CN110310237A - 去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及*** - Google Patents

去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及*** Download PDF

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Abstract

本发明属于显示面板检测修复技术领域，公开了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及***；去除图像摩尔纹的方法采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器滤除显示面板所显示的灰阶画面中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；修正了噪声光谱信号的维纳滤波器是将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到维纳滤波器的噪声中；显示面板子像素点度测量方法则利用上述方法先去除图像摩尔纹之后再来提取子像素点亮度；测量***包括信号发生器、图像采集装置及处理单元；由采集装置获取显示面板所呈现的画面图像，处理单元基于获取的画面图像先采用本发明的方法去除摩尔纹再计算子像素点的亮度，实现子像素点亮度的精确测量。

Description

去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复 的方法及***
技术领域
本发明属于显示面板检测技术领域，更具体地，涉及一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及***。
背景技术
显示面板亮度不均(又称Mura缺陷)是影响显示面板生产良率最重要的因素。多数大尺寸LCD显示面板Mura尺寸较大，可直接通过Mura补偿的方式修复。而诸如OLED或MicroLED等自发光显示面板其各子像素点独立驱动且材料不均导致的亮度不均表现为子像素量级。
Mura补偿前，各子像素点虽输入相同但亮度输出不一致；DeMura(Mura缺陷修复)技术通过对各子像素点的输入做调整从而使各子像素点的亮度输出一致。为保证DeMura的修复效果，必须生成非常准确的DeMura数据。在生成DeMura数据过程中，需测量每一个子像素点的gamma曲线、以得到各子像素点相应的DeMura数据；gamma曲线为灰阶与亮度的关系曲线，需要测量不同灰阶下每一个子像素点的亮度；因此在显示面板DeMura技术中，精确测量子像素点亮度是保证Mura修复效果的关键。
现有技术中，多采用相机取图而后通过图像处理获得子像素点亮度；用相机聚焦拍摄OLED、MicroLED显示面板的拍摄画面易出现摩尔纹，摩尔纹在光谱图中表现为很多凸起的光谱峰，直接将带摩尔纹的画面用于子像素点亮度提取会大大降低子像素点亮度测量的精度，因此这类获得子像素点亮度的技术在提取子像素点亮度前必须去除摩尔纹。通过虚焦拍摄可避免摩尔纹出现，但会遗漏像素点的亮度跳变信息以及高频Mura的信息，导致DeMura效果不佳。也有通过在相机镜头前加低通滤波去除摩尔纹的方案，但同样会遗漏图像的高频信息。还有使用插值算法去除摩尔纹的方案，但会对图像边缘部分造成失真或算法复杂、计算时间长不满足生产线需求。因此，必须研究出一种新的方法来去除摩尔纹，不仅可实现精确测量子像素点的亮度，以适应OLED、MicroLED显示面板DeMura技术的产线使用要求。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及***，其目的在于有效去除摩尔纹并保留子像素点的亮度跳变以及高频Mura信息，从而实现子像素点亮度的精确测量以达到理想的Mura修复效果。
为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种去除图像摩尔纹的方法，包括：
获取待处理图像的灰阶画面并提取光谱峰值，
将光谱峰值与采集灰阶画面所用的图像采集装置的噪声叠加后作为待处理图像的噪声光谱信号，
基于该噪声光谱信号对所述灰阶画面进行滤波。
优选地，上述去除图像摩尔纹的方法，通过对所述灰阶画面的灰阶数据进行傅里叶变换找到光谱峰值位置。
优选地，上述去除图像摩尔纹的方法，光谱峰值与图像采集装置的噪声按照预设的权重进行线性叠加。
优选地，上述去除图像摩尔纹的方法，采用维纳滤波器对所述灰阶画面进行滤波，将上述噪声光谱信号作为维纳滤波器的噪声信号。
优选地，上述去除图像摩尔纹的方法，还包括预处理的步骤：
向待测显示面板提供信号使其显示校准画面；
采用所述校准画面对图像采集装置进行校准，确定显示面板与图像采集装置之间的像素对应关系；
