CN110264929A - 一种显示面板、显示装置和检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、显示装置和检测方法，以改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而无法对显示区的不良进行检测的问题。所述显示面板，包括：多条沿同一方向延伸的扫描线，与每一所述扫描线分别通过一对应控制单元电连接的防静电线，所述防静电线的一端与测试垫电连接，所述测试垫位于所述非显示区的所述栅极驱动电路所在区域以外的其它区域；在对所述显示区进行不良检测时，所述控制单元被配置为将所述防静电线与各所述扫描线导通，所述防静电线被配置为将所述检测设备通过所述测试垫施加的电信号通过所述控制单元传输给各所述扫描线。

Description

一种显示面板、显示装置和检测方法

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示装置和检测方法。

背景技术

平面显示器(F1at Pane1Disp1ay，FPD)己成为市场上的主流产品，平面显示器的种类也越来越多，如液晶显示器(Liquid Crysta1Disp1ay，LCD)、有机发光二极管(OrganicLight Emitted Diode，OLED)显示器、等离子体显示面板(P1asma Disp1ay Pane1，PDP)及场发射显示器(Field Emission Display，FED)等。

现有技术的高分辨率显示面板，栅极驱动电路设置的功能单元也增多，可用于放置对显示区进行不良检测的部件的空间也较小，进而影响对显示区不良的检测。

发明内容

本发明提供一种显示面板、显示装置和检测方法，以改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而影响对显示区的不良进行检测的问题。

本发明实施例提供一种显示面板，包括显示区以及包围所述显示区的非显示区，所述非显示区具有栅极驱动电路，所述显示面板包括：多条沿同一方向延伸的扫描线，与每一所述扫描线分别通过一对应控制单元电连接的防静电线，所述防静电线的一端与测试垫电连接，所述测试垫位于所述非显示区的所述栅极驱动电路所在区域以外的其它区域；

在对所述显示区进行不良检测时，所述控制单元被配置为将所述防静电线与各所述扫描线导通，所述防静电线被配置为将所述检测设备通过所述测试垫施加的电信号通过所述控制单元传输给各所述扫描线。

在一种可能的实施方式中，所述控制单元包括：控制晶体管、第一控制电容和第二控制电容；

所述第一控制电容的第一端与所述防静电线、所述控制晶体管的第一极电连接，所述第一控制电容的第二端与所述控制晶体管的栅极、所述第二控制电容的第一端电连接；

所述控制晶体管的第二极与所述第二控制电容的第二端、所述扫描线电连接。

在一种可能的实施方式中，所述防静电线与所述测试垫之间还电连接有防静电单元；

所述防静电单元被配置为在通过所述检查设备对所述显示区进行不良检测时，将所述检查设备的静电延时释放于整个所述显示面板。

在一种可能的实施方式中，所述防静电单元包括：防护晶体管，第一防护电容和第二防护电容；

所述第一防护电容的第一端与所述测试垫、所述防护晶体管的第一极电连接，所述第一防护电容的第二端与所述防护晶体管的栅极、第二防护电容的第一端电连接；

所述防护晶体管的第二极与所述第二防护电容的第二端、所述防静电线电连接。

在一种可能的实施方式中，所述显示面板包括：多个像素电路；

所述扫描线包括：驱动各所述像素电路中第一开关晶体管的第一类扫描线，以及驱动各所述像素电路中第二开关晶体管的第二类扫描线；

所述防静电线包括：与所述第一类扫描线电连接的第一防静电线，以及与所述第二类扫描线电连接的第二防静电线；

所述第一防静电线以及所述第二防静电线分别位于所述非显示区的不同侧。

在一种可能的实施方式中，每一所述像素电路包括：所述第一开关晶体管、所述第二开关晶体管、驱动晶体管、存储电容、发光器件；

所述第一开关晶体管的栅极与所述第一类扫描线电连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据线电连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极、所述存储电容的第一端电连接；

所述驱动晶体管的第一极与电源线电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光器件的阳极、所述存储电容的第二端、所述第二开关晶体管的第一极电连接；

