CN111038104B - 喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质,涉及喷墨打印技术领域,所述方法包括:采集喷头输出波形的特征参数;将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则喷嘴异常。本发明通过采集喷头输出波形的特征参数;将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则表明喷嘴异常。本发明的喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质,只需对喷嘴的输出波形进行采集和对比,无需其他硬件辅助,具有检测方便、成本低廉的优点。

Description

喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及喷墨打印技术领域,尤其涉及一种喷头异常检测方法、装置、 设备及存储介质。
背景技术
喷墨打印技术是指通过喷头上的喷嘴将墨滴喷射到打印介质上以得到图 像或文字的技术,该技术为非接触打印,具有打印速度快,污染小,图像色 彩鲜艳,图像保存期长,能适应多种打印介质等技术优点,且该技术已在广 告制作、办公文化用品、印刷打样等领域广泛采用。
现有的喷墨打印机大多采用的压电晶体的方式来刺激喷嘴出墨,喷头由 驱动芯片、压电陶瓷(陶瓷空腔)、电极、喷头以及覆盖板组成。驱动芯片 产生控制波形,接到压电陶瓷表面的电极上,使得压电陶瓷产生形变,产生 挤压效果,将陶瓷空腔内的墨水压缩喷射,通过喷嘴板喷射出来。该装置中 喷头采用驱动芯片控制,将需要的电压信号(根据打印内容))提供到压电陶 瓷或压电材料上,产生形变,将墨滴喷出,***控制不同喷嘴的信号,将得 到不同的打印图形。
喷墨打印机喷头每输入一个驱动波形,喷嘴就能喷打出一个点在打印介 质上。最终每个喷嘴连续输出驱动波形1、驱动波形2…驱动波形N,以达到 最终连续出墨,产生画面。在工业生产过程中,由于压电材料形变异常(如 形变材料损坏),造成吸入空气,或者墨水堵塞,墨路污染、墨水沉淀、灰 尘、水汽等原因导致喷头喷嘴状态异常,如堵塞、斜喷、发虚、墨量不足等 情况,会导致打印故障。
现有技术中,为了检测喷嘴异常,对于喷墨头的每个喷嘴,光学的检测 墨滴有没有从喷墨头的喷嘴中喷出,根据墨滴的喷出状态来检测喷嘴是否异 常。这种方式需要传感器或者摄像头的辅助,检测结果复杂、检测成本高, 不利于市场推广。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种喷头异常检测方法、装置、设备及存储 介质,旨在解决现有喷嘴异常检测硬件结构复杂、成本高的技术问题。
为实现上述目的,本发明一方面提供一种喷头异常检测方法,所述方法 包括:
采集喷头输出波形的特征参数;
将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则喷嘴 异常。
进一步的,所述特征参数为波形峰值,所述采集喷头输出波形特征参数 包括:
读取输出波形峰值;
延时随机时间段后,循环读取输出波形峰值并记录循环次数;
当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形峰值中选取最终输出 波形峰值。
进一步的,所述波峰值为输出波形数据的最大值,所述读取波形峰值包 括:
同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出波形数 据的最大值作为输出波形的第一波峰值;
所述在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值包括:
在所述输出波形的第一波峰值中选取最大值作为最终输出波形峰值。
进一步的,所述波峰值为输出波形数据的最小值,所述读取波形峰值包 括:
同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出波形数 据的最小值作为输出波形的第二波峰值;
所述在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值包括:
在所述输出波形的第二波峰值中选取最小值作为最终输出波形峰值。
进一步的,所述特征参数为分段波形的斜率,所述采集喷头输出波形特 征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形;
计算每个分段波形的斜率。
进一步的,所述特征参数为输出波形的拟合方程,所述采集喷头输出波 形特征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据所述输出波形数据进行拟合,得到输出波形的拟合方程。
进一步的,所述方法还包括:
预存所述输入波形的特征参数。
本发明另一方面还提供一种喷头异常检测装置,所述装置包括:
采集模块,用于采集喷头输出波形的特征参数;
对比模块,用于将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比 较;
检测模块,用于若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数 不一致,则喷嘴异常。
