CN110515815A - 单板复位测试的监控方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种单板复位测试的监控方法，包括如下步骤：S1：首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验直至所述标志位写入成功；S2：判断每发生一次复位测试，都对当前复位类型标志位计数加一；S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数；S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。该方法不仅可以快速定位当前类型复位测试是否成功，可以判断本轮测试是否产生了异常复位，以便及时、准确地判断单板是否符合设计需求，使测试更加有效。

Description

单板复位测试的监控方法

技术领域

本发明具体涉及一种单板复位测试的监控方法。

背景技术

***复位有正常复位和异常复位两种情形，而异常复位通常由***意外掉线、软件异常或者硬件异常而引起的。现有技术中，在***发生复位后，软、硬件关键状态信息被清除，目前的复位测试方案无法分辨出在一轮自动化测试中，是否有异常复位的产生，因而在自动化测试过程中，即便发生了异常复位，维护人员也无法及时有效地在多次复位测试中辨别是否有异常复位的产生，无法快速地查找故障所在，增加了复位测试的难度。所以急需一种单板复位测试的监控方法以解决这一问题。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种单板复位测试的监控方法，该单板复位测试的监控方法可以很好地解决上述问题。

为达到上述要求，本发明采取的技术方案是：提供一种单板复位测试的监控方法，该单板复位测试的监控方法包括如下步骤：

S1：自动化复位测试时，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功；

S2：判断每发生一次复位测试，都对当前复位类型标志位计数加一；

S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数；

S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。

该单板复位测试的监控方法具有的优点如下：

在自动化测试中，复位测试发生后，可根据存储器中标志位计数值以及状态值，不仅可以快速定位当前类型复位测试是否成功，而且可以根据最终输出日志，判断本轮测试是否产生了异常复位，以便及时、准确地判断单板是否符合设计需求，使测试更加有效。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示意性地示出了根据本申请一个实施例的单板复位测试的监控方法的原理示意图。

图2示意性地示出了根据本申请一个实施例的单板复位测试的监控方法的原理示意图。

图3示意性地示出了根据本申请一个实施例的单板复位测试的监控方法的原理示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本申请作进一步地详细说明。

在以下描述中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度，但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外，重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例，但并非必然指代相同的实施例。

为简单起见，以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。

根据本申请的一个实施例，提供一种单板复位测试的监控方法，如图所示，包括如下步骤：

S1：自动化复位测试时，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功；

S2：判断每发生一次复位测试，都对当前复位类型标志位计数加一；

S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数；

S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法的存储器为非易失性存储器。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法的S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数的步骤具体还包括：根据不同类型的复位有各自类型的计数值，没执行一次复位测试，对应类型的计数值自加一；当该计数值与复位测试执行最初设定值相符时，表示本次测试该类型复位测试成功；当该计数值与复位测试执行最初设定值不相符时，表示本次测试该类型复位测试失败，查看输出日志对比写入标志位可快速定位复位失败所在。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法的S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数的步骤具体还包括：该值是本次单板复位执行的总次数；该值包括正常复位、异常复位执行的次数；该值理论上应该等于正常复位执行设定总次数；当该值与设定各种类型复位测试执行次数相同时，则表示本次自动化单板没有发生异常复位；当该值与设定各种类型复位测试执行次数不同时，则表示本次自动化单板发生了异常复位，查看输出日志对比写入标志位可快速定位异常复位发生所在。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法的所述存储器包括可擦写信息区和不可擦写信息区，所述标志计数位存储于所述不可擦写信息区。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法还包括如下步骤：

监控所述寄存器中的配置信息，并根据监控结果确定自动化测试过程中，该片存储单元不存在读写失败。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法还包括如下步骤：

若所述数据缓冲寄存器读写不正常，则计数不准确，再次复位所述芯片的内部模块，并重新测试。

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法的

根据本申请的一个实施例，该单板复位测试的监控方法

实施例一：

如图1所示，本实施例提供单板看门狗复位测试监控方法，用于对自动化测试过程中，看门狗功能测试的监控，其原理是：

自动化测试开始，执行看门狗复位测试，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功，一次看门狗复位测试结束后，再次读取芯片的存储器，并读取当前复位类型对应标志位，看是否与写入当前看门狗测试类型一致，一致则表示当前复位确实为看门狗复位，不同则表示有看门狗复位测试失败；每执行一次看门狗测试，当前标志位的计数单元自加一，本轮自动化测试结束后，再次读取芯片的存储器，并读取当前复位类型对应标志位的计数单元，与测试开始写入的执行次数是否相等，相同则表示本轮自动化测试看门狗复位测试成功；不同则表示有n次看门狗测试失败，至此可以快速定位看门狗复位测试。