所述第二开关晶体管的栅极与所述第二类扫描线电连接，所述第二开关晶体管的第二极与感测信号线电连接。

在一种可能的实施方式中，所述显示面板还包括：多条与所述扫描线垂直的数据线；所述防静电线与所述数据线位于同一层。

在一种可能的实施方式中，所述栅极驱动电路包括充电单元、自举单元、放电单元、维持单元外、随机感测单元和逐行感测单元。

本发明实施例还提供一种显示装置，包括如本发明实施例所提供的所述显示面板。

本发明实施例还提供一种如本发明实施例提供的所述显示面板的检测方法，包括：

将所述检测设备的测试针与所述测试垫接触；

通过所述测试垫向所述防静电线加载第一信号，以通过所述控制单元传输给各所述扫描线，并向各数据线加载第二信号，以使每一像素位置处的发光器件的阳极具有预设电压；

将包括有液晶层以及电极层的调制装置置于所述显示面板的上方，根据所述液晶层在所述阳极与所述电极层形成的电场的偏转以及透光程度，检测各所述像素位置点处的电连接性。

本发明实施例有益效果如下：本发明实施例提供的显示面板，在对显示区进行不良检测时，可以通过检测设备向测试垫加载测试电压，测试垫加载的测试电压经防静电线通过控制单元加载在各条扫描线，并在数据线对应的测试垫也加载电压时，进而可以使每一像素电路的阳极具有电压，进而，发生短路(Short)或断路(Open)的位置会使对应位置的阳极的电压不同，通过包括电极层以及液晶层的调制装置(Modulator装置)的电极层施加电压，进而调制装置电极层与显示面板的阳极之间形成电压差，不同像素电路的阳极的电压不同，会导致调制装置的液晶偏转程度不同，此时，照明设备打开后，光线经过反射到达调制装置时，液晶偏转的程度不同，会使反射光的强度不同，进而再通过具有许多排列整齐的光电二极管的电荷耦合器对不同光强的捕获，再将光信号再转换成电信号，经过外部采样放大模拟转回或电路转换成数字图像信号，完成不良位置处的缺陷捕捉，完成不良检测。本发明实施例提供的测试垫的设置方式，以及向阳极加载电压的方式，可以避免现有技术的显示面板分辨率逐渐升高时，如8K的OLED显示面板(即，显示面板的分辨率较高，包括4320条扫描线，7680条数据线)，由于相比LCD，8K的OLED显示面板的栅极驱动电路，含有随机感测(Sense)单元和逐行感测(Sense)单元，该些单元的设置会导致栅极驱动电路所在区的走线较多，导致设置对显示区进行不良检测的部件的无放置空间，而本发明实施例的显示面板，将测试垫放置在栅极驱动电路所在区的外侧，且复利用显示面板防静电的防静电线，进而可以使显示面板的防静电功能与对显示区的不良检测功能的部件进行集成，进而可以改善8k显示面板的栅极驱动电路无设置测试垫的空间，进而改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而无法对显示区的不良进行检测的问题。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的控制单元的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的设置有防静电单元的显示面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的防静电单元的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种具体的显示面板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的向第一开关晶体管加载信号时的示意图；

图7为本发明实施例提供的向第二开关晶体管加载信号时的示意图；

图8为本发明实施例提供的一种栅极驱动电路的结构示意图；

图9为本发明实施例提供的一种显示面板的驱动流程示意图。

具体实施方式

为了使得本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了已知功能和已知部件的详细说明。

参见图1，本发明实施例提供一种显示面板，包括显示区S1以及包围显示区S1的非显示区S2，非显示区S2具有栅极驱动电路GOA，显示面板包括：多条沿同一方向延伸的扫描线Gate(图1仅是以包括两条扫描线为例进行的示意说明，但本发明并不以此为限)，与每一扫描线Gate分别通过一对应控制单元Q电连接的防静电线F，即，防静电线F与每一扫描线Gate之间都对应设置有一控制单元Q，防静电线F的一端与测试垫电ESD连接，测试垫ESD位于非显示区S2的栅极驱动电路GOA所在区域以外的其它区域；

在对显示区S1进行不良检测时，控制单元Q被配置为将防静电线F与各扫描线Gate导通，防静电线F被配置为将检测设备通过测试垫ESD施加的电信号通过控制单元Q传输给各扫描线Gate。

