根据示例性实施方式，扫描驱动设备可以包括电压发生器、扫描控制器和扫描驱动器，其中，电压发生器配置成生成导通电压和截止电压，扫描控制器配置成基于导通电压、截止电压和垂直启动信号生成扫描启动信号，并且扫描驱动器配置成基于扫描启动信号生成扫描信号。扫描控制器可以配置成在过电流检测时段期间检测扫描启动信号的电压电平，并且基于扫描启动信号的电压电平输出关闭信号。
在示例性实施方式中，扫描控制器可以包括导通晶体管、截止晶体管、检测晶体管、开关电路、比较器以及保护电路，其中，导通晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，截止晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、接收截止电压的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，检测晶体管包括配置成接收垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极，开关电路配置成将导通电压提供线选择性地联接至导通晶体管或检测晶体管，导通电压提供线可以配置成提供导通电压，比较器包括配置成接收第一节点的电压的第一输入端子、配置成接收设定的参考电压的第二输入端子以及配置成通过将第一节点的电压与参考电压进行比较来输出比较信号的输出端子，保护电路配置成基于比较信号输出关闭信号。
在示例性实施方式中，检测晶体管的漏-源电阻器可以具有比导通晶体管的漏-源电阻器大的电阻。
在示例性实施方式中，开关电路可以配置成在过电流检测时段期间将导通电压提供线联接至检测晶体管。
在示例性实施方式中，扫描控制器还可包括参考电压控制器，该参考电压控制器配置成控制参考电压的电压电平。
在示例性实施方式中，导通晶体管和检测晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管，并且截止晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管。
在示例性实施方式中，扫描控制器还可以包括联接至导通晶体管的栅电极、截止晶体管的栅电极和检测晶体管的栅电极的非门，并且该非门可以配置成使垂直启动信号反相。
在示例性实施方式中，导通晶体管和检测晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管，并且截止晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管。
因此，显示设备可以在过电流检测时段期间检测扫描启动信号的电压电平，并且基于扫描启动信号的电压电平输出关闭信号。因此，可以减少或防止由于线的短路而引起的缺陷。
附图说明
通过以下结合附图的详细描述，将更清楚地理解说明性、非限制性的示例性实施方式。
图1是示出根据示例性实施方式的显示设备的框图。
图2是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的示例的图。
图3是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的另一示例的图。
图4是示出包括在图1的显示设备中的扫描驱动器的框图。
图5是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的示例的电路图。
图6A至图6B是示出图5的扫描控制器的操作的电路图。
图7A至图7B是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的时序图。
具体实施方式
在下文中，将参照附图对本发明构思进行更详细的说明。
图1是示出根据示例性实施方式的显示设备的框图。图2是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的示例的图。图3是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的另一示例的图。图4是示出包括在图1的显示设备中的扫描驱动器的框图。
参照图1，显示设备100可以包括显示面板110、扫描驱动设备170、数据驱动器160和时序控制器130。扫描驱动设备170可以包括电压发生器120、扫描控制器140和扫描驱动器150。