用校准后的图像采集装置采集显示面板显示的灰阶画面，并根据该对应关系将采集的灰阶画面转换为显示面板所显示的灰阶画面，作为待处理图像的灰阶画面。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种显示面板子像素点亮度测量方法，采用上述任一种去除图像摩尔纹的方法得到去噪画面，基于该去噪画面提取显示面板子像素点亮度。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种Mura缺陷修复方法，采用上述任一种去除图像摩尔纹的方法得到去噪画面，基于该去噪画面提取显示面板子像素点亮度，基于该子像素点亮度生成Mura补偿数据对Mura缺陷进行修复。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种去除图像摩尔纹的***包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程；处理器执行该计算机程序时实现上述任一种去除图像摩尔纹的方法。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种显示面板子像素点亮度测量***，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序，处理器执行该计算机程序时实现上述显示面板子像素点亮度测量方法。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种Mura缺陷修复***，包括存储器、处理器以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序，处理器执行该计算机程序时实现上述Mura缺陷修复方法。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种去除图像摩尔纹的装置，包括图像采集装置和处理单元；
其中，图像采集装置用于获取待处理的画面图像；处理单元用于获取该画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将该光谱峰值与图像采集装置的噪声叠加后作为该画面图像的噪声光谱信号，并基于所述噪声光谱信号对画面图像进行滤波，从而去除图像摩尔纹。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种显示面板子像素点亮度测量装置，包括信号发生器、图像采集装置和处理单元；
其中，信号发生器用于在处理单元的控制下向待测显示面板提供信号，图像采集装置用于获取显示面板所呈现的画面图像；处理单元用于获取所述画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将该光谱峰值与该图像采集装置的噪声叠加作为该画面图像的噪声光谱信号，基于该噪声光谱信号对画面图像进行滤波，并基于滤波得到的去除了摩尔纹的去噪画面提取子像素点亮度。
为实现本发明目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种Mura缺陷修复装置，包括信号发生器、图像采集装置和处理单元；
其中，信号发生器用于在处理单元的控制下向待测显示面板提供信号，图像采集装置用于获取显示面板所呈现的画面图像；所述处理单元用于获取该画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将该光谱峰值与该图像采集装置的噪声叠加作为该画面图像的噪声光谱信号，基于该噪声光谱信号对画面图像进行滤波，并基于滤波得到的除了摩尔纹的去噪画面提取子像素点亮度、基于该子像素点亮度生成Mura补偿数据。
总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：
(1)本发明提供的去除图像摩尔纹的方法、显示面板子像素点亮度测量的方法，通过滤波的方式来去除摩尔纹以达到精确提取亮度的目的；由于使用数学计算实现滤波，相较采用滤镜滤波的现有技术而言，可避免滤镜本身的不均匀性；且由于采用显示面板所显示画面的灰阶画面的光谱峰值来表征摩尔纹，将光谱峰值与图像采集装置的噪声叠加作为噪声信号进行滤除；由于把摩尔纹作为噪声信号，因此可以滤掉摩尔纹而又能保留正常的图像信息，不会对图像本身造成影响使其失真，从而达到去除图像摩尔纹又不影响图像信息的目的；而又由于该方法通过数学计算实现滤波，可直接集成到软体算法中，譬如添加到现有的DeMura算法里即可，而不必另外添加滤镜等硬件设置，便于集成到现有的DeMura产线中使用；
(2)本发明基于提供的显示面板子像素点亮度测量方法及***、装置，以及Mura缺陷修改方法及***、装置，在现有测量***的硬体所包括的处理器譬如计算机、视频信号发生器与待测OLED显示面板之外，仅用添加一个图像采集装置譬如相机即可实现，易于嵌套在现有DeMura***中，便于集成到现有DeMura产线中。
附图说明
图1是本发明实施例提供的显示面板子像素点度测量***的示意图；
图2是本发明实施例提供的显示面板子像素点度测量方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
聚焦拍摄显示面板譬如OLED显示面板、柔性OLED显示面板得到的拍摄画面会存在摩尔纹，摩尔纹在光谱图中表现为很多凸起的光谱峰，其存在会大大降低显示面板子像素点亮度测量的精度；进而减弱基于子像素点亮度而进行的色斑修复的效果。本发明提供了去除图像摩尔纹的方法，基于去除了摩尔纹的去噪图像进行的显示面板子像素点亮度测量方法、Mura缺陷修复方法，以及去除图像摩尔纹的***、显示面板子像素点亮度测量***、Mura缺陷修复***。
