CN110867139B - 一种阵列基板、显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、显示面板及显示装置，该阵列基板包括：位于衬底基板周边区域的多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，在测试的过程中，多条第一电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第一电压信号，多条第二电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第二电压信号，因此，可以通过同一第一测试垫向多条第一电位信号线提供第一电压信号，通过同一第二测试垫向多条第二电位信号线提供第二电压信号，与相关技术中，每条与栅极驱动电路连接的信号线均需要设置一个对应的测试垫相比，可以极大的减少测试垫的数量，即使在有限的测试区域内也可以满足阵列基板测试的需求。

Description

一种阵列基板、显示面板及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展，人们不仅对显示面板的显示质量提出了较高的要求，也对显示面板显示区域的屏占比提出要求，这也就需要对显示面板的窄边框设计进行深入的研究。

相关技术中的阵列基板中，包括显示区域，以及位于显示区域一侧的驱动芯片绑定区域，与驱动芯片进行绑定的柔性电路板可能设置在驱动芯片绑定区域背离显示区域的一侧，但是，由于与柔性电路板电连接的引线及引脚占用的台阶宽度较大，不利于窄边框的实现；因此，也可以将与柔性电路板电连接的引线及引脚设置在驱动芯片的两端，从而降低驱动芯片绑定区域背离显示区域的一侧的台阶宽度，有利于实现窄边框显示。但是该种设置使得与柔性电路板电连接引线及引脚占用了驱动芯片的两端大量的面积，导致测试区域的面积降低，无法容纳多个测试垫，以至于不能满足测试要求。

因此，如何在有限测试区域内满足测试要求是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置，用以解决由于测试区域有限导致不能满足测试需求的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述周边区域包括：

栅极驱动电路；

多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，所述第一电位信号线与所述第二电位信号线分别与所述栅极驱动电路电连接，所述第一电位信号线向所述栅极驱动电路提供第一电压信号，所述第二电位信号线向所述栅极驱动电路提供第二电压信号；

测试子区域，所述测试子区域包括：第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫；

多个第一开关结构和多个第二开关结构，所述第一开关结构的控制端和所述第二开关结构的控制端均与所述第三测试垫电连接，所有所述第一开关结构的输入端与所述第一测试垫电连接，各所述第一开关结构的输出端分别与所述第一电位信号线一一对应连接，所有所述第二开关结构的输入端与所述第二测试垫电连接，各所述第二开关结构的输出端分别与所述第二电位信号线一一对应连接。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括第一方面任一实施例提供的阵列基板，以及与所述阵列基板绑定的柔性电路。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括第二方面实施例提供的显示面板。

本发明的有益效果：

本发明实施例提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置，该阵列基板包括：位于衬底基板周边区域的多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，在测试的过程中，多条第一电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第一电压信号，多条第二电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第二电压信号，因此，可以通过同一第一测试垫向多条第一电位信号线提供第一电压信号，通过同一第二测试垫向多条第二电位信号线提供第二电压信号，与相关技术中，每条与栅极驱动电路连接的信号线均需要设置一个对应的测试垫相比，可以极大的减少测试垫的数量，即使在有限的测试区域内也可以满足阵列基板测试的需求。

并且本发明实施例在测试区域还设置了第三测试垫以及第一开关结构和第二开关结构，该第一开关结构和第二开关结构的控制端均与第三测试垫电连接，第一开关结构的输入端与第一测试垫电连接，第一开关结构的输出端与第一电位信号线电连接，第二开关结构的输入端与第二测试垫电连接，第二开关结构的输出端与第二电位信号线电连接。第三测试垫上提供的信号控制多个第一开关结构和多个第二开关结构是否打开，以保证在测试阶段第一开关结构和第二开关结构能够正常传输第一电压信号和第二电压信号，在非测试阶段控制第一开关结构和第二开关结构关闭，不对驱动芯片提供给栅极驱动电路的信号产生影响。