本发明另一方面还提供一种喷头异常检测设备,包括:至少一个处理器、 至少一个存储器以及存储在所述存储器中的计算机程序指令,当所述计算机 程序指令被所述处理器执行时实现上述任一项所述的方法。
本发明另一方面还提供一种存储介质,其上存储有计算机程序指令,其 特征在于,当所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述任一项所述的方 法。
本发明提供的喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质,在喷嘴由于 空气吸入、墨水堵塞,墨路污染、墨水沉淀、灰尘、水汽等原因导致喷头嘴 状态异常时,会导致喷嘴出墨量异常,进而导致喷嘴的输出波形与输入波形 不一致,本发明通过采集喷头输出波形的特征参数;将所述输出波形的特征 参数与输入波形的特征参数相比较;若所述输出波形的特征参数与所述输入 波形的特征参数不一致,则表明喷嘴异常。本发明的喷头异常检测方法,只 需对喷嘴的输出波形进行采集和对比,无需其他硬件辅助,具有检测方便、 成本低廉的优点。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种喷头异常检测方法流程图;
图2为本发明一种输出波形示意图;
图3为本发明另一种输出波形示意图;
图4为本发明实施例四提供的一种喷头异常检测装置结构示意图;
图5为本发明实施例四提供的一种喷头异常检测设备的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步 说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限 定本发明。
在后续的描述中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后 缀仅为了有利于本发明的说明,其本身没有特定的意义。因此,“模块”、“部 件”或“单元”可以混合地使用。
由于空气吸入、墨水堵塞,墨路污染、墨水沉淀、灰尘、水汽等原因导 致喷头嘴状态异常,出现堵塞、斜喷、发虚、墨量不足等情况,影响打印质 量。为了检测喷嘴异常,传统的方式是,对于喷墨头的每个喷嘴,光学的检 测墨滴有没有从喷墨头的喷嘴中喷出,根据墨滴的喷出状态来检测喷嘴是否 异常。本发明发明人在长期研究中发现,喷嘴异常会导致喷嘴的出墨量异常, 而喷嘴的出墨量会直接反映在喷嘴的电压输出波形上,这样,在喷嘴异常时 会导致喷嘴的输出波形与输入波形不一致,因而,通过比较喷嘴输入波形与 输出波形是否一致,即可判断喷嘴是否异常。
下面通过具体实施例对本发明做详细描述。
实施例一
本发明提供一种喷头异常检测方法,如图1所示,该方法包括:
S1、采集喷头输出波形的特征参数;
为了采集喷嘴输出波形,可以在每个喷嘴上设置采集电路,通过采集电 路实时采集喷嘴输出波形数据。具体的,可以在每个喷嘴输出波形电压的接 口处连接一个采集电路,通过采集电路实时采集喷嘴电压。
具体的,本实施例中,采用的单片机来采集喷嘴输出的电压,先将输出 的波形电压进行降压,然后引入到单片机的ADC(Analog-to-Digital Converter, 模数转换)引脚上,将实际电压值转换为数值信号,最终转换成实际的输出波 形的模拟电压值。
所述特征参数是表征喷头输出波形特征的参数,具体可以是输出波形的 波形峰值,输出波形的分段波形斜率值,也可以是输出波形的拟合方程等。 其中,波形峰值可以是波形最大值也可以是波形最小值,分段波形斜率值是 根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形,每个分段波形的斜率值。
在一种具体实施方式中,所述特征参数为波形峰值,所述采集喷头输出 波形特征参数包括:
S11、读取输出波形峰值;
以STM32F103RC系列单片机为例,它的ADC模块最大时钟为14M,每 次读取采集电路的值所需要的时间=采样时间+转换时间,其中,转换时间目 前为固定时间12.5个周期,采样时间最快时间为1.5个周期,即最快的读取 时间为14个周期(1us)。以1024A喷头,单片机芯片STM32F103RC系列为例, 需获取10个输出波形电压(AD_H0_COM2_RB、AD_H1_COM1、AD_H1_COM2_LA、AD_H1_COM2_LB、AD_H0_COM1、 AD_H0_COM2_LA、AD_H0_COM2_LB、AD_H0_COM2_RA、 AD_H1_COM2_RA、AD_H1_COM2_RB)。若按照每运行1us只能获取其中 一个的输出波形电压的方式获取输出波形电压,获取这10个输出波形电压总 共需耗费10us的时间。因为单片机不只是单独只采集输出波形电压,还会循 环处理其他事情。所以通常情况下,每采集同一个喷嘴的输出波形电压的时 间会有一定的随机性,且每次采集的间隔时间最快为10us。这样的处理会造 成每一次采集的输出波形数据不一定能采集到输出波形的波峰值的位置。为 此,采用以一种随机时间多次采样的方式,来获取输出波形的波峰值。
在一种情形下,如图3所示,所述波峰值为输出波形数据的最大值R, 所述读取波形峰值包括:
S110、同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出 波形数据的最大值作为输出波形的第一波峰值;
S111、经过随机时间段后,循环读取输出波形的第一峰值并记录循环次 数;