显示面板110可以包括数据线DL、扫描线SL和多个像素PX。扫描线SL可以在第一方向D1上延伸，并且彼此布置在与第一方向D1垂直或交叉的第二方向D2上。数据线DL可以在第二方向D2上延伸，并且彼此布置在第一方向D1上。例如，第一方向D1可以与显示面板110的长边平行，并且第二方向D2可以与显示面板110的短边平行。像素PX中的每一个可以形成在数据线DL和扫描线SL的相交区域或交叉区域中。在一些示例性实施方式中，像素PX中的每一个可以包括薄膜晶体管、存储电容器、驱动晶体管以及有机发光二极管，其中，薄膜晶体管电联接(例如，电连接)至扫描线SL和数据线DL，存储电容器联接(例如，连接)至薄膜晶体管，驱动晶体管联接至存储电容器，有机发光二极管联接(例如，连接)至驱动晶体管。因此，显示面板110可以是有机发光面板，并且显示设备100可以是有机发光显示设备。在其它示例性实施方式中，像素PX中的每一个可以包括电联接至扫描线SL和数据线DL的薄膜晶体管、联接至薄膜晶体管的存储电容器和液晶电容器。因此，显示面板110可以是液晶显示面板，并且显示设备100可以是液晶显示设备。
电压发生器120可以从外部设备接收直流电力VDD并且生成多个电压以便驱动显示面板110。电压发生器120可以生成提供给扫描控制器140的导通电压Von和截止电压Voff以及提供给数据驱动器160的数据驱动电压DVD。电压发生器120可以生成导通电压Von和截止电压Voff，并将导通电压Von和截止电压Voff提供给扫描控制器140。导通电压Von和截止电压Voff可以是用于生成提供给扫描线SL的扫描信号SS的驱动电压。电压发生器120可以生成数据驱动电压DVD并将数据驱动电压DVD提供给数据驱动器160。例如，电压发生器120可以生成模拟电源电压、数字电源电压等，并将模拟电源电压、数字电源电压等提供给数据驱动器160。模拟电源电压和数字电源电压可以是用于生成提供给数据线DL的数据信号DS的驱动电压。另外，电压发生器120可以生成提供给显示面板110的面板驱动电压。例如，当显示面板110是液晶显示面板时，电压发生器120可以生成包括公共电压、存储电压等的面板驱动电压。公共电压可以是提供给包括在像素PX中的液晶电容器的驱动电压，并且存储电压可以是提供给包括在像素PX中的存储电容器的驱动电压。
时序控制器130可以从外部设备接收第一图像数据IMG1和控制信号CON。时序控制器130可以将第一图像数据IMG1转换成第二图像数据IMG2。时序控制器130可以通过调整补偿第一图像数据IMG1的显示质量的算法来将第一图像数据IMG1转换成第二图像数据IMG2，并将第二图像数据IMG2提供给数据驱动器160。时序控制器130可以基于控制信号CON生成扫描控制信号CTLS和用于控制第二图像数据IMG2的驱动时序的数据控制信号CTLD。例如，扫描控制信号CTLS可以包括垂直启动信号STV和至少一个时钟控制信号CPV。数据控制信号CTLD可以包括水平启动信号和数据时钟信号。时序控制器130可以将垂直启动信号STV和时钟控制信号CPV提供给扫描控制器140，并将数据控制信号CTLD提供给数据驱动器160。
扫描控制器140可以基于导通电压Von、截止电压Voff和垂直启动信号STV生成扫描启动信号STVP。扫描控制器140可以从电压发生器120接收导通电压Von和截止电压Voff，并且从时序控制器130接收垂直启动信号STV。扫描控制器140可以响应于从时序控制器130提供的垂直启动信号STV使用导通电压Von和截止电压Voff来生成扫描启动信号STVP。参照图2，垂直启动信号STV可以是在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动的信号。扫描控制器140可以使用导通电压Von和截止电压Voff将垂直启动信号STV转换成扫描启动信号STVP。然而，当输出扫描启动信号STVP的线和提供截止电压Voff的线短路时，扫描启动信号STVP的电压电平可能降低。根据示例性实施方式的显示设备100可以在过电流检测时段期间检测扫描启动信号STVP的电压电平，并且基于扫描启动信号STVP的电压电平输出关闭信号。因此，可以减少或防止由于线的短路而导致的显示缺陷。
