CN110489287A - 通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质 - Google Patents

通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质，包括以下步骤：S1：预处理步骤：S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；S3：获取PCIE设备的在位信息；S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息；S5：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志；S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备***插槽；S7：获取PCIE设备的在位信息；S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息；S9：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志。

Description

通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质
技术领域
本发明属于热插拔测试技术领域，具体涉及一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质。
背景技术
传统热插拔技术是在主板上预留按键或者拨码，当需要更换PCIE板卡或者板卡出现故障时，将按键按下，此时PCIE插槽断电，对PCIE外插卡进行更换，此方法在开发阶段测试比较占用资源。此为现有技术中存在的不足。
有鉴于此，本发明给出一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质的技术方案；以解决现有技术中存在的缺陷和问题。
发明内容
针对现有技术中存在的当需要更换PCIE板卡或者板卡出现故障时，将按键按下，此时PCIE插槽断电，对PCIE外插卡进行更换，此方法在开发阶段测试比较占用资源的问题；本发明提供一种通过Ipmitool测试热插拔的方法、***及存储介质，以解决上述技术问题。
为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：
第一方面，本发明提供一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，包括以下步骤：
S1：预处理步骤：
获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；
S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；
S3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；
S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S5：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；
S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备***插槽；
S7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；
S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S9：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。
作为优选，所述步骤S1中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
获取上述数据信息，用作后续模拟移除和***前后的数据对比，得到的测试结果更加准确，降低测试不准确率。
作为优选，所述步骤S2的实现步骤如下：
通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除。
采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽掉电；有效确保PCIE插槽处于掉电状态；模拟PCIE设备移除更加准确。
作为优选，所述步骤S4具体实现如下：
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与步骤S1中获取的数据进行对比，如果不在位状态的PCIE设备号以及DeviceID正确，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟移除后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。
作为优选，所述步骤S6具体实现如下：
通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***。
采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽上电；有效确保PCIE插槽处于上电状态；模拟PCIE设备***更加准确。
作为优选，所述步骤S8具体实现如下：
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件中，
将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比；如果待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息均对应一致，则继续执行下一步操作，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟***后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。
第二方面，本发明提供一种通过Ipmitool测试热插拔的***，包括：
预处理模块：获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；
模拟PCIE设备移除模块：通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除；
模拟移除后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与预处理模块中获取的数据进行对比；
模拟PCIE设备***模块：通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***；
模拟***后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件，将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比。
作为优选，所述预处理模块中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
获取上述数据信息，用作后续模拟移除和***前后的数据对比，得到的测试结果更加准确，降低测试不准确率。
第三方面，本发明提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述方法。
第四方面，提供一种终端，包括：
处理器、存储器，其中，该存储器用于存储计算机程序，
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端执行上述方法。
本发明的有益效果在于，通过Ipmitool配合CPLD对热插拔插槽进行断电和上电测试，并通过插槽上的PCIE设备信息检查来检验热插拔功能是否异常，实现了PCIE热插拔的自动化测试，节省了测试时间，提高了产品质量和测试效率。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例1提供的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法的流程图。
图2是本发明实施例2提供的一种通过Ipmitool测试热插拔的***的原理框图。
其中，1-预处理模块，2-模拟PCIE设备移除模块，3-模拟移除后数据对比模块，4-模拟PCIE设备***模块，5-模拟***后数据对比模块。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
实施例1：
如图1所示，本实施例提供一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，包括以下步骤：
S1：预处理步骤：
获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；
通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_present.txt；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
获取上述数据信息，用作后续模拟移除和***前后的数据对比，得到的测试结果更加准确，降低测试不准确率。
S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；
通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除。
采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽掉电；有效确保PCIE插槽处于掉电状态；模拟PCIE设备移除更加准确。
S3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；