具体的，参见图1所示，本发明实施例中，多条扫描线Gate具体可以沿第一方向延伸，第一方向具体可以为行向，显示面板具体还可以包括多条数据线Date，数据线Date可以沿第二方向延伸，第二方向具体可以与第一方向垂直，第二方向具体可以为列向。防静电线F具体可以与扫描线垂直，即，防静电线F沿第二方向延伸，但防静电线F与扫描线Gate位于不同层，中间还可以设置有绝缘层，防静电线F具体可以位于非显示区S2。

本发明实施例提供的显示面板，在对显示区进行不良检测时，可以通过检测设备向测试垫ESD加载测试电压，测试垫ESD加载的测试电压经防静电线F通过控制单元Q加载在各条扫描线Gate，并在数据线Date对应的测试垫也加载电压时，进而可以使每一像素电路的阳极具有电压，进而，发生短路(Short)或断路(Open)的位置会使对应位置的阳极的电压不同，通过包括电极层以及液晶层的调制装置(Modulator装置)的电极层施加电压，进而调制装置电极层与显示面板的阳极之间形成电压差，不同像素电路的阳极的电压不同，会导致调制装置的液晶偏转程度不同，此时，照明设备打开后，光线经过反射到达调制装置时，液晶偏转的程度不同，会使反射光的强度不同，进而再通过具有许多排列整齐的光电二极管的电荷耦合器对不同光强的捕获，再将光信号再转换成电信号，经过外部采样放大模拟转回或电路转换成数字图像信号，完成不良位置处的缺陷捕捉，完成不良检测。本发明实施例提供的测试垫的设置方式，以及向阳极加载电压的方式，可以避免现有技术的显示面板分辨率逐渐升高时，如8K的OLED显示面板(即，显示面板的分辨率较高，包括4320条扫描线，7680条数据线)，由于相比LCD，8K的OLED显示面板的栅极驱动电路，含有随机感测(Sense)单元和逐行感测(Sense)单元，该些单元的设置会导致栅极驱动电路所在区的走线较多，导致设置对显示区进行不良检测的测试垫无放置空间，进而无法对显示区的不良进行检测，而本发明实施例的显示面板，将测试垫放置在栅极驱动电路所在区的外侧，且复利用显示面板防静电的防静电线，进而可以使显示面板的防静电功能与对显示区的不良检测功能的部件进行集成，可以改善8k显示面板的栅极驱动电路无设置测试垫的空间，且复用已有结构进行对显示区的不良检测，可以改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而无法对显示区的不良进行检测的问题。

在具体实施时，对于本发明实施例中的控制单元Q，其用于在对显示面板的显示区S1进行不良检测时，将防静电线F的电压加载到各条扫描线Gate，而在显示面板在后续进行正常显示时，其可以控制防静电线F与各条扫描线Gate不导通，避免显示时，由于防静电线F将各个扫描线Gate导通时，显示面板无法显示。在具体实施时，由于对显示区S1进行不良检测时，向防静电线F加载的电压要大于正常显示时扫描线Gate所加载的电压，进而可以使控制单元Q仅在对显示区S1进行不良检测时，使防静电线F与各条扫描线Gate导通，而在正常显示时，使防静电线F与各扫描线Gate断开。

具体的，结合图1和图2所示，其中，图2是图1的控制单元Q的放大结构示意图，控制单元Q具体可以包括：控制晶体管QT、第一控制电容QC1和第二控制电容QC2；

第一控制电容QC1的第一端与防静电线F、控制晶体管QT的第一极电连接，第一控制电容QC1的第二端与控制晶体管QT的栅极、第二控制电容QC2的第一端电连接；

控制晶体管QT的第二极与第二控制电容QC2的第二端、扫描线Gate电连接。

本发明实施例中，控制单元Q具体包括控制晶体管QT、第一控制电容QC1和第二控制电容Qc2，在向防静电线F加载电压时，可以使第一控制电容QC1向控制晶体管QT充电，在达到第一控制晶体管QC1的开启电压时，可以使第一控制晶体管QT打开，使防静电线F与扫描线Gate导通。另外，在显示面板受到静电作用时，本发明实施例中的控制单元Q以及防静电线F也可以将静电释放于整体较大的显示面板，进而起到对显示面板的防静电作用，即，本发明实施例中的控制单元Q以及防静电线F可以既用于对显示区S1的不良检测，也可以用于对显示面板进行静电保护，减少显示面板的布线设置，有利于高分辨率显示面板的制作。