扫描控制器140可以包括导通晶体管、截止晶体管、检测晶体管、开关电路、比较器和保护电路。当显示设备100被正常驱动时，导通晶体管和截止晶体管可以响应于垂直启动信号STV而交替地导通。在一些示例性实施方式中，导通晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体(PMOS)晶体管，并且截止晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体(NMOS)晶体管。在其它示例性实施方式中，导通晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体(NMOS)晶体管，并且截止晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体(PMOS)晶体管。扫描控制器140可以在导通晶体管导通时生成其电压电平与导通电压Von相同的扫描启动信号STVP，并且在截止晶体管导通时生成其电压电平与截止电压Voff相同的扫描启动信号STVP。当显示设备100被正常驱动时，导通晶体管和截止晶体管可以交替地导通。在过电流检测时段期间，检测晶体管和截止晶体管可以交替地导通。检测晶体管可以与导通晶体管的类型相同。例如，当导通晶体管是n沟道金属氧化物半导体晶体管时，检测晶体管可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管。例如，当导通晶体管是p沟道金属氧化物半导体晶体管时，检测晶体管可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管。检测晶体管的漏-源电阻器可以具有比导通晶体管的漏-源电阻器大的电阻。当输出扫描启动信号STVP的线和提供截止电压Voff的线在过电流检测时段期间短路时，可能出现短路电阻器。导通电压Von可以被检测晶体管和短路电阻器分压，并且可输出比导通电压Von的电压电平低的值(例如，输出较低的值)。在一些示例性实施方式中，过电流检测时段可以是显示设备100的通电时段。在其它示例性实施方式中，过电流检测时段可以是帧中的垂直消隐时段。当输出扫描启动信号STVP的线不与提供截止电压Voff的线短路时，扫描控制器140可以在过电流检测时段期间生成在导通电压Von的电压电平LVon与截止电压Voff的电压电平LVoff之间摆动的扫描启动信号STVP。当输出扫描启动信号STVP的线和提供截止电压Voff的线短路时，扫描控制器140可以在过电流检测时段期间生成在比导通电压Von低的电压电平与截止电压Voff的电压电平LVoff之间摆动的扫描启动信号STVP。比较器可以在过电流检测时段期间接收扫描启动信号STVP，将扫描启动信号STVP的电压电平与具有设定或预定电压电平的参考电压进行比较，并输出比较信号。在一些示例性实施方式中，扫描控制器140还可以包括参考电压控制器，该参考电压控制器控制输入至比较器的输入端子中的一个的参考电压的电压电平。保护电路可以在垂直启动信号STV下降时(即，在扫描启动信号STVP下降时)检测比较信号。当扫描启动信号STVP的电压电平比参考电压的电压电平低时，保护电路可以输出关闭信号。例如，保护电路可以向扫描控制器140和/或电压发生器120提供关闭信号。
另外，扫描控制器140可以基于导通电压Von、截止电压Voff和时钟控制信号CPV生成时钟信号CKV和时钟条信号CKVB。扫描控制器140可以从电压发生器120接收导通电压Von和截止电压Voff，并且从时序控制器130接收时钟控制信号CPV。参照图3，时钟控制信号CPV可以是在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动的信号。扫描控制器140可以使用导通电压Von和截止电压Voff基于时钟控制信号CPV生成时钟信号CKV和时钟条信号CKVB。时钟信号CKV和时钟条信号CKVB可以是在导通电压Von的电压电平LVon与截止电压Voff的电压电平LVoff之间摆动的信号。时钟信号CKV和时钟条信号CKVB可以具有相反的相位。