S112、当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形的第一波峰值 中选取最大值作为最终输出波形峰值。
以STM32F103RC系列单片机为例,通过配置多路ADC实现多个输出波 形电压同步检测,且根据预设循环次数循环按照所设置的周期一直在后台运 行,不影响其他事情的处理,同时将多次采集的波形数据存储到预先设置的 内存地址缓存中。虽然这种模式能够最快1us时间间隔去同步获取各个输出波 形电压,但是由于不同墨水的特性,对于不同的驱动波形,有可能出现最波 峰值电压持续时间很短,小于1us的情况。因此一直采用同一个开始时间进行 波形数据采集,有可能一直会读不到波峰值的情况。
以10个喷嘴的10组输出波形采集为例,配置10个ADC实现同时采集 10个输出波形电压(AD_H0_COM2_RB、AD_H1_COM1、AD_H1_COM2_LA、 AD_H1_COM2_LB、AD_H0_COM1、AD_H0_COM2_LA、AD_H0_COM2_LB、 AD_H0_COM2_RA、AD_H1_COM2_RA、AD_H1_COM2_RB),10路波形 电压分别缓存50组数据,每组波形数据缓存大小为50*10,然后开启功能, 单片机在后台自动分别读取这10组波形数据,依次存放到缓存地址数据中。 单片机先处理其他事件,处理完成后,在读取当前缓存中的所有波形数据, 并将这一组数据中最大值做为输出波形的第一波峰值: g_Max_H0_COM2_RB[0]、g_Max_H1_COM1[0]、g_Max_H1_COM2_LA[0]、 g_Max_H1_COM2_LB[0]、g_Max_H0_COM1[0]、g_Max_H0_COM2_LA[0]、 g_Max_H0_COM2_LB[0]、g_Max_H0_COM2_RA[0]、 g_Max_H1_COM2_RA[0]、g_Max_H1_COM2_RB[0],分析完缓存数据之后, 延时随机时间段,一种示例中,所述随机时间段通过***自带的随机数获取 函数Rand(),获取一个随机数A,在用A%50得到一个B(0-49的随机数字), 在用B*10得到一个C,我们在通过延时随机时间段C纳秒的时间后,循环上 述方式第二次读取输出波形的第一峰值g_Max_H0_COM2_RB[1]、 g_Max_H1_COM1[1]、g_Max_H1_COM2_LA[1]、g_Max_H1_COM2_LB[1]、 g_Max_H0_COM1[1]、g_Max_H0_COM2_LA[1]、g_Max_H0_COM2_LB[1]、 g_Max_H0_COM2_RA[1]、g_Max_H1_COM2_RA[1]、 g_Max_H1_COM2_RB[1],通过计数器记录循环次数。以此类推,当循环次数 等于预设循环次数,如10次时,第十次读取输出波形的第一峰值 g_Max_H0_COM2_RB[9]、g_Max_H1_COM1[9]、g_Max_H1_COM2_LA[9]、 g_Max_H1_COM2_LB[9]、g_Max_H0_COM1[9]、g_Max_H0_COM2_LA[9]、 g_Max_H0_COM2_LB[9]、g_Max_H0_COM2_RA[9]、 g_Max_H1_COM2_RA[9]、g_Max_H1_COM2_RB[9],对于上述10组数据, 将每组输出波形的第一波峰值g_Max_H0_COM2_RB[i]、 g_Max_H1_COM1[i]、g_Max_H1_COM2_LA[i]、g_Max_H1_COM2_LB[i]、g_Max_H0_COM1[i]、g_Max_H0_COM2_LA[i]、g_Max_H0_COM2_LB[i]、 g_Max_H0_COM2_RA[i]、g_Max_H1_COM2_RA[i]、 g_Max_H1_COM2_RB[i],中选取最大值作为该组波形数据的最终输出波形峰 值。
在另一种情形下,如图2所示,所述波峰值为输出波形数据的最小值S, 所述读取波形峰值包括:
S210、同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出 波形数据的最小值作为输出波形的第二波峰值;
S211、经过随机时间段后,循环读取输出波形的第二峰值并记录循环次 数;
S212、当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形的第二波峰值 中选取最大值作为最终输出波形峰值。
S2、将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
具体的,在步骤S1之前,可以预先存储输入波形的特征参数,如预先存 储每个喷嘴输入波形的波峰值。将所述输出波形的波峰值与输入波形的波峰 值相比较。
S3、若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则 喷嘴异常。
在一个实施例中,所述波峰值为输出波形的最大值,若所述输出波形的 波峰值大于输入波形的波峰值,表明喷嘴异常,提示喷嘴异常。进一步的, 可以将输出波形的波峰值与喷头输出电压阈值进行比较,若所述输出波形的 波峰值大于喷头输出电压阈值,说明输出波形电压超出了喷头所能承受的电 压范围,则提示喷头电压过大,有被烧坏的危险。
在另一种方式中,所述波峰值为输出波形的最小值,若所述输出波形的 波峰值小于输入波形的波峰值,表明喷嘴异常,提示喷嘴异常。