在具体实施时，参见图3所示，防静电线F与测试垫ESD之间还电连接有防静电单元G；防静电单元G被配置为在通过检查设备对显示区S1进行不良检测时，将检查设备的静电延时释放于整个显示面板。

本发明实施例中，防静电线F与测试垫ESD之间电连接有防静电单元G，进而在进行不良检测时，若静电设备的测试针含有大量静电电荷时，在进行不良检测时，大量的静电电荷会对测试垫以及显示面板造成损坏，而防静电单元G可以起到缓冲静电电荷的作用，即，可以通过测试针对测试垫ESD的试扎，将静电产生的电荷延迟释放于整个显示面板，避免防静电线F与测试垫ESD直接连接时，在进行不良检测时，可能会导致测试垫ESD烧毁。

具体的，参加图4所示，其中，图4为图3在防静电单元G位置处的放大结构示意图，防静电单元G包括：防护晶体管GT，第一防护电容GC1和第二防护电容GC2；

第一防护电容GC1的第一端与测试垫ESD、防护晶体管GT的第一极电连接，第一防护电容GC1的第二端与防护晶体管GT的栅极、第二防护电容GC2的第一端电连接；

防护晶体管GT的第二极与第二防护电容GC1的第二端、防静电线F电连接。

本发明实施例中，防静电单元G与控制单元Q的结构基本一致，可以有利于显示面板的防静电单元G以及控制单元Q的制作，即，在制作控制单元Q的同时，完成防静电单元G的制作。

在具体实施时，显示面板包括：多个像素电路；

参见图5所示，扫描线Gate包括：驱动各像素电路中第一开关晶体管T1的第一类扫描线，以及驱动各像素电路中第二开关晶体管T2的第二类扫描线，第一类扫描线具体可以包括多条第一扫描线Gate1，第二类扫描线具体可以包括多条第二扫描线Gate2；

防静电线F包括：与第一类扫描线电连接的第一防静电线F1，以及与第二类扫描线电连接的第二防静电线F2；

第一防静电线F1以及第二防静电线F2分别位于非显示区S2的不同侧。

本发明实施例中，每一像素电路包括第一开关晶体管T1，第二开关晶体管T2，扫描线包括驱动第一开关晶体管T1的第一类扫描线以及驱动第二开关晶体管T2的第二类扫描线，即，以一行像素单元为例，该一行像素单元对应一条第一扫描线Gate1、一条第二扫描线Gate2，其中，第一扫描线Gate1驱动该行像素单元的各像素电路中的第一开关晶体管T1，第二扫描线Gate2驱动该行像素单元的各像素电路的第二开关晶体管T2。为了实现对第一扫描线Gate1以及第二扫描线Gate2的分别控制以及检测，可以分别设置两条静电防线(分别为第一防静电线F1和第二防静电线F2)、两个测试垫(分别为第一测试垫ESD1和第二测试垫ESD2)，两个防静电单元(可以分别为第一防静电单元G1和第二防静电单元G2)，以及两类控制单元(分别第一类控制单元和第二类控制单元，第一类控制单元具体可以包括多个第一控制单元Q1，第二类控制单元具体可以包括多个第二控制单元Q2)，第一防静电线F1位于显示面板的左侧，第二防静电线F2位于显示面板的右侧，第一防静电单元G1位于显示面板的左上侧，第二防静电单元G2位于显示面板的右上侧，第一防静电线F1的上端通过第一防静电单元G1与第一测试垫ESD1电连接，第二防静电线F2的上端通过第二防静电单元G2与第二测试垫ESD2电连接。每一条第一扫描线Gate1通过对应的一个第一控制单元Q1与显示面板左侧的第一防静电线F1电连接，每一条第二扫描线Gate2通过对应的一个第二控制单元Q2与显示面板右侧的第二防静电线F2电连接。具体的，显示面板可以设置有电源线VDD，数据线Date与数据总线(Busline)之间还可以设置用于防静电的第三控制单元Q3，例如，图5中每一数据线Date的一端(上端)与第一数据总线(显示区上方的数据总线Busline)之间均电连接有第三控制单元Q3，每一数据线Date的另一端(下端)与第二数据总线(显示区下方的数据总线Busline)之间也均电连接有第三控制单元Q3，数据总线Busline最终电连接于Source COF。数据线Date具体可以是数据线Date-R、Date-G、Date-B、Date-W、补偿线(sense)或竖向电源线。