扫描驱动器150可以基于扫描启动信号STVP生成扫描信号SS，并将扫描信号SS提供给扫描线SL。参照图4，扫描驱动器150可以包括多个级151、152、153、154。级151、152、153、154中的每一个可以从扫描控制器140接收扫描启动信号STVP、时钟信号CKV和时钟条信号CKVB。级151、152、153、154中的每一个可以联接至形成在显示面板110中的扫描线SL的一端。第一级151可以响应于扫描启动信号STVP和时钟信号CKV生成提供给第一扫描线SL1的第一扫描信号SS1。第二级152可以响应于时钟条信号CKVB和从第一级151提供的第一进位信号CR1生成提供给第二扫描线SL2的第二扫描信号SS2。第三级153可以响应于时钟信号CKV和从第二级152提供的第二进位信号CR2生成提供给第三扫描线SL3的第三扫描信号SS3。第N级154可以响应于时钟条信号CKVB(例如，如果存在偶数个级)或者时钟信号CKV(例如，如存在奇数个级)以及从第(N-1)级提供的第(N-1)进位信号生成提供给第N扫描线SLN的第N扫描信号SSN。扫描驱动器150的级151、152、153、154可以将扫描信号SS1、SS2、SS3、SSN顺序地提供给扫描线SL1、SL2、SL3、SLN。
数据驱动器160可以通过数据线DL将数据信号DS提供给像素PX。数据驱动器160可以基于从时序控制器130提供的数据控制信号CTLD和第二图像数据IMG2来生成数据信号DS。数据控制信号CTLD可以包括水平启动信号和数据时钟信号。数据驱动器160可以响应于从时序控制器130提供的水平启动信号和数据时钟信号，将与第二图像数据IMG2对应的数据信号DS输出至显示面板110的数据线DL。
如上所述，根据示例性实施方式的显示设备100可以在过电流检测时段期间检测扫描启动信号STVP的电压电平，并且基于扫描启动信号STVP的电压电平输出关闭信号。因此，显示设备100可以减少或防止由于输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线之间的短路而导致的缺陷。
图5是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的示例的电路图。
参照图5，扫描控制器200可以包括非门205、导通晶体管210、截止晶体管220、检测晶体管230、开关电路240、比较器250和保护电路260。导通晶体管210和检测晶体管230可以是p沟道金属氧化物半导体晶体管，并且截止晶体管220可以是n沟道金属氧化物半导体晶体管。当导通晶体管210和检测晶体管230是p沟道金属氧化物半导体晶体管并且截止晶体管220是n沟道金属氧化物半导体晶体管时，扫描控制器200可以包括非门205并且使垂直启动信号STV反相。虽然在图5中描述了实施为p沟道金属氧化物半导体晶体管的导通晶体管210和检测晶体管230以及实施为n沟道金属氧化物半导体晶体管的截止晶体管220，但是扫描控制器200不限于此。例如，扫描控制器200可以包括实施为n沟道金属氧化物半导体晶体管的导通晶体管210和检测晶体管230以及实施为p沟道金属氧化物半导体晶体管的截止晶体管220。
非门205可以包括接收垂直启动信号STV的输入端子以及联接至第二节点N2的输出端子。非门205可以使通过输入端子提供的垂直启动信号STV反相。例如，非门205可以将垂直启动信号STV的电压电平从第一电压电平(例如，高电平)改变成第二电压电平(例如，低电平)。非门205可以将经反相的垂直启动信号STV提供给第二节点N2。
开关电路240可以将提供导通电压Von的导通电压提供线Von_L选择性地联接至导通晶体管210或检测晶体管230。开关电路240可以在驱动显示设备100时将导通电压提供线Von_L联接至导通晶体管210。开关电路240可以在过电流检测时段期间将导通电压提供线Von_L联接至检测晶体管230。即，当驱动显示设备100时，导通电压Von可以通过开关电路240提供给导通晶体管210，并且导通电压Von可以在过电流检测时段期间通过开关电路240提供给检测晶体管230。
导通晶体管210可以包括栅电极(其接收垂直启动信号STV)、联接至开关电路240的第一电极以及联接至第一节点N1的第二电极。经由非门205反相的垂直启动信号STV可以被提供给导通晶体管210的栅电极(即，第二节点N2)。导通晶体管210的第一电极可以经由开关电路240联接至导通电压提供线Von_L，并且可以在正常驱动显示设备时接收导通电压Von。
