CN110261767A - 一种通断开关寿命的检测装置及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种单火线通断开关寿命的检测装置，包用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；检测模块，用于检测驱动模块输出的电平，检测方法包括：单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合；通断开关的断开和闭合控制驱动模块向检测模块输出电平；单片机对接收到的电平进行判断和记录。本发明通过将通断开关接入驱动模块，模拟实际应用电路，利用检测模块对驱动模块输出的电平进行判断，检测出通断开关在实际电路运用中的开关次数（即使用寿命），检测结果贴合实际运用下通断开关的使用寿命。
Description
技术领域
本发明涉及一种通断开关寿命的检测装置及检测方法，适用于通断开关检测技术领域。
背景技术
一般继电器开关寿命测试都是出厂时候在额定规定条件下测试完成，出厂单独检测继电器裸元器件开关次数，但是实际在灯控开关中继电器是结合实际应用电路而工作的，所以继电器在实际的工作电路中的开关次数和出厂测试的裸元器件开关次数是有着本质区别的，单独对继电器的开关次数进行检测的结果属于理想状态，并不能真正检测出继电器针对实际应用电路条件下去测试开关次数，得出实际使用时继电器的开关次数。
发明内容
本发明的目的在于提供一种通断开关寿命的检测装置及检测方法。
实现本发明目的的技术解决方案为：一种单火线通断开关寿命的检测装置，包括：
用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；
用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；
检测模块，用于检测驱动模块输出的电平。
进一步地，所述检测模块包括：
按键电路，用于操控显示屏和单片机；
单片机，用于发送弱电信号和接收电平且对接收的电平进行判断；
显示模块，用于对单片机的判断结果进行显示；
电源模块，用于对按键电路、单片机、显示模块和晶体模块进行供电；
晶体模块，用于为单片机提供频率稳定且电平匹配的方波时钟脉冲信号。
进一步地，所述通断开关为弱电控制强电的开关装置。
进一步地，所述驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置。
一种通断开关寿命的检测方法，包括：
S1、单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合；
S2、通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出电平；
S3、单片机对接收到的电平进行判断和记录。
进一步地，步骤S1中所述单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合的具体方法为：单片机的I/O口发出高电平，通断开关闭合；单片机的I/O口发出低电平，通断开关断开。
进一步地，步骤S2中所述通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出不同的电平的具体方法为：通断开关闭合时，电源通过通断开关对驱动模块进行供电，驱动模块输出电平到单片机；通断开关断开时，电源断开，驱动模块输出电平到单片机。
进一步地，步骤S3中单片机对接收到的电平进行判断和记录的具体方法为：
a、单片机对通断开关闭合时输出的电平判断是否为高电平，若是则通断开关正常，反之则异常，接着单片机对通断开关断开时输出的电平是否为低电平，若是则通断开关正常，反之则异常，；
b、若步骤a中通断开关闭合时和通断开关断开时，判断通断开关均为正常，则通断开关为合格，反之则不合格；
c、重复步骤a和步骤b，单片机对通断开关是否合格的检测结果进行记录。
本发明与现有技术相比，其显著优点在于：将通断开关接入驱动模块，模拟实际应用电路，利用单片机对驱动模块输出的电平进行判断，检测出通断开关在实际电路运用中的开关次数（即使用寿命），检测结果贴合实际运用下通断开关的使用寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面对本发明实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他附图。
图1是本发明检测装置结构示意图；
图2是本发明检测装置另一实施结构示意图；
图3是本发明单片机结构示意图；
图4是本发明显示模块结构示意图；
图5是本发明晶体模块结构示意图；
图6是本发明电源模块结构示意图；
图7是本发明按键电路结构示意图。
图中：1、通断开关；2、驱动模块；3、检测模块；4、指示灯。
具体实施方式
结合图1，一种通断开关寿命的检测装置，包括通断开关1、驱动模块2、检测模块3和指示灯4，通断开关为弱电控制强电的开关装置（如继电器），驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置，驱动模块选用型号为ESP-25-3.3的中国台湾明伟开关电源，检测模块包括按键电路、单片机、显示模块、电源模块和晶体模块，按键电路包括按键，按键的两端接电容C37后其中一端接地，如图7所示；按键电路与单片机连接，用于操控显示屏和单片机，显示模块包括液晶显示屏LCD，LCD与单片机U4连接，用于对单片机的判断结果进行显示，如图4所示；单片机的型号为STM8L152M8，图3所示；电源模块包括极性电容器C34、电容器C10和电池BAT1，BAT1的1号端口连接C34和C10后接地，BAT1的2号端口接C34后接地，如图6所示；电源模块输出3.3V电压给按键电路、单片机、显示模块和晶体模块供电，所述晶体模块包括电容C30、电容C33，C30和C33的一端连接后接地，C30的另一端接晶振Y2的一端后接入单片机，C33的另一端接晶振Y2的另一端后接入单片机，如图5所示；通断开关用于接收单片机发送的弱电信号，通断开关的输出端与驱动模块连接，驱动模块的输出端与检测模块的输入端连接，驱动模块用于输出电平至检测模块，单片机用于检测驱动模块输出的电平，指示灯与驱动模块连接，用于对驱动模块的工作状态进行指示，且指示灯的数量与驱动模块的数量相等，且一一对应连接。