当然，以上仅是以显示面板的像素驱动电路包括两个开关晶体管，进而扫描线包括第一扫描线Gate1以及第二扫描线Gate2为例进行的举例说明，在显示面板的像素电路为其它结构时，例如，像素电路仅包括一开关晶体管时，扫描线也可以仅是包括一种类型的扫描线，本发明不以此为限。

在具体实施时，结合图6和图7所示，每一像素电路包括：第一开关晶体管T1、第二开关晶体管T2、驱动晶体管T3、存储电容CST、发光器件OLED；

第一开关晶体管T1的栅极与第一扫描线Gate1电连接，第一开关晶体管T1的第一极与数据线Date电连接，数据线Date具体可以向第一开关晶体管T1输入数据信号Vdate，第一开关晶体管T1的第二极与驱动晶体管T3的栅极、存储电容CST的第一端电连接；

驱动晶体管T3的第一极与电源线VDD电连接，驱动晶体管T3的第二极与发光器件OLED的阳极、存储电容CST的第二端、第二开关晶体管T2的第一极电连接；

第二开关晶体管T2的栅极与第二类扫描线电连接，第二开关晶体管T2的第二极与感测信号线Sense电连接。

如图6所示，在检测设备(Array Test设备)通过扎针方式与第一测试垫ESD1相连，进而检测设备给第一测试垫ESD1加入高压，防静电单元G由两个电容和一个TFT组成，高压位于电容一极，通过自举使另外一极也为高压，进而TFT上栅极打开，将输入的高压通过第一扫描线Gate1流入到像素电路。同样，如图7所示，在检测设备(Array Test设备)通过扎针方式与第二测试垫ESD2相连，进而检测设备给第二测试垫ESD2加入高压，防静电单元G由两个电容和一个TFT组成，高压位于电容一极，通过自举使另外一极也为高压，进而TFT上栅极打开，将输入的高压通过第二扫描线Gate2流入到像素电路。

在具体实施时，显示面板还包括：多条与扫描线垂直的数据线Date；防静电线与数据线位于同一层。本发明实施例中，防静电线与数据线位于同一层，可以在制作数据线的同时，形成防静电线，有利于显示面板的工艺简化。

在具体实施时，参见图8所示，栅极驱动电路GOA具体可以包括充电单元、自举单元、放电单元、维持单元外、随机感测单元和逐行感测单元。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种显示装置，包括如本发明实施例所提供的显示面板。