附图说明

图1为相关技术中阵列基板的一种结构示意图；

图2为相关技术中阵列基板的驱动芯片绑定区域的一种结构示意图；

图3为相关技术中阵列基板的驱动芯片绑定区域的另一种结构示意图；

图4位相关技术中阵列基板的另一种结构示意图；

图5为本发明实施例提供的阵列基板中一种测试结构的示意图；

图6为本发明实施例提供的阵列基板中另一种测试结构的示意图；

图7为本发明实施例提供的阵列基板中又一种测试结构的示意图；

图8为本发明实施例提供的阵列基板中又一种测试结构的示意图；

图9为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；

图10为本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图；

图11为本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；

图12为本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；

图13为本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；

图14为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

相关技术中的阵列基板中，如图1所示，包括显示区域A，以及位于显示区域A一侧的用于绑定驱动芯片的第一绑定区域B，与驱动芯片进行绑定的柔性电路板的输出引脚C3通过连接引线C2与驱动芯片的输入引脚C1进行绑定，其具体结构如图2所示。

由图2可以看出，连接引线C2和柔性电路板的输出引脚C3所占的台阶宽度D1较大，不利于显示面板的窄边框的实现。

其中，如图3所示，该第一绑定区域B内还包括驱动芯片的输出引脚C4，该驱动芯片的输出引脚C4用于向栅极驱动电路G所连接的信号线L提供电信号，以使栅极驱动电路G向对应的栅线Gate提供信号，以使像素电路中晶体管打开，通过数据线向对应的发光器件提供数据电压，从而点亮各子像素。在绑定驱动芯片之前，需要通过阵列基板上设置的测试垫pad向各信号线L提供电信号，以测试各栅线Gate是否能正常打开。其中，各信号线远离测试垫的一端还可以与对应的静电释放电路(在图中未具体示出)电连接，以防止静电击伤。

由图3可以看出，每条信号线L均需要设置与其对应的测试垫pad，导致测试垫pad所占区域较大，需要预留足够的空间设置较多的测试垫pad，导致显示面板边框较大，另外较多的测试垫pad之间还会有一定的短路风险。

基于相关技术中的阵列基板存在的上述问题，本发明实施例提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置。为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的一种阵列基板、显示面板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

除非另外定义，本发明使用的技术用语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

附图中各部件的形状和大小不反应真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

具体地，本发明实施例提供了一种阵列基板，如图4和图8所示，该阵列基板包括：衬底基板，衬底基板包括显示区域A-A和围绕显示区域A-A的周边区域B-B，周边区域B-B包括：

栅极驱动电路G1；

多条第一电位信号线V1和多条第二电位信号线V2，第一电位信号线V1与第二电位信号线V2分别与栅极驱动电路G1电连接，第一电位信号线V1向栅极驱动电路G1提供第一电压信号，第二电位信号线V2向栅极驱动电路G1提供第二电压信号；

测试子区域b，测试子区域b包括：第一测试垫pad1、第二测试垫pad2和第三测试垫pad3；

多个第一开关结构T1和多个第二开关结构T2，第一开关结构T1的控制端和第二开关结构T2的控制端均与第三测试垫pad3电连接，所有第一开关结构T1的输入端与第一测试垫pad1电连接，各第一开关结构T1的输出端分别与第一电位信号线V1一一对应连接，所有第二开关结构T2的输入端与第二测试垫pad2电连接，各第二开关结构T2的输出端分别与第二电位信号线V2一一对应连接。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，该阵列基板包括：位于衬底基板周边区域的多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，在测试的过程中，多条第一电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第一电压信号，多条第二电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第二电压信号，因此，可以通过同一第一测试垫向多条第一电位信号线提供第一电压信号，通过同一第二测试垫向多条第二电位信号线提供第二电压信号，与相关技术中，每条与栅极驱动电路连接的信号线均需要设置一个对应的测试垫相比，可以极大的减少测试垫的数量，即使在有限的测试区域内也可以满足阵列基板测试的需求。

并且本发明实施例在测试区域还设置了第三测试垫以及第一开关结构和第二开关结构，该第一开关结构和第二开关结构的控制端均与第三测试垫电连接，第一开关结构的输入端与第一测试垫电连接，第一开关结构的输出端与第一电位信号线电连接，第二开关结构的输入端与第二测试垫电连接，第二开关结构的输出端与第二电位信号线电连接。第三测试垫上提供的信号控制多个第一开关结构和多个第二开关结构是否打开，以保证在测试阶段第一开关结构和第二开关结构能够正常传输第一电压信号和第二电压信号，在非测试阶段控制第一开关结构和第二开关结构关闭，不对驱动芯片提供给栅极驱动电路的信号产生影响，需要说明的是，如图4所示，第三测试垫pad3可以设置在第一测试垫pad1和第二测试垫pad2之间，也可以看设置在如图8所示，设置在第二测试垫pad2一侧，或者设置在第一测试垫pad1一侧(图中未示出)，这里对位置不做限定。