另外本检测装置可同时检测3个以及3个以上的开关装置，如图2所示。
一种通断开关寿命的检测方法，包括：
S1、单片机的I/O口发出高电平，通断开关闭合；单片机的I/O口发出低电平，通断开关断开；
S2、通断开关闭合时，电源通过通断开关对驱动模块进行供电，驱动模块输出电平到单片机；通断开关断开时，电源断开，驱动模块输出电平到单片机；
S3、单片机对通断开关闭合时输出的电平判断是否为高电平以及通断开关断开时输出的电平判断是否为低电平，若是则通断开关正常，反之则异常，当判断通断开关一次闭合和断开均正常时，则通断开关为合格，重复对通断开关的闭合和断开进行检测，并通过单片机进行记录。
工作过程
单片机的I/O口发出高电平控制继电器闭合，继电器闭合时，电源通过继电器对开关电源进行供电，同时与开关电源连接的指示灯亮起，开关电源输出3.3V电平到单片机的I/O口，单片机接收3.3V电平，并对继电器闭合时输出的电平判断是否为高电平，若是则继电器正常，反之继电器则异常；
单片机的I/O口发出低电平控制继电器断开，继电器断开时，电源不对开关电源进行供电，此时与开关电源连接的指示灯不亮，开关电源输出0V电平到单片机的I/O口，单片机接收0V电平，并对继电器闭合时输出的电平判断是否为低电平，若是则继电器正常，反之继电器则异常；
通过对单片机输出的一次高电平和一次低电平的结果进行检测，若两个结果均为正常，则该继电器的开关为合格，开关次数被记录，以上过程不断循环，最终得出继电器的开关次数（即使用寿命）。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (8)
1.一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，包括：
用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；
用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；
检测模块，用于检测驱动模块输出的电平。
2.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括：
按键电路，用于操控显示屏和单片机；
单片机，用于发送弱电信号和接收电平且对接收的电平进行判断；
显示模块，用于对单片机的判断结果进行显示；
电源模块，用于对按键电路、单片机、显示模块和晶体模块进行供电；
晶体模块，用于为单片机提供频率稳定且电平匹配的方波时钟脉冲信号。
3.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述通断开关为弱电控制强电的开关装置。
4.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置。
5.根据权利要求1-4任一项所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，包括：
S1、单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合；
S2、通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出电平；
S3、单片机对接收到的电平进行判断和记录。
6.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S1中所述单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合的具体方法为：单片机的I/O口发出高电平，通断开关闭合；单片机的I/O口发出低电平，通断开关断开。
7.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S2中所述通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出不同的电平的具体方法为：通断开关闭合时，电源通过通断开关对驱动模块进行供电，驱动模块输出电平到单片机；通断开关断开时，电源断开，驱动模块输出电平到单片机。
8.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S3中单片机对接收到的电平进行判断和记录的具体方法为：
a、单片机对通断开关闭合时输出的电平判断是否为高电平，若是则通断开关正常，反之则异常，接着单片机对通断开关断开时输出的电平是否为低电平，若是则通断开关正常，反之则异常，；
b、若步骤a中通断开关闭合时和通断开关断开时，判断通断开关均为正常，则通断开关为合格，反之则不合格；
c、重复步骤a和步骤b，单片机对通断开关是否合格的检测结果进行记录。
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