本发明实施例还提供一种如本发明实施例提供的显示面板的检测方法，参见图9所示，检测方法包括：

步骤S101、将检测设备的测试针与测试垫接触。

步骤S102、通过测试垫向防静电线加载第一信号，以通过控制单元传输给各扫描线，并向各数据线加载第二信号，以使每一像素位置处的发光器件的阳极具有预设电压。

步骤S103、将包括有液晶层以及电极层的调制装置置于显示面板的上方，根据液晶层在阳极与电极层形成的电场的偏转以及透光程度，检测各像素位置点处的电连接性。

本发明实施例有益效果如下：本发明实施例提供的显示面板，在对显示区进行不良检测时，可以通过检测设备向测试垫加载测试电压，测试垫加载的测试电压经防静电线通过控制单元加载在各条扫描线，并在数据线对应的测试垫也加载电压时，进而可以使每一像素电路的阳极具有电压，进而，发生短路(Short)或断路(Open)的位置会使对应位置的阳极的电压不同，通过包括电极层以及液晶层的调制装置(Modulator装置)的电极层施加电压，进而调制装置电极层与显示面板的阳极之间形成电压差，不同像素电路的阳极的电压不同，会导致调制装置的液晶偏转程度不同，此时，照明设备打开后，光线经过反射到达调制装置时，液晶偏转的程度不同，会使反射光的强度不同，进而再通过具有许多排列整齐的光电二极管的电荷耦合器对不同光强的捕获，再将光信号再转换成电信号，经过外部采样放大模拟转回或电路转换成数字图像信号，完成不良位置处的缺陷捕捉，完成不良检测。本发明实施例提供的测试垫的设置方式，以及向阳极加载电压的方式，可以避免现有技术的显示面板分辨率逐渐升高时，如8K的OLED显示面板(即，显示面板的分辨率较高，包括4320条扫描线，7680条数据线)，由于相比LCD，8K的OLED显示面板的栅极驱动电路，含有随机感测(Sense)单元和逐行感测(Sense)单元，该些单元的设置会导致栅极驱动电路所在区的走线较多，导致设置对显示区进行不良检测的部件的无放置空间，而本发明实施例的显示面板，将测试垫放置在栅极驱动电路所在区的外侧，且复利用显示面板防静电的防静电线，进而可以使显示面板的防静电功能与对显示区的不良检测功能的部件进行集成，进而可以改善8k显示面板的栅极驱动电路无设置测试垫的空间，进而改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而无法对显示区的不良进行检测的问题。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括显示区以及包围所述显示区的非显示区，所述非显示区具有栅极驱动电路，其特征在于，所述显示面板包括：多条沿同一方向延伸的扫描线，与每一所述扫描线分别通过一对应控制单元电连接的防静电线，所述防静电线的一端与测试垫电连接，所述测试垫位于所述非显示区的所述栅极驱动电路所在区域以外的其它区域；

在对所述显示区进行不良检测时，所述控制单元被配置为将所述防静电线与各所述扫描线导通，所述防静电线被配置为将所述检测设备通过所述测试垫施加的电信号通过所述控制单元传输给各所述扫描线。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述控制单元包括：控制晶体管、第一控制电容和第二控制电容；

所述第一控制电容的第一端与所述防静电线、所述控制晶体管的第一极电连接，所述第一控制电容的第二端与所述控制晶体管的栅极、所述第二控制电容的第一端电连接；

所述控制晶体管的第二极与所述第二控制电容的第二端、所述扫描线电连接。

3.如权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，所述防静电线与所述测试垫之间还电连接有防静电单元；

所述防静电单元被配置为在通过所述检查设备对所述显示区进行不良检测时，将所述检查设备的静电延时释放于整个所述显示面板。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述防静电单元包括：防护晶体管，第一防护电容和第二防护电容；

所述第一防护电容的第一端与所述测试垫、所述防护晶体管的第一极电连接，所述第一防护电容的第二端与所述防护晶体管的栅极、第二防护电容的第一端电连接；

所述防护晶体管的第二极与所述第二防护电容的第二端、所述防静电线电连接。

5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：多个像素电路；

所述扫描线包括：驱动各所述像素电路中第一开关晶体管的第一类扫描线，以及驱动各所述像素电路中第二开关晶体管的第二类扫描线；

所述防静电线包括：与所述第一类扫描线电连接的第一防静电线，以及与所述第二类扫描线电连接的第二防静电线；

所述第一防静电线以及所述第二防静电线分别位于所述非显示区的不同侧。

6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，每一所述像素电路包括：所述第一开关晶体管、所述第二开关晶体管、驱动晶体管、存储电容、发光器件；

所述第一开关晶体管的栅极与所述第一类扫描线电连接，所述第一开关晶体管的第一极与数据线电连接，所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极、所述存储电容的第一端电连接；

所述驱动晶体管的第一极与电源线电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光器件的阳极、所述存储电容的第二端、所述第二开关晶体管的第一极电连接；

所述第二开关晶体管的栅极与所述第二类扫描线电连接，所述第二开关晶体管的第二极与感测信号线电连接。

7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：多条与所述扫描线垂直的数据线；所述防静电线与所述数据线位于同一层。

8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述栅极驱动电路包括充电单元、自举单元、放电单元、维持单元外、随机感测单元和逐行感测单元。

9.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的显示面板。

10.一种如权利要求1-8任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

将所述检测设备的测试针与所述测试垫接触；

通过所述测试垫向所述防静电线加载第一信号，以通过所述控制单元传输给各所述扫描线，并向各数据线加载第二信号，以使每一像素位置处的发光器件的阳极具有预设电压；

将包括有液晶层以及电极层的调制装置置于所述显示面板的上方，根据所述液晶层在所述阳极与所述电极层形成的电场的偏转以及透光程度，检测各所述像素位置点处的电连接性。