在一个具体的实施例中，采用维纳滤波器来滤除噪声信号，维纳滤波器(Wienerfilter)是一种以最小平方为最优准则的线性滤波器，是利用平稳随机过程的相关特性和频谱特性对混有噪声的信号进行滤波的方法。
维纳滤波器的表达式如式(1)：
其中，T(f)为图像采集装置的传输函数，T*(f)为其共轭函数，f为空间频率(X，Y)的二维向量，S(f)为Mura的光谱信号，N(f)为图像采集装置譬如相机噪声光谱信号。
在实施例中将摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号与相机噪声叠加，得到的修正的噪声光谱信号：
N′(f)＝(comb(f/fgrid)H(f)T(f))*comb(f/fc)+N(f)(2)
其中，fgrid是像素网格排布的取样频率，H(f)为单个像素点的傅里叶光谱，fc为图像采集装置的取样频率譬如相机芯片的取样频率，N(f)为图像采集装置譬如相机的噪声，N′(f)是对N(f)做了修正之后的噪声光谱信号，包括相机噪声和摩尔纹噪声。
在一个实例中，采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器进行维纳滤波后，滤波前图片所包含的高频信号摩尔纹消失，图片变得平滑且完好保留了图片中的方形框和矩形框。实施例通过将摩尔纹作为噪声信号与图像采集装置噪声信号叠加对噪声信号进行修正，通过滤波将图片中的高频摩尔纹信号滤除，达到去除聚焦拍摄OLED画面时产生的摩尔纹的目的。基于上述修正的噪声光谱信号进行滤波，滤波器不仅仅限定于维纳滤波器，其他的低通滤波器也可以实现。
实施例提供的显示面板子像素点度测量装置，包括信号发生器、图像采集装置以及处理单元；参照图1，信号发生器可采用视频信号发生器实现，图像采集装置采用相机实现，处理单元采用计算机实现；在计算机的控制下，通过视频信号发生器向待测OLED显示面板提供测试信号，并在计算机的控制下，由相机获取显示面板所呈现的图像，由计算机基于相机获取的图像数据获取每个子像素点的亮度。实施例中，计算机基于相机基于获取的图像数据获取每个子像素点亮度的方法，是先采用本发明的方法去除摩尔纹得到去噪图像，再基于去噪图像来提取子像素亮度。具体地，在计算子像素点的亮度过程中，将聚焦拍摄的画面图像的数据进行傅里叶变换得到频谱图，采用滤波器对其频谱进行滤波，滤除频谱中的高频摩尔纹信号以及图像采集装置噪声得到去噪画面，再基于去噪画面提取子像素点亮度。可采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器来对频谱进行滤波，滤除其中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；其中，修正了噪声光谱信号的维纳滤波器将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到了维纳滤波器的噪声中。而提取子像素亮度的方法可采用现有技术中的从画面提取子像素亮度方法的任一种。
而实施例提供的Mura缺陷修复装置，基于上述装置所提取的子像素点亮度生成Mura补偿数据对Mura缺陷进行补偿，使得Mura缺陷得以修复。
在一个实施例中，先进行预处理，对图像采集装置进行校准，具体为：向待测显示面板提供测试信号，使显示面板显示用于校准图像采集装置的校准画面；校准后，根据显示面板分辨率与图像采集装置的分辨率确定显示面板的像素与图像采集装置像素的对应关系。用校准后的图像采集装置采集一张或多张显示面板所显示的灰阶画面，并根据显示面板的像素与图像采集装置像素的对应关系转换为显示面板所显示的灰阶画面。
在一个具体的实例中，基于上述实施例提供的显示面板子像素点测量装置的显示面板子像素点测量亮度方法，参照图2，具体如下：
(1)视频信号发生器向待测显示面板提供测试信号，使显示面板显示用于校准相机的校准画面；该校准画面是用于调相机对显示屏的mapping的画面，可为合适的任意校准画面；
(2)相机校准后，根据显示面板的分辨率与相机分辨率确定显示面板像素与相机像素之间的对应关系；
(3)用校准后的相机采集一张或多张显示面板所显示的灰阶画面，并根据上述对应关系获得显示面板所显示的灰阶画面；
(4)对显示面板所显示的灰阶画面的灰阶数据做傅里叶变换，找到光谱峰值位置；
(5)采修正了噪声的维纳滤波器滤除光谱峰值得到去噪画面；其中，修正的噪声为图像采集装置噪声与摩尔纹噪声的叠加；可根据应用场景、精度要求以及滤波器类型对这两者预设权重，权重不唯一，是可以调整的，可以取1：1或者其他的权重比例，按照预设的权重将图像采集装置噪声与摩尔纹噪声进行叠加得到修正的噪声；
(6)上述去噪画面即为去除了摩尔纹的画面，基于该去噪画面提取子像素点亮度。
实施例提供的显示面板子像素点亮度测量方法，采用上述修正了噪声信号的维纳滤波器去除聚焦拍摄OLED画面时产生的摩尔纹，消除了摩尔纹对子像素亮度测量的负面影响，可实现子像素点亮度的精确测量。而Mura缺陷修复的方法，则是基于所测量的子像素点亮度得到准确的缺陷补偿数据，以调整各子像素点的输入从而使其亮度输出均一。