S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_remove.txt文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与步骤S1中获取的数据进行对比，如果不在位状态的PCIE设备号以及DeviceID正确，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟移除后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。
S5：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；
S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备***插槽；
通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***。
采用该步骤能够快速准确的控制PCIE插槽上电；有效确保PCIE插槽处于上电状态；模拟PCIE设备***更加准确。
S7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；
S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_present_after.txt文件，
将info_present_after.txt文件与info_present.txt文件进行对比；如果待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息均对应一致，则继续执行下一步操作，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
通过该步骤能够快速对PCIE设备模拟***后，PCIE插槽的外插卡数据的对比，并做出准确的判断。
S9：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。
实施例2：
本实施例提供一种通过Ipmitool测试热插拔的***，包括：
预处理模块：获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_present.txt；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
获取上述数据信息，用作后续模拟移除和***前后的数据对比，得到的测试结果更加准确，降低测试不准确率。
模拟PCIE设备移除模块：通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除；
模拟移除后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_remove.txt文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与预处理模块中获取的数据进行对比；
模拟PCIE设备***模块：通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***；
模拟***后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存info_present_after.txt文件，将info_present_after.txt文件与info_present.txt文件进行对比。
实施例3：
本实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述方法。
实施例4：
本实施例提供一种终端，包括：
处理器、存储器，其中，该存储器用于存储计算机程序，
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端执行上述方法。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：预处理步骤：
获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；
S2：PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除插槽；
S3：获取PCIE设备的在位信息，如果仍检测到PCIE设备处于在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则继续执行下一步；
S4：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比，两者相比，如果不在位状态的PCIE设备数据信息正确，则继续下一步；否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S5：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则继续下一步；
S6：PCIE插槽上电，模拟PCIE设备***插槽；
S7：获取PCIE设备的在位信息，如果检测到PCIE设备处于不在位状态，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果检测到PCIE设备处于在位状态，则继续执行下一步；
S8：获取PCIE插槽的外插卡数据信息，并将该数据信息与步骤S1中获取的PCIE插槽的外插卡数据信息进行对比；如果数据信息一致，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；
S9：查看被测机台***的日志信息是否存在异常fail或者error日志，如果存在，则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法；如果不存在，则转到步骤S2作循环测试。
2.根据权利要求1所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S1中，通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存第一文件；外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
3.根据权利要求2所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S2的实现步骤如下：
通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除。
4.根据权利要求3所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S4具体实现如下：
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与步骤S1中获取的数据进行对比，如果不在位状态的PCIE设备号以及DeviceID正确，则继续执行下一步，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
5.根据权利要求4所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S6具体实现如下：
通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***。
6.根据权利要求5所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的方法，其特征在于，所述步骤S8具体实现如下：
通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件，
将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比；如果待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息均对应一致，则继续执行下一步操作，否则测试结果为主板热插拔功能失效，直接退出测试方法。
7.一种通过Ipmitool测试热插拔的***，其特征在于，包括：
预处理模块：获取PCIE插槽的外插卡数据信息以及被测机台***的日志信息；通过lspci获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；
模拟PCIE设备移除模块：通过ipmitool发送remove信息给CPLD，CPLD收到remove信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉低，PCIE链路断开，RST拉低后CPU将信息回传给CPLD，将VR电断开，PCIE插槽掉电，模拟PCIE设备移除；
模拟移除后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；该步骤获取的信息包括待测PCIE设备的设备号，以及待测PCIE设备的DeviceID信息；与预处理模块中获取的数据进行对比；
模拟PCIE设备***模块：通过ipmitool发送insert信息给CPLD，CPLD收到insert信息后传递给CPU，CPU发出信号将Pltform_RST拉高，PCIE链路闭合，RST拉高后CPU将信息回传给CPLD，将VR电导通，PCIE插槽上电，模拟PCIE***；
模拟***后数据对比模块：通过lspci指令获取被测PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件中，将第三文件与第一文件存储数据信息进行对比。
8.根据权利要求7所述的一种通过Ipmitool测试热插拔的***，其特征在于，所述预处理模块中，外插卡信息包括：待测PCIE设备设备号、待测PCIE设备DeviceID信息、待测PCEI设备UEsta信息、待测PCIE设备CEsta信息、获取待测PCIE设备的Speed以及Width信息；
被测机台***的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。
9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述权利要求1-6所述各方法。
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