本发明提供的喷头异常检测方法,通过采集喷头输出波形的特征参数; 将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;若所述输出波形 的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则表明喷嘴异常。本发明的 喷头异常检测方法,只需对喷嘴的输出波形进行采集和对比,无需其他硬件 辅助,具有检测方便、成本低廉的优点。
实施例二
本发明实施例二提供一种喷嘴异常检测方法,所述方法包括:
S101、采集喷头输出波形特征参数。
其中,所述特征参数为分段波形的斜率,所述采集喷头输出波形特征参 数包括:
S1011、采集喷头输出波形数据;
具体采集方式可以通过单片机控制每个喷嘴的采集电路直接采集获得, 也可以通过如步骤S11的方式进行采集。
S1012、根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形;
如图3所示,输出波形包含斜率不同的三段:AB、BC、CD,则可以将 输出波形分为三个分段波形:分段波形AB、分段波形BC和分段波形CD。
S1013、计算每个分段波形的斜率。
具体的,对于分段波形AB,可以通过斜率计算公式:k=(y2-y1)/(x2-x1) 计算,其中,A点坐标(x1,y1),B点坐标(x2,y2)。坐标x值为输出电 压时间,坐标y值为输出电压值,可以通过输出波形直接获得。
S102、将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
具体的,在步骤S1之前,可以预先存储输入波形的特征参数,如预先将 输入波形按照斜率分为分段波形,存储输入波形每个分段波形的斜率。将所 述输出波形中分段波形的斜率与输入波形的分段波形的斜率相比较。
S103、若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致, 则喷嘴异常。
若输出波形中有分段波形的斜率与输入波形的分段波形的斜率不同,则 确定喷嘴异常,提示喷嘴异常信息。
实施例三
本发明实施例三提供一种喷嘴异常检测方法,所述方法包括:
S201、采集喷头输出波形特征参数。
其中,所述特征参数为输出波形的拟合方程,所述采集喷头输出波形特 征参数包括:
S2011、采集喷头输出波形数据;
具体采集方式可以通过单片机控制每个喷嘴的采集电路直接采集获得, 也可以通过如步骤S11的方式进行采集。
S2012、根据所述输出波形数据进行拟合,得到输出波形的拟合方程。
S202、将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
具体的,在步骤S1之前,可以预先存储输入波形的特征参数,如预先存 储输入波形的方程。本步骤可以将输出波形的拟合方程与输入波形的方程进 行比较,也可以通过输入波形方程来验证采集的输出波形数据。
S203、若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致, 则喷嘴异常。
具体的,若输出波形的拟合方程与输入波形的方程不同,或者输入波形 方程验证采集的输出波形数据不一致,则确定喷嘴异常,提示喷嘴异常信息。
基于上述各个方法实施例,本发明还提供以下装置实施例。
实施例四
本发明实施例四提供一种喷头异常检测装置4,如图4所示,该喷头异常 检测装置5包括:
存储模块50,用于预存所述输入波形的特征参数。
采集模块51,用于采集喷头输出波形的特征参数;
比较模块52,用于将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相 比较;
检测模块53,用于若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参 数不一致,则喷嘴异常。
在一种具体实施方式中,所述特征参数为波形峰值,所述采集模块包括:
读取模块,用于读取输出波形峰值;
循环模块,用于延时随机时间段后,循环读取输出波形峰值并记录循环 次数;
确定模块,用于当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形峰值 中选取最终输出波形峰值。
进一步的,所述波峰值为输出波形数据的最大值,所述读取模块,具体 用于同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出波形数 据的最大值作为输出波形的第一波峰值;
所述确定模块,具体用于在所述输出波形的第一波峰值中选取最大值作 为最终输出波形峰值。
进一步的,所述波峰值为输出波形数据的最小值,所述读取模块,具体 用于同时采集并存储多组喷头输出波形数据;读取所述多组喷头输出波形数 据的最小值作为输出波形的第二波峰值;
所述确定模块,具体用于在所述输出波形的第二波峰值中选取最小值作 为最终输出波形峰值。
在一种具体实施方式中,所述特征参数为分段波形的斜率,所述采集模 块包括:
第一采集模块,用于采集喷头输出波形数据;
分段模块,用于根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形;
计算模块,用于计算每个分段波形的斜率。
在一种具体实施方式中,所述特征参数为输出波形的拟合方程,所述采 集模块包括:
第二采集模块,用于采集喷头输出波形数据;
拟合模块,用于根据所述输出波形数据进行拟合,得到输出波形的拟合 方程。