实施例提供的去除图像摩尔纹的方法，采用显示面板所显示画面的灰阶画面的光谱峰值来表征摩尔纹，将光谱峰值与图像采集装置的噪声叠加作为噪声信号，对该噪声信号进行滤除；由于把摩尔纹作为噪声信号处理了，只滤除光谱峰值来即高频摩尔纹，所以可以滤掉摩尔纹而又能保留正常的图像信息，可保留个子像素点的原始亮度信息，不会对图像本身造成影响使其失真，从而达到去除图像摩尔纹并不影响图像信息的目的。显示面板子像素点度测量装置基于去除了摩尔纹的去噪图像进行子像素点度测量，消除了摩尔纹对子像素亮度测量的负面影响，可实现子像素点亮度的精确测量。Mura缺陷修复装置基于精确测量的子像素点亮度进行Mura缺陷修复，保证Demura的效果；实现的装置简单，可集成到现有Demura***中，有效提高DeMura技术的修复效果，从而提高显示面板的生产良率。
而在另一个实施例中，去除图像摩尔纹的***、显示面板子像素点测量***、Mura缺陷修复***，均可基于存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序来实现，处理器执行计算机程序时实现对应的去除图像摩尔纹的方法、显示面板子像素点测量方法和/或Mura缺陷修复方法。而存储器、处理器则可采用PC机、上位机、服务器和/或移动终端来实现。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种去除图像摩尔纹的方法，其特征在于，包括：
获取待处理图像的灰阶画面并提取光谱峰值，
将光谱峰值与采集灰阶画面所用的图像采集装置的噪声叠加后作为待处理图像的噪声光谱信号，
基于所述噪声光谱信号对所述灰阶画面进行滤波。
2.如权利要求1所述的去除图像摩尔纹的方法，其特征在于，通过对所述灰阶画面的灰阶数据进行傅里叶变换找到光谱峰值位置。
3.如权利要求1或2所述的去除图像摩尔纹的方法，其特征在于，所述光谱峰值与所述图像采集装置的噪声按照预设的权重进行线性叠加。
4.如权利要求1或2所述的去除图像摩尔纹的方法，其特征在于，采用维纳滤波器对所述灰阶画面进行滤波，将所述噪声光谱信号作为维纳滤波器的噪声信号。
5.如权利要求1或2所述的去除图像摩尔纹的方法，其特征在于，还包括：
向待测显示面板提供信号使其显示校准画面；
采用所述校准画面对图像采集装置进行校准，确定显示面板与图像采集装置之间的像素对应关系；
用校准后的图像采集装置采集显示面板显示的灰阶画面，并根据该对应关系将采集的灰阶画面转换为显示面板所显示的灰阶画面，作为待处理图像的灰阶画面。
6.一种显示面板子像素点亮度测量方法，其特征在于，
采用权利要求1～5任一项所述的方法去除图像摩尔纹得到去噪画面，
基于所述去噪画面提取显示面板子像素点亮度。
7.一种Mura缺陷修复方法，其特征在于，
采用权利要求1～5任一项所述的方法去除图像摩尔纹得到去噪画面，
基于去噪画面提取显示面板子像素点亮度，
基于所述子像素点亮度生成Mura补偿数据。
8.一种去除图像摩尔纹的***，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，
所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1～5任一项所述的方法。
9.一种显示面板子像素点亮度测量***，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，
所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求6所述的方法。
10.一种Mura缺陷修复***，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，
所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求7所述的方法。
11.一种去除图像摩尔纹的装置，其特征在于，包括图像采集装置和处理单元；
所述图像采集装置用于获取待处理的画面图像；所述处理单元用于获取所述画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将所述光谱峰值与所述图像采集装置的噪声叠加后作为所述画面图像的噪声光谱信号，并基于所述噪声光谱信号对画面图像进行滤波。
12.一种显示面板子像素点亮度测量装置，其特征在于，包括信号发生器、图像采集装置和处理单元；
所述信号发生器用于在处理单元的控制下向待测显示面板提供信号，所述图像采集装置用于获取显示面板所呈现的画面图像；所述处理单元用于获取所述画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将所述光谱峰值与所述图像采集装置的噪声叠加作为所述画面图像的噪声光谱信号，基于所述噪声光谱信号对画面图像进行滤波，并基于滤波得到的去噪画面提取子像素点亮度。
13.一种Mura缺陷修复装置，其特征在于，包括信号发生器、图像采集装置和处理单元；
所述信号发生器用于在处理单元的控制下向待测显示面板提供信号，所述图像采集装置用于获取显示面板所呈现的画面图像；所述处理单元用于获取所述画面图像的灰阶画面并提取光谱峰值、将所述光谱峰值与所述图像采集装置的噪声叠加作为所述画面图像的噪声光谱信号，基于所述噪声光谱信号对画面图像进行滤波，并基于滤波得到的去噪画面提取子像素点亮度、基于所述子像素点亮度生成Mura补偿数据。
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