需要说明的是，在本发明实施例提供的阵列基板中，图4中是以第一开关结构T1和第二开关结构T2均为薄膜晶体管为例进行示意的，但是本发明并不仅限定第一开关结构T1和第二开关结构T2为薄膜晶体管，还可以为其他符合本发明原理的开关结构，具体第一开关结构T1和第二开关结构T2的选择可根据实际使用情况来确定，在此不作具体限定。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图8和图9所示，周边区域B-B还包括：驱动芯片绑定子区域a；

驱动芯片绑定子区域a包括多个第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2，第一绑定引脚IC1与第一电位信号线V1一一对应电连接，第二绑定引脚IC2与第二电位信号线V2一一对应电连接。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，该驱动芯片绑定子区域内第一绑定引脚和第二绑定引脚是要与待绑定的驱动芯片的输出端子进行绑定的，在驱动显示面板进行显示时，驱动芯片通过输出端子，与输出端子电连接的第一绑定引脚和第二绑定引脚向对应的第一电位信号线和第二电位信号线分别提供第一电压信号和第二电压信号，从而驱动栅极驱动电路工作，向各栅线提供栅极驱动信号，以控制显示面板进行显示。

需要说明的是，在本发明实施例提供的阵列基板中，在测试阶段，驱动芯片还未与第一绑定引脚和第二绑定引脚进行绑定，因此向各第一电位信号线和第二电位信号线提供的第一电压信号和第二电压信号，均是通过外接对其所连接的测试垫进行扎针，从而形成电连接的关系，向各第一电位信号线和第二电位信号线提供的第一电压信号和第二电压信号。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图5所示，第一绑定引脚IC1电连接于第一电位信号线V1与第一开关结构T1之间，或者说，第一绑定引脚IC1设置在第一开关结构T1远离第一测试垫pad1一侧，并与第一电位信号线V1和第一开关结构T1电连接；

第二绑定引脚IC2电连接于第二电位信号线V2与第二开关结构T2之间，或者说，第二绑定引脚IC2设置在第二开关结构T2远离第二测试垫pad2一侧，并与第二电位信号线V2和第二开关结构T2电连接。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图5所示，第一绑定引脚IC1的输入端与第一开关结构T1的输出端电连接，第一绑定引脚IC1的输出端与第一电位信号线V1电连接，第一测试垫pad1上获取到的第一电压信号通过第一开关结构T1提供给第一绑定引脚IC1，再通过第一绑定引脚IC1提供给第一电位信号线V1。同理，第二绑定引脚IC2的输入端与第二开关结构T2的输出端电连接，第二绑定引脚IC2的输出端与第二电位信号线V2电连接，第二测试垫pad2上获取到的第二电压信号通过第二开关结构T2提供给第二绑定引脚IC2，再通过第二绑定引脚IC2提供给第二电位信号线V2。

该种设置使得第一绑定引脚作为了第一测试垫与第一电位信号线之间的传输结构，使得第二绑定引脚作为了第二测试垫与第二电位信号线之间的传输结构，给测试子区域的设置位置提供了多种可能，并且减少了测试垫与信号线之间的传输布线。

需要说明的是，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图6所示，在该阵列基板对显示区域内的子像素采用双边驱动时，可以将分别位于不同侧边的所有第一电位信号线V1通过分别连接第一绑定引脚IC1与同一个第一测试垫pad1电连接，也可以将分别位于不同侧边的所有第二电位信号线V2通过分别连接第二绑定引脚IC2与同一个第二测试垫pad2电连接，所连接的开关结构的控制端均与第三测试垫pad3电连接。通过该种设置，即使阵列基板采用双边驱动，也可以仅设置一个第一测试垫pad1、一个第二测试垫pad2和一个第三测试垫pad3，减少了测试子区域所占的面积。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图7所示，第一开关结构T1的输出端分别与第一绑定引脚IC1和第一电位信号线V1电连接；