优选地,本发明还公开了一种异常喷嘴检测设备,包括:至少一个处理 器401、至少一个存储器402以及存储在所述存储器402中的计算机程序指令, 当所述计算机程序指令被所述处理器401执行时实现本实施例所述的方法。
具体地,上述处理器401可以包括中央处理器(CPU),或者特定集成 电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC),或者可以被配置成实施 本发明实施例的一个或多个集成电路。
存储器402可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限 制,存储器402可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive,HDD)、软盘驱动器、 闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)驱 动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下,存储器402可包 括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下,存储器402可在数据 处理装置的内部或外部。在特定实施例中,存储器402是非易失性固态存储 器。在特定实施例中,存储器402包括只读存储器(ROM)。在合适的情况 下,该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM (EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可改写ROM(EAROM)或 闪存或者两个或更多个以上这些的组合。
处理器401通过读取并执行存储器402中存储的计算机程序指令,以实 现上述实施例中的异常喷嘴检测方法。
在一个示例中,异常喷嘴检测设备还可包括通信接口403和总线410。其 中,如图5所示,处理器401、存储器402、通信接口403通过总线410连接 并完成相互间的通信。
通信接口403,主要用于实现本发明实施例中各模块、装置、单元和/或 设备之间的通信。
总线410包括硬件、软件或两者,将异常喷嘴检测设备的部件彼此耦接 在一起。举例来说而非限制,总线可包括加速图形端口(AGP)或其他图形 总线、增强工业标准架构(EISA)总线、前端总线(FSB)、超传输(HT) 互连、工业标准架构(ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、 存储器总线、微信道架构(MCA)总线、***组件互连(PCI)总线、PCI-Express (PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部 (VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适 的情况下,总线410可包括一个或多个总线。尽管本发明实施例描述和示出 了特定的总线,但本发明考虑任何合适的总线或互连。
另外,结合上述实施例中的异常喷嘴检测方法,本发明实施例可提供一 种计算机可读存储介质来实现。该计算机可读存储介质上存储有计算机程序 指令;该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种异常 喷嘴检测法。
本发明提供的喷头异常检测方法、装置、设备及存储介质,在喷嘴由于 空气吸入、墨水堵塞,墨路污染、墨水沉淀、灰尘、水汽等原因导致喷头嘴 状态异常时,会导致喷嘴出墨量异常,进而导致喷嘴的输出波形与输入波形 不一致,本发明通过采集喷头输出波形的特征参数;将所述输出波形的特征 参数与输入波形的特征参数相比较;若所述输出波形的特征参数与所述输入 波形的特征参数不一致,则表明喷嘴异常。本发明的喷头异常检测方法,只 需对喷嘴的输出波形进行采集和对比,无需其他硬件辅助,具有检测方便、 成本低廉的优点。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在 涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装 置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括 为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下, 由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物 品或者装置中还存在另外的相同要素。