截止晶体管220可以包括栅电极(其接收垂直启动信号STV)、接收截止电压Voff的第一电极以及联接至第一节点N1的第二电极。经由非门205反相的垂直启动信号STV可以被提供给截止晶体管220的栅电极。当截止晶体管220导通时，截止晶体管220的第一电极的截止电压Voff可以被提供给第一节点N1。
检测晶体管230可以包括栅电极(其接收垂直启动信号STV)、联接至开关电路240的第一电极以及联接至第一节点N1的第二电极。经由非门205反相的垂直启动信号STV可以被提供给检测晶体管230的栅电极(即，第二节点N2)。检测晶体管230的第一电极可以经由开关电路240联接至导通电压提供线Von_L，并且可以在过电流检测时段期间接收导通电压Von。检测晶体管230的漏-源电阻器可以具有比导通晶体管210的漏-源电阻器大的电阻。由于检测晶体管230的漏-源电阻器具有比导通晶体管210的漏-源电阻器大的电阻，因此检测晶体管230可以在过电流检测时段期间作为分压电阻器进行操作。
比较器250可以包括第一输入端子IN1(其接收第一节点N1的电压)、接收参考电压Vref的第二输入端子IN2以及输出端子OUT，输出端子OUT通过将第一节点N1的电压和参考电压Vref进行比较来输出比较信号。在一些实施方式中，第一节点N1的电压可以是扫描启动信号STVP。比较器250可以将输入至第一输入端子IN1的扫描启动信号STVP的电压电平与输入至第二输入端子IN2的参考电压Vref的电压电平进行比较。扫描控制器200还可以包括控制参考电压Vref的电压电平的参考电压控制器。参考电压控制器可以根据显示设备的属性来控制参考电压Vref的电压电平。
保护电路260可以输出关闭信号SD。当垂直启动信号STV(即，扫描启动信号STVP)下降时，保护电路260可以检测比较信号。当扫描启动信号STVP的电压电平低于参考电压Vref的电压电平时，保护电路260可以输出关闭信号SD。例如，保护电路260可以将关闭信号SD提供给扫描控制器200和/或电压发生器。
图6A至图6B是示出图5的扫描控制器的操作的电路图。
参照图6A，当正常驱动显示设备时，开关电路240可以将导通电压提供线Von_L联接至导通晶体管210的第一电极。当提供具有第一电压电平(例如，高电平)的垂直启动信号STV时，具有经由非门205反相的第二电压电平(例如，低电平)的电压可被提供给第二节点N2。响应于具有第二电压电平的电压，导通晶体管210可以导通，并且截止晶体管220可以截止。扫描启动信号STVP的电压电平可以在导通晶体管210导通时上升到导通电压Von的电压电平。当提供具有第二电压电平的垂直启动信号STV时，具有经由非门205反相的第一电压电平的电压可被提供给第二节点N2。响应于具有第一电压电平的电压，导通晶体管210可以截止，并且截止晶体管220可以导通。当截止晶体管220导通时，扫描启动信号STVP可以接近于或下降到截止电压Voff的电压电平。当驱动显示设备时，导通晶体管210和截止晶体管220可以基于垂直启动信号STV交替地导通。
参照图6B，当检测到显示设备的过电流时，开关电路240可以将导通电压提供线Von_L联接至检测晶体管230的第一电极。当提供具有第一电压电平的垂直启动信号STV时，具有经由非门205反相的第二电压电平的电压可被提供给第二节点N2。响应于具有第二电压电平的电压，检测晶体管230可以导通，并且截止晶体管220可以截止。当输出扫描启动信号STVP的线不与提供截止电压Voff的线短路时，扫描启动信号STVP可以在检测晶体管230导通时接近于或上升到导通电压Von的电压电平。当输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线短路时，可能因输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线的短路而出现短路电阻器Rsh，并且导通电压Von可以被短路电阻器Rsh和检测晶体管230分压，其中检测晶体管230的漏-源电阻器具有比导通晶体管210的漏-源电阻器大的电阻。因此，扫描启动信号STVP的电压电平(即，第一节点N1的电压电平)可以不上升到导通电压Von的电压电平。比较器250可以将扫描启动信号STVP的电压电平与参考电压Vref的电压电平进行比较，并输出比较信号。保护电路260可以在过电流检测时段期间在每次扫描启动信号STVP下降时接收比较信号，并基于该比较信号确定是否出现短路。当提供具有第二电压电平的垂直启动信号STV时，具有经由非门205反相的第一电压电平的电压可被提供给第二节点N2。响应于具有第一电压电平的电压，检测晶体管230可以截止，并且截止晶体管220可以导通。当检测到过电流时，检测晶体管230和截止晶体管220可以基于垂直启动信号STV交替地导通。