第二开关结构T2的输出端分别与第二绑定引脚IC2和第二电位信号线V2电连接。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图7所示，所有第一开关结构T1和所有第二开关结构T2的控制端均与第三测试垫pad3电连接，控制第一开关结构T1和第二开关结构T2的打开。其中，所有第一开关结构T1的输入端与第一测试垫pad1电连接，所有第一开关结构T1的输出端分别与第一电位信号线V1和第一绑定引脚IC1电连接。当通过外部扎针向第一测试垫pad1提供第一电压信号时，第一测试垫pad1将第一电压信号提供给第一开关结构T1的输入端，并通过第一开关结构T1的输出端直接提供给第一电位信号线V1。

同理，所有第二开关结构T2的输入端与第二测试垫pad2电连接，所有第二开关结构T2的输出端分别与第二电位信号线V2和第二绑定引脚IC2电连接。当通过外部扎针向第二测试垫pad2提供第二电压信号时，第二测试垫pad2将第二电压信号提供给第二开关结构T2的输入端，并通过第二开关结构T2的输出端直接提供给第二电位信号线V2。

通过上述设置，可以使第一测试垫直接通过第一开关结构与第一电位信号线电连接，不必通过第一绑定引脚进行第一电压信号的传输，可以实现信号的稳定可靠传输，因此，可以将第一测试垫设置在靠近第一电位信号线的区域，远离第一绑定引脚的区域，给第一测试垫的设置位置提供了多种可能。同理，可以使第二测试垫直接通过第二开关结构与第二电位信号线电连接，不必通过第二绑定引脚进行第二电压信号的传输，可以实现信号的稳定可靠传输，因此，可以将第二测试垫设置在靠近第二电位信号线的区域，远离第二绑定引脚的区域，给第二测试垫的设置位置提供了多种可能。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图8所示，栅极驱动电路G1位于显示区域A-A的第一侧边对应的周边区域处，驱动芯片绑定子区域a位于与第一侧边相邻的第二侧边对应的周边区域处；

测试子区域b位于第二侧边对应的周边区域。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图8所示，栅极驱动电路G1可以位于显示区域A-A的第一侧边对应的周边区域，驱动芯片绑定子区域a位于第二侧边对应的周边区域，且第一侧边与第二侧边为相邻的侧边，可以将测试子区域b设置在第二侧边对应的周边区域内，即位于驱动芯片绑定子区域a延伸方向上靠近第一侧边的一侧。具体地，该测试子区域b可以位于第一侧边对应的周边区域与第二侧边对应的周边区域的交界处，当然也可以位于第二侧边对应的周边区域靠近驱动芯片绑定子区域的一侧，可综合其他线路的布局进行选择，在此不作具体限定，需要说明的是，本发明设置的测试垫还可以用于后续解析用，如通过示波器或者其他仪器的探针与测试垫电连接，检验显示面板的信号是否异常，另外，各信号线远离测试垫的一端还可以与对应的静电释放电路(在图中未具体示出)电连接，以防止静电击伤。

其中，显示区域的第一侧边可以是显示区域的任一各侧边，图8是以显示区域左侧的侧边为例进行说明的，也可以位于右侧、上侧或下侧，可根据实际设计进行选择，在此不作具体限定。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图9图、10、图12和图13所示，驱动芯片绑定子区域a在衬底基板上的正投影覆盖测试子区域b在衬底基板上的正投影；

第一测试垫pad1、第二测试垫pad2和第三测试垫pad3在衬底基板上的正投影与第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2在衬底基板上的正投影互不重叠。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，除了可以将测试子区域设置在驱动芯片绑定子区域的两侧周边区域外，还可以将测试子区域设置在驱动芯片绑定子区域内，只要使得第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫在衬底基板上的正投影与第一绑定引脚和第二绑定引脚在衬底基板上的正投影互不重叠，不影响信号的传输即可。该种设置可以减少测试子区域对驱动芯片绑定子区域的两侧周边区域进行占用，可以为其他线路的布局提供充足的空间。

如图10所示，将测试子区域b设置在驱动芯片绑定子区域a处，可以避免测试子区域b占用驱动芯片绑定子区域a两侧的区域，因此，可以根据实际需求将驱动芯片绑定子区域a两侧的区域挖空，可以在挖空区域设置柔性电路板与驱动芯片绑定子区域a进行绑定，即驱动芯片绑定子区域a两侧与柔性电路板电连接，需要说明的是，也可以不挖空设置，在不挖空的基础上驱动芯片绑定子区域a两侧与柔性电路板电连接。