实施例二：

如图2所示，本实施例提供单板软复位测试监控方法，用于对自动化测试过程中，软复位功能测试的监控，其原理是：

自动化测试开始，执行软复位测试，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位(与看门狗测试不同)，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功，一次软复位结束后，再次读取芯片的存储器，并读取当前复位类型对应标志位，看是否与写入当前软复位类型一致，一致则表示当前复位确实为软复位，不同则表示软复位测试失败；每执行一次软复位测试，当前标志位的计数单元自加一，本轮自动化测试结束后，再次读取芯片的存储器，并读取当前复位类型对应标志位的计数单元，与测试开始写入的执行次数是否相等，相同则表示本轮自动化测试软复位测试成功；不同则表示有n次软复位失败，至此可以快速定位软复位测试。

实施例三：

如图3所示，本实施例提供单板异常复位测试监控方法，用于对自动化测试过程中，异常复位功能测试的监控，其原理是：

自动化测试开始，随机执行看门狗复位测试和软复位测试，并且规定测试次数，看门狗复位与软复位统称正常复位，每次正常复位执行之前，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应的标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功；一次正常复位测试结束后，再次读取芯片的存储器，并读取当前复位类型对应标志位，看是否与写入当前复位测试类型一致，一致则表示当前复位确实为对应类型正常复位，不同则表示正常复位测试失败；每执行一次正常复位测试，对应类型的标志位的计数单元自加一，本轮自动化测试结束后，再次读取芯片的存储器，并读取对应正常复位类型对应标志位的计数单元，统计各正常复位的执行次数并求和，与测试开始写入的执行次数和相比是否相等，相同则表示本轮自动化测试并没有发生异常复位；不同则表示有n次异常复位产生，至此可以快速查看当前单板在一轮自动化测试过程中共产生了多少次异常复位，判断其是否符合设计要求。

可见，本实施例提供了三种不同的方案，可实现对正常复位和异常复位的监控和记录，在每一轮自动化测试，只需查看长存储器中的标志位以及最终输出日志，即可准确地了解到复位的类型，从而有针对性地进行排除故障。

综上所述，通过本发明的上述方案，在复位发生后，根据自动化测试日志，不仅可以快速定位复位类型，而且可以快速地查找到是否有异常复位的产生，以便及时、准确地测试单板功能，了解单板复位执行的有消息，并降低了***测试的难度，缩短了测试排查时间，有效地降低了测试成本。

以上所述实施例仅表示本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能理解为对本发明范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明保护范围。因此本发明的保护范围应该以所述权利要求为准。

Claims (7)

1.一种单板复位测试的监控方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：自动化复位测试时，首先读取芯片的存储器，并写入当前复位类型对应标志位，当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述标志位写入成功；

S2：判断每发生一次复位测试，都对当前复位类型标志位计数加一；

S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数；

S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。

2.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：所述存储器为非易失性存储器。

3.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：S3：判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等，写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数的步骤具体还包括：

根据不同类型的复位有各自类型的计数值，没执行一次复位测试，对应类型的计数值自加一；

当该计数值与复位测试执行最初设定值相符时，表示本次测试该类型复位测试成功；

当该计数值与复位测试执行最初设定值不相符时，表示本次测试该类型复位测试失败，查看输出日志对比写入标志位可快速定位复位失败所在。

4.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：S4：判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符，日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数的步骤具体还包括：

该值是本次单板复位执行的总次数；

该值包括正常复位、异常复位执行的次数；

该值理论上应该等于正常复位执行设定总次数；

当该值与设定各种类型复位测试执行次数相同时，则表示本次自动化单板没有发生异常复位；

当该值与设定各种类型复位测试执行次数不同时，则表示本次自动化单板发生了异常复位，查看输出日志对比写入标志位可快速定位异常复位发生所在。

5.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：所述存储器包括可擦写信息区和不可擦写信息区，所述标志计数位存储于所述不可擦写信息区。

6.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：还包括如下步骤：

监控所述寄存器中的配置信息，并根据监控结果确定自动化测试过程中，该片存储单元不存在读写失败。

7.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法，其特征在于：还包括如下步骤：

若所述数据缓冲寄存器读写不正常，则计数不准确，再次复位所述芯片的内部模块，并重新测试。