图7A至图7B是示出包括在图1的显示设备中的扫描控制器的操作的时序图。
参照图7A，扫描控制器可以在显示设备的通电时段(POWER-ON PERIOD)期间检测扫描启动信号STVP。时序控制器可以在通电时段(POWER-ON PERIOD)和驱动时段(DRIVINGPERIOD)期间将垂直启动信号STV提供给扫描控制器。垂直启动信号STV可以是在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动的信号。在过电流检测时段期间，时序控制器可以生成其宽度(例如，持续时间)比在正常驱动时段期间生成的垂直启动信号STV的宽度(例如，持续时间)宽(例如，长)的垂直启动信号STV。扫描控制器可以基于垂直启动信号STV生成扫描启动信号STVP。因此，可以容易地检测到扫描启动信号STVP的缺陷。
扫描控制器可以在通电时段(POWER-ON PERIOD)期间检测扫描控制器的过电流。如图7A中所描述的那样，当输出扫描启动信号STVP的线不与提供截止电压的线短路(NORMAL)时，可以生成在导通电压的电压电平LVon与截止电压的电压电平LVoff之间摆动的扫描启动信号STVP。当输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线短路(ABNORMAL)时，可以生成在比导通电压的电压电平LVon低的电平电压与截止电压的电压电平LVoff之间摆动的扫描启动信号STVP。当输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线短路(ABNORMAL)时，扫描控制器可以检测扫描启动信号STVP的电压电平并输出关闭信号。
参照图7B，扫描控制器可以在帧中的垂直消隐时段VBP期间检测扫描启动信号STVP。时序控制器可以生成垂直启动信号STV。垂直启动信号STV可以是在第一电压电平LV1与第二电压电平LV2之间摆动的信号。垂直启动信号STV可以包括垂直启动脉冲PV和检测脉冲PD，其中，垂直启动脉冲PV在一帧中的垂直有效时段VAP期间激活，检测脉冲PD在一帧中的垂直消隐时段VBP期间激活。检测脉冲PD可以是用于检测扫描启动信号STVP的电压电平的信号。时序控制器可以生成其宽度(例如，持续时间)比垂直启动脉冲PV的宽度(例如，持续时间)宽(例如，长)的检测脉冲PD。因此，可以容易地检测扫描启动信号STVP的缺陷。
扫描控制器的开关电路可以在垂直有效时段VAP期间将导通电压提供线与导通晶体管联接，并且可以在垂直消隐时段VBP期间将导通电压提供线与检测晶体管联接。扫描控制器可以在垂直有效时段VAP期间基于垂直启动脉冲PV生成扫描启动信号STVP。扫描控制器可以在垂直消隐时段VBP期间基于检测脉冲PD来检测扫描启动信号STVP的电压。如图7B中所描述的那样，当输出扫描启动信号STVP的线不与提供截止电压的线短路(NORMAL)时，扫描控制器可以生成包括具有相同的电压电平的扫描启动脉冲PSV和扫描检测脉冲PSD的扫描启动信号STVP。包括在扫描启动信号STVP中的扫描启动脉冲PSV和扫描检测脉冲PSD可以具有导通电压的电压电平LVon和截止电压的电压电平LVoff。当输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线短路(ABNORMAL)时，扫描控制器可以生成包括具有不同的电压电平的扫描启动脉冲PSV和扫描检测脉冲PSD的扫描启动信号STVP。扫描启动脉冲PSV可以具有导通电压的电压电平LVon和截止电压的电压电平LVoff。扫描检测脉冲PSD可以具有比导通电压的电压电平LVon低的电压电平和截止电压的电压电平LVoff。当输出扫描启动信号STVP的线与提供截止电压Voff的线短路(ABNORMAL)时，扫描控制器可以在垂直消隐时段VBP期间检测扫描启动信号STVP的电压电平(即，扫描检测脉冲PSD)，并且可以输出关闭信号。