其中，柔性电路板与驱动芯片绑定子区域进行绑定的具体局部结构示意图如图11所示，可以将连接引线C2和柔性电路板的输出引脚C3设置驱动芯片绑定子区域a的两端，从而降低驱动芯片绑定子区域a背离显示区域A-A的一侧的台阶宽度，有利于显示面板实现窄边框显示。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图9所示，第一测试垫pad1、第二测试垫pad2和第三测试垫pad3位于第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2背离显示区域A-A的一侧。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图9所示，第一测试垫pad1、第二测试垫pad2和第三测试垫pad3可以位于第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2背离显示区域A-A的一侧，通过位于测试垫与绑定引脚之间的开关结构，将第一测试垫pad1与第一绑定引脚IC1电连接，将第二测试垫pad2与第二绑定引脚IC2电连接。该种设置使得测试子区域b既没有占用驱动芯片绑定子区域a的两侧周边区域，也对驱动芯片绑定子区域a内各绑定引脚的布局不产生影响。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图12所示，第一测试垫pad1位于相邻第一绑定引脚IC1之间，第二测试垫pad2位于相邻第二绑定引脚IC2之间。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图12所示，还可以将第一测试垫pad1设置在相邻的第一绑定引脚IC1之间，将第二测试垫pad2设置在相邻的第二绑定引脚IC2之间，通过这样设置可以减少第一测试垫pad1和第二测试垫pad2占用的驱动芯片绑定子区域a宽度，有利于减少驱动芯片绑定子区域a的宽度，以实现窄边框设计。

需要说明的是，在本发明实施例提供的阵列基板中，图12中，是以第三测试垫pad3位于第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2背离显示区域A-A的一侧进行设置。当然，该第三测试垫pad3也可以设置在相邻两个第一绑定引脚IC1之间，相邻两个第二绑定引脚IC2之间，或者相邻的第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2之间，从而使得第一测试垫pad1、第二测试垫pad2和第三测试垫pad3均位于绑定引脚的间隙处，减少了测试子区域占用驱动芯片绑定子区域a的宽度，更加有利于实现阵列基板的窄边框设计。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图13所示，栅极驱动电路G1/G2分别位于显示区域A-A相对的第一侧边和第三侧边对应的周边区域处；

驱动芯片绑定子区域a位于与第一侧边相邻的第二侧边对应的周边区域处。

具体地，在本发明实施例提供的阵列基板中，如图13所示，当该阵列基板采用双边驱动时，在显示区域A-A的第一侧边和第三侧边对应的周边区域均设置有栅极驱动电路G1/G2。因此，可以在驱动芯片绑定子区域a内分别设置与第一侧边和第三侧边内的栅极驱动电路G1/G2对应的第一绑定引脚IC1和第二绑定引脚IC2，将与第一侧边处的栅极驱动电路G1对应的第一电位信号线V1与第一侧边对应的第一绑定引脚IC1电连接，第一侧边处的第二电位信号线V2与第一侧边对应的第二绑定引脚IC2电连接；而位于第三侧边处的栅极驱动电路G2对应第一电位信号线V1与第三侧边对应的第一绑定引脚IC1电连接，第三侧边处的第二电位信号线V2与第三侧边对应的第二绑定引脚IC2电连接。

其中，如图13所示，阵列基板的双边驱动显示为，位于第一侧边的栅极驱动电路G1用于驱动位于显示区域A-A内的第一栅线Gate1，位于第三侧边的栅极驱动电路G2用于驱动位于显示区域A-A内的第二栅线Gate2。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，第一电位信号线包括：低电位信号线、第一扫描方向控制信号线和复位信号线；

第二电位信号线包括：高电位信号线。

其中，复位信号可以包括上拉节点的复位信号，也可以包括栅极驱动电路的输出端的复位信号。

当然，该第一电位信号线还可以包括其他任何在栅极驱动电路运行过程中需要提供低电位的信号线，第二电位信号线还可以包括其他任何在栅极驱动电路运行过程中需要提供高电位的信号线。

可选地，在本发明实施例提供的阵列基板中，在该阵列基板对应的显示面板能够实现正向扫描和反向扫描时，该第二电位信号线还可以包括：第二扫描方向控制信号线。

其中，在正向扫描和反向扫描的过程，第一扫描方向控制信号线和第二扫描方向控制信号线均是提供相反的电压信号的，其中一个提供高电压信号时，另一个需要提供低电压信号。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括上述任一实施例提供的阵列基板，以及与该阵列基板绑定的柔性电路板。

