CN109117406A - 一种pcie热拔插测试方法、装置、终端及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，所述方法包括：利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；获取所述测试卡的状态信息。通过利用中间接口连接PCIE接口和测试卡，并通过控制中间接口的加载和卸载来模拟热拔插，从而实现对PCIE的自动热拔插测试。本发明无需执行关掉所有应用和测试程序、更好测试卡并重新上电等繁琐操作，只需控制中间接口的驱动状态即可，操作简单，提高测试效率节省了大量测试时间。

Description

一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，具体涉及一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

目前PCIE设备是最主流的设备，但是PCIE接口是不能热拔插的，在实际的测试中，经常遇到需要测试不同卡的情况。目前的操作只能是断电，关掉所有的应用和测试程序，更换测试卡，重新上电，跑测试应用，非常浪费时间。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，以解决上述技术问题。

第一方面，本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试方法，所述方法包括：

利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取所述测试卡的状态信息。

结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述控制中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动包括：

设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述方法还包括：

设置测试循环次数；

根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

第二方面，本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试装置，所述装置包括：

连接单元，配置用于利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置单元，配置用于设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

执行单元，配置用于控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取单元，配置用于获取所述测试卡的状态信息。

结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述执行单元包括：

时间设置模块，配置用于设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

通电模拟模块，配置用于在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

断电模拟模块，配置用于在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

结合第二方面，在第二方面的第二种实施方式中，所述装置还包括：

次数设置单元，配置用于设置测试循环次数；

循环执行单元，配置用于根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

第三方面，提供一种终端，包括：

处理器、存储器，其中，

该存储器用于存储计算机程序，

该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端终端执行上述的终端终端的方法。

第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。

第五方面，提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。

本发明的有益效果在于，

本发明提供的PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，通过利用中间接口连接PCIE接口和测试卡，并通过控制中间接口的加载和卸载来模拟热拔插，从而实现对PCIE的自动热拔插测试。本发明无需执行关掉所有应用和测试程序、更好测试卡并重新上电等繁琐操作，只需控制中间接口的驱动状态即可，操作简单，提高测试效率节省了大量测试时间。

此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。

图2是本申请一个实施例的装置的示意性框图。

图3为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

下面对本申请中出现的关键术语进行解释。

图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。其中，图1执行主体可以为一种PCIE热拔插测试装置。

如图1所示，该方法100包括：

步骤110，利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

步骤120，设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

步骤130，控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

步骤140，获取所述测试卡的状态信息。

为了便于对本发明的理解，下面以本发明PCIE热拔插测试的原理，结合实施例中对PCIE进行热拔插测试的过程，对本发明提供的PCIE热拔插测试方法做进一步的描述。

可选地，作为本申请一个实施例，所述控制中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动包括：

设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

可选地，作为本申请一个实施例，所述方法还包括：

设置测试循环次数；

根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

具体的，所述PCIE热拔插测试方法包括：

S1、利用中间接口连接PCIE接口和测试卡。

中间接口包括第一接口、第二接口和微处理器，第一接口和第二接口均与微处理器电连接。将中间接口的第一接口连接PCIE接口，第二接口连接测试卡，从而实现PCIE接口与测试卡的电连接。

S2、设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期。

S3、控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动。

设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间，本实施例中设置通电模拟状态持续时间为15min,断电模拟状态持续时间为5min，通电模拟状态持续时间为15min和断电模拟状态持续时间为5min组成一个测试周期。通过控制中间接口的微处理器加载或卸载驱动，在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，测试卡通电实现热插，在所述中间接口的驱动可用状态持续时间达到15min后结束所述通电模拟状态；在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动，测试卡断电实现热拔，在所述中间接口的驱动不可用状态持续时间达到5min后结束所述断电模拟状态。

S4、获取所述测试卡的状态信息。

获取测试卡的状态信息，测试卡可以是任何PCIE接口的卡子，比如RAID卡、显卡、网卡、SAS卡等任何PCIE接口的卡子。执行一次测试周期后获取并保存测试卡在通电状态下的信息，判断测试卡在通电状态下是否可用。

S5、循环测试。

设置测试循环次数，本实施例设置为60次。循环次数循环执行60次测试周期。

如图2示，该装置200包括：

连接单元210，所述连接单元210用于利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置单元220，所述设置单元220用于设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

执行单元230，所述执行单元230用于控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取单元240，所述获取单元240用于获取所述测试卡的状态信息。

可选地，作为本申请一个实施例，所述执行单元包括：

时间设置模块，配置用于设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

通电模拟模块，配置用于在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

断电模拟模块，配置用于在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

可选地，作为本申请一个实施例，，所述装置还包括：

次数设置单元，配置用于设置测试循环次数；

循环执行单元，配置用于根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

图3为本发明实施例提供的一种终端装置300的结构示意图，该终端装置300可以用于执行本申请实施例提供的更新散热策略参数的方法。

其中，该终端装置300可以包括：处理器310、存储器320及通信单元330。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本申请的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

其中，该存储器320可以用于存储处理器310的执行指令，存储器320可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器320中的执行指令由处理器310执行时，使得终端300能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。

处理器310为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器320内的软件程序和/或单元，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit，简称IC)组成，例如可以由单颗封装的IC所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说，处理器310可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)。在本申请实施方式中，CPU可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。

通信单元330，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。

本申请还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质可存储有程序，该程序执行时可包括本申请提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文：read-only memory，简称：ROM)或随机存储记忆体(英文：random access memory，简称：RAM)等。

因此，本申请通过利用中间接口连接PCIE接口和测试卡，并通过控制中间接口的加载和卸载来模拟热拔插，从而实现对PCIE的自动热拔插测试。本发明无需执行关掉所有应用和测试程序、更好测试卡并重新上电等繁琐操作，只需控制中间接口的驱动状态即可，操作简单，提高测试效率节省了大量测试时间，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。

本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。

本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种PCIE热拔插测试方法，其特征在于，所述方法包括：

利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取所述测试卡的状态信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动包括：

设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

设置测试循环次数；

根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

4.一种PCIE热拔插测试装置，其特征在于，所述装置包括：

连接单元，配置用于利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；

设置单元，配置用于设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；

执行单元，配置用于控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；

获取单元，配置用于获取所述测试卡的状态信息。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述执行单元包括：

时间设置模块，配置用于设置通电模拟状态持续时间和断电模拟状态持续时间；

通电模拟模块，配置用于在通电模拟状态控制所述中间接口加载驱动，并在所述中间接口的驱动可用状态达到通电模拟状态持续时间后结束所述通电模拟状态；

断电模拟模块，配置用于在断电模拟状态控制所述中间接口卸载驱动并在所述中间接口的驱动不可用状态达到断电模拟状态持续时间后结束所述断电模拟状态。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

次数设置单元，配置用于设置测试循环次数；

循环执行单元，配置用于根据所述循环次数循环执行所述测试周期。

7.一种终端，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器的执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-3任一项所述的方法。

8.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的方法。