本发明构思可以应用于显示设备和具有显示设备的电子设备。例如，本发明构思可以应用于计算机显示屏、膝上型计算机、数码相机、蜂窝电话、智能电话、智能平板、电视、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、MP3播放器、导航***、游戏机、视频电话等。
应理解的是，虽然本文中可以使用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种元件、部件、区域、层和/或部分，但是这些元件、部件、区域、层和/或部分不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件、部件、区域、层或部分与另一元件、部件、区域、层或部分区分开。因此，在不背离本发明构思的精神和范围的情况下，本文中讨论的第一元件、第一部件、第一区域、第一层或第一部分可以称为第二元件、第二部件、第二区域、第二层或第二部分。
本文中使用的术语仅用于描述特定实施方式的目的，并且不旨在限制本发明构思。除非上下文另有明确说明，否则如本文中所使用的，单数形式“一(a)”、“一个(an)”和“该(the)”旨在还包括复数形式。还将理解的是，当在本说明书中使用时，术语“包括”和/或“包括有”指定所阐述的特征、整体、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。如本文中所使用的，术语“和/或”包括相关所列项目中的一个或多个的任何和所有组合。另外，当描述本发明构思的实施方式时，“可”的使用指的是“本发明构思的一个或多个实施方式”。
将理解的是，当元件或层被称为“连接至”、“联接至”或“邻近于”另一元件或层时，该元件或层可以连接至、联接至或邻近于另一元件或层，或者可以存在一个或多个介于中间的元件或层。相反地，当元件或层被称为“直接连接至”、“直接联接至”或“直接邻近于”另一元件或层时，不存在介于中间的元件或层。
如本文中所使用的，术语“使用(use)”、“使用(using)”和“使用(used)”可以被认为分别与术语“利用(utilize)”、“利用(utilizing)”和“利用(utilized)”同义。
根据本文中所描述的本公开实施方式的电子设备或电气设备和/或任何其它相关设备或部件(诸如，外部控制器、时序控制器、电力管理电路、数据驱动器和栅极驱动器)例如可利用任何适当的硬件、固件(例如，专用集成电路)、软件或者软件、固件和硬件的组合进行实施。例如，这些设备的各种部件可形成在一个集成电路(IC)芯片上或形成在分开的IC芯片上。另外，这些设备的各种部件可以实施在柔性印刷电路膜、载带封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上，或者形成在一个衬底上。另外，这些设备的各种部件可以是在一个或多个计算设备中的一个或多个处理器上运行的、执行计算机程序指令并且与用于执行本文中所描述的各种功能的其它***部件交互的进程或线程。计算机程序指令存储在可使用例如标准存储设备在计算设备中实施的存储器中，诸如，随机存取存储器(RAM)。计算机程序指令还可例如存储在其它非暂时性计算机可读介质中，诸如CD-ROM、闪存驱动器等。另外，本领域普通技术人员将认识到，在不背离本公开的精神和范围的情况下，各种计算/电子设备的功能可组合或集成到单个计算/电子设备中，或者特定计算/电子设备的功能可分布到一个或多个其它计算/电子设备。
除非另有定义，否则本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属领域中的普通技术人员所通常理解的含义相同的含义。还应理解的是，术语，诸如在常用字典中定义的那些术语，应被解释为具有与其在相关领域和/或本说明书的上下文中的含义一致的含义，并且除非在本文中明确地如此定义，否则不应以理想化或过于形式化的含义进行解释。
前述内容是对示例性实施方式的说明，并且不应解释为对示例性实施方式进行限制。虽然已经描述了一些示例性实施方式，但本领域技术人员将容易理解的是，在不实质性地背离本发明构思的新颖教导和有益效果的情况下，在示例性实施方式中的许多修改是可能的。因此，所有这些修改旨在包括在如权利要求中限定的本发明构思的范围内。因此，应理解的是，前述内容是对各种示例性实施方式的说明，并且不应解释为受限于所公开的特定示例性实施方式，并且对所公开的示例性实施方式的修改以及其它示例性实施方式旨在包括在所附权利要求及其等同的范围内。