其中，该柔性电路板的绑定引脚位于驱动芯片绑定子区域的两端。

具体地，本发明实施例提供的显示面板具有上述实施例提供的阵列基板的全部优点，可参考上述实施例提供的具体实施例进行实施，在此不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置，包括上述任一实施例提供的显示面板。

其中，如图14所示，该显示装置包括显示面板100，位于显示面板周围的边框区域200，该边框区域200可以设置听筒300、摄像头400等结构，在显示面板100的显示区域内可以包括指纹识别子区域500，在进行指纹解锁时，该指纹识别子区域500显示指纹位置提示信息。

具体地，该显示装置具有上述实施例提供的阵列基板和显示面板的全部优点，可参见上述任一实施例提供的阵列基板和显示面板公开的实施例进行实施，在此不再赘述。

本发明实施例提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置，该阵列基板包括：位于衬底基板周边区域的多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，在测试的过程中，多条第一电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第一电压信号，多条第二电位信号线给栅极驱动电路提供的均为第二电压信号，因此，可以通过同一第一测试垫向多条第一电位信号线提供第一电压信号，通过同一第二测试垫向多条第二电位信号线提供第二电压信号，与相关技术中，每条与栅极驱动电路连接的信号线均需要设置一个对应的测试垫相比，可以极大的减少测试垫的数量，即使在有限的测试区域内也可以满足阵列基板测试的需求。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (13)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述周边区域包括：

栅极驱动电路；

多条第一电位信号线和多条第二电位信号线，所述多条第一电位信号线与所述多条第二电位信号线分别与所述栅极驱动电路电连接，所述多条第一电位信号线向所述栅极驱动电路提供第一电压信号，所述多条第二电位信号线向所述栅极驱动电路提供第二电压信号；

测试子区域，所述测试子区域包括：第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫；

多个第一开关结构和多个第二开关结构，所述第一开关结构的控制端和所述第二开关结构的控制端均与所述第三测试垫电连接，所有所述第一开关结构的输入端与所述第一测试垫电连接，各所述第一开关结构的输出端分别与所述第一电位信号线一一对应连接，所有所述第二开关结构的输入端与所述第二测试垫电连接，各所述第二开关结构的输出端分别与所述第二电位信号线一一对应连接；

其中，所述第一电位信号线包括：低电位信号线、第一扫描方向控制信号线和复位信号线；

所述第二电位信号线包括：高电位信号线。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述周边区域还包括：驱动芯片绑定子区域；

所述驱动芯片绑定子区域包括多个第一绑定引脚和第二绑定引脚，所述第一绑定引脚与所述第一电位信号线一一对应电连接，所述第二绑定引脚与所述第二电位信号线一一对应电连接。

3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一绑定引脚电连接于所述第一电位信号线与所述第一开关结构之间；

所述第二绑定引脚电连接于所述第二电位信号线与所述第二开关结构之间。

4.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关结构的输出端分别与所述第一绑定引脚和所述第一电位信号线电连接；

所述第二开关结构的输出端分别与所述第二绑定引脚和所述第二电位信号线电连接。

5.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述栅极驱动电路位于所述显示区域的第一侧边对应的周边区域处，所述驱动芯片绑定子区域位于与所述第一侧边相邻的第二侧边对应的周边区域处；

所述测试子区域位于所述第二侧边对应的周边区域。

6.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述驱动芯片绑定子区域在所述衬底基板上的正投影覆盖所述测试子区域在所述衬底基板上的正投影；

所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫在所述衬底基板上的正投影与所述第一绑定引脚和所述第二绑定引脚在所述衬底基板上的正投影互不重叠。

7.如权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫位于所述第一绑定引脚和所述第二绑定引脚背离所述显示区域的一侧。

8.如权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述第一测试垫位于相邻所述第一绑定引脚之间，所述第二测试垫位于相邻所述第二绑定引脚之间。

9.如权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述栅极驱动电路分别位于所述显示区域相对的第一侧边和第三侧边对应的周边区域处，

所述驱动芯片绑定子区域位于与所述第一侧边相邻的第二侧边对应的周边区域处。

10.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第二电位信号线还包括：第二扫描方向控制信号线。

11.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的阵列基板，以及与所述阵列基板绑定的柔性电路板。

12.如权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述柔性电路板的绑定引脚位于所述驱动芯片绑定子区域的两端。

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求11或12所述的显示面板。

Images