还需要说明的是,本发明中提及的示例性实施例,基于一系列的步骤或 者装置描述一些方法或***。但是,本发明不局限于上述步骤的顺序,也就 是说,可以按照实施例中提及的顺序执行步骤,也可以不同于实施例中的顺 序,或者若干步骤同时执行。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述 实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通 过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的 技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体 现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光 盘)中,包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机,计算机,服务器, 或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上 述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的, 本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求 所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本发明的保护之内。

Claims (9)

1.一种喷头异常检测方法,其特征在于,所述方法包括:
采集喷头输出波形的特征参数;
将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则喷嘴异常;其中,所述特征参数为波形峰值,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
读取输出波形峰值;
延时随机时间段后,循环读取输出波形峰值并记录循环次数;
当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值。
2.根据权利要求1所述的喷头异常检测方法,其特征在于,所述输出波形峰值为输出波形数据的最大值,所述读取输出波形峰值包括:
同时采集并存储多组喷头输出波形数据;
读取所述多组喷头输出波形数据的最大值作为输出波形的第一波峰值;
所述在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值包括:
在所述输出波形的第一波峰值中选取最大值作为最终输出波形峰值。
3.根据权利要求1所述的喷头异常检测方法,其特征在于,所述输出波形峰值为输出波形数据的最小值,所述读取输出波形峰值包括:
同时采集并存储多组喷头输出波形数据;
读取所述多组喷头输出波形数据的最小值作为输出波形的第二波峰值;
所述在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值包括:
在所述输出波形的第二波峰值中选取最小值作为最终输出波形峰值。
4.一种喷头异常检测方法,其特征在于,所述方法包括:
采集喷头输出波形的特征参数;
将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则喷嘴异常;其中,所述特征参数为分段波形的斜率,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形;
计算每个分段波形的斜率。
5.一种喷头异常检测方法,其特征在于,所述方法包括:
采集喷头输出波形的特征参数;
将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
若所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致,则喷嘴异常;其中,所述特征参数为输出波形的拟合方程,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据所述输出波形数据进行拟合,得到输出波形的拟合方程。
6.根据权利要求1-5任一项所述的喷头异常检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
预存所述输入波形的特征参数。
7.一种喷头异常检测装置,其特征在于,所述装置包括:
采集模块,用于采集喷头输出波形的特征参数;
对比模块,用于将所述输出波形的特征参数与输入波形的特征参数相比较;
检测模块,用于检测到所述输出波形的特征参数与所述输入波形的特征参数不一致时,则判定喷嘴异常,其中,所述特征参数为波形峰值,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
读取输出波形峰值;
延时随机时间段后,循环读取输出波形峰值并记录循环次数;
当循环次数等于预设读取次数时,在所述输出波形峰值中选取最终输出波形峰值;
或者
其中,所述特征参数为分段波形的斜率,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据波形斜率将所述输出波形分为多个分段波形;
计算每个分段波形的斜率;
或者
所述特征参数为输出波形的拟合方程,所述采集喷头输出波形特征参数包括:
采集喷头输出波形数据;
根据所述输出波形数据进行拟合,得到输出波形的拟合方程。
8.一种喷头异常检测设备,其特征在于,包括:至少一个处理器、至少一个存储器以及存储在所述存储器中的计算机程序指令,当所述计算机程序指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的方法。
9.一种存储介质,其上存储有计算机程序指令,其特征在于,当所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的方法。
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