Claims (12)

1.显示设备，包括：
显示面板，包括扫描线、数据线和联接至所述扫描线和所述数据线的多个像素；
电压发生器，配置成生成导通电压和截止电压；
扫描控制器，配置成基于所述导通电压、所述截止电压和垂直启动信号生成扫描启动信号；以及
扫描驱动器，配置成基于所述扫描启动信号生成扫描信号并将所述扫描信号提供给所述扫描线中的一条扫描线，
其中，所述扫描控制器配置成在过电流检测时段期间检测所述扫描启动信号的电压电平，并且基于所述扫描启动信号的所述电压电平输出关闭信号。
2.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述扫描控制器包括：
导通晶体管，包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极；
截止晶体管，包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、配置成接收所述截止电压的第一电极以及联接至所述第一节点的第二电极；
检测晶体管，包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、联接至所述开关电路的第一电极以及联接至所述第一节点的第二电极；
所述开关电路，配置成将导通电压提供线选择性地联接至所述导通晶体管或所述检测晶体管，所述导通电压提供线配置成提供所述导通电压；
比较器，包括第一输入端子、第二输入端子和输出端子，其中，所述第一输入端子配置成接收所述第一节点的电压，所述第二输入端子配置成接收设定的参考电压，所述输出端子配置成通过将所述第一节点的所述电压与所述参考电压进行比较来输出比较信号；以及
保护电路，配置成基于所述比较信号输出所述关闭信号。
3.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述检测晶体管的漏-源电阻器具有比所述导通晶体管的漏-源电阻器大的电阻。
4.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述开关电路配置成在所述过电流检测时段期间将所述导通电压提供线联接至所述检测晶体管，并且配置成在驱动所述显示面板时将所述导通电压提供线联接至所述导通晶体管。
5.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述扫描控制器还包括：
参考电压控制器，配置成控制所述参考电压的电压电平。
6.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述导通晶体管和所述检测晶体管是p沟道金属氧化物半导体晶体管，并且所述截止晶体管是n沟道金属氧化物半导体晶体管。
7.根据权利要求6所述的显示设备，其中，所述扫描控制器还包括：
非门，联接至所述导通晶体管的所述栅电极、所述截止晶体管的所述栅电极和所述检测晶体管的所述栅电极，并且所述非门配置成使所述垂直启动信号反相。
8.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述导通晶体管和所述检测晶体管是n沟道金属氧化物半导体晶体管，并且所述截止晶体管是p沟道金属氧化物半导体晶体管。
9.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述保护电路配置成在所述垂直启动信号下降时检测所述比较信号。
10.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述过电流检测时段是所述显示设备的通电时段。
11.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述过电流检测时段是帧中的垂直消隐时段。
12.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述扫描控制器配置成基于时钟控制信号生成时钟信号和时钟条信号，并且配置成将所述时钟信号和所述时钟条信号提供给所述扫